專利名稱：一種電子元器件自動(dòng)測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種電子元器件自動(dòng)測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
社會(huì)的發(fā)展，科技的進(jìn)步，現(xiàn)代電子技術(shù)更是顯現(xiàn)出良好的發(fā)展勢(shì)頭， 其中電子元器件的生產(chǎn)技術(shù)也得到長(zhǎng)足的發(fā)展，電子元器件在生活和工作中 的應(yīng)用越來越廣泛，為提高產(chǎn)品質(zhì)量和滿足日益提高的需求量，必須加大力 度對(duì)產(chǎn)品的生產(chǎn)及檢測(cè)，產(chǎn)品的檢測(cè)是產(chǎn)品推廣的重要一環(huán)，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè) 試是更好地為產(chǎn)品質(zhì)量把關(guān)，而測(cè)試過程不應(yīng)該給生產(chǎn)效率拖后腿，要提高 測(cè)試效率和生產(chǎn)效率，有效途徑就是改進(jìn)技術(shù)。在現(xiàn)有技術(shù)中，多是采用"點(diǎn) 對(duì)點(diǎn)"的測(cè)試方式，即是將一個(gè)生產(chǎn)出來的產(chǎn)品放在指定的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試， 測(cè)試完畢之后將其取出，再放另一個(gè)產(chǎn)品到該測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，這種測(cè)試方 式速度慢，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)對(duì)電子元器件的測(cè)試速度和測(cè)試質(zhì)量達(dá)不到生產(chǎn)的要 求，現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試工序較繁瑣，自動(dòng)化程度不高，因此效率較低，不利縮 短生產(chǎn)周期。
為解決上述問題，很多生產(chǎn)廠家都在嘗試技術(shù)上的更新和突破，試圖縮 短產(chǎn)品的生產(chǎn)周期，從而提高其經(jīng)濟(jì)效益。

實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種自動(dòng) 化程度高、效率高和質(zhì)量高的電子元器件自動(dòng)測(cè)試裝置。
本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是本實(shí)用新型包括底座、立柱12、立柱
n、立柱ni、立柱iv、下料固定板、固定橫桿i、固定橫桿n，所述立柱i、 所述立柱n、所述立柱in、所述立柱iv及所述下料固定板分別固定安裝于所 述底座上，所述固定橫桿n橫架于所述立柱i和所述立柱n之間并固定，所 述固定橫桿i橫架于所述立柱iv與所述固定橫桿n之間并固定，所述底座還設(shè)置有xy移動(dòng)臺(tái)、自動(dòng)測(cè)試轉(zhuǎn)盤，所述xy移動(dòng)包括下滑軌、上滑軌，所述 下滑軌固定安裝于所述底座上，所述上滑軌與所述下滑軌相配合，所述上滑 軌設(shè)置有待測(cè)品盤，所述待測(cè)品盤可沿所述上滑軌作滑移動(dòng)作，所述自動(dòng)測(cè) 試轉(zhuǎn)盤圓周設(shè)置有至少兩個(gè)測(cè)試夾具，所述固定橫桿I設(shè)置有上料位導(dǎo)軌， 所述上料位導(dǎo)軌配合有上料位，所述固定橫桿I還設(shè)置有上測(cè)試位I、上測(cè)
