專利名稱：一種液晶顯示裝置及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示裝置技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種液晶顯示裝置及其測試方法。
背景技術(shù)：
液晶顯示裝置在生產(chǎn)過程中，常需要進行測試以進行質(zhì)量管控和良率保證，因此，液晶顯示裝置中一般均設(shè)置有檢測用的線路。參考圖1，圖1為現(xiàn)有技術(shù)中常見的一種液晶顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，圖中示出了顯示區(qū)(AA)，顯示區(qū)內(nèi)縱橫交錯設(shè)置有多條掃描線
G1、G2、......、G(2n-l)、G2n和多條數(shù)據(jù)線S1、S2、......、S(2n_l)、Sn ;其中，所述多條掃
描線G1、G2、......、G(2n-l)、G2n分別通過掃描線引線連接至掃描線驅(qū)動電路(GATE IC)
的掃描線輸出信號金手指，所述多條數(shù)據(jù)線S1、S2........S(2n-1)、S2n分別通過數(shù)據(jù)線
引線連接至數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路(SOURCE IC)的數(shù)據(jù)線輸出信號金手指。為了對該液晶顯示裝置進行測試，需要向各掃描線輸入掃描線測試信號及向各數(shù)據(jù)線輸入數(shù)據(jù)線測試信號，因此，各掃描線和各數(shù)據(jù)線需要連接相應(yīng)的測試信號線路，圖1中示出了與奇數(shù)行掃描線相連的奇數(shù)行掃描線測試信號線路Gate-Odd (簡稱G_0)，與偶數(shù)行掃描線相連的偶數(shù)行掃描線測試信號線路Gate-Even (簡稱G_E)，與奇數(shù)列數(shù)據(jù)線相連的奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路Data-Odd (簡稱D_0)，與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線相連的偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路Data-Even (簡稱D_E)，且各掃描線和各數(shù)據(jù)線與相應(yīng)的測試信號線路之間設(shè)置有開關(guān)管，所述開關(guān)管在同一開關(guān)管信號線路SWl的控制下可同時導通或截止。早期的液晶顯示裝置中，常將各測試信號線路、開關(guān)管及開關(guān)管信號線路設(shè)置在驅(qū)動IC(包括掃描線驅(qū)動電路和數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路)下方，但是隨著驅(qū)動IC越來越小，而且大尺寸顯示器的測試負載較大，需要設(shè)置較大的開關(guān)管，因此，驅(qū)動IC下方的空間不夠大，不能容納相應(yīng)的測試信號線路、開關(guān)管及開關(guān)管信號線路，因此，所述各測試信號線路、開關(guān)管及開關(guān)管信號線路被設(shè)置在了驅(qū)動IC的對面，中間間隔著顯示區(qū)AA，如圖1所示。結(jié)合圖1和圖2，圖2為圖1中各測試信號線路及開關(guān)管信號線路的輸出信號波形圖，在對該液晶顯示裝置進行測試時，使開關(guān)管信號線路SWl輸出高電平，從而打開(即導通)與其相連的各開關(guān)管，因此，奇數(shù)行掃描線測試信號線路6_0、偶數(shù)行掃描線測試信號線路G_E、奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_0和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_E的輸出信號將分別到達相應(yīng)的掃描線和數(shù)據(jù)線(當然，還應(yīng)有相應(yīng)的公共電極信號)，從而可在顯示區(qū)顯示黑白灰畫面。若顯示區(qū)內(nèi)有短路或斷路的情況，則通過畫面顯示即可檢測出來。但是，如果短路或斷路情況發(fā)生在顯示區(qū)與驅(qū)動IC之間的連線處，即:如果短路或斷路情況發(fā)生在各數(shù)據(jù)線引線與數(shù)據(jù)線輸出信號金手指的連接處(圖中叉所示位置)，或者發(fā)生在各掃描線引線與掃描線輸出信號金手指的連接處(圖中叉所示位置)，則此時，由于數(shù)據(jù)線測試信號從數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路的對面直接輸出到顯示區(qū)內(nèi)的各數(shù)據(jù)線，掃描線測試信號從掃描線驅(qū)動電路的對面直接輸出到顯示區(qū)內(nèi)的各掃描線，因此，各測試信號均未經(jīng)過相應(yīng)的驅(qū)動電路，故顯示區(qū)內(nèi)畫面仍然可正常顯示，即:此時通過顯示區(qū)內(nèi)的畫面檢測不出來此種短路或斷路情況。