一種電子元件平整度測試治具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電子元件平整度檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種電子元件平整度測試治具。
【背景技術(shù)】
[0002]電子元件一般都要進(jìn)行平整度檢測，特別是對于SMD、連接器而言平整度檢測優(yōu)為重要。現(xiàn)有技術(shù)的檢測都是采用人工把電子元件放到治具上，依靠人工推動治具塊進(jìn)行測試端子的平整度。現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)是:檢測精度低，誤判率高，勞動強(qiáng)度大。
[0003]有鑒于此，特提出本實(shí)用新型，以改正上述現(xiàn)有技術(shù)的不足之處。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]針對上述現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種檢測精度高，誤判率低，勞動強(qiáng)度小的電子元件平整度測試治具。
[0005]為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供了一種電子元件平整度測試治具，其包括支撐座、下滑本體、蓋板，所述下滑本體中部設(shè)有下滑軌道，所述下滑軌道前端開口為喇叭形狀，所述支撐座包括底板，所述底板兩側(cè)各安裝有側(cè)板，所述下滑本體固定安裝于兩側(cè)板上，所述下滑本體的兩側(cè)都安裝有蓋板，所述蓋板與下滑軌道底部形成間隙，所述下滑本體與底板形成夾角。
[0006]本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)為，所述夾角的角度為40度至50度。
[0007]本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)為，所述夾角的角度為45度。
[0008]本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)為，所述下滑本體由不銹鋼材料制成，表面拋光處理。
[0009]本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)為，所述下滑軌道底部還設(shè)有DIP導(dǎo)向槽。
[0010]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型采用在下滑本體中部設(shè)有下滑軌道，下滑本體與支撐座的底板成45度夾角，通過電子元件本身重力，電子元件沿下滑軌道自由滑動，由蓋板與下滑軌道底部形成的間隙對電子元件的端子的平整度進(jìn)行檢測。本實(shí)用新型檢測精度高，誤判率低，勞動強(qiáng)度小。
【附圖說明】
[0011]圖1是本實(shí)用新型的電子元件平整度測試治具立體示意圖；
[0012]圖2是圖1的立體展開示意圖。
[0013]圖中各部件名稱如下:
[0014]I—支撐座；
[0015]11—底板；
[0016]12—側(cè)板；
[0017]2—下滑本體；
[0018]21—下滑軌道；
[0019]22—DIP 導(dǎo)向槽；
[0020]3一蓋板。
【具體實(shí)施方式】
[0021]下面結(jié)合【附圖說明】及【具體實(shí)施方式】對本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。
[0022]如圖1、圖2所示，一種電子元件平整度測試治具，其包括支撐座1、下滑本體2、蓋板3，所述下滑本體2中部設(shè)有下滑軌道21，所述下滑軌道21前端開口為喇叭形狀，便于放入和自由滑下；滑軌道21上要避開電子元件的相關(guān)位置，以免產(chǎn)生阻礙。所述支撐座I包括底板U，所述底板11兩側(cè)各安裝有側(cè)板12，所述下滑本體2固定安裝于兩側(cè)板12上，所述下滑本體2的兩側(cè)都安裝有蓋板3，所述蓋板3與下滑軌道21底部形成間隙，所述下滑本體2與底板11形成夾角。
[0023]具體地，如圖1、圖2所示，所述夾角的角度為40度至50度(依據(jù)電子元件的重力而定)，優(yōu)選為45度。所述下滑本體2由不銹鋼材料制成，表面拋光處理。所述下滑軌道21底部還設(shè)有DIP導(dǎo)向槽22。
[0024]本實(shí)用新型的工作原理:通過電子元件本身的重力，電子元件自由滑動，由蓋板3與下滑軌道21底部形成的間隙對電子元件的端子的平整度進(jìn)行檢測。附加條件:斜度為45度，電子元件與下滑軌道21表面接觸的粗糙度為0.8。方法:通過作業(yè)者進(jìn)行手工放入和取出。判定:不能自由滑下的為NG，能夠自由滑下的為0K。
[0025]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于，本實(shí)用新型采用在下滑本體中部設(shè)有下滑軌道，下滑本體與支撐座的底板成45度夾角，通過電子元件本身重力，電子元件沿下滑軌道自由滑動，由蓋板與下滑軌道底部形成的間隙對電子元件的端子的平整度進(jìn)行檢測。本實(shí)用新型檢測精度高，誤判率低，勞動強(qiáng)度小。
[0026]以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實(shí)施方式對本實(shí)用新型所作的進(jìn)一步詳細(xì)說明，不能認(rèn)定本實(shí)用新型的具體實(shí)施只局限于這些說明。對于本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電子元件平整度測試治具，其特征在于:其包括支撐座(I)、下滑本體(2)、蓋板(3)，所述下滑本體(2)中部設(shè)有下滑軌道(21)，所述下滑軌道(21)前端開口為喇叭形狀，所述支撐座(I)包括底板(U)，所述底板(11)兩側(cè)各安裝有側(cè)板(12)，所述下滑本體(2)固定安裝于兩側(cè)板(12)上，所述下滑本體(2)的兩側(cè)都安裝有蓋板(3)，所述蓋板(3)與下滑軌道(21)底部形成間隙，所述下滑本體(2)與底板(11)形成夾角。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件平整度測試治具，其特征在于:所述夾角的角度為40度至50度。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子元件平整度測試治具，其特征在于:所述夾角的角度為45度。4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的電子元件平整度測試治具，其特征在于:所述下滑本體(2)由不銹鋼材料制成，表面拋光處理。5.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的電子元件平整度測試治具，其特征在于:所述下滑軌道(21)底部還設(shè)有DIP導(dǎo)向槽(22)。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了一種電子元件平整度測試治具，其包括支撐座(1)、下滑本體(2)、蓋板(3)，所述下滑本體(2)中部設(shè)有下滑軌道(21)，所述下滑軌道(21)前端開口為喇叭形狀，所述支撐座(1)包括底板(11)，所述底板(11)兩側(cè)各安裝有側(cè)板(12)，所述下滑本體(2)固定安裝于兩側(cè)板(12)上，所述下滑本體(2)的兩側(cè)都安裝有蓋板(3)，所述蓋板(3)與下滑軌道(21)底部形成間隙，所述下滑本體(2)與底板(11)形成夾角。本實(shí)用新型檢測精度高，誤判率低，勞動強(qiáng)度小。
【IPC分類】G01B5/28
【公開號】CN205317144
【申請?zhí)枴緾N201520954518
【發(fā)明人】李冬根
【申請人】東莞榮光技研電子有限公司
【公開日】2016年6月15日
【申請日】2015年11月26日