試位n ，所述底座還設(shè)置有下測(cè)試位i 、下測(cè)試位n，所述上測(cè)試位i和上測(cè) 試位n在所述測(cè)試夾具的上方對(duì)應(yīng)位置，所述下測(cè)試位i和下測(cè)試位n在所 述測(cè)試夾具的下方對(duì)應(yīng)位置，所述上測(cè)試位i與下測(cè)試位i視為第一組測(cè)試 位，所述上測(cè)試位n與下測(cè)試位n視為第二組測(cè)試位，根據(jù)需要可以在其他 測(cè)試夾具的對(duì)應(yīng)位置設(shè)置多組測(cè)試位，使多組測(cè)試位對(duì)電子元器件進(jìn)行不同 內(nèi)容的測(cè)試，亦可以按要求關(guān)閉其中的某組或某幾組測(cè)試位；所述固定立柱 m的頂部安裝有壞品處理位導(dǎo)軌i，所述壞品處理位導(dǎo)軌i配合有壞品處理 位i，所述固定橫桿i還設(shè)置有壞品處理位導(dǎo)軌n，所述壞品處理位導(dǎo)軌n 配合有壞品處理位n，所述下料固定板的上端固定安裝有下料位導(dǎo)軌，所述 下料位導(dǎo)軌配合有下料位，所述下料沿所述下料位導(dǎo)軌作來回滑移傳輸工作； 所述xy移動(dòng)臺(tái)的上滑軌和下滑軌包括端板i 、端板II 、底板、步進(jìn)電機(jī)、 絲桿、移動(dòng)導(dǎo)軌位移臺(tái)，所述端板i和端板n分別與所述底板固定配合，所 述步進(jìn)電機(jī)安裝于所述端板i上，所述移動(dòng)導(dǎo)軌的兩端分別與端板i、端板 n相配合，所述絲桿安裝在所述底板上，所述位移臺(tái)與所述絲桿及所述移動(dòng) 導(dǎo)軌相配合；
所述自動(dòng)測(cè)試轉(zhuǎn)盤包括轉(zhuǎn)盤體、傳動(dòng)軸、軸筒、伺服電機(jī)、支架，所述 測(cè)試夾具設(shè)置在所述轉(zhuǎn)盤體上，所述傳動(dòng)軸的兩軸端分別與所述伺服電機(jī)及 所述轉(zhuǎn)盤體相配合，所述伺服電機(jī)通過所述傳動(dòng)軸控制所述轉(zhuǎn)盤體的旋轉(zhuǎn)， 所述轉(zhuǎn)動(dòng)軸置于所述軸筒內(nèi)部，所述軸筒固定于所述支架上，所述支架固定
安裝于所述底座上；
所述底座還設(shè)置有壞品回收盒，所述壞品回收盒位于所述壞品處理位下 方，與所述壞品處理位相對(duì)應(yīng)。本實(shí)用新型的有益效果是本實(shí)用新型中，上料位將待測(cè)品盤中的待測(cè) 品轉(zhuǎn)移到轉(zhuǎn)盤體的測(cè)試夾具上，測(cè)試轉(zhuǎn)盤作圓周運(yùn)動(dòng)，當(dāng)測(cè)試夾具上的產(chǎn)品 轉(zhuǎn)到測(cè)試位的對(duì)應(yīng)位置，接受測(cè)試位的全面測(cè)試，再轉(zhuǎn)到壞品處理位的對(duì)應(yīng) 位置，如測(cè)試出該產(chǎn)品為壞品，即不合格產(chǎn)品，則由壞品處理位將其轉(zhuǎn)移到 壞品回收盒，經(jīng)過測(cè)試的合格產(chǎn)品轉(zhuǎn)至下料位的對(duì)應(yīng)位置，由下料位將其提 取；此工作過程緊湊有序、自動(dòng)化程度高、測(cè)試效率高，有效保障電子元器 件的產(chǎn)品質(zhì)量，縮短了產(chǎn)品的生產(chǎn)周期，將高質(zhì)量的產(chǎn)品快速投放市場(chǎng)，滿 足廣大用戶需求。綜上所述，本實(shí)用新型有效解決了技術(shù)問題，達(dá)到預(yù)期技 術(shù)目的。


圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖2是本實(shí)用新型的另一視角結(jié)構(gòu)示意圖3是本實(shí)用新型的自動(dòng)測(cè)試轉(zhuǎn)盤結(jié)構(gòu)示意圖4是本實(shí)用新型的XY移動(dòng)臺(tái)結(jié)構(gòu)示意圖5是本實(shí)用新型的滑軌結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖1 5所示，本實(shí)用新型包括底座l、立柱12、立柱H3、立柱IH4、 立柱IV5、下料固定板6、固定橫桿I7、固定橫桿I18，所述立柱I2、所述 立柱113、所述立柱I114、所述立柱IV5、所述下料固定板6分別固定安裝于所 述底座1上，所述固定橫桿I18橫架于所述立柱I 2和所述立柱I13之間并固 定，所述固定橫桿I 7橫架于所述立柱IV5與所述固定橫桿I18之間并固定， 所述底座1還設(shè)置有XY移動(dòng)臺(tái)、自動(dòng)測(cè)試轉(zhuǎn)盤，所述XY移動(dòng)包括下滑軌9、 上滑軌10，所述下滑軌9固定安裝于所述底座1上，所述上滑軌10與所述 下滑軌9相配合，所述上滑軌10可沿所述下滑軌9作滑移動(dòng)作，所述上滑軌 10設(shè)置有待測(cè)品盤11，所述待測(cè)品盤11可沿所述上滑軌10作滑移動(dòng)作，通過所述上滑軌10與所述待測(cè)品盤11的移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)了所述待測(cè)品11上放置的 待測(cè)品在XY方向上的移動(dòng)，使待測(cè)品定在所需位置，所述自動(dòng)測(cè)試轉(zhuǎn)盤圓周 設(shè)置有至少兩個(gè)測(cè)試夾具13，所述固定橫桿I 7設(shè)置有上料位導(dǎo)軌14,所述 上料位導(dǎo)軌14配合有上料位15，所述上料位用于提取放置在所述待測(cè)品盤 ll上的待測(cè)品，并將其轉(zhuǎn)移到所述測(cè)試夾具13上；所述固定橫桿I7還設(shè)置 有上測(cè)試位I23a、上測(cè)試位1124a,所述底座1還設(shè)置有下測(cè)試位I 23b、下 測(cè)試位II24b，所述上測(cè)試位I 23a和上測(cè)試位1124a在所述測(cè)試夾具13的上 對(duì)應(yīng)位置，所述下測(cè)試位I 23b和下測(cè)試位1124b在所述測(cè)試夾具13的下方 對(duì)應(yīng)位置，所述上測(cè)試位I 23a和所述下測(cè)試位I 23b視為第一組測(cè)試位，所 述上測(cè)試位II 24a和所述下測(cè)試位II 24b視為第二組測(cè)試位，根據(jù)需要可以在 其他測(cè)試夾具的對(duì)應(yīng)位置設(shè)置多組測(cè)試位，使多組測(cè)試位對(duì)電子元器件進(jìn)行 不同內(nèi)容的測(cè)試，亦可以按要求關(guān)閉其中的某組或某幾組測(cè)試位，所述固定 立柱IH4的頂部安裝有壞品處理位導(dǎo)軌I 16，所述壞品處理位導(dǎo)軌I 16配合 有壞品處理位I17，所述固定橫桿I7還設(shè)置有壞品處理位導(dǎo)軌IU8，所述 壞品處理位導(dǎo)軌II18配合有壞品處理位I119，可根據(jù)需要設(shè)置多個(gè)壞品處理 位，當(dāng)電子元器件經(jīng)過測(cè)試位進(jìn)行測(cè)試后發(fā)現(xiàn)是壞品，即是不合格產(chǎn)品，則 由所述壞品處理位將其提走；所述下料固定板6的上端固定安裝有下料位導(dǎo) 軌20，所述下料位導(dǎo)軌20配合有下料位21，所述下料位21沿所述下料位導(dǎo) 軌20作來回滑移傳輸工作，電子元器件經(jīng)過測(cè)試位進(jìn)行測(cè)試后確定為合格產(chǎn) 品，當(dāng)該合格產(chǎn)品在自動(dòng)測(cè)試轉(zhuǎn)盤上轉(zhuǎn)至所述下料位的對(duì)應(yīng)位置時(shí)，由所述 下料位提取該合格產(chǎn)品并將其轉(zhuǎn)移；