而這種情況只有待該液晶顯示裝置組裝成模組后才能表現(xiàn)出顯示亮線或者無顯，但此時已造成嚴重損失。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明實施例提供了一種液晶顯示裝置及其測試方法，該液晶顯示裝置在進行測試時，能夠有效地檢測出顯示區(qū)內(nèi)以及顯示區(qū)與驅(qū)動IC之間連接處的短路或斷路情況，從而可減少損失。為解決上述問題，本發(fā)明實施例提供了如下技術(shù)方案:—種液晶顯示裝置,該液晶顯示裝置包括:顯示區(qū)，所述顯示區(qū)內(nèi)設(shè)置有多條縱橫交錯的掃描線和數(shù)據(jù)線；設(shè)置在顯示區(qū)外側(cè)的掃描線驅(qū)動電路和/或數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路，所述掃描線驅(qū)動電路的掃描線輸出信號金手指通過掃描線引線分別連接各掃描線，且兩個掃描線輸出信號金手指之間設(shè)置有第一開關(guān)管；所述數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路的數(shù)據(jù)線輸出信號金手指通過數(shù)據(jù)線引線分別連接各數(shù)據(jù)線，且兩個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指之間設(shè)置有第二開關(guān)管；連接第一開關(guān)管和/或第二開關(guān)管的第三開關(guān)管信號線路；在顯示區(qū)外側(cè)的所述掃描線驅(qū)動電路對側(cè)，所述掃描線通過第三開關(guān)管與掃描線測試信號線路連接；和/或，在顯示區(qū)外側(cè)的所述數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路對側(cè)，所述數(shù)據(jù)線通過第四開關(guān)管與數(shù)據(jù)線測試信號線路連接；連接多個第三開關(guān)管的第一開關(guān)管信號線路和第二開關(guān)管信號線路；和/或，連接多個第四開關(guān)管的第一開關(guān)管信號線路和第二開關(guān)管信號線路；且與第一開關(guān)管信號線路相連的第三開關(guān)管和與第二開關(guān)管信號線路相連的第三開關(guān)管均通過相應(yīng)的掃描線、掃描線引線與第一開關(guān)管連接的兩個掃描線輸出信號金手指分別相連；與第一開關(guān)管信號線路相連的第四開關(guān)管和與第二開關(guān)管信號線路相連的第四開關(guān)管均通過相應(yīng)的數(shù)據(jù)線、數(shù)據(jù)線引線與第二開關(guān)管連接的兩個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指分別相連。優(yōu)選的，上述液晶顯示裝置中，相鄰兩條掃描線輸出信號金手指之間設(shè)置有一個第一開關(guān)管，且各第一開關(guān)管連接不同的掃描線輸出信號金手指。優(yōu)選的，上述液晶顯示裝置中，相鄰兩條數(shù)據(jù)線輸出信號金手指之間設(shè)置有一個第二開關(guān)管，且各第二開關(guān)管連接不同的數(shù)據(jù)線輸出信號金手指。優(yōu)選的，上述液晶顯示裝置中，所述第一開關(guān)管信號線路連接奇數(shù)行掃描線上的第三開關(guān)管和/或奇數(shù)列數(shù)據(jù)線上的第四開關(guān)管；所述第二開關(guān)管信號線路連接偶數(shù)行掃描線上的第三開關(guān)管和/或偶數(shù)列數(shù)據(jù)線上的第四開關(guān)管。優(yōu)選的，上述液晶顯示裝置中，所述掃描線測試信號線路包括奇數(shù)行掃描線測試信號線路和偶數(shù)行掃描線測試信號線路，每一奇數(shù)行掃描線通過一個第三開關(guān)管與所述奇數(shù)行掃描線測試信號線路相連，每一偶數(shù)行掃描線通過一個第三開關(guān)管與所述偶數(shù)行掃描線測試信號線路相連。優(yōu)選的，上述液晶顯示裝置中，所述數(shù)據(jù)線測試信號線路包括奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路，每一奇數(shù)列數(shù)據(jù)線通過一個第四開關(guān)管與所述奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路相連，每一偶數(shù)列數(shù)據(jù)線通過一個第四開關(guān)管與所述偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路相連。優(yōu)選的，上述液晶顯示裝置中，所述第一開關(guān)管、第二開關(guān)管、第三開關(guān)管、第四開關(guān)管均為N型晶體管或P型晶體管。