r>[0083]對(duì)于每列像素單元，短路條電路包括一晶體管，其柵極與上述DS相連、源極與漏極中的一個(gè)與本列的信號(hào)線相連，另一個(gè)在不同列分別與上述DR、DG、DB相連。
[0084]由此，在GS或DS上所接的開(kāi)關(guān)信號(hào)的作用下，晶體管可以將G0/GE/DR/DG/DB所接的信號(hào)傳遞至對(duì)應(yīng)行或?qū)?yīng)列的信號(hào)線上。從而，短路條電路可以代替驅(qū)動(dòng)芯片向顯示區(qū)11中的像素電路提供驅(qū)動(dòng)電壓，以供測(cè)試時(shí)使用。
[0085]另外，陣列基板I上還設(shè)置有靜電釋放電路，包括與公共電壓端口 V-COM直接或間接相連的防靜電模塊ESD、若干防靜電走線以及若干個(gè)防靜電元件，且該防靜電走線經(jīng)過(guò)防靜電元件與顯示區(qū)11內(nèi)的每條信號(hào)線相連，防靜電模塊ESD同時(shí)還通過(guò)若干連接線與上述GO/GE/GS/DR/DG/DB/DS 等端口相連。
[0086]可以看出，該陣列基板I中的短路條電路不經(jīng)過(guò)扇出區(qū)、綁定區(qū)，直接利用短路條電路進(jìn)行測(cè)試將無(wú)法檢測(cè)出這部分區(qū)域內(nèi)連接線出現(xiàn)的開(kāi)路。而對(duì)于包括該陣列基板I的顯示面板，可以采用兩部點(diǎn)燈的方式來(lái)進(jìn)行測(cè)試:
[0087]圖7是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中一種顯示面板的測(cè)試方法的第一步點(diǎn)燈時(shí)的測(cè)試示意圖。參見(jiàn)圖7，在第一步點(diǎn)燈測(cè)試中，第一測(cè)試探針組BI與對(duì)應(yīng)的測(cè)試區(qū)內(nèi)的測(cè)試端接觸，接觸位置處的結(jié)構(gòu)具體如圖4所示；第二測(cè)試探針組B2中的一個(gè)與G0/GE/GS/V-C0M端口接觸，另一個(gè)與DR/DG/DB/DS端口接觸。具體在測(cè)試時(shí)，可以通過(guò)第二測(cè)試探針組B2向顯示面板提供公共電壓V-C0M，同時(shí)通過(guò)第一測(cè)試探針組BI向顯示面板提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)，驅(qū)動(dòng)信號(hào)就會(huì)以“測(cè)試端-第二引線-接線端-第一引線-信號(hào)線-像素電路”的順序傳遞至每一像素電路中。在正常情況下，整個(gè)顯示面板會(huì)呈現(xiàn)整面的亮態(tài)或者整面的暗態(tài)；而如果出現(xiàn)引線開(kāi)路，那么顯示面板會(huì)在引線開(kāi)路的行或列呈現(xiàn)一條或多條暗線或者亮線?？梢?jiàn)，基于上述陣列基板的結(jié)構(gòu)、第一測(cè)試探針組BI以及相應(yīng)的測(cè)試方法，即可實(shí)現(xiàn)現(xiàn)有的常規(guī)測(cè)試方式無(wú)法實(shí)現(xiàn)的引線開(kāi)路測(cè)試，并取得較佳的測(cè)試效果。
[0088]圖8是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中一種顯示面板的測(cè)試方法的第二步點(diǎn)燈時(shí)的測(cè)試示意圖。此時(shí)，具體將第一測(cè)試探針組BI與顯示面板脫離，并通過(guò)第二測(cè)試探針組B2向顯示面板提供公共電壓V-COM以及驅(qū)動(dòng)信號(hào)，可以完成所有除引線開(kāi)路測(cè)試之外的顯示測(cè)試。
[0089]在本發(fā)明的描述中需要說(shuō)明的是，術(shù)語(yǔ)“上”、“下”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系，僅是為了便于描述本發(fā)明和簡(jiǎn)化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對(duì)本發(fā)明的限制。除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語(yǔ)“安裝”、“相連”、“連接”應(yīng)做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機(jī)械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過(guò)中間媒介間接相連，可以是兩個(gè)元件內(nèi)部的連通。對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語(yǔ)在本發(fā)明中的具體含義。
[0090]還需要說(shuō)明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類(lèi)的關(guān)系術(shù)語(yǔ)僅僅用來(lái)將一個(gè)實(shí)體或者操作與另一個(gè)實(shí)體或操作區(qū)分開(kāi)來(lái)，而不一定要求或者暗示這些實(shí)體或操作之間存在任何這種實(shí)際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語(yǔ)“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒(méi)有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒(méi)有更多限制的情況下，由語(yǔ)句“包括一個(gè)……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。