所述XY移動(dòng)臺(tái)的上滑軌10和下滑軌9結(jié)構(gòu)一致，包括端板I25、端板 1126、底板27、步進(jìn)電機(jī)12、絲桿28、移動(dòng)導(dǎo)軌29、位移臺(tái)30，所述端板 I 25和端板I126分別與所述底板27固定配合，所述步進(jìn)電機(jī)12安裝于所述 端板I 25上，所述移動(dòng)導(dǎo)軌29的兩端分別與端板I 25、端板1126相配合， 所述絲桿28安裝在所述底板27上，所述位移臺(tái)30與所述絲桿28及所述移 動(dòng)導(dǎo)軌29相配合；
所述自動(dòng)測(cè)試轉(zhuǎn)盤包括轉(zhuǎn)盤體31、傳動(dòng)軸32、軸筒33、伺服電機(jī)34、
7支架35，所述測(cè)試夾具13設(shè)置在所述轉(zhuǎn)盤體31上，所述傳動(dòng)軸32的兩軸 端分別與所述伺服電機(jī)34及所述轉(zhuǎn)盤體31相配合，所述伺服電機(jī)34通過所 述傳動(dòng)軸32控制所述轉(zhuǎn)盤體31的旋轉(zhuǎn)，所述轉(zhuǎn)動(dòng)軸置于所述軸筒33內(nèi)部， 所述軸筒33固定于所述支架35上，所述支架35固定安裝于所述底座1上； 所述底座1還設(shè)置有壞品回收盒22,所述壞品回收盒22位于所述壞品 處理位下方，與所述壞品處理位相對(duì)應(yīng)，當(dāng)電子元器件被測(cè)出是不合格產(chǎn)品 時(shí)，由所述壞品處理位將其提起并轉(zhuǎn)移到所述壞品回收盒。
權(quán)利要求1、一種電子元器件自動(dòng)測(cè)試裝置，包括底座(1)、立柱I(2)、立柱II(3)、立柱III(4)、立柱IV(5)、下料固定板(6)、固定橫桿I(7)、固定橫桿II(8)，所述立柱I(2)、所述立柱II(3)、所述立柱III(4)、所述立柱IV(5)、所述下料固定板(6)分別固定安裝于所述底座(1)上，所述固定橫桿II(8)橫架于所述立柱I(2)和所述立柱II(3)之間并固定，所述固定橫桿I(7)橫架于所述立柱IV(5)與所述固定橫桿II(8)之間并固定，其特征在于所述底座(1)還設(shè)置有XY移動(dòng)臺(tái)、自動(dòng)測(cè)試轉(zhuǎn)盤，所述XY移動(dòng)臺(tái)包括下滑軌(9)、上滑軌(10)，所述下滑軌(9)固定安裝于所述底座(1)上，所述上滑軌(10)與所述下滑軌(9)相配合，所述上滑軌(10)設(shè)置有待測(cè)品盤(11)，所述待測(cè)品盤(11)沿所述上滑軌(10)作滑移動(dòng)作，所述自動(dòng)測(cè)試轉(zhuǎn)盤圓周設(shè)置有至少兩個(gè)測(cè)試夾具(13)，所述固定橫桿I(7)設(shè)置有上料位導(dǎo)軌(14)，所述上料位導(dǎo)軌(14)配合有上料位(15)，所述固定橫桿I(7)還設(shè)置有上測(cè)試位I(23a)、上測(cè)試位II(24a)，所述底座(1)還設(shè)置有下測(cè)試位I(23b)、下測(cè)試位II(24b)，所述上測(cè)試位I(23a)和上測(cè)試位II(24a)在所述測(cè)試夾具(13)的上方對(duì)應(yīng)位置，所述下測(cè)試位I(23b)和下測(cè)試位II(24b)在所述測(cè)試夾具(13)的下方對(duì)應(yīng)位置，所述固定立柱III(4)的頂部安裝有壞品處理位導(dǎo)軌I(16)，所述壞品處理位導(dǎo)軌I(16)配合有壞品處理位I(17)，所述固定橫桿I(7)還設(shè)置有壞品處理位導(dǎo)軌II(18)，所述壞品處理位導(dǎo)軌II(18)配合有壞品處理位II(19)，所述下料固定板(6)的上端固定安裝有下料位導(dǎo)軌(20)，所述下料位導(dǎo)軌(20)配合有下料位(21)，所述下料位(21)沿所述下料位導(dǎo)軌(20)作來回滑移傳輸工作。
