人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0043]圖1是本發(fā)明一個實施例中一種陣列基板的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。參見圖1，該陣列基板I包括顯示區(qū)11以及至少一個綁定區(qū)12(圖1中僅以五個綁定區(qū)作為示例)，至少一個綁定區(qū)12位于顯示區(qū)11之外。
[0044]其中，上述顯示區(qū)I內(nèi)設(shè)置有若干條信號線(在圖1中以顯示區(qū)I內(nèi)縱橫交錯的線條表示)，而每個綁定區(qū)12內(nèi)設(shè)置有通過多條第一引線與多條上述信號線相連的多個未在圖1中示出的接線端。其中，第一引線在圖1中具體以連接上述信號線與綁定區(qū)12的線條表示。
[0045]對應(yīng)于任意一個或多個綁定區(qū)12，陣列基板I還包括一個或多個測試區(qū)13 (圖1中僅以五個測試區(qū)作為示例)。在測試區(qū)13內(nèi)，設(shè)有多個未在圖1中示出的測試端，多個測試端通過多條第二引線與對應(yīng)的綁定區(qū)12內(nèi)的多個接線端相連。其中，第二引線在圖1中具體以連接綁定區(qū)12與測試區(qū)13的線條表示。其中，某一個綁定區(qū)可以與一個或多個測試區(qū)對應(yīng)，測試區(qū)與綁定區(qū)也可以如圖1所示的那樣呈一一對應(yīng)，本發(fā)明對此均不做限制。
[0046]舉例來說，顯示區(qū)11可以是陣列基板I上像素電路陣列所在的區(qū)域，而綁定區(qū)12可以是陣列基板I上用于綁定驅(qū)動芯片的區(qū)域。顯示區(qū)11中設(shè)有用于向陣列基板中像素電路傳遞驅(qū)動信號的信號線。在陣列基板I的綁定區(qū)12內(nèi)綁定驅(qū)動芯片之后，驅(qū)動芯片的每個引腳就與一個上述接線端相互接觸、形成電連接，并可以藉由第一引線和顯示區(qū)11內(nèi)的信號線向像素電路輸出驅(qū)動信號。
[0047]然而，在綁定驅(qū)動芯片之前，為了檢測從每一個接線端到每一個像素電路之間是否可以通過電流(即是否存在開路)，需要在接線端上施加電壓，通過檢測像素電路的工作情況來得到檢測結(jié)果(簡稱為“引線開路測試”)。其中，最直觀的電壓施加方法即通過探針等連接件將給定電壓施加到每一個接線端上，即全接觸(Full Contact)方式。但是，由于接線端，所以芯片與基板連接處的引線間距有越來越小的趨勢(比如15μπι左右)。從而，如果要按照常規(guī)的全接觸方式對這一部分引線進(jìn)行開路(Open)測試，測試探針組的探針間距也須達(dá)到同等水平。但是，現(xiàn)有探針組的探針間距最小也只有30 μπι左右，因而無法通過全接觸方式實現(xiàn)引線開路測試。而且，任何采用連接件直接與綁定區(qū)的接線端接觸來進(jìn)行測試的方式通常都有很大幾率將引線扎傷，出現(xiàn)不良并造成資材浪費。
[0048]需要說明的是，雖然對于檢測而言在每一個接線端上施加的電壓可以是相同的，因此在檢測時可以將任意多個接線端短路在一起。但是，實際測試中仍然需要采用與單個接線端接觸的探針而不采用與所有接線端接觸的金屬片的主要原因在于，在常見的陣列基板的制造工藝中綁定區(qū)內(nèi)的接線端通常不會位于陣列基板厚度方向上的同一平面內(nèi)。舉例來說，雖然在上述陣列基板I的俯視結(jié)構(gòu)中任意兩個接線端之間不會存在交疊的情況，但實際上任意兩個接線端在陣列基板I的厚度方向上的高度可能不同，如果直接以金屬片壓在綁定區(qū)12上，則會導(dǎo)致高度較低的接線端不能與金屬片接觸而無法傳導(dǎo)電壓的情況的發(fā)生。
[0049]對此，現(xiàn)有的短路條(Shorting Bar)開關(guān)轉(zhuǎn)換測試方式可以利用設(shè)置在面板周邊的短路條電路來提供液晶面板的顯示驅(qū)動信號，從而通過觀察發(fā)光情況來進(jìn)行測試；同時，采用開關(guān)控制的方式來使短路條電路在工作狀態(tài)與非工作狀態(tài)之間轉(zhuǎn)換。但是，出于部分產(chǎn)品在設(shè)計時受設(shè)計空間范圍的限制等原因，短路條電路的信號線會無法經(jīng)過綁定區(qū)以及液晶面板的扇出區(qū)(Fan-out，例如圖1中顯示區(qū)11與綁定區(qū)12之間的倒梯形區(qū)域)。在這種情況下，外部電壓直接從短路條電路的信號線藉由顯示區(qū)內(nèi)的信號線傳遞到每個像素電路中，而短路條電路的信號線不經(jīng)過區(qū)域內(nèi)的連接線即使發(fā)生開路，短路條開關(guān)轉(zhuǎn)換測試方式也無法檢出，達(dá)不到引線開路測試的目的。