本發(fā)明還提供了一種液晶顯示裝置的測試方法，該測試方法包括:打開各第三開關(guān)管和/或各第四開關(guān)管，關(guān)閉各第一開關(guān)管和各第二開關(guān)管；向掃描線測試信號線路輸入掃描線測試信號和/或向數(shù)據(jù)線測試信號線路輸入數(shù)據(jù)線測試信號，對顯示區(qū)內(nèi)的掃描線和/或數(shù)據(jù)線進行測試；關(guān)閉由第一開關(guān)管信號線路控制的第三開關(guān)管和/或第四開關(guān)管，或者關(guān)閉由第二開關(guān)管信號線路控制的第三開關(guān)管和/或第四開關(guān)管，打開各第一開關(guān)管和各第二開關(guān)管，對掃描線驅(qū)動電路和/或數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路與顯示區(qū)連接處進行測試。優(yōu)選的，上述測試方法中，所述第一開關(guān)管連接相鄰兩個掃描線輸出信號金手指，且各第一開關(guān)管連接不同的掃描線輸出信號金手指。優(yōu)選的，上述測試方法中，所述第二開關(guān)管連接相鄰兩個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指，且各第二開關(guān)管連接不同的數(shù)據(jù)線輸出信號金手指。優(yōu)選的，上述測試方法中，所述第一開關(guān)管信號線路控制奇數(shù)行掃描線上的第三開關(guān)管和/或奇數(shù)列數(shù)據(jù)線上的第四開關(guān)管；所述第二開關(guān)管信號線路控制偶數(shù)行掃描線上的第三開關(guān)管和/或偶數(shù)列數(shù)據(jù)線上的第四開關(guān)管。優(yōu)選的，上述測試方法中，所述掃描線測試信號線路包括奇數(shù)行掃描線測試信號線路和偶數(shù)行掃描線測試信號線路，每一奇數(shù)行掃描線通過一個第三開關(guān)管與所述奇數(shù)行掃描線測試信號線路相連，每一偶數(shù)行掃描線通過一個第三開關(guān)管與所述偶數(shù)行掃描線測試信號線路相連。優(yōu)選的，上述測試方法中，所述數(shù)據(jù)線測試信號線路包括奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路，每一奇數(shù)列數(shù)據(jù)線通過一個第四開關(guān)管與所述奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路相連，每一偶數(shù)列數(shù)據(jù)線通過一個第四開關(guān)管與所述偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路相連。從上述技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明實施例所提供的液晶顯示裝置的測試方法，首先打開各第三開關(guān)管和/或各第四開關(guān)管，關(guān)閉各第一開關(guān)管和各第二開關(guān)管；之后向掃描線測試信號線路輸入掃描線測試信號和/或向數(shù)據(jù)線測試信號線路輸入數(shù)據(jù)線測試信號，此時所述掃描線測試信號會通過相應(yīng)的第三開關(guān)管進入顯示區(qū)內(nèi)以及/或者數(shù)據(jù)線測試信號會通過相應(yīng)的第四開關(guān)管進入顯示區(qū)內(nèi)，從而可檢測顯示區(qū)內(nèi)掃描線和/或數(shù)據(jù)線上是否存在短路或斷路情況；當對顯示區(qū)內(nèi)的掃描線和/或數(shù)據(jù)線檢測完成后，關(guān)閉由第一開關(guān)管信號線路控制的第三開關(guān)管和/或第四開關(guān)管，或者關(guān)閉由第二開關(guān)管信號線路控制的第三開關(guān)管和/或第四開關(guān)管，打開各第一開關(guān)管和各第二開關(guān)管，此時，一半的掃描線測試信號將不能直接通過相應(yīng)的第三開關(guān)管進入顯示區(qū)內(nèi)以及/或者一半的數(shù)據(jù)線測試信號將不能直接通過相應(yīng)的第四開關(guān)管進入顯示區(qū)內(nèi)，但此時由于各第一開關(guān)管和各第二開關(guān)管均導通了，而所述第一開關(guān)管連接兩個掃描線輸出信號金手指，所述第二開關(guān)管連接兩個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指，且第一開關(guān)管所連接的兩個掃描線輸出信號金手指分別通過相應(yīng)的掃描線引線、掃描線連接到與第一開關(guān)管信號線路相連的第三開關(guān)管和與第二開關(guān)管信號線路相連的第三開關(guān)管，雖然第一開關(guān)管信號線路和第二開關(guān)管信號線路其中之一關(guān)閉了與其相連的第三開關(guān)管，使得一半掃描線上不能接收掃描線測試信號，但是另一半接收有掃描線測試信號的掃描線會將接收到的掃描線測試信號通過掃描線輸出信號金手指和第一開關(guān)管傳輸至