[0091]以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制；盡管參照前述實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解:其依然可以對(duì)前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的精神和范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種陣列基板，其特征在于，包括顯示區(qū)以及至少一個(gè)綁定區(qū)，所述至少一個(gè)綁定區(qū)位于所述顯示區(qū)之外； 所述顯示區(qū)內(nèi)設(shè)置有若干條信號(hào)線，所述綁定區(qū)內(nèi)設(shè)置有通過(guò)多條第一引線與多條所述信號(hào)線相連的多個(gè)接線端； 所述陣列基板還包括與任意一個(gè)或多個(gè)所述綁定區(qū)對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)測(cè)試區(qū)； 所述測(cè)試區(qū)內(nèi)設(shè)有多個(gè)測(cè)試端，任一所述測(cè)試區(qū)內(nèi)的所述多個(gè)測(cè)試端通過(guò)多條第二引線與對(duì)應(yīng)的綁定區(qū)內(nèi)的所述多個(gè)接線端相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述多個(gè)接線端與所述多個(gè)測(cè)試端具有相同的大小、數(shù)量、形狀以及排列方式。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的陣列基板，其特征在于，所述測(cè)試區(qū)位于對(duì)應(yīng)的綁定區(qū)遠(yuǎn)離所述顯示區(qū)的一側(cè)。
4.一種陣列基板的制造方法，其特征在于，所述陣列基板包括顯示區(qū)以及至少一個(gè)綁定區(qū)，任一所述綁定區(qū)位于所述顯示區(qū)的一側(cè)，所述方法包括: 形成包括所述至少一個(gè)綁定區(qū)，以及與任意一個(gè)或多個(gè)所述綁定區(qū)對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)測(cè)試區(qū)的圖案； 其中，所述顯示區(qū)內(nèi)設(shè)置有多條信號(hào)線，所述綁定區(qū)內(nèi)設(shè)置有通過(guò)多條第一引線與多條所述信號(hào)線相連的多個(gè)接線端； 所述測(cè)試區(qū)內(nèi)設(shè)有多個(gè)測(cè)試端，任一所述測(cè)試區(qū)內(nèi)的所述多個(gè)測(cè)試端通過(guò)多條第二引線與對(duì)應(yīng)的綁定區(qū)內(nèi)的所述多個(gè)接線端相連。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述多個(gè)接線端與所述多個(gè)測(cè)試端具有相同的大小、數(shù)量、形狀以及排列方式。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試區(qū)位于對(duì)應(yīng)的綁定區(qū)遠(yuǎn)離所述顯示區(qū)的一側(cè)。
7.—種顯示面板，其特征在于，包括如權(quán)利要求1至3中任意一項(xiàng)所述的陣列基板。
8.一種如權(quán)利要求7所述的顯示面板的測(cè)試方法，其特征在于，包括: 對(duì)應(yīng)于每一所述測(cè)試區(qū)，將第一測(cè)試探針組與該測(cè)試區(qū)內(nèi)的所述多個(gè)測(cè)試端相互接觸； 向顯示面板提供偏置電壓，通過(guò)所述第一測(cè)試探針組向顯示面板提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)； 觀察顯示面板的顯示情況以獲取引線開(kāi)路測(cè)試的測(cè)試結(jié)果。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述第一測(cè)試探針組中探針具有預(yù)設(shè)寬度，以使每一個(gè)所述探針均與兩列測(cè)試端相互接觸。
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的方法，其特征在于，還包括: 將所述第一測(cè)試探針組與所述顯示面板脫離； 通過(guò)短路條電路向顯示面板提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)和偏置電壓，以獲得該顯示面板的顯示測(cè)試結(jié)果。
11.一種顯示裝置，其特征在于，包括如權(quán)利要求9所述的顯示面板。
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明提供了一種陣列基板及制造方法、顯示面板及其測(cè)試方法、顯示裝置，其中的陣列基板包括顯示區(qū)以及至少一個(gè)綁定區(qū)，所述至少一個(gè)綁定區(qū)位于所述顯示區(qū)之外；所述顯示區(qū)內(nèi)設(shè)置有若干條信號(hào)線，所述綁定區(qū)內(nèi)設(shè)置有通過(guò)多條第一引線與多條所述信號(hào)線相連的多個(gè)接線端；所述陣列基板還包括與任意一個(gè)或多個(gè)所述綁定區(qū)對(duì)應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)測(cè)試區(qū)；所述測(cè)試區(qū)內(nèi)設(shè)有多個(gè)測(cè)試端，任一所述測(cè)試區(qū)內(nèi)的所述多個(gè)測(cè)試端通過(guò)多條第二引線與對(duì)應(yīng)的綁定區(qū)內(nèi)的所述多個(gè)接線端相連。對(duì)于傳統(tǒng)測(cè)試方式無(wú)法進(jìn)行引線開(kāi)路測(cè)試的顯示面板，本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)其引線開(kāi)路測(cè)試。
【IPC分類(lèi)】G02F1-1333, H01L27-12, G02F1-13
【公開(kāi)號(hào)】CN104656292
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510116854
【發(fā)明人】鄭堯燮, 邊征, 朱金偉
【申請(qǐng)人】京東方科技集團(tuán)股份有限公司, 北京京東方顯示技術(shù)有限公司
【公開(kāi)日】2015年5月27日
【申請(qǐng)日】2015年3月17日