專利名稱：X射線檢查裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種x射線檢查裝置。
背景技術(shù)：
在x射線檢查裝置中，從x射線源向物品照射x射線，通過x
射線傳感器檢測(cè)出透過物品的透過X射線。然后比較在X射線傳感器 中檢測(cè)出的透過x射線的強(qiáng)度與預(yù)先設(shè)定的規(guī)定的閾值，根據(jù)該比較
結(jié)果判定物品的良或不良(例如，參照下記專利文獻(xiàn)l)。當(dāng)物品內(nèi)混
入異物時(shí)，在異物的混入位置，透過x射線的強(qiáng)度極低。因此，能夠 將透過x射線的強(qiáng)度小于閾值的物品作為不良品(異物混入品)而檢
專利文獻(xiàn)1:日本特開2002-98653號(hào)公報(bào)
如上所述，在X射線檢查裝置中，根據(jù)透過X射線的強(qiáng)度與閾值 的比較結(jié)果，判定物品的良或不良。因此為了進(jìn)行適當(dāng)?shù)臋z查，需要 適當(dāng)?shù)卦O(shè)定閾值的級(jí)別。當(dāng)過低地設(shè)定閾值級(jí)別時(shí)，混入異物的物品 被判定為良品。另一方面，當(dāng)過高地設(shè)定閾值級(jí)別時(shí)，將信號(hào)的干擾 等作為異物檢測(cè)出，沒有混入異物的物品被判定為不良品，其結(jié)果， 不良率(不良品占檢査物品總數(shù)的比例)會(huì)上升。
為了將檢査基準(zhǔn)保持一定，物品的生產(chǎn)線一旦運(yùn)轉(zhuǎn)，在生產(chǎn)線的 運(yùn)轉(zhuǎn)中，就不能變更閾值的設(shè)定。因此在設(shè)定的基準(zhǔn)值不適當(dāng)?shù)那闆r 下，例如過低地設(shè)定閾值的級(jí)別，不良率變得異常地高，在該情況下， 為了變更閾值的設(shè)定，需要暫時(shí)使生產(chǎn)線的運(yùn)轉(zhuǎn)停止。由此降低了生 產(chǎn)線的運(yùn)轉(zhuǎn)率。而且，如果只憑操作者的感覺和經(jīng)驗(yàn)變更閾值的設(shè)定， 變更后的閾值依然不適當(dāng)?shù)那闆r下，需要再次停止生產(chǎn)線的運(yùn)轉(zhuǎn)，使 運(yùn)轉(zhuǎn)率更加降低。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明就是鑒于上述問題而完成的發(fā)明，其目的在于得到一種通過向操作者提供變更基準(zhǔn)值(閾值)的設(shè)定時(shí)的指標(biāo)，能夠有效地進(jìn)
行基準(zhǔn)值的設(shè)定的變更作業(yè)的x射線檢査裝置。
本發(fā)明的X射線檢査裝置，從X射線照射部向物品照射X射線，通過X射線檢測(cè)部檢測(cè)透過物品的X射線，根據(jù)在上述X射線檢測(cè)部
檢測(cè)出的x射線的強(qiáng)度與規(guī)定的基準(zhǔn)值的比較結(jié)果，判定物品的良或
不良，該X射線檢査裝置具有存儲(chǔ)單元、設(shè)定單元、判定單元、計(jì)算
單元和顯示控制單元。存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)關(guān)于x射線強(qiáng)度的多個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)。多個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)是通過對(duì)多個(gè)物品進(jìn)行檢查、在上述x射線檢測(cè)部中取
得的。設(shè)定單元設(shè)定與在對(duì)上述多個(gè)物品進(jìn)行檢査中使用的實(shí)際基準(zhǔn)值不同的假想基準(zhǔn)值，作為上述規(guī)定的基準(zhǔn)值。根據(jù)上述假想基準(zhǔn)值與上述存儲(chǔ)單元中存儲(chǔ)的各檢測(cè)數(shù)據(jù)的比較結(jié)果，判定在各物品內(nèi)是否有異物混入。計(jì)算單元算出假想異物混入率，作為通過上述判定單元判定為有異物混入的物品的個(gè)數(shù)占上述多個(gè)物品的總數(shù)的比例。顯示控制單元使上述假想異物混入率顯示在顯示部上。
其中，存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)通過對(duì)多個(gè)物品進(jìn)行檢査而在上述x射線檢
測(cè)部取得的關(guān)于x射線強(qiáng)度的多個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)。設(shè)定單元設(shè)定與在對(duì)上
述多個(gè)物品進(jìn)行檢查中所使用的實(shí)際基準(zhǔn)值不同的假想基準(zhǔn)值，作為規(guī)定的基準(zhǔn)值。判定單元根據(jù)假想基準(zhǔn)值與存儲(chǔ)單元中存儲(chǔ)的各檢測(cè)數(shù)據(jù)的比較結(jié)果，判定在各物品內(nèi)是否有異物混入。計(jì)算單元算出假想異物混入率，作為通過判定單元判定為有異物混入的物品的個(gè)數(shù)占多個(gè)物品的總數(shù)的比例。而且，顯示控制單元使假想異物混入率顯示在顯示部上。因此，在需要變更實(shí)際基準(zhǔn)值的設(shè)定的情況下，操作者利用設(shè)定單元將假想基準(zhǔn)值設(shè)定在目標(biāo)值，由此與該假想基準(zhǔn)值對(duì)應(yīng)的假想異物混入率被顯示在顯示部上。其結(jié)果，操作者使用顯示部上顯示的假想異物混入率作為指標(biāo)，能夠有效地進(jìn)行實(shí)際基準(zhǔn)值的設(shè)定的變更作業(yè)。此外，假想異物混入率不是根據(jù)模擬等的預(yù)測(cè)，而是通過基于對(duì)多個(gè)物品進(jìn)行實(shí)際的檢查而取得的多個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)算出的，因此能夠?qū)⒄_的假想異物混入率提供給操作者。