其上，從而使得顯示區(qū)內(nèi)各掃描線上均有掃描線測試信號，因此，若掃描線引線與掃描線輸出信號金手指之間連接處無任何問題，則顯示區(qū)內(nèi)掃描線便可正常顯示，而如果顯示區(qū)內(nèi)掃描線不能正常顯示或顯示亮線，則表明掃描線引線與掃描線輸出信號金手指之間出現(xiàn)短路或斷路情況；同理，數(shù)據(jù)線引線與數(shù)據(jù)線輸出信號金手指之間連接處的短路或斷路情況也可檢測出來，因此，采用本發(fā)明所提供的方法不僅可檢測出顯示區(qū)內(nèi)掃描線和/或數(shù)據(jù)線的短路或斷路情況，還能檢測出顯示區(qū)與驅(qū)動IC之間連接處的短路或斷路情況，相比現(xiàn)有技術(shù)而言，可減少經(jīng)濟損失。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為現(xiàn)有技術(shù)中常見的一種液晶顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為圖1中各測試信號線路及開關(guān)管信號線路的輸出信號波形圖；圖3為本發(fā)明實施例所提供的一種液晶顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為圖3中各測試信號線路及開關(guān)管信號線路的輸出信號波形圖。
具體實施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。在下面的描述中闡述了很多具體細節(jié)以便于充分理解本發(fā)明，但是本發(fā)明還可以采用其他不同于在此描述的其它方式來實施，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本發(fā)明內(nèi)涵的情況下做類似推廣，因此本發(fā)明不受下面公開的具體實施例的限制。實施例一參考圖3，圖3為本發(fā)明實施例所提供的一種液晶顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，該液晶顯示裝置包括:位于中間區(qū)域的顯示區(qū)AA，該顯示區(qū)AA內(nèi)設(shè)置有多條縱橫交錯的掃描線和數(shù)據(jù)線，且所述多條掃描線和數(shù)據(jù)線均延伸至所述顯示區(qū)的外側(cè)；其中，掃描線為水平線，
分別為掃描線Gl、G2........G(2n-1)、G2n等，數(shù)據(jù)線為豎直線，分別為S1、S2........S (2n-l)、S2n等，其中η為大于等于I的正整數(shù)；所述掃描線和數(shù)據(jù)線所圍成的單元為一個像素，因此，顯示區(qū)AA是由多個像素構(gòu)成的像素陣列，每一像素內(nèi)均設(shè)置有一個薄膜晶體管，所述薄膜晶體管的柵極連接該行的掃描線，并在所述掃描線所傳輸?shù)膾呙栊盘柕目刂葡露蜷_，所述薄膜晶體管的源極連接該列的數(shù)據(jù)線，使該像素接收來自所述數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)信號，從而在顯示區(qū)AA內(nèi)顯示畫面。給各掃描線提供掃描信號的是掃描線驅(qū)動電路GATE IC,所述掃描線驅(qū)動電路設(shè)置在所述顯示區(qū)的外側(cè)(圖中為右側(cè))，所述掃描線驅(qū)動電路內(nèi)設(shè)置有多個掃描線輸出信號金手指，多條用于將掃描信號輸送給顯示區(qū)內(nèi)掃描線的掃描線引線，所述多個掃描線輸出信號金手指分別與多條掃描線引線一一對應(yīng)相連，所述掃描線驅(qū)動電路通過相應(yīng)的掃描線輸出信號金手指和掃描線引線將掃描信號輸出給對應(yīng)的掃描線。給各數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號的是數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路SOURCE IC,圖中所述數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路設(shè)置在所述顯示區(qū)的下方，所述數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路內(nèi)設(shè)置有多個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指，多條用于將數(shù)據(jù)信號輸送給顯示區(qū)內(nèi)數(shù)據(jù)線的數(shù)據(jù)線引線，所述多個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指分別與多條數(shù)據(jù)線引線一一對應(yīng)相連，所述數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路通過相應(yīng)的數(shù)據(jù)線輸出信號金手指和數(shù)據(jù)線引線將數(shù)據(jù)信號輸出給對應(yīng)的數(shù)據(jù)線。