2 、根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于所 述XY移動(dòng)臺(tái)的上滑軌(10)和下滑軌(9)包括端板I (25)、端板II(26)、底板(27)、步進(jìn)電機(jī)(12)、絲桿(28)、移動(dòng)導(dǎo)軌(29)位移 臺(tái)(30)，所述端板I (25)和端板II (26)分別與所述底板(27)固 定配合，所述步進(jìn)電機(jī)(12)安裝于所述端板I (25)上，所述移動(dòng)導(dǎo)軌(29)的兩端分別與端板I (25)、端板II (26)相配合，所述絲桿 安裝在所述底板(27)上，所述位移臺(tái)(30)與所述絲桿及所述移動(dòng)導(dǎo) 軌相配合。
3 、根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于所述自動(dòng)測(cè)試轉(zhuǎn)盤包括轉(zhuǎn)盤體(31)、傳動(dòng)軸(32)、軸筒(33)、伺服電 機(jī)(34)、支架(35)，所述測(cè)試夾具(13)設(shè)置在所述轉(zhuǎn)盤體(31)上， 所述傳動(dòng)軸(32 )的兩軸端分別與所述伺服電機(jī)(34)及所述轉(zhuǎn)盤體(31) 相配合，所述伺服電機(jī)(34)通過所述傳動(dòng)軸(32)控制所述轉(zhuǎn)盤體(31) 的旋轉(zhuǎn)，所述轉(zhuǎn)動(dòng)軸置于所述軸筒(33)內(nèi)部，所述軸筒(33)固定于 所述支架(35)上，所述支架(35)固定安裝于所述底座(1)上。
4 、根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于所述底座(1)還設(shè)置有壞品回收盒(22)，所述壞品回收盒(22)位于所 述壞品處理位下方，與所述壞品處理位相對(duì)應(yīng)。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種自動(dòng)化程度高、效率高、結(jié)構(gòu)緊湊的電子元器件自動(dòng)測(cè)試裝置。本實(shí)用新型包括上料位(15)、下料位(21)、測(cè)試位、壞品處理位(17)、待測(cè)品盤(11)、轉(zhuǎn)盤體(31)，所述上料位(15)將待測(cè)品盤(11)中的待測(cè)品轉(zhuǎn)移到轉(zhuǎn)盤體(31)的測(cè)試夾具(13)上，測(cè)試轉(zhuǎn)盤作圓周運(yùn)動(dòng)，當(dāng)測(cè)試夾具(13)上的產(chǎn)品轉(zhuǎn)到測(cè)試位的對(duì)應(yīng)位置，接受測(cè)試位的測(cè)試，再轉(zhuǎn)到壞品處理位(17)的對(duì)應(yīng)位置，如測(cè)試出該產(chǎn)品為壞品，則由壞品處理位(17)將其轉(zhuǎn)移到壞品回收盒(22)，經(jīng)過測(cè)試的合格產(chǎn)品轉(zhuǎn)至下料位(21)的對(duì)應(yīng)位置，由下料位(21)將其提取。本實(shí)用新型可廣泛應(yīng)用于電子元器件測(cè)試領(lǐng)域。
文檔編號(hào)B07C5/34GK201237623SQ200820051519
公開日2009年5月13日 申請(qǐng)日期2008年7月30日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月30日
發(fā)明者吳啟權(quán), 曹勇祥 申請(qǐng)人:珠海市運(yùn)泰利自動(dòng)化設(shè)備有限公司