5另外，上述多個(gè)物品優(yōu)選是在實(shí)際運(yùn)轉(zhuǎn)的生產(chǎn)線中通過上述x射線檢査裝置檢査的物品。使用通過實(shí)際運(yùn)轉(zhuǎn)的生產(chǎn)線的x射線檢查裝
置而取得的檢測(cè)數(shù)據(jù)，能夠求出假想異物混入率，因此沒有必要為了求出假想異物混入率而停止生產(chǎn)線的實(shí)際運(yùn)轉(zhuǎn)、進(jìn)行測(cè)試運(yùn)轉(zhuǎn)。其結(jié)果，能夠提高生產(chǎn)線的運(yùn)轉(zhuǎn)率。
另外，優(yōu)選在上述顯示部上一并顯示根據(jù)上述實(shí)際基準(zhǔn)值算出的實(shí)際異物混入率、和上述假想異物混入率。因?yàn)樵陲@示部上一并顯示實(shí)際異物混入率和假想異物混入率，所以操作者能夠在顯示部上通過目視容易對(duì)現(xiàn)在的實(shí)際異物混入率和基準(zhǔn)值變更后的假想異物混入率進(jìn)行比較。其結(jié)果，能夠有效地進(jìn)行基準(zhǔn)值的設(shè)定的變更作業(yè)。
另外，優(yōu)選地，使用多個(gè)檢測(cè)算法，每個(gè)檢測(cè)算法都可能檢測(cè)出異物，上述設(shè)定單元可以對(duì)每個(gè)檢測(cè)算法設(shè)定上述假想基準(zhǔn)值，上述判定單元用每個(gè)檢測(cè)算法判定是否有異物混入，上述計(jì)算單元對(duì)于每個(gè)檢測(cè)算法都算出上述假想異物混入率，在上述顯示部上顯示每個(gè)檢測(cè)算法的上述假想異物混入率。通過設(shè)定單元，對(duì)于每個(gè)檢測(cè)算法，將假想基準(zhǔn)值按期望設(shè)定，由此在顯示部上顯示每個(gè)檢測(cè)算法的假想異物混入率，因此，操作者使用在顯示部上顯示的各個(gè)檢測(cè)算法的假想異物混入率作為指標(biāo)，能夠有效地進(jìn)行每個(gè)檢測(cè)算法的實(shí)際基準(zhǔn)值的設(shè)定的變更作業(yè)。
另外，優(yōu)選地，根據(jù)每個(gè)檢測(cè)算法的是否有異物混入的判定結(jié)果，判定物品的良或不良，在上述顯示部上一并顯示每個(gè)檢測(cè)算法的上述假想異物混入率和物品的不良率。因?yàn)樵陲@示部上一并顯示每個(gè)檢測(cè)算法的假想異物混入率和物品的不良率，所以操作者能夠一邊通過目視確認(rèn)顯示部上顯示的這些信息， 一邊尋找用于達(dá)到目標(biāo)的不良率的每個(gè)檢測(cè)算法的假想基準(zhǔn)值的組合。
另外，優(yōu)選地，上述設(shè)定單元在上述顯示部上能夠設(shè)定上述假想基準(zhǔn)值，在上述顯示部上顯示上述假想基準(zhǔn)值的設(shè)定所允許的界限值。因?yàn)樵陲@示部上顯示假想基準(zhǔn)值的設(shè)定所允許的界限值，所以能夠預(yù)
先避免因操作者設(shè)定了超出允許范圍的非現(xiàn)實(shí)的基準(zhǔn)值而使x射線檢
査裝置的檢査精度極度降低的情況。
另外，優(yōu)選地，在上述顯示部上顯示從上述x射線照射部照射的X射線的強(qiáng)度。因?yàn)樵陲@示部上顯示從X射線照射部照射的X射線的強(qiáng)度，所以在X射線照射部的X射線源發(fā)生故障和隨時(shí)間劣化等問題
時(shí)，操作者通過參考顯示部上顯示的關(guān)于x射線的強(qiáng)度的信息，能夠知道x射線源發(fā)生問題。其結(jié)果，能夠預(yù)先避免不知道x射線源發(fā)生
問題而徒勞地進(jìn)行基準(zhǔn)值的變更作業(yè)的情況。


圖i是表示本發(fā)明實(shí)施方式的x射線檢查裝置的構(gòu)成例的正視圖。
圖2是表示X射線檢查裝置的其他構(gòu)成例的正視圖。
圖3是表示計(jì)算機(jī)的構(gòu)成的框圖。
圖4是表示閾值的設(shè)定例的圖。
圖5是表示閾值的其他設(shè)定例的圖。
圖6是顯示將存儲(chǔ)單元中存儲(chǔ)的多個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)圖表化的圖。圖7是表示在閾值變更時(shí)的動(dòng)作中顯示在顯示部上的圖像的例子的圖。
圖8是表示第一變形例的判定單元的構(gòu)成的框圖。
圖9是表示在閾值變更時(shí)的動(dòng)作中顯示在顯示部的圖像的例子的圖。
圖10是表示因隨時(shí)間劣化從X射線照射部照射的X射線的強(qiáng)度
降低狀況的圖。
圖11是表示與圖7對(duì)應(yīng)、在閾值變更時(shí)的動(dòng)作中顯示在顯示部上的圖像的例子的圖。
圖12是表示與圖9對(duì)應(yīng)、在閾值變更時(shí)的動(dòng)作中顯示在顯示部上的圖像的例子的圖。
附圖標(biāo)記說明