在掃描線驅(qū)動電路中，相鄰兩個掃描線輸出信號金手指之間通過一個第一開關(guān)管相連接，所述第一開關(guān)管的源極與奇數(shù)行掃描線引線連接，漏極與偶數(shù)行掃描線引線連接，柵極與第三開關(guān)管信號線路SW3連接；各第一開關(guān)管連接不同的掃描線輸出信號金手指，圖中示出了第一開關(guān)管SGl和SG(2n/2)。在數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路中，相鄰兩個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指之間通過一個第二開關(guān)管相連接，所述第二開關(guān)管的源極與奇數(shù)列數(shù)據(jù)線引線連接，漏極與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線引線連接，柵極與第三開關(guān)管信號線路SW3連接；各第二開關(guān)管連接不同的數(shù)據(jù)線輸出信號金手指，圖中示出了第二開關(guān)管SSl和SS(2n/2)。需要說明的是，上述開關(guān)管的連接方式僅為實施例中的一種，第一和第二開關(guān)管的源極也可以分別與偶數(shù)行掃描線引線和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線引線連接，漏極分別與奇數(shù)行掃描線引線和奇數(shù)列數(shù)據(jù)線引線連接；所述開關(guān)管的源漏極也可以連接不相鄰的兩行掃描線或兩列數(shù)據(jù)線，只要滿足當開關(guān)管的源極通過掃描線或數(shù)據(jù)線與提供奇數(shù)行或偶數(shù)行測試信號的測試信號線路連接時，該開關(guān)管的漏極通過另一掃描線或數(shù)據(jù)線與與之相反的提供偶數(shù)行或奇數(shù)行測試信號的測試信號線路連接。所述第一開關(guān)管和第二開關(guān)管均可以為非晶硅N型晶體管或非晶硅P型晶體管，本實施例中均以非晶硅N型晶體管為例進行說明，對于其為非晶硅P型晶體管的情況，只需設(shè)置相應(yīng)輸入信號(或高低電平)相反即可。所述各第一開關(guān)管和各第二開關(guān)管連接到一開關(guān)管信號線路SW3上，本發(fā)明實施例中將此開關(guān)管信號線路稱為第三開關(guān)管信號線路，當然，也可以將各第一開關(guān)管連接到一個開關(guān)管信號線路上，將各第二開關(guān)管連接到另一開關(guān)管信號線路上。當向所述第三開關(guān)管信號線路SW3上輸入高電平時，所述各第一開關(guān)管和各第二開關(guān)管將均導通，從而使得第一開關(guān)管所連接的相鄰兩個掃描線輸出信號金手指導通，且使得第二開關(guān)管所連接的相鄰兩個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指導通；當向所述第三開關(guān)管信號線路SW3上輸入低電平時，所述各第一開關(guān)管和各第二開關(guān)管將均截止，此時相鄰兩個掃描線輸出信號金手指之間不導通，且相鄰兩個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指之間也不導通。在顯示區(qū)AA外側(cè)、且與所述掃描線驅(qū)動電路相對的一側(cè)設(shè)置有奇數(shù)行掃描線測試信號線路G_0和偶數(shù)行掃描線測試信號線路G_E，所述奇數(shù)行掃描線測試信號線路G_O和偶數(shù)行掃描線測試信號線路G_E均為豎直線路。所述奇數(shù)行掃描線測試信號線路G_
O與各奇數(shù)行掃描線Gl........G(2n-1)等相連，所述偶數(shù)行掃描線測試信號線路G_E與
各偶數(shù)行掃描線G2........G2n等相連；且每行掃描線延伸至顯示區(qū)外(與所述掃描線驅(qū)動電路相對的一側(cè))的區(qū)域處均設(shè)置有一個第三開關(guān)管，這些第三開關(guān)管分別為MG1、
MG2、......、MG(2n-l)、MG2n等，所述每行掃描線均通過相應(yīng)的第三開關(guān)管與相應(yīng)的掃描線
測試信號線路相連。在顯示區(qū)AA外側(cè)、且與所述數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路相對的一側(cè)設(shè)置有奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_0和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_E，所述奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_O和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_E均為水平線路。所述奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_
