技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種液晶指向矢快速測量裝置及其實現(xiàn)方法，通過利用基于晶體劈的偏光干涉原理將外電壓驅(qū)動下液晶中透射光的偏振態(tài)改變轉(zhuǎn)換成干涉條紋的移動，并利用高速相機對干涉條紋的移動進行測量，根據(jù)液晶指向矢的傾斜角和扭轉(zhuǎn)角和透射光偏振態(tài)的關(guān)系，來獲得液晶分子平均指向矢的動態(tài)信息。該指向矢測量方法的測量光路結(jié)構(gòu)簡單緊湊，測量過程中無需光學器件的調(diào)節(jié)，測量結(jié)果不受光源波動性的影響，并可同步快速測量出液晶指向矢傾斜角和扭轉(zhuǎn)角，屬于高精度線性測量。該方法測量速度主要依賴于相機的采集頻率，可達微秒量級。

技術(shù)研發(fā)人員：馬靖;許燦華;呂佩偉
受保護的技術(shù)使用者：福州大學
文檔號碼：201611031573
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.22
技術(shù)公布日：2017.05.31