1 X射線檢査裝置；4 X射線照射部；5 X射線檢測(cè)部；9顯示部；10 計(jì)算機(jī)；22存儲(chǔ)單元；23程序；24設(shè)定單元；25判定單元；26計(jì)算單元；27顯示控制單元；100物品。
具體實(shí)施例方式
以下，利用附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)地說明。其中，在不同的附圖中標(biāo)有相同的附圖標(biāo)記的要素表示相同或相應(yīng)的要素。
圖1是表示根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式的X射線檢查裝置1的構(gòu)成例的正視圖。在屏蔽箱2上形成有用于從外部將作為檢査對(duì)象的食品等物品100搬入屏蔽箱2內(nèi)的物品搬入口 3A和用于從屏蔽箱2將檢查后的物品100搬出到外部的物品搬出口3B。另外，在圖2中，為了清楚顯示屏蔽箱2的內(nèi)部的結(jié)構(gòu)，顯示了取下屏蔽箱2的前面板的狀態(tài)的裝置結(jié)構(gòu)。
在屏蔽箱2的內(nèi)部配置有X射線照射部4和X射線檢測(cè)部5。 X射線檢測(cè)部5具有線傳感器6。線傳感器6沿著垂直于紙平面的方向延伸放置。X射線照射部4向著線傳感器6照射扇形形狀的X射線。也就是說，X射線照射部4與線傳感器6之間的空間被規(guī)定為X射線照射路徑。
另外，在屏蔽箱2內(nèi)配置有輸送設(shè)備7。輸送設(shè)備7具有巻裝在包括驅(qū)動(dòng)輥的多個(gè)輥上的輸送帶8。輸送設(shè)備7將載置在輸送帶8的物品輸送面上的物品100，以使得該物品100通過X射線照射部4與線傳感器6之間的X射線照射路徑的方式進(jìn)行輸送。在圖1所示的例子中，物品100由輸送設(shè)備7沿箭頭D1所示的方向輸送。也就是說，紙面的左側(cè)是物品輸送方向的上游側(cè)，右側(cè)是下游側(cè)。
另外，X射線檢査裝置1具有帶觸摸面板功能的顯示部9。由X射線檢査裝置1得到的物品100的檢査結(jié)果顯示在顯示部9上。另外，用于處理X射線檢測(cè)部5的檢測(cè)數(shù)據(jù)、并控制X射線檢査裝置1的動(dòng)作的計(jì)算機(jī)10內(nèi)置于X射線檢查裝置1中。
作為檢査對(duì)象物的物品100從X射線檢査裝置1的上游側(cè)(圖1中的左側(cè))向輸送帶8的上游端(圖1中的左側(cè))供給。載置在輸送帶8上的物品100在屏蔽箱2內(nèi)從上游向下游輸送，都通過X射線照射路徑。從X射線照射部4照射而透過物品100的X射線被X射線檢測(cè)部5的線傳感器6檢測(cè)。在物品100內(nèi)混入異物時(shí)，在該異物的混入位置，線傳感器6所檢測(cè)出的透過X射線的強(qiáng)度極低。因此，根據(jù)線傳感器6所檢測(cè)出的透過X射線的強(qiáng)度分布，能夠判定物品100內(nèi)的異物的有無、大小、混入位置等。
圖2是表示X射線檢査裝置1的其他構(gòu)成例的正視圖。與圖1所示的構(gòu)成例不同，計(jì)算機(jī)10不是內(nèi)置于X射線檢查裝置1，而是通過
信號(hào)電纜從外部連接于x射線檢查裝置。
圖3顯示圖1或圖2所示的計(jì)算機(jī)10的構(gòu)成的框圖。計(jì)算機(jī)10 被構(gòu)成為具有CPU20、 RAM等存儲(chǔ)器21、硬盤等存儲(chǔ)單元22。存儲(chǔ) 單元22可以是CPU20的內(nèi)部存儲(chǔ)器。存儲(chǔ)器21內(nèi)存儲(chǔ)有規(guī)定的程序 23。 CPU20從存儲(chǔ)器21讀出程序23并執(zhí)行，由此CPU20作為設(shè)定單 元24、判定單元25、計(jì)算單元26和顯示控制單元27發(fā)揮作用。也就 是說，程序23是使計(jì)算機(jī)10作為存儲(chǔ)單元22、設(shè)定單元24、判定單 元25、計(jì)算單元26和顯示控制單元27發(fā)揮作用的程序。
本實(shí)施方式的X射線檢査裝置1的動(dòng)作被大致分為使用現(xiàn)在設(shè)定 的閾值進(jìn)行物品100的檢査的動(dòng)作(以下稱為"通常時(shí)的動(dòng)作")和變 更設(shè)定的閾值時(shí)的動(dòng)作(以下稱為"閾值變更時(shí)的動(dòng)作")。
在通常時(shí)的動(dòng)作中，向CPU20輸入關(guān)于由X射線檢測(cè)部5取得的 透過X射線的強(qiáng)度的檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl 。判定單元25將檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl表示的 透過X射線的強(qiáng)度與現(xiàn)在設(shè)定的閾值(以下稱為"實(shí)際基準(zhǔn)值")進(jìn)行 比較，由此判定在物品100內(nèi)是否有異物混入。顯示控制單元27生成 并輸出用于使檢査結(jié)果顯示在顯示部9上的圖像信號(hào)S2。
X射線檢査裝置1對(duì)從位于上游的裝置連續(xù)或間歇地供給的多個(gè) 物品IOO，反復(fù)執(zhí)行同樣的檢査。存儲(chǔ)單元22存儲(chǔ)關(guān)于最近的規(guī)定期 間內(nèi)已被檢查的多個(gè)物品100 (以下稱為"對(duì)象物品100")的、由X 射線檢測(cè)部5取得的多個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl。