O與各奇數(shù)列數(shù)據(jù)線S1........S(2n-1)等相連，所述偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_E與
各偶數(shù)列數(shù)據(jù)線S2........S2n等相連；且每列數(shù)據(jù)線延伸至顯示區(qū)外(與所述數(shù)據(jù)線
驅(qū)動電路相對的一側(cè))的區(qū)域處均設(shè)置有一個第四開關(guān)管，這些第四開關(guān)管分別為MS1、
MS2........MS(2n-l)、MS2n等，所述每列數(shù)據(jù)線均通過相應(yīng)的第四開關(guān)管與相應(yīng)的數(shù)據(jù)線
測試信號線路相連。在顯示區(qū)AA外側(cè)還設(shè)置有第一開關(guān)管信號線路SWl和第二開關(guān)管信號線路SW2，
所述第一開關(guān)管信號線路SWl連接各奇數(shù)行掃描線Gl........G(2n-1)等與奇數(shù)行掃描
線測試信號線路6_0之間的第三開關(guān)管MGl........MG(2n-l)等，以及各奇數(shù)列數(shù)據(jù)線
51........S(2n-1)等與奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_0之間的第四開關(guān)管MSl........MS(2n-l)等；所述第二開關(guān)管信號線路SW2連接各偶數(shù)行掃描線G2........G2n等與偶數(shù)
行掃描線測試信號線路G_E之間的第三開關(guān)管MG2........MG2n等，以及各偶數(shù)列數(shù)據(jù)線
52........S2n等與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_E之間的第四開關(guān)管MS2........MS2n
坐寸ο本發(fā)明實施例中以第三開關(guān)管和第四開關(guān)管均為非晶硅N型晶體管為例進行說明，當然，其也可以均為非晶硅P型晶體管。本發(fā)明所提供的液晶顯示裝置，還包括:與各掃描線相連的公共電極信號線路(圖3中未示出)，當想要在顯示區(qū)顯示畫面時，還需要向所述公共電極信號線路輸入公共電壓。本發(fā)明所提供的液晶顯示裝置，若給第一開關(guān)管信號線路SWl和第二開關(guān)管信號線路SW2均輸入高電平，給第三開關(guān)管信號線路SW3輸入低電平，之后通過各測試信號電路向各掃描線提供掃描線測試信號，向各數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)線測試信號，則通過顯示區(qū)內(nèi)所顯示的畫面即可檢測出顯示區(qū)內(nèi)是否發(fā)生短路或斷路情況；之后向第一開關(guān)管信號線路SWl和第二開關(guān)管信號線路SW2中的任一線路輸入低電平，并向第三開關(guān)管信號線路SW3輸入高電平，此時可通過顯示區(qū)內(nèi)所顯示的畫面檢測顯示區(qū)與驅(qū)動IC(包括掃描線驅(qū)動電路和數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路)之間的連接處是否發(fā)生短路或斷路情況，因此，相比現(xiàn)有技術(shù)而言，可在液晶顯示裝置組裝成模組前即檢測出顯示區(qū)與驅(qū)動IC之間的連接處是否有問題，從而可減少經(jīng)濟損失。需要說明的是，把掃描線測試信號線路分為奇數(shù)行掃描線測試信號線路6_0和偶數(shù)行掃描線測試信號線路G_E ;數(shù)據(jù)線測試信號線路分為奇數(shù)行數(shù)據(jù)線測試信號線路S_0和偶數(shù)行數(shù)據(jù)線測試信號線路S_0僅是為了清楚說明的一種實施例，其中掃描線測試信號線路或數(shù)據(jù)線測試信號線路可以分為任意條數(shù)，同時，也可以提供兩種測試信號，一種提供部分掃描線(數(shù)據(jù)線)高電平測試信號，另一種提供部分掃描線(數(shù)據(jù)線)低電平測試信號即可。
實施例二本實施例中詳細描述本發(fā)明所提供的液晶顯示裝置的測試方法。結(jié)合圖3和圖4，本發(fā)明所提供的液晶顯示裝置的測試方法包括如下步驟:步驟S1:向顯示區(qū)AA外側(cè)的公共電極信號線路輸入一直流電壓信號，向奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_0和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_E分別輸入奇數(shù)列數(shù)據(jù)信號和偶數(shù)列數(shù)據(jù)信號，所述奇數(shù)列數(shù)據(jù)信號和偶數(shù)列數(shù)據(jù)信號均按照時序進行正常輸出，依序向奇數(shù)行掃描線測試信號線路G_0和偶數(shù)行掃描線測試信號線路G_E輸入高電平。步驟S2:在第一時間段Tl內(nèi)，向第一開關(guān)管信號線路SWl和第二開關(guān)管信號線路SW2輸入高電平，并向第三開關(guān)管信號線路SW3輸入低電平，此時，與第一開關(guān)管信號線路
