專利名稱：電阻法鑒別中小功率三極管質(zhì)量的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)利用萬用表檢測中小功率三極管結(jié)電阻，以鑒別其質(zhì)量的創(chuàng)新技 術(shù)。二、與發(fā)明相關(guān)的現(xiàn)有技術(shù)現(xiàn)今世界各國用萬用表只能檢測出2個(gè)中小功率三極管結(jié)電阻阻值，還不能測量 出5個(gè)結(jié)電阻阻值。一九九八年元月遼寧科技出版社出版了，由中國人民解放軍某部隊(duì)專 業(yè)研究所所長，高級(jí)工程師杜虎林編著的權(quán)威著作一《用萬用表檢測電子元器件》，該書所 介紹的檢測技術(shù)，也只能檢測出2個(gè)數(shù)據(jù)。雖說一九九四年元月人民郵電出版社出版的，由 章長生編著的《用萬用表檢修彩色電視機(jī)(修訂本)》一書中列出了六個(gè)結(jié)電阻阻值，且用 RX 10，RX IK歐姆檔測量，但是那六個(gè)電阻值為技術(shù)理論值，除了少數(shù)幾個(gè)國家可以在實(shí)驗(yàn) 室檢測出來以外，實(shí)際應(yīng)用中是測量不出來的，即便是美國、日本和西歐國家在檢測晶體管 時(shí)，也沒有利用上。我八百多本電子技術(shù)書刊中，有關(guān)檢測晶體管的內(nèi)容，即使是2002年出 版的，也反映出目前還沒有能夠檢測出2個(gè)以上結(jié)電阻阻值的技術(shù)。事實(shí)上無論進(jìn)口還是 國產(chǎn)三極管，盡管是優(yōu)質(zhì)的，連六個(gè)非技術(shù)理論電阻值都體現(xiàn)不出來，更不用說符合六個(gè)技 術(shù)理論值了。再一目前還沒有晶體管實(shí)測正反向結(jié)電阻阻值范圍。這些就是晶體管現(xiàn)有檢 測技術(shù)中存在的問題。這一問題，限制了“電阻法”檢測技術(shù)的應(yīng)用范圍，也成為強(qiáng)電電子 產(chǎn)品開發(fā)研究的障礙。三、發(fā)明的目的1、怎樣選擇萬用表歐姆檔檔位實(shí)測晶體管結(jié)電阻阻值？2、晶體管的各結(jié)電阻實(shí)測正反向阻值范圍是多少？3、總結(jié)晶體管質(zhì)量的鑒別技術(shù)。四、發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容目前絕大多數(shù)PNP型晶體管為鍺材料，絕大多數(shù)NPN型三極管為硅材料。現(xiàn)在分 別介紹這兩種晶體管質(zhì)量的檢測技術(shù)方案。(一)PNP型三極管質(zhì)量的檢測1、測量正向電阻1)萬用表量程撥至RX 10歐姆檔，be、be正向結(jié)電阻應(yīng)為幾十歐姆至幾百歐。2)萬用表量程撥至RX 10歐姆檔或RX IOK歐姆檔，ce正向電阻為幾百歐至⑴。2、測反向電阻萬用表量程撥至RX IOk歐姆檔。be、bc反向結(jié)電阻為幾十千歐至⑴，ce反向結(jié)電 阻為幾十干歐至⑴。符合以上正反向電阻值的PNP型三極管為為合格品。(二)NPN型三極管質(zhì)量的檢測1、測正向電阻1)萬用表量程撥至RX 10歐姆檔，be、be正向結(jié)電阻為幾十歐姆至幾百歐。2)萬用表量程撥至RX IOK歐姆檔，ce正向電阻為幾千千歐至⑴。