在變更閾值時(shí)的動(dòng)作中，通過使用者的操作，設(shè)定單元24設(shè)定期 望的假想基準(zhǔn)值。在本說明書中，所謂假想基準(zhǔn)值是指與關(guān)于對(duì)象物 IOO的實(shí)際檢査中所使用的實(shí)際基準(zhǔn)值不同的閾值。也就是說，變更實(shí) 際基準(zhǔn)值時(shí)的變更候補(bǔ)的閾值為假想基準(zhǔn)值，將閾值向假想基準(zhǔn)值的 變更動(dòng)作確定之后，假想基準(zhǔn)值就變成實(shí)際基準(zhǔn)值。
判定單元25將由設(shè)定單元24設(shè)定的假想基準(zhǔn)值與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單 元22內(nèi)的各檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl進(jìn)行比較。然后，根據(jù)其比較結(jié)果，判定假 設(shè)不是實(shí)際基準(zhǔn)值而設(shè)定了假想基準(zhǔn)值的情況下的各對(duì)象物100內(nèi)是 否有異物混入。
計(jì)算單元26根據(jù)對(duì)象物品100的總數(shù)和由判定單元25判定為混入異物的物品100的個(gè)數(shù)，算出異物混入率(以下，稱為"假想異物 混入率")。也就是說，計(jì)算單元26根據(jù)在假設(shè)設(shè)定了假想基準(zhǔn)值的情 況下由判定單元25判定為混入異物的物品100的個(gè)數(shù)占對(duì)象物品100 的總數(shù)的比例，來算出假想異物混入率。
顯示控制單元27生成并輸出用于使包括由計(jì)算單元26算出的假 想異物混入率的圖像顯示在顯示部9上的圖像信號(hào)S2。關(guān)于向顯示部 9顯示圖像的例子在后面詳細(xì)說明。
圖4是表示閾值的設(shè)定的例子的圖。圖中所示的曲線的橫軸為輸 送帶8的寬度方向的位置，縱軸為由X射線檢測(cè)部5檢測(cè)出的透過X 射線的強(qiáng)度。在透過X射線的強(qiáng)度分布K1中，對(duì)應(yīng)于物品100的形 狀，透過X射線的強(qiáng)度降低。另外，在強(qiáng)度分布K1中，對(duì)應(yīng)于異物 的混入位置，產(chǎn)生透過X射線的強(qiáng)度降低的方向的峰值P1。另外，在 強(qiáng)度分布K1中，產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于信號(hào)的干擾的峰值P2。
在X射線檢測(cè)部5得到強(qiáng)度分布Kl中的X射線強(qiáng)度的最小值作 為檢測(cè)數(shù)據(jù)S1。圖4所示的例子中，得到峰值P1的尖端位置的強(qiáng)度值 作為關(guān)于該物品100的檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl的值。
判定單元25，在檢測(cè)數(shù)據(jù)S1的值為閾值以上的情況下，判定為該 物品100中沒有混入異物，另一方面，在檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl的值小于閾值的 情況下，判定為該物品100中混入異物。
因此，閾值設(shè)定為H1的情況下，假設(shè)不產(chǎn)生峰值P1，檢測(cè)數(shù)據(jù) Sl的值(峰值P2的尖端位置的強(qiáng)度值)小于閾值H1。因此，在該情 況下，會(huì)將信號(hào)的干擾作為異物被誤檢出來。
閾值設(shè)定為H3的情況下，檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl的值(峰值P1的尖端位置 的強(qiáng)度值)為閾值H3以上。因此，在該情況下，發(fā)生異物的漏檢。
在閾值設(shè)定為H2的情況下，檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl的值(峰值P1的尖端位 置的強(qiáng)度值)小于閾值H2。因此，能夠正確檢測(cè)出異物。另外，假設(shè) 沒有產(chǎn)生峰值P1的情況下，檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl的值(峰值P2的尖端位置的 強(qiáng)度值)為閾值H2以上。因此，不會(huì)將信號(hào)的干擾作為異物誤檢出來。 因此，在圖4所示的例子中，最適當(dāng)?shù)拈撝禐殚撝礖2。
但是，有些食品制造者有時(shí)也允許混入對(duì)消費(fèi)者沒有害處的微量 異物(以下稱為"允許異物")。因此，在使得產(chǎn)生峰值P1的異物是允許異物的情況下，從降低不良率(不良物品占檢査物品總數(shù)的比例)
的觀點(diǎn)考慮，優(yōu)選將閾值設(shè)定為H3。
圖5是表示閾值的其他設(shè)定的例子的圖。不是圖4所示的一定值 的閾值H1 H3，如圖5所示，也可以設(shè)定具有與良品的強(qiáng)度分布K1 對(duì)應(yīng)的強(qiáng)度分布的閾值H4。
圖6是顯示將存儲(chǔ)單元22中存儲(chǔ)的多個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl圖表化的圖。 例如，在將閾值設(shè)定為H2時(shí)，屬于透射X射線的強(qiáng)度比閾值H2高的 區(qū)域(左側(cè)的區(qū)域)的物品100全部為良品，屬于透射X射線的強(qiáng)度 比閾值H2低的區(qū)域(右側(cè)的區(qū)域)的物品100全部為不良品。