Sffl或第二開關(guān)管信號線路SW2相連的第四開關(guān)管MSl、MS2、.......MS (2n_l)、MS2n等和
第三開關(guān)管MG1、MG2、.......MG (2n_l)、MG2n等均導通，與第三開關(guān)管信號線路SW3相連
的第一開關(guān)管SGl........SG(2n/2)等和第二開關(guān)管SSl........SS(2n/2)等均截止，因
此，由奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_0和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_E所提供的數(shù)據(jù)信
號分別通過第四開關(guān)管MS1、MS2........MS(2n-l)、MS2n等而進入顯示區(qū)AA內(nèi)，由奇數(shù)行
掃描線測試信號線路G_0和偶數(shù)行掃描線測試信號線路G_E所提供的掃描信號通過第三開
關(guān)管MG1、MG2、......、MG(2n-l)、MG2n等而進入顯示區(qū)AA內(nèi)，故在顯示區(qū)AA內(nèi)能正常顯
示畫面，通過所顯示的畫面可判斷出顯示區(qū)內(nèi)是否存在短路或斷路情況。至此，已完成液晶顯示裝置的顯示區(qū)內(nèi)的測試。當然，上述兩個步驟的順序可以互換，這并不影響測試結(jié)果。步驟S3:當在第一時間段Tl內(nèi)完成對液晶顯示裝置的顯示區(qū)內(nèi)的測試后，在第二時間段T2內(nèi)，向第一開關(guān)管信號線路SWl和第二開關(guān)管信號線路SW2中的任一線路輸入低電平，向另一線路保持輸入高電平，并向第三開關(guān)管信號線路SW3輸入高電平，對顯示區(qū)和掃描線驅(qū)動電路及數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路的連接處進行檢測。當然，在第二時間段T2內(nèi)，還需要向公共電極信號線路、奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路0_0、偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_E、奇數(shù)行掃描線測試信號線路G_0和偶數(shù)行掃描線測試信號線路G_E均輸入正常的信號。本發(fā)明實施例中以向第二開關(guān)管信號線路SW2輸入低電平為例進行說明。當向第二開關(guān)管信號線路SW2輸入低電平時，與所述第二開關(guān)管信號線路SW2相連的第三開關(guān)管
MG2........MG2n等和第四開關(guān)管MS2........MS2n等均截止；而由于向第一開關(guān)管信號
線路SWl仍然輸入高電平，故與第一開關(guān)管信號線路SWl相連的第四開關(guān)管MSl........MS(2n-l)等和第三開關(guān)管MGl........MG(2n_l)等仍然均導通；此時，奇數(shù)行掃描線測試
信號線路G_0所提供的掃描信號將通過第三開關(guān)管MGl........MG (2n-l)等到達各奇數(shù)行
掃描線Gl........G(2n-1)等，奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_0所提供的數(shù)據(jù)信號將通過
第四開關(guān)管MSl........MS(2n-l)等到達各奇數(shù)列數(shù)據(jù)線S1........S(2n_l)等，而偶數(shù)
行掃描線測試信號線路G_E所提供的掃描信號將不能通過第三開關(guān)管MG2........MG2n等
而到達各偶數(shù)行掃描線G2........G2n等，同理，偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路D_E所提供的
數(shù)據(jù)信號也不能通過第四開關(guān)管MS2........MS2n等而到達各偶數(shù)列數(shù)據(jù)線S2........S2n 等。但是，本步驟中由于向第三開關(guān)管信號線路SW3輸入了高電平，因此，與所述第三開關(guān)管信號線路SW3相連的第一開關(guān)管SGl........SG(2n/2)等和第二開關(guān)管SSl........SS(2n/2)等均導通，所述第一開關(guān)管SGl........SG(2n/2)等和第二開關(guān)管
SSl........SS(2n/2)等的導通，意味著掃描線驅(qū)動電路內(nèi)相鄰兩個掃描線輸出信號金手
