陣列基板及制造方法、顯示面板及其測試方法、顯示裝置的制造方法
【技術(shù)領域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領域，具體涉及一種陣列基板及制造方法、顯示面板及其測試方法、顯示裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在現(xiàn)有的COG(Chip On Glass，玻璃上芯片封裝)類液晶面板中，由于需要在玻璃基板上的綁定區(qū)內(nèi)綁定驅(qū)動芯片，所以芯片與基板連接處的引線間距有越來越小的趨勢(比如15 μπι左右)。從而，如果要按照常規(guī)的全接觸(Full Contact)方式對這一部分引線進行開路(Open)測試，測試探針組的探針間距也須達到同等水平。但是，現(xiàn)有探針組的探針間距最小也只有30 μ m左右，因而無法通過全接觸方式實現(xiàn)引線開路測試。而且，任何采用連接端口直接與綁定區(qū)的接線端接觸來進行測試的方式通常都有很大幾率將引線扎傷，出現(xiàn)不良并造成資材浪費。
[0003]因此，對于COG液晶面板的引線開路測試，現(xiàn)有技術(shù)常采用短路條(ShortingBar)開關轉(zhuǎn)換測試方式來進行。即利用設置在面板周邊的短路條電路來提供液晶面板的顯示驅(qū)動信號，從而通過觀察發(fā)光情況來進行測試；同時，采用開關控制的方式來使短路條電路在工作狀態(tài)與非工作狀態(tài)之間轉(zhuǎn)換。但是，出于部分產(chǎn)品在設計時受設計空間范圍的限制等原因，短路條電路的信號線會無法經(jīng)過上述引線所在的區(qū)域以及液晶面板的扇出區(qū)(Fan-out)，導致這些區(qū)域內(nèi)的連接線即使發(fā)生開路短路條開關轉(zhuǎn)換測試方式也無法檢出的狀況發(fā)生。
[0004]所以，對于上述情形的COG面板，全接觸(Full Contact)方式會因為探針間距不夠小而出現(xiàn)大量的探針錯位現(xiàn)象(Pin Miss，即測試區(qū)域內(nèi)的一部分引線或接線端沒有接觸到探針)，還會扎傷引線，造成不良和資材浪費；而上述短路條(Shorting Bar)開關轉(zhuǎn)換測試方式則不能檢出一部分區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生的引線開路，不能達到測試效果。基于上述原因，現(xiàn)有的常規(guī)測試方式均無法實現(xiàn)該類COG面板的引線開路測試。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]針對現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷，本發(fā)明提供一種陣列基板及制造方法、顯示面板及其測試方法、顯示裝置，對于傳統(tǒng)測試方式無法進行引線開路測試的顯示面板也能實現(xiàn)引線開路測試。
[0006]第一方面，本發(fā)明提供了一種陣列基板，包括顯示區(qū)以及至少一個綁定區(qū)，所述至少一個綁定區(qū)位于所述顯示區(qū)之外；
[0007]所述顯示區(qū)內(nèi)設置有若干條信號線，所述綁定區(qū)內(nèi)設置有通過多條第一引線與多條所述信號線相連的多個接線端；
[0008]所述陣列基板還包括與任意一個或多個所述綁定區(qū)對應的一個或多個測試區(qū)；
[0009]所述測試區(qū)內(nèi)設有多個測試端，任一所述測試區(qū)內(nèi)的所述多個測試端通過多條第二引線與對應的綁定區(qū)內(nèi)的所述多個接線端相連。
[0010]可選地，所述多個接線端與所述多個測試端具有相同的大小、數(shù)量、形狀以及排列方式。
[0011]可選地，所述測試區(qū)位于對應的綁定區(qū)遠離所述顯示區(qū)的一側(cè)。
[0012]第二方面，本發(fā)明還提供了一種陣列基板的制造方法，所述陣列基板包括顯示區(qū)以及至少一個綁定區(qū)，任一所述綁定區(qū)位于所述顯示區(qū)的一側(cè)，所述方法包括:
[0013]形成包括所述至少一個綁定區(qū)，以及與任意一個或多個所述綁定區(qū)對應的一個或多個測試區(qū)的圖案；
[0014]其中，所述顯示區(qū)內(nèi)設置有多條信號線，所述綁定區(qū)內(nèi)設置有通過多條第一引線與多條所述信號線相連的多個接線端；