圖7是表示在閾值變更時(shí)的動(dòng)作中顯示在顯示部9上的圖像的例 子的圖。在項(xiàng)目40中對(duì)象物品IOO的總數(shù)被顯示為檢查總數(shù)。也就是 說，顯示在最近的規(guī)定期間內(nèi)進(jìn)行檢查、并被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單元22內(nèi)的 檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl所示的物品100的總數(shù)。
項(xiàng)目41中顯示當(dāng)前的設(shè)定閾值(實(shí)際基準(zhǔn)值)、對(duì)應(yīng)實(shí)際基準(zhǔn)值 的NG數(shù)(不良數(shù))和NG發(fā)生率(不良率)、變更后的閾值(假想基 準(zhǔn)值)、對(duì)應(yīng)于假想基準(zhǔn)值的NG數(shù)(不良數(shù))和NG發(fā)生率(不良率)。 為了使操作者容易進(jìn)行比較，這些信息中的現(xiàn)在的值和變更后的值以 各信息分別上下并列的方式顯示。
項(xiàng)目42顯示圖6所示的曲線的示意圖形43。另外，圖形43中顯 示了表示實(shí)際基準(zhǔn)值的線45和表示假想基準(zhǔn)值的線46。圖形43的斜 下方顯示有指向左方向的方向指示圖形48和指向右方向的方向指示圖 形49。
如果操作者按下方向指示圖形48，那么該信息被輸入到CPU20中， 設(shè)定單元24將假想基準(zhǔn)值變更為更高的值。相反，如果操作者按下方 向指示圖形49，那么該信息被輸入到CPU20中，設(shè)定單元24將假想 基準(zhǔn)值變更為更低的值。判定單元25根據(jù)變更后的假想基準(zhǔn)值，判定 在各對(duì)象物品IOO內(nèi)是否有異物混入。另外，算出單元26根據(jù)對(duì)象物 品100的總數(shù)(檢査總數(shù))、和由判定單元25判定為混入異物的物品 100的個(gè)數(shù)(NG數(shù))，算出假想異物混入率(NG發(fā)生率)。另外，顯 示控制單元27將圖形43中的線46向左方向或右方向移動(dòng)，并在項(xiàng)目 41中分別顯示變更后的閾值、與其對(duì)應(yīng)的NG數(shù)和NG發(fā)生率。另外，在本實(shí)施方式的X射線檢查裝置1中，根據(jù)允許異物的程
度預(yù)先設(shè)定有假想基準(zhǔn)值的設(shè)定范圍界限值(下限值)。表示該界限值
的線47被顯示在圖形43中。如果操作者繼續(xù)按下方向指示圖形49， 由此使得線46與線47重疊，那么即使操作者再按下方向指示圖形49， 線46也不會(huì)再往右方向移動(dòng)。由此，限制將假定基準(zhǔn)值設(shè)定為小于界 限值的值。
操作者每次按下方向指示圖形48、 49時(shí)，與其相對(duì)應(yīng)，圖形43 中，線46移動(dòng)，同時(shí)在項(xiàng)目41中，更新變更后的閾值、NG數(shù)和NG 發(fā)生率的值。因此，操作者通過參考這些信息，可以尋找例如能夠達(dá) 到目標(biāo)的不良率的假想基準(zhǔn)值。當(dāng)找到適當(dāng)?shù)募傧牖鶞?zhǔn)值時(shí)，操作者 按下顯示部9上顯示的確定按鈕50。由此，其假想基準(zhǔn)值之后被采用 作為實(shí)際基準(zhǔn)值，執(zhí)行新的檢查。
利用這樣的根據(jù)本實(shí)施方式的X射線檢査裝置1和程序23，存儲(chǔ) 單元22存儲(chǔ)通過對(duì)對(duì)象物品100的檢查、在X射線檢測(cè)部5中得到的 關(guān)于透過X射線的強(qiáng)度的多個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)S1。另外，在閾值變更時(shí)的動(dòng) 作中，設(shè)定單元24設(shè)定與在對(duì)對(duì)象物品IOO進(jìn)行檢查中使用的實(shí)際基 準(zhǔn)值不同的假想基準(zhǔn)值，判定單元25根據(jù)假想基準(zhǔn)值與存儲(chǔ)在存儲(chǔ)單 元22中的各檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl的比較結(jié)果，判定在各物品100內(nèi)是否有異 物混入，計(jì)算單元26算出假想異物混入率作為由判定單元25判定混 入異物的物品100的個(gè)數(shù)占對(duì)象物品100的總數(shù)的比例。而且，顯示 控制單元27將假想異物混入率顯示在顯示部9上。
因此，在需要變更實(shí)際基準(zhǔn)值的設(shè)定的情況下，由設(shè)定單元24將 假想基準(zhǔn)值按期望進(jìn)行設(shè)定，由此將與該假想基準(zhǔn)值對(duì)應(yīng)的假想異物 混入率顯示在顯示部9上。其結(jié)果，操作者使用顯示在顯示部9上的 假想異物混入率作為指標(biāo)，能夠有效地進(jìn)行實(shí)際基準(zhǔn)值的設(shè)定的變更 操作。而且，假想異物混入率不是根據(jù)模擬等的預(yù)測(cè)，而是基于通過 對(duì)物品IOO進(jìn)行實(shí)際的檢査而取得的多個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl算出的，因此能 夠?qū)⒄_的假想異物混入率提供給操作者。
