物料的檢測(cè)裝置及色選機(jī)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及物料分選設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種物料的檢測(cè)裝置及一種色選機(jī)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前的物料分選設(shè)備在分選物料表面具有鏡面反射特征的物料和物料表面具有漫反射特征的物料的時(shí)候，難以區(qū)分物料表面具有鏡面反射特征的物料和物料表面具有漫反射特征的物料，因此，目前的物料分選設(shè)備對(duì)于以上兩種物料的識(shí)別率較低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題之一。為此，本發(fā)明提供一種物料的檢測(cè)裝置及一種色選機(jī)。
[0004]本發(fā)明實(shí)施方式的物料的檢測(cè)裝置包括偏振光發(fā)生器、采集模塊及處理模塊。
[0005]所述偏振光發(fā)生器用于產(chǎn)生偏振光并照射至所述物料;所述采集模塊用于采集所述物料的反射光并根據(jù)所述反射光形成所述物料的圖像;所述處理模塊連接所述采集模塊并用于根據(jù)所述圖像識(shí)別所述物料。
[0006]在某些實(shí)施方式中，所述偏振光發(fā)生器包括光源及設(shè)置于所述光源的出光方向上的線起偏器。
[0007]在某些實(shí)施方式中，所述采集模塊包括分光單元、第一檢偏器、第一傳感器、第二檢偏器及第二傳感器。
[0008]所述分光單元設(shè)置在所述反射光的光路上并用于對(duì)所述反射光進(jìn)行分光以分別形成第一圖像光及第二圖像光。
[0009]所述第一檢偏器及所述第一傳感器沿所述第一圖像光的光路依次設(shè)置，所述第一傳感器用于采集經(jīng)所述第一檢偏器出射的所述第一圖像光以形成第一子圖像。
[0010]所述第二檢偏器及所述第二傳感器沿所述第二圖像光的光路依次設(shè)置，所述第二傳感器用于采集經(jīng)所述第二檢偏器出射的所述第二圖像光以形成第二子圖像。
[0011 ]所述第一檢偏器及所述第二檢偏器中的其中一個(gè)檢偏器的偏振化方向與所述偏振光的偏振方向相同，另一個(gè)檢偏器的偏振化方向與所述偏振光的偏振方向垂直。
[0012]所述處理模塊連接所述第一傳感器及所述第二傳感器并用于處理所述第一子圖像及所述第二子圖像以形成所述圖像。
[0013]在某些實(shí)施方式中，所述檢測(cè)裝置包括與所述處理模塊連接的剔除模塊，所述處理模塊用于判斷識(shí)別出的所述物料與預(yù)設(shè)物料是否匹配并在識(shí)別出的所述物料與所述預(yù)設(shè)物料匹配時(shí)控制所述剔除模塊剔除所述物料。
[0014]在某些實(shí)施方式中，所述物料為球狀物料，所述偏振光發(fā)生器的數(shù)目為多個(gè)，多個(gè)所述偏振光發(fā)生器環(huán)繞所述球形物料排布。
[0015]在某些實(shí)施方式中，所述偏振光發(fā)生器的出光方向與所述反射光的方向之間的最大夾角大于或等于40度。
[0016]在某些實(shí)施方式中，所述物料為片狀物料，所述片狀物料包括反射面，所述偏振光發(fā)生器的數(shù)目為多個(gè)，一個(gè)所述偏振光發(fā)生器的出光方向與所述采集模塊采集所述反射光的方向沿所述反射面的法線對(duì)稱設(shè)置，相鄰兩個(gè)所述偏振光發(fā)生器的出光方向之間的夾角為5?10度。
[0017]本發(fā)明實(shí)施方式的色選機(jī)包括上述的物料的檢測(cè)裝置。
[0018]本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過(guò)本發(fā)明的實(shí)踐了解到。
【附圖說(shuō)明】
[0019]本發(fā)明的上述和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從結(jié)合下面附圖對(duì)實(shí)施方式的描述中將變得明顯和容易理解，其中:
[0020]圖1是本發(fā)明實(shí)施方式I的物料的檢測(cè)方法的流程示意圖。
[0021]圖2是本發(fā)明實(shí)施方式I的物料的檢測(cè)方法的另一流程示意圖。
[0022]圖3是本發(fā)明實(shí)施方式I的物料的檢測(cè)裝置的模塊示意圖。
