專利名稱：一種帶壓力調(diào)節(jié)的移動探針測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種檢測裝置，特別涉及一種移動探針測試裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的移動探針測試裝置，移動探針通過接觸測試焊盤和導(dǎo)通孔從而測試被 測PCB板的電性能，在測試過程中，探針在接觸到電路板時，由于壓力控制不當(dāng)， 容易在電路板表面鍍層產(chǎn)生壓痕，當(dāng)壓力較大時會影響測試速度并產(chǎn)生假測現(xiàn) 象。
發(fā)明內(nèi)容
本實用新型的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種能監(jiān)測和調(diào)節(jié)移動探針 壓力的移動探針測試裝置。
實現(xiàn)上述發(fā)明目的的技術(shù)方案是 一種帶壓力調(diào)節(jié)的移動探針測試裝置，包 括探頭支架，在其基面上固定有探針，所述移動探針測試裝置還包括一個探針壓 力測控裝置，用于測試探針在受力面上所受的壓力并控制壓力。
所述探針壓力測控裝置的結(jié)構(gòu)可以是所述探針采用可變形的彈性測試探 針，在探針的可變形基面表面設(shè)有反光帶，在基面的上方設(shè)有基板，基板上帶有 透光孔，在透光孔的正上方設(shè)有光電傳感器，光電傳感器的輸出與控制設(shè)備連接。
所述探針壓力檢測裝置工作原理是探針接觸被測印制電路板時，其基面
受力產(chǎn)生形變，基面上的反光帶落在透光孔正投影面內(nèi)的面積產(chǎn)生變化，由反
光帶投射在光電傳感器上的光的強度變化，光電傳感器因此檢測到探針壓力的變 化信號，傳送給控制設(shè)備可控制其壓力的大小。
所述光電傳感器可以采用反射式光電耦合器，由探針上的反光帶對光電耦合 器的發(fā)射管所發(fā)射的光電信號，通過透光孔直接反射到接受管上產(chǎn)生電壓信號， 反光膜進(jìn)入透光孔面積越大，信號越強，壓力檢測裝置通過光電耦合器的電壓變 化檢測探頭的壓力大小。作為本實用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，在所述基板上設(shè)有位置調(diào)節(jié)裝置，用于調(diào)節(jié) 探針和被測電路板的相對位置，設(shè)置壓力檢測基點，達(dá)到調(diào)節(jié)壓力目的。
本實用新型通過在該探針上方設(shè)置壓力測控裝置，通過調(diào)節(jié)光電傳感器和探 針上反光帶之間的透光位置,使光電傳感器感應(yīng)的信號變化，控制設(shè)備根據(jù)信號 進(jìn)行控制，達(dá)到調(diào)節(jié)測試探頭壓力的目的。本實用新型的采用可解決移動探針測 試中測試探頭在接觸到電路板時,適當(dāng)?shù)目刂聘咚贉y試過程中探頭對電路板表面 鍍層的壓力，減輕壓痕，提高測試速度并減少測試過程中的假測現(xiàn)象。


圖1是本實用新型實施例1移動探針測試裝置中探針壓力檢測裝置的側(cè)視圖 圖2是本實用新型實施例1A-A俯視圖 圖3是本實用新型實施例1B-B俯視圖
具體實施方式
下面結(jié)合實施例做進(jìn)一步說明。 實施例l
如圖1所示，移動探針測試裝置中設(shè)有用輕鋁材料制作的探頭支架l，在該 支架上固定有彈性測試探針5。探針壓力檢測裝置包括設(shè)在基面上方的基板2， 基板2上設(shè)有透光孔14,透光孔14正上方設(shè)有光電反射式耦合器4，光電反射式 耦合器4固定在光電反射式耦合器電路板3上，電路板3引出線與計算機相接。
參考圖2，圖2是基面及探針結(jié)構(gòu)示意圖，探針5由固定螺釘9固定在支架 l上，探針5的引出線焊接在一橢圓形金屬連接器11上，探頭連接器ll通過探 頭連接器固定螺釘10，固定在支架1上，該連接器與支架1絕緣。探針5及探 針座為一體，在其受力產(chǎn)生形變的彈性基面13上貼有反光較好的反光帶12,以 便于反射式光電耦合器4接受其位置信號。通過隨探針接觸被測印制電路板時的 壓力變形時，其反光帶12通過透光孔的面積變化，使光電耦合器4的電壓產(chǎn)生 變化，檢測出探頭5的壓力大小?；?3上設(shè)有電路板固定螺釘7和基板固定 螺釘8。
參考圖3，圖3是基板2結(jié)構(gòu)示意圖，基板2由基板固定螺釘8固定在支架1上，基板2左端有一透光孔14，由探針上的反光帶12對光電耦合器的發(fā)射管 所發(fā)射的光電信號，通過透光孔14，直接反射到接受管上產(chǎn)生電壓信號，反光 膜12進(jìn)入透光孔面積越大，信號越強，也就是壓力越大，通過調(diào)節(jié)螺釘6位置 達(dá)到調(diào)節(jié)壓力目的。
權(quán)利要求1、一種帶壓力調(diào)節(jié)的移動探針測試裝置，包括探頭支架，在其基面上固定有測試探針，其特征是，所述移動探針測試裝置還包括一個探針壓力測控裝置，用于測試探針在受力面上所受的壓力并調(diào)節(jié)壓力。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征是，所述探針壓力測控裝置的 結(jié)構(gòu)是在探針的可變形基面表面設(shè)有反光帶，在該基面的上方設(shè)有基板，基板 上帶有透光 L，在透光孔的正上方設(shè)有光電傳感器，光電傳感器的輸出與控制設(shè) 備連接。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征是，所述探針為可變形的彈性 測試探針。
4、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征是，所述光電傳感器采用反射 式光電耦合器。
5、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征是，所述測試探針為彈性測試 探針。
6、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征是，在所述基板上設(shè)有位置調(diào) 節(jié)裝置。
7、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征是，所述測試探針與及探針座 為一體。
8、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試裝置，其特征是，所述位置調(diào)節(jié)裝置為調(diào)節(jié) 螺釘。
專利摘要本實用新型涉及一種帶壓力調(diào)節(jié)的移動探針測試裝置，目的在于提供一種能監(jiān)測和調(diào)節(jié)移動探針壓力的移動探針測試裝置。實現(xiàn)上述發(fā)明目的的技術(shù)方案是一種帶壓力調(diào)節(jié)的移動探針測試裝置包括探頭支架，在其基面上固定有探針，所述移動探針測試裝置還包括一個探針壓力測控裝置，用于測試探針在受力面上所受的壓力并控制壓力。本實用新型的采用可解決移動探針測試中測試探頭在接觸到電路板時，適當(dāng)?shù)目刂聘咚贉y試過程中探頭對電路板表面鍍層的壓力，減輕壓痕，提高測試速度并減少測試過程中的假測現(xiàn)象。
文檔編號G01R31/28GK201298064SQ20082004023
公開日2009年8月26日 申請日期2008年7月22日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月22日
發(fā)明者王天安 申請人:南京金五環(huán)系統(tǒng)科技有限公司