另外，根據(jù)本實(shí)施方式的X射線檢査裝置1，能夠使用由實(shí)際運(yùn) 轉(zhuǎn)的生產(chǎn)線的X射線檢查裝置1取得的檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl，求出假想異物混 入率。因此，為了求出假想異物混入率，不需要停止生產(chǎn)線的實(shí)際運(yùn)
12轉(zhuǎn)而進(jìn)行測(cè)試運(yùn)轉(zhuǎn)。其結(jié)果，能夠提高生產(chǎn)線的運(yùn)轉(zhuǎn)率，
另外，根據(jù)本實(shí)施方式的X射線檢査裝置1，在顯示部9上一并 顯示實(shí)際異物混入率(圖7的項(xiàng)目41中的現(xiàn)在的NG發(fā)生率)和假想 異物混入率。因此，操作者在顯示部9上能夠通過目視容易對(duì)現(xiàn)在的 實(shí)際異物混入率和基準(zhǔn)值變更后的假想異物混入率進(jìn)行比較。其結(jié)果， 能夠有效地進(jìn)行基準(zhǔn)值的設(shè)定的變更作業(yè)。
另外，根據(jù)本實(shí)施方式的X射線檢査裝置1，在顯示部9上顯示 假想基準(zhǔn)值的設(shè)定所允許的界限值(圖7的項(xiàng)目42中的線47)。因此， 能夠預(yù)先避免因操作者設(shè)定了超出允許范圍的非現(xiàn)實(shí)的基準(zhǔn)值，而使X 射線檢査裝置1的檢査精度極度降低的情況。
<第一變形例>
第一變形例的X射線檢查裝置1使用多個(gè)檢測(cè)算法，能夠?qū)γ總€(gè) 檢測(cè)算法進(jìn)行異物的檢測(cè)處理。
圖8是表示第一變形例的判定單元25的構(gòu)成的框圖。判定單元25 被構(gòu)成為具有濾波器50A 50C、比較部51A 51C和判定部52。例如， 濾波器50A和比較部51A利用容易檢測(cè)出2mm以下的異物的檢測(cè)算 法進(jìn)行異物檢測(cè)。另外，濾波器50B和比較部51B利用容易檢測(cè)出2 4mm的異物的檢測(cè)算法進(jìn)行異物檢測(cè)。另夕卜，濾波器50C和比較部51 C利用容易檢測(cè)出4mm以上的異物的檢測(cè)算法進(jìn)行異物檢測(cè)。
與基于由X射線檢測(cè)部5檢測(cè)的透過X射線作成的X射線透過圖 像有關(guān)的圖像信號(hào)，作為檢測(cè)數(shù)據(jù)Sl被輸入到濾波器50A 50C中。 濾波器50A 50C對(duì)每個(gè)檢測(cè)算法使用不同的濾波器系數(shù)，對(duì)圖像信 號(hào)分別執(zhí)行濾波處理，分別輸出與濾波處理后的圖像信號(hào)有關(guān)的檢測(cè) 數(shù)據(jù)S1A S1C。檢測(cè)數(shù)據(jù)S1A S1C分別被輸入到比較部51A 51C。
另外，在比較部51A 51C中分別輸入閾值HA HC。閾值HA HC可以對(duì)每個(gè)檢測(cè)算法分別設(shè)定。比較部51A 51C通過分別對(duì)以各 檢測(cè)數(shù)據(jù)S1A S1C表示的透過X射線的強(qiáng)度和各閾值HA HC進(jìn)行 比較，對(duì)每個(gè)檢測(cè)算法分別判定在物品100內(nèi)是否有異物混入。與由 各比較部51A 51C得到的判定結(jié)果有關(guān)的數(shù)據(jù)S3A S3C被輸入到 判定部52中。
另外，在判定部52中輸入與判定規(guī)則有關(guān)的數(shù)據(jù)R。判定規(guī)則的內(nèi)容可以例如由食品的制造者按期望設(shè)定。判定部52根據(jù)數(shù)據(jù)R和從 比較部51A 51C輸入的數(shù)據(jù)S3A S3C，判定物品100的良或不良， 輸出與該判定結(jié)果有關(guān)的數(shù)據(jù)S4。
例如，在采用設(shè)定2mm以下的異物作為允許異物的判定規(guī)則的情 況下，在數(shù)據(jù)S3A中即使被認(rèn)為有異物混入，如果在數(shù)據(jù)S3B、 S3C 中被認(rèn)為沒有異物混入，則判定部52也將該物品100作為良品處理。 另外，在采用沒有設(shè)定允許異物的判定規(guī)則的情況下，如果在數(shù)據(jù) S3A S3C的任一個(gè)中被認(rèn)為有異物混入，則判定部52將該物品100 作為不良品處理。
圖9是表示在閾值變更時(shí)的動(dòng)作中顯示在顯示部9上的圖像的例 子的圖。在項(xiàng)目41中包括對(duì)應(yīng)各檢測(cè)算法的項(xiàng)目41A 41C。項(xiàng)目41 中所顯示的"級(jí)別l"對(duì)應(yīng)于容易檢測(cè)出2mm以下的異物的檢測(cè)算法， "級(jí)別2"對(duì)應(yīng)于容易檢測(cè)出2 4mm的異物的檢測(cè)算法，"級(jí)別3" 對(duì)應(yīng)于容易檢測(cè)出4mm以上的異物的檢測(cè)算法。各項(xiàng)目41A 41C的 內(nèi)容與圖7中所示的項(xiàng)目41相同。
在項(xiàng)目42中包括與各檢測(cè)算法對(duì)應(yīng)的圖形43A 43C。各圖形 43A 43C的內(nèi)容與圖7中所示的圖形43相同。另外顯示了與各圖形 43A 43C對(duì)應(yīng)的確定按鈕50A 50C。