[0023]圖4是本發(fā)明實(shí)施方式I的色選機(jī)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0024]圖5是本發(fā)明實(shí)施方式2的色選機(jī)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0025]圖6是本發(fā)明實(shí)施方式3的色選機(jī)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0026]下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施方式，所述實(shí)施方式的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號(hào)表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過(guò)參考附圖描述的實(shí)施方式是示例性的，僅用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
[0027]為了方便說(shuō)明，下文將物料具有鏡面表面的物料可稱為鏡面物料，將物料具有漫反射表面的物料可稱為漫反射物料，但不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
[0028]實(shí)施方式1:
[0029]請(qǐng)參閱圖1，本發(fā)明實(shí)施方式的物料的檢測(cè)方法包括以下步驟:
[0030]步驟SI，產(chǎn)生偏振光并照射至物料；
[0031]步驟S2，采集物料的反射光并根據(jù)反射光形成物料的圖像;及
[0032]步驟S3，根據(jù)物料的圖像識(shí)別物料。
[0033]上述的物料的檢測(cè)方法中，利用偏振光對(duì)物料進(jìn)行識(shí)別，若物料為具有鏡面表面的物料，其反射光仍為偏振光。若物料為具有漫反射表面的物料，其反射光為非偏振光。由此，根據(jù)偏振光和非偏振光所形成的圖像可識(shí)別出相應(yīng)的物料，進(jìn)而提高了物料的識(shí)別率。
[0034]具體地，在步驟S2中，采集物料的反射光后，將反射光的光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，然后根據(jù)電信號(hào)形成物料的圖像。
[00；35]若反射光為偏振光，則米集到的電信號(hào)的強(qiáng)度較強(qiáng);若反射光為非偏振光，則米集到的電信號(hào)較弱，而根據(jù)電信號(hào)的強(qiáng)弱所形成的圖像存在差異，由此可識(shí)別出相應(yīng)的物料。
[0036]本實(shí)施方式中，偏振光為線偏振光。
[0037]線偏振光易于形成且易于檢測(cè)，因此，線偏振光能夠進(jìn)一步提高物料的識(shí)別率及降低成本。
[0038]請(qǐng)參閱圖2，在本實(shí)施方式中，步驟S2包括:
[0039]步驟S21，對(duì)反射光進(jìn)行分光以分別形成第一圖像光及第二圖像光；
[0040]步驟S22，采集第一圖像光以形成第一子圖像，及采集第二圖像光以形成第二子圖像;及
[0041]步驟S23，處理第一子圖像及第二子圖像以形成圖像。
[0042]如此，通過(guò)兩源信道將根據(jù)線偏振光及非線偏振光形成的圖像區(qū)分，能夠明顯增強(qiáng)根據(jù)偏振光及非偏振光形成的圖像之間的差異，可提高物料的識(shí)別率。
[0043]具體地，在步驟S21中，可對(duì)反射光進(jìn)行反射及折射以對(duì)反射光進(jìn)行分光，從而分別得到第一圖像光及第二圖像光。
[0044]若反射光為偏振光，反射光分光后分別得到的第一圖像光及第二圖像光仍為偏振光。若反射光為非偏振光，反射光分光后分別得到的第一圖像光及第二圖像光仍為非偏振光。
[0045]在步驟S22中，采集第一圖像光及第二圖像光后，可使用檢偏器對(duì)第一圖像光及第二圖像光進(jìn)行處理。
[0046]例如，可使在第一圖像光的光路上的檢偏器的偏振化方向與線偏振光的偏振方向平行，而在第二圖像光的光路上的檢偏器的偏振化方向與線偏振光的偏振方向垂直。
[0047]也就是說(shuō)，若物料的反射光為線偏振光，則只能在第一圖像光的光路上采集根據(jù)反射光形成的物料的圖像。若物料的反射光為非線偏振光，則在第一圖像光的光路上及第二圖像光的光路上均能采集根據(jù)反射光形成物料的圖像。如此，可分別獲取根據(jù)線偏振光及非線偏振光形成的物料的圖像以進(jìn)行識(shí)別。
[0048]假設(shè)第一圖像和第二圖像為黑白傳感器采集的信號(hào)，所述第一圖像的檢偏器偏振方向?yàn)榕c所述偏振光偏振方向相同，第二圖像的檢偏器偏振方向與所述偏振光偏振方向垂直。第一圖像定義為R值，第二圖像定義為G值，所形成的圖像為R、G的假彩色圖像。
[0049]若反射光為偏振光，則米集到的R值強(qiáng)度比G值強(qiáng);若反射光為非偏振光，則米集到的R值強(qiáng)度與G值相當(dāng)，根據(jù)R、G值的強(qiáng)弱可識(shí)別出相應(yīng)的物料。
[0050]在步驟S23中，可通過(guò)圖像融合技術(shù)處理將第一子圖像及第二子