[0050]不同于上述無法實現(xiàn)引線開路測試的兩種方式，本發(fā)明實施例所提供的陣列基板則可以實現(xiàn)引線開路測試。具體來說，由于陣列基板I上設(shè)置了上述測試區(qū)13，從而在測試時可以通過對測試區(qū)13內(nèi)的測試端施加電壓，從而藉由上述第二引線間接地對綁定區(qū)12內(nèi)的接線端施加電壓。而與受綁定工藝限制的綁定區(qū)12不同，測試區(qū)13內(nèi)的測試端可以根據(jù)測試的需要在一定范圍內(nèi)進(jìn)行設(shè)置，使得如探針等的連接件可以較好地與測試端相互接觸，達(dá)到引線開路測試的目的。
[0051]在進(jìn)行測試之后，可以按照現(xiàn)有的工藝流程在綁定區(qū)12內(nèi)進(jìn)行驅(qū)動芯片的綁定。在綁定后，由于測試區(qū)13內(nèi)的測試端不與除第二引線之外的結(jié)構(gòu)形成電連接，不會影響驅(qū)動芯片的驅(qū)動信號的輸出；而且由于進(jìn)行引線開路測試時連接件接觸的是測試端而不是接線端，因而可以避免測試過程中探針扎傷引線、引發(fā)不良的情況發(fā)生。
[0052]由此可見，對于現(xiàn)有的常規(guī)測試方式無法實現(xiàn)引線開路測試的顯示面板，本發(fā)明實施例則可以通過在結(jié)構(gòu)上進(jìn)行改進(jìn)以實現(xiàn)其引線開路測試。
[0053]相較于常規(guī)全接觸(Full Contact)方式，本發(fā)明實施例可以解決引線間距過小以及測試可能會扎傷引線的問題；相較于短路條(Shorting Bar)開關(guān)轉(zhuǎn)換測試方式，本發(fā)明實施例可以有效地檢出綁定區(qū)以及扇出區(qū)內(nèi)的引線開路。因此，本發(fā)明實施例可以較好地完成引線開路測試并避免測試引起的不良及資材浪費。
[0054]需要說明的是，綁定區(qū)12的數(shù)量位置以及第一引線的具體屬性可以在滿足信號線與接線端之間的連接要求的前提下任意設(shè)置，測試區(qū)13的數(shù)量位置、其中測試端的大小、數(shù)量、形狀和排列方式、第二走線的具體屬性等也可以在滿足測試端與接線端之間的連接要求的前提下任意設(shè)置，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以按照上述記載實施本發(fā)明，顯然不影響上述技術(shù)問題的解決，因此在這些方面上本發(fā)明均不做限制。
[0055]特別地，上述測試區(qū)13可以如圖1所示的那樣優(yōu)選地位于對應(yīng)的綁定區(qū)12遠(yuǎn)離顯示區(qū)11的一側(cè)，以使連接件可以從面板四周最邊緣處與測試區(qū)13中的測試端相互接觸，避免經(jīng)過或觸碰到其他電路結(jié)構(gòu)，提高測試的可靠性。
[0056]進(jìn)一步地，圖2是本發(fā)明一個實施例中綁定區(qū)和測試區(qū)的局部結(jié)構(gòu)示意圖。參見圖2，綁定區(qū)12內(nèi)以豎矩形表示的接線端分兩行排布，且每一行中相鄰兩個接線端的間距為d。相應(yīng)地，測試區(qū)13內(nèi)同樣以豎矩形的測試端分兩行排布，具體地，在圖1中相互對應(yīng)的綁定區(qū)12與測試區(qū)13內(nèi)，接線端與測試端具有相同的大小、數(shù)量、形狀以及排列方式。也就是說，測試區(qū)可以作為綁定區(qū)的重復(fù)結(jié)構(gòu)來進(jìn)行制作，且在設(shè)置位置上相當(dāng)于將綁定區(qū)平行移動預(yù)定距離。需要說明的是，圖2中沒有示出第一引線和第二引線等連接線，而主要是示出了暴露在外側(cè)可以與探針接觸的接線端和測試端的設(shè)置方式。其中，連接每一對相互對應(yīng)的接線端與測試端的第二引線可以參照現(xiàn)有技術(shù)中的引線設(shè)置方式來進(jìn)行設(shè)置，在此不再贅述。
[0057]基于此，不同于短路條的信號線的設(shè)置，測試區(qū)的設(shè)置僅占用很小一部分的設(shè)計空間，并可以通過與接線端相同的方式來形成測試區(qū)內(nèi)的測試端(比如改變形成接線端的導(dǎo)體層的構(gòu)圖圖案)，避免了制造工藝中步驟流程的增加。
[0058]然而，若采用如圖2所示的測試區(qū)設(shè)置方式，會仍然存在全接觸(Full Contact)方式中引線間距過小而無法進(jìn)行測試的問題，如圖3所示的全接觸方式下探針接觸接線端或測試端的示意圖所示。參見圖3，在探針組(圖3中沿豎向延伸的一排細(xì)條狀結(jié)構(gòu))與圖2所示的接線端或者測試端接觸時，為了保障所有接線端或測試端都能與探針接觸，一行中相鄰探針的間距要與d相當(dāng)，而不同行中相鄰探針的間距要與d/2相當(dāng)，在d = 15 μπι時，這兩個數(shù)值分別約為15 μπι和7.5 μm，不僅探針要足夠細(xì)長、探針組要足夠密，而且探針組還