另外，在項(xiàng)目41和項(xiàng)目42之間顯示項(xiàng)目55、 56。項(xiàng)目55中上下 并列地顯示基于實(shí)際基準(zhǔn)值而判定得到的現(xiàn)在的不良數(shù)和基于假想基 準(zhǔn)值判定而得到的變更后的不良數(shù)。項(xiàng)目56中上下并列地顯示基于實(shí) 際基準(zhǔn)值算出的現(xiàn)在的不良率和基于假想基準(zhǔn)值算出的變更后的不良 率。
在第一變形例的X射線檢查裝置1中，設(shè)定單元24能夠?qū)γ總€(gè)檢 測(cè)算法設(shè)定假想基準(zhǔn)值，判定單元25對(duì)每個(gè)檢測(cè)算法判定是否有異物 混入，計(jì)算單元26對(duì)每個(gè)檢測(cè)算法算出假想異物混入率。另外，在顯 示部9上一并顯示每個(gè)檢測(cè)算法的假想異物混入率(NG發(fā)生率)和物 品100的不良率。
以下對(duì)具有代表性的級(jí)別1的閾值變更時(shí)的動(dòng)作進(jìn)行說明。關(guān)于 級(jí)別2和級(jí)別3也相同，因此省略說明。
如果操作者按下方向指示圖形48A，則該信息被輸入到CPU20中，設(shè)定單元24將關(guān)于級(jí)別1的假想基準(zhǔn)值變更為更高的值。相反，如果 操作者按下方向指示圖形49A，則該信息被輸入至CPU20中，設(shè)定單 元24將級(jí)別1有關(guān)的假想基準(zhǔn)值變更為更低的值。判定單元25根據(jù) 關(guān)于級(jí)別1的變更后的假想基準(zhǔn)值，判定在各對(duì)象物品100內(nèi)是否有 異物混入。另夕卜，計(jì)算單元26根據(jù)對(duì)象物品IOO的總數(shù)(檢查總數(shù)) 和關(guān)于級(jí)別1由判定單元25判定為混入異物的物品100的個(gè)數(shù)(NG 數(shù))，算出關(guān)于級(jí)別1的假想異物混入率(NG發(fā)生率)。另外，顯示控 制單元27在將圖形43A中的線46A向左方向或右方向移動(dòng)的同時(shí)， 在項(xiàng)目41A中分別顯示關(guān)于級(jí)別1的變更后的閾值、以及對(duì)應(yīng)其的NG 數(shù)和NG發(fā)生率。
操作者每次按下方向指示圖形48A、 49A，與其對(duì)應(yīng)，在圖形43A 中，使線46A移動(dòng)，在項(xiàng)目41A中，關(guān)于級(jí)別1的變更后的閾值、NG 數(shù)和NG發(fā)生率的值被更新。另外，在項(xiàng)目55、 56中，變更后的不良 數(shù)和不良率被更新。因此，操作者通過參照這些信息，能夠?qū)ふ依?能夠達(dá)到目標(biāo)不良率的關(guān)于級(jí)別1的假想基準(zhǔn)值。當(dāng)發(fā)現(xiàn)關(guān)于級(jí)別1 的適當(dāng)?shù)募傧牖鶞?zhǔn)值時(shí)，操作者按下確定按鈕50A。由此，該假想基 準(zhǔn)值之后作為關(guān)于級(jí)別1的實(shí)際基準(zhǔn)值被采用，執(zhí)行新的檢查。
利用這樣的根據(jù)第一變形例的X射線檢查裝置1，通過設(shè)定單元 24對(duì)每個(gè)檢測(cè)算法將假想基準(zhǔn)值按期望設(shè)定，將每個(gè)檢測(cè)算法的假想 異物混入率顯示在顯示部9上。其結(jié)果，操作者使用顯示部9上顯示 的每個(gè)檢測(cè)算法的假想異物混入率作為指標(biāo)、能夠有效地進(jìn)行各檢測(cè) 算法的實(shí)際基準(zhǔn)值的設(shè)定的變更作業(yè)。
另外，根據(jù)第一變形例的X射線檢査裝置1，在顯示部9上一并 顯示每個(gè)檢測(cè)算法的假想異物混入率和物品的不良率。因此，操作者 能夠一邊目視確認(rèn)顯示部9上顯示的這些信息， 一邊尋找用于達(dá)到目 標(biāo)不良率的各個(gè)檢測(cè)算法的假想基準(zhǔn)值的組合。
<第二變形例>
圖10是表示因隨時(shí)間劣化而從X射線照射部4照射的X射線的 強(qiáng)度降低的狀況的圖。用虛線表示的強(qiáng)度分布K1是基于從初期狀態(tài)的 X射線照射部4照射的X射線的強(qiáng)度分布，用實(shí)線表示的強(qiáng)度分布Kl 是基于從隨時(shí)間劣化的X射線照射部4照射的X射線的強(qiáng)度分布。如圖10所示，從隨時(shí)間劣化的X射線照射部4照射的X射線的強(qiáng)度降 低時(shí)，由X射線檢測(cè)部5檢測(cè)的透過X射線的強(qiáng)度也全部降低。其結(jié) 果，即使物品100中沒有混入異物的情況下，由于強(qiáng)度分布K1的一部 分小于閾值H2，因此作為異物被誤檢出來。
因此，在第二變形例中，檢測(cè)從X射線照射部4照射的X射線的 強(qiáng)度，將該信息顯示在顯示部9上，由此使得操作者能夠了解X射線 照射部4的X射線源中發(fā)生故障或隨時(shí)間劣化的情況。
從X射線照射部4照射的X射線的強(qiáng)度能夠例如通過檢測(cè)與物品 100沒有重疊的部分的線傳感器的電流值，然后將該電流值換算成X 射線的強(qiáng)度值而求出。如圖IO所示，從初期狀態(tài)的X射線照射部4照 射的X射線的強(qiáng)度作為強(qiáng)度值M1被檢測(cè)出，從隨時(shí)間劣化的X射線 照射部4照射的X射線的強(qiáng)度作為強(qiáng)度值M2被檢測(cè)出。