2、測反向電阻萬用表量程撥至RX IOK歐姆檔，be、ce反向結(jié)電阻均為幾百千歐至⑴，be反向結(jié) 電阻為⑴。符合以上數(shù)據(jù)的NPN型三極管為合格品。小結(jié)1、PNP型或NPN型三極管內(nèi)部在不短路、斷線的情況下，反向結(jié)電阻與正向 結(jié)電阻的比值越大越好。但正反向結(jié)電阻最小值不能低于技術(shù)理論值，結(jié)電阻過小，穩(wěn)定性 差，這樣的三極管也不是合格品。2、在檢測PNP型三極管質(zhì)量的第1. 2)步驟和第2步驟中，萬用表指針不會(huì)動(dòng)的， 實(shí)測時(shí)動(dòng)了一點(diǎn)，按以上數(shù)據(jù)指針只動(dòng)一點(diǎn)的管子，實(shí)測時(shí)動(dòng)得大一些，這樣的三極管就是 優(yōu)質(zhì)的，也可以說正反向結(jié)電阻阻值接近或等于技術(shù)理論值的三極管就是優(yōu)質(zhì)三極管。3、在檢測NPN型三極管質(zhì)量的第1. 2)步驟和第2步驟中，示值應(yīng)為⑴的NPN型三 極管，實(shí)測時(shí)萬用表指針則動(dòng)了一點(diǎn)，按數(shù)據(jù)規(guī)律指針動(dòng)一點(diǎn)的管子，實(shí)測時(shí)指針擺動(dòng)得大 些，這樣的NPN型三極管是優(yōu)質(zhì)的，也可以說正反向結(jié)電阻阻值接近或等于技術(shù)理論值的 NPN型三極管是優(yōu)質(zhì)的。4、PNP型或NPN型三極管結(jié)電阻為⑴時(shí)，若為內(nèi)部斷線，則其余各極間結(jié)電阻阻值 就不會(huì)符合以上正反向阻值范圍。5、用RX 10歐姆實(shí)測三極管時(shí)，如果be或be正向結(jié)電阻為⑴。改用RX IOk歐姆 檔測量極為⑴，說明be或be結(jié)斷線。6、用RX IOK歐姆檔測PNP型或NN型三極管，如果測得be、bc或ce反向結(jié)電阻為 0，改用RX 10歐姆檔測量還是零，說明PN結(jié)反向擊穿短路。五、發(fā)明的效果對三極管結(jié)電阻的檢測，世界各國只能測出2個(gè)數(shù)據(jù)，本發(fā)明巧妙地變換測量檔 位，將RX IK檔上提到RX IOK檔，增大了測量電壓，測量靈敏度提高了，也就成功地測出了 5個(gè)數(shù)據(jù)，使萬用表檢測晶體管質(zhì)量的技術(shù)邁出了實(shí)質(zhì)性的一步，是質(zhì)的變化。值得一提的 是用RX IOK檔檢測正向高阻，尤其是反向電阻，只有微安級(jí)電流不足以燒壞管子，只能說 不能用RXlOK檔檢測正向低阻。另外根據(jù)實(shí)際檢測經(jīng)驗(yàn)系統(tǒng)歸納總結(jié)出了晶體管質(zhì)量好 壞的判斷技術(shù)。通過數(shù)據(jù)分析得出了實(shí)測晶體管正反向結(jié)電阻阻值范圍，并作為鑒別晶體 管質(zhì)量的依據(jù)。這一檢測技術(shù)的改進(jìn)為檢測儀表的研究提供了切實(shí)可行的思路，即提高萬 用表工作電壓，增大靈敏度，要測出六個(gè)數(shù)據(jù)是可望實(shí)現(xiàn)的。再有這一檢測技術(shù)的改進(jìn)，使 “電阻法”檢測技術(shù)真正達(dá)到了較完善的實(shí)用階段，并且發(fā)展了 “替代法”技術(shù)，也使強(qiáng)電產(chǎn) 品的開發(fā)研究視野更加廣闊。六、附圖及其說明


圖1左上區(qū)間為檢測PNP型晶體管be間正反向結(jié)電阻原理圖。圖1左下區(qū)間為測量PNP型三極管be間正反向結(jié)電阻原理圖。圖1右區(qū)間為測量PNP型三極管ce間正反向結(jié)電阻原理圖。圖2左上區(qū)間為測量NPN型三極管be間正反向結(jié)電阻原理圖。圖2左下區(qū)間為檢測NPN型三極管be間正反向結(jié)電阻原理圖。圖2右區(qū)間為檢測NPN型三極管ce間正反向結(jié)電阻原理圖。H-萬用表測量高阻；