[0015]所述測試區(qū)內(nèi)設有多個測試端，任一所述測試區(qū)內(nèi)的所述多個測試端通過多條第二引線與對應的綁定區(qū)內(nèi)的所述多個接線端相連。
[0016]可選地，所述多個接線端與所述多個測試端具有相同的大小、數(shù)量、形狀以及排列方式。
[0017]可選地，所述測試區(qū)位于對應的綁定區(qū)遠離所述顯示區(qū)的一側(cè)。
[0018]第三方面，本發(fā)明還提供了一種顯示面板，包括上述任意一種陣列基板。
[0019]第四方面，本發(fā)明還提供了一種上述任意一種顯示面板的測試方法，包括:
[0020]對應于每一所述測試區(qū)，將第一測試探針組與該測試區(qū)內(nèi)的所述多個測試端相互接觸；
[0021]向顯示面板提供偏置電壓，通過所述第一測試探針組向顯示面板提供驅(qū)動信號；
[0022]觀察顯示面板的顯示情況以獲取引線開路測試的測試結(jié)果。
[0023]可選地，所述第一測試探針組中探針具有預設寬度，以使每一個所述探針均與兩列測試端相互接觸。
[0024]可選地，還包括:
[0025]將所述第一測試探針組與所述顯示面板脫離；
[0026]通過短路條電路向顯示面板提供驅(qū)動信號和偏置電壓，以獲得該顯示面板的顯示測試結(jié)果。
[0027]第五方面，本發(fā)明還提供了一種顯示裝置，包括上述任意一種顯示面板。
[0028]由上述技術(shù)方案可知，本發(fā)明所提供的陣列基板、顯示面板和顯示裝置中在測試區(qū)內(nèi)設置的測試端在測試中可以代替綁定區(qū)的接線端與探針接觸，而測試區(qū)內(nèi)的測試端不同于綁定區(qū)內(nèi)的接線端，可以根據(jù)測試需要在一定范圍內(nèi)進行任意設置。因此，對于現(xiàn)有的常規(guī)測試方式無法實現(xiàn)引線開路測試的顯示面板，本發(fā)明則可以通過在結(jié)構(gòu)上進行改進以實現(xiàn)其引線開路測試。
[0029]而且，本發(fā)明所提供的陣列基板的制造方法可以制造上述陣列基板，同時可以僅通過改變構(gòu)圖圖案來使得綁定區(qū)和測試區(qū)的形成通過同一步驟形成，簡化工藝、降低成本。
[0030]另一方面，本發(fā)明所提供的測試方法，可以對現(xiàn)有的常規(guī)測試方式無法實現(xiàn)引線開路測試的顯示面板有效地檢出扇出區(qū)以及綁定區(qū)內(nèi)出現(xiàn)的引線開路，達到較佳的測試效果O
[0031]相較于常規(guī)全接觸(Full Contact)方式，本發(fā)明可以解決引線間距過小以及測試可能會扎傷引線的問題；相較于短路條(Shorting Bar)開關轉(zhuǎn)換測試方式，本發(fā)明可以有效地檢出綁定區(qū)以及扇出區(qū)內(nèi)的引線開路。因此，本發(fā)明可以較好地完成引線開路測試并避免測試引起的不良及資材浪費。
[0032]當然，實施本發(fā)明的任一產(chǎn)品或方法并不一定需要同時達到以上所述的所有優(yōu)點。
【附圖說明】
[0033]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作一簡單的介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0034]圖1是本發(fā)明一個實施例中一種陣列基板的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；
[0035]圖2是本發(fā)明一個實施例中綁定區(qū)和測試區(qū)的局部結(jié)構(gòu)示意圖；
[0036]圖3是全接觸方式下探針接觸接線端或測試端的示意圖；
[0037]圖4是本發(fā)明一個實施例中一種探針的結(jié)構(gòu)以及該探針與測試端接觸的示意圖；
[0038]圖5是本發(fā)明一個實施例中一種顯示面板的測試方法的步驟流程示意圖；
[0039]圖6是本發(fā)明一個實施例中一種COG面板的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；
[0040]圖7是本發(fā)明一個實施例中一種顯示面板的測試方法的第一步點燈時的測試示意圖；
[0041]圖8是本發(fā)明一個實施例中一種顯示面板的測試方法的第二步點燈時的測試示意圖。
【具體實施方式】
[0042]為使本發(fā)明實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術(shù)