圖11是與圖7對(duì)應(yīng)的、表示在閾值變更時(shí)的動(dòng)作中顯示在顯示部 9上的圖像的例子的圖。另外，圖12是與圖9對(duì)應(yīng)的、表示在閾值變 更時(shí)的動(dòng)作中顯示在顯示部9上的圖像的例子的圖。在顯示部9中另 外顯示有項(xiàng)目60。在項(xiàng)目60中上下并列地顯示關(guān)于從X射線照射部4 照射的X射線的強(qiáng)度的初期值和現(xiàn)在的值。
這樣，根據(jù)第二變形例的X射線檢查裝置1，在顯示部9上顯示 從X射線照射部4照射的X射線的強(qiáng)度。因此，在X射線照射部4的 X射線源中發(fā)生故障或隨時(shí)間劣化等問題時(shí)，操作者通過參照在顯示 部9上所顯示的有關(guān)X射線的強(qiáng)度的信息，能夠了解在X射線源中發(fā) 生問題。其結(jié)果，能夠預(yù)先避免不知道X射線源發(fā)生問題而徒勞地進(jìn) 行基準(zhǔn)值的變更作業(yè)的情況。
權(quán)利要求
1.一種X射線檢查裝置，其從X射線照射部向物品照射X射線，通過X射線檢測(cè)部檢測(cè)出透過物品的X射線，根據(jù)在所述X射線檢測(cè)部檢測(cè)到的X射線的強(qiáng)度與規(guī)定的基準(zhǔn)值的比較結(jié)果，判定物品的良或不良，該X射線檢查裝置的特征在于，包括存儲(chǔ)單元，其存儲(chǔ)通過對(duì)多個(gè)物品進(jìn)行檢查、在所述X射線檢測(cè)部取得的關(guān)于X射線強(qiáng)度的多個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)；設(shè)定單元，其設(shè)定與在檢查所述多個(gè)物品中使用的實(shí)際基準(zhǔn)值不同的假想基準(zhǔn)值，作為所述規(guī)定的基準(zhǔn)值；判定單元，其根據(jù)所述假想基準(zhǔn)值與所述存儲(chǔ)單元中存儲(chǔ)的各檢測(cè)數(shù)據(jù)的比較結(jié)果，判定在各物品內(nèi)是否有異物混入；計(jì)算單元，其算出假想異物混入率，作為通過所述判定單元判定為有異物混入的物品的個(gè)數(shù)占所述多個(gè)物品的總數(shù)的比例；和顯示控制單元，其使所述假想異物混入率顯示在顯示部上。
2. 如權(quán)利要求1所述的X射線檢查裝置，其特征在于所述多個(gè)物品是在實(shí)際運(yùn)轉(zhuǎn)的生產(chǎn)線中由所述X射線檢查裝置檢查的物1=1叩o
3. 如權(quán)利要求1所述的X射線檢査裝置，其特征在于在所述顯示部上一并顯示根據(jù)所述實(shí)際基準(zhǔn)值算出的實(shí)際異物混入率和所述假想異物混入率。
4. 如權(quán)利要求1所述的X射線檢查裝置，其特征在于使用多個(gè)檢測(cè)算法，對(duì)每個(gè)檢測(cè)算法都能夠檢測(cè)出異物，所述設(shè)定單元對(duì)每個(gè)檢測(cè)算法都能夠設(shè)定所述假想基準(zhǔn)值，所述判定單元對(duì)每個(gè)檢測(cè)算法都判定是否有異物混入，所述計(jì)算單元對(duì)每個(gè)檢測(cè)算法都算出所述假想異物混入率，所述顯示部顯示每個(gè)檢測(cè)算法的所述假想異物混入率。
5. 如權(quán)利要求4所述的X射線檢查裝置，其特征在于-根據(jù)每個(gè)檢測(cè)算法的是否有異物混入的判定結(jié)果，判定物品的良或不良， 在所述顯示部上一并顯示每個(gè)檢測(cè)算法的所述假想異物混入率和物品的不良率。
6. 如權(quán)利要求1所述的X射線檢査裝置，其特征在于 所述設(shè)定單元在所述顯示部上能夠設(shè)定所述假想基準(zhǔn)值， 在所述顯示部上顯示所述假想基準(zhǔn)值的設(shè)定所允許的界限值。
7. 如權(quán)利要求1 6中任一項(xiàng)所述的X射線檢査裝置，其特征在于-在所述顯示部上顯示從所述X射線照射部照射的X射線的強(qiáng)度。
全文摘要
本發(fā)明提供一種通過向操作者提供變更基準(zhǔn)值(閾值)的設(shè)定時(shí)的指標(biāo)、能夠有效地進(jìn)行變更基準(zhǔn)值設(shè)定操作的X射線檢查裝置。該X射線檢查裝置具有存儲(chǔ)單元，存儲(chǔ)通過對(duì)多個(gè)物品進(jìn)行檢查、在X射線檢測(cè)部取得的關(guān)于X射線強(qiáng)度的多個(gè)檢測(cè)數(shù)據(jù)；設(shè)定單元，設(shè)定與在對(duì)多個(gè)物品進(jìn)行檢查中使用的實(shí)際基準(zhǔn)值不同的假想基準(zhǔn)值，作為規(guī)定的基準(zhǔn)值；判定單元，根據(jù)假想基準(zhǔn)值與存儲(chǔ)單元中存儲(chǔ)的各檢測(cè)數(shù)據(jù)的比較結(jié)果，判定在各物品內(nèi)是否有異物混入；計(jì)算單元，算出假想異物混入率，作為通過判定單元判定為有異物混入的物品的個(gè)數(shù)占多個(gè)物品的總數(shù)的比例；和顯示控制單元，使假想異物混入率顯示在顯示部上。
文檔編號(hào)G01N23/04GK101661007SQ20091016859
公開日2010年3月3日 申請(qǐng)日期2009年8月25日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月28日
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