L-萬用表檢測低阻；A-萬用表紅表筆；B-萬用表黑表筆；b-三極管基極；C-三極管集電極；e-三極管發(fā)射極。七、實(shí)現(xiàn)發(fā)明的最好方式例1 以3DG12晶體管為例。該晶體管為硅NPN型高頻小功率管，用500型萬用表 檢測。1)按圖2檢測be間正反向結(jié)電阻，萬用表RX 10檔檢測正向電阻，結(jié)果為120歐。 用RX IOk檔檢測反向電阻①。2)按圖2檢測be間正反向結(jié)電阻。用RX 10檔測正向電阻為120歐。用RX IOk 檔測反向電阻為300k。3)按圖2，且用RXlOk檔測ce間正反向結(jié)電阻。結(jié)果正向電阻為⑴，反向電阻為 560千歐。 所以這只三極管為合格品。例2，判斷3DG6晶體管的故障。該三極管為硅NPN型高頻小功率三極管。按圖1測其be間正反向結(jié)電阻，萬用表 拔至RX 10歐姆檔檢測正反向結(jié)電阻均為零，故可判斷be間PN結(jié)短路。例3，判斷3DG6A的故障。該三極管為硅NPN型高頻小功率管，按圖2用RX 10歐姆檔檢測be間正向電阻為 ⑴，用RXlk檔，RXlOk檔復(fù)測仍為⑴，說明該三極管內(nèi)部斷線。
權(quán)利要求
電阻法鑒別中小功率三極管質(zhì)量的發(fā)明，可以檢測出中小功率三極管結(jié)電阻，且歸納了實(shí)測正反向結(jié)電阻阻值范圍，其特征是A、測量PNP型三級(jí)管正向電阻①萬用表量程拔至R×10歐姆檔，be、bc正向結(jié)電阻應(yīng)為幾十歐姆至幾百歐；②萬用表量程拔至R×10歐姆檔或R×10K歐姆檔，ce正向電阻為幾百歐至∞；B、測量PNP型三級(jí)管反向電阻萬用表量程拔至R×10K歐姆檔，be、bc、ce反向結(jié)電阻為幾十千歐至∞；符合步驟A、B的正反向電阻值范圍的PNP型三極管為合格品；C、測量NPN型三極管正向電阻①萬用表量程拔至R×10歐姆檔，be、bc正向結(jié)電阻為幾十歐至幾百歐；②萬用表量程拔至R×10K歐姆檔，ce正向結(jié)電阻為幾千千歐至∞；D、測量NPN型三極管反向電阻萬用表量程拔至R×10K歐姆檔，be、ce反向結(jié)電阻均為幾百千歐至∞，bc反向結(jié)電阻為∞；符合步驟C、D數(shù)據(jù)范圍的NPN型三極管為合格品。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述電阻法鑒別中小功率三極管質(zhì)量的檢測技術(shù)，其特征是在步 驟A、B、C、D中PNP型或NPN型三極管內(nèi)部在不短路、斷線的情況下，反向結(jié)電阻與正向結(jié)電 阻的比值越大越好。但正反向結(jié)電阻最小值不能低于技術(shù)理論值，結(jié)電阻過小，穩(wěn)定性差， 這樣的三極管也不是合格品。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述電阻法鑒別中小功率三極管質(zhì)量的檢測技術(shù)，其特征是1、在 步驟A②和步驟B中萬用表指針不會(huì)動(dòng)的，即示值應(yīng)為⑴的PNP型三極管，實(shí)測時(shí)萬用表指 針則動(dòng)了一點(diǎn)，按數(shù)據(jù)規(guī)律指針只動(dòng)一點(diǎn)的管子，實(shí)測時(shí)指針擺動(dòng)得大一些，這樣的PNP型 三極管就是優(yōu)質(zhì)的，也可以說正反向結(jié)電阻阻值接近或等于技術(shù)理論值的PNP型三極管就 是優(yōu)質(zhì)的；II、在步驟C②和步驟D中，示值應(yīng)為⑴的NPN型三極管，實(shí)測時(shí)萬用表指針則動(dòng)了 一點(diǎn)，按數(shù)據(jù)規(guī)律指針動(dòng)一點(diǎn)的管子，實(shí)測時(shí)指針擺動(dòng)得大些，這樣的NPN型三極管是優(yōu)質(zhì) 的，也可以說正反向結(jié)電阻阻值接近或等于技術(shù)理論值的NPN型三極管是優(yōu)質(zhì)的。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述電阻法鑒別中小功率三極管質(zhì)量的檢測技術(shù)，其特征是1、在 步驟A②和B中，PNP型三極管結(jié)電阻為⑴時(shí)，若為內(nèi)部斷線，則其余各極間結(jié)電阻阻值就 不會(huì)符合數(shù)據(jù)規(guī)律；II、在步驟C②和步驟D中，NPN型三極管的結(jié)電阻為⑴時(shí)，若為內(nèi)部斷線，則其余各極 間結(jié)電阻阻值不符合數(shù)據(jù)規(guī)律。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述電阻法鑒別中小功率三極管質(zhì)量的檢測技術(shù)，其特征是1)在 步驟A中，用RX 10歐姆檔實(shí)測PNP型晶體管時(shí)，測得be或be正向結(jié)電阻為c ，改用RX IOK 歐姆檔測量仍為⑴，說明be或bcPN結(jié)斷線；2)在步驟C①中，用RX 10歐姆檔實(shí)測NPN型三極管時(shí)，測得be、bc正向結(jié)電阻為⑴， 改用RX IOK歐姆檔測量仍為⑴，則be或bcPN結(jié)斷線。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述電阻法鑒別中小功率三極管質(zhì)量的檢測技術(shù)，其特征是1)在步驟B中，用RX IOK歐姆檔實(shí)測PNP型三極管反向電阻時(shí)，如果測得be、bc或ce反向結(jié)電阻為0，改用RXlO歐姆檔測量仍為0，則PN結(jié)反向擊穿短路；2)在步驟D中，用RX IOK歐姆檔實(shí)測NPN型三極管反向電阻時(shí)，如果測得be、bc或ce 反向結(jié)電阻為0，改用RX 10歐姆檔測量仍為0，則PN結(jié)反向擊穿短路。
全文摘要
電阻法鑒別中小功率三極管質(zhì)量的發(fā)明，用萬用表檢測結(jié)電阻，主要存在萬用表檔位，實(shí)測阻值范圍和質(zhì)量鑒別的技術(shù)問題。解決方案是1、無論何種管型均用R×10檔測正向電阻，R×10K檔測反向電阻。2、對于PNP型三極管be、bc正向結(jié)電阻是幾十歐至幾百歐，ce正向結(jié)電阻為幾百歐至∞；be、bc、ce反向結(jié)電阻為幾十千歐至∞。對于NPN型三極管be、bc正向結(jié)電阻是幾十歐至幾百歐，ce正向結(jié)電阻為幾千千歐至∞。be、ce反向結(jié)電阻為幾百千歐至∞，bc反向結(jié)電阻為∞。3、在技術(shù)理論值范圍內(nèi)，反正向結(jié)電阻比值越大越好。通常硅管結(jié)電阻大于鍺管。正反向結(jié)電阻等于技術(shù)理論值，為優(yōu)質(zhì)管。三極管內(nèi)部斷線，各結(jié)電阻阻值不合規(guī)律。
文檔編號(hào)G01R31/02GK101900758SQ20091016856
公開日2010年12月1日 申請日期2009年8月19日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月19日
發(fā)明者蔡忠貞 申請人:蔡忠貞