指將導通，且數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路內(nèi)相鄰兩個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指也導通，又由于多個掃描線輸出信號金手指分別通過掃描線引線連接各掃描線，多個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指通過數(shù)據(jù)線引線分別連接各數(shù)據(jù)線，因此，相鄰兩個掃描線輸出信號金手指的導通將使得相鄰兩條掃描線導通，相鄰兩個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指的導通將使得相鄰兩條數(shù)據(jù)線導通，故，顯示區(qū)AA內(nèi)奇數(shù)行掃描線上的掃描線測試信號會通過相應(yīng)的掃描線輸出信號金手指而到達顯示區(qū)AA內(nèi)與相應(yīng)奇數(shù)行掃描線相鄰的偶數(shù)行掃描線上，顯示區(qū)AA內(nèi)奇數(shù)列數(shù)據(jù)線上的數(shù)據(jù)線測試信號會通過相應(yīng)的數(shù)據(jù)線輸出信號金手指而到達顯示區(qū)AA內(nèi)與相應(yīng)奇數(shù)列數(shù)據(jù)線相鄰的偶數(shù)列數(shù)據(jù)線上，從而使得顯示區(qū)AA內(nèi)各掃描線上均有掃描線測試信號，且顯示區(qū)AA內(nèi)各數(shù)據(jù)線上均有數(shù)據(jù)線測試信號，使得顯示區(qū)內(nèi)可正常顯示畫面。由于顯示區(qū)AA內(nèi)偶數(shù)行掃描線上的掃描線測試信號是通過掃描線驅(qū)動電路內(nèi)的掃描線輸出信號金手指而傳輸?shù)模绎@示區(qū)AA內(nèi)偶數(shù)列數(shù)據(jù)線上的數(shù)據(jù)線測試信號是通過數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路內(nèi)的數(shù)據(jù)線輸出信號金手指而傳輸?shù)?，因此，當所述顯示區(qū)與掃描線驅(qū)動電路的連接處，或者顯示區(qū)與數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路的連接處出現(xiàn)短路或斷路情況，則就能從顯示區(qū)AA內(nèi)所顯示的畫面上體現(xiàn)出來，此時就能檢測出顯示區(qū)與驅(qū)動IC連接處是否有短路或斷路情況。上面是以向第二開關(guān)管信號線路SW2輸入低電平為例進行說明的，對于向第一開關(guān)管信號線路SWl輸入低電平，向第二開關(guān)管信號線路SW2仍然輸入高電平這種情況與上述類似，不再贅述。由上可知，本發(fā)明所提供的液晶顯示裝置，通過相應(yīng)的測試方法，在該液晶顯示裝置組裝成模組前，不僅能檢測出顯示區(qū)內(nèi)是否存在短路或斷路情況，而且還能檢測出顯示區(qū)與驅(qū)動IC連接處是否存在短路或斷路情況，因此，相比現(xiàn)有技術(shù)而言，可減少經(jīng)濟損失。本說明書中各個部分采用遞進的方式描述，每個部分重點說明的都是與其他部分的不同之處，各個部分之間相同相似部分互相參見即可。需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備
所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個......”限定的要素，并不排
除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。對所公開的實施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對這些實施例的多種修改對本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會被限制于本文所示的實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。
權(quán)利要求
1.一種液晶顯示裝置，其特征在于，包括: 顯示區(qū)，所述顯示區(qū)內(nèi)設(shè)置有多條縱橫交錯的掃描線和數(shù)據(jù)線； 設(shè)置在顯示區(qū)外側(cè)的掃描線驅(qū)動電路和/或數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路，所述掃描線驅(qū)動電路的掃描線輸出信號金手指通過掃描線引線分別連接各掃描線，且兩個掃描線輸出信號金手指之間設(shè)置有第一開關(guān)管；所述數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路的數(shù)據(jù)線輸出信號金手指通過數(shù)據(jù)線引線分別連接各數(shù)據(jù)線，且兩個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指之間設(shè)置有第二開關(guān)管； 連接第一開關(guān)管和/或第二開關(guān)管的第三開關(guān)管信號線路； 在顯示區(qū)外側(cè)的所述掃描線驅(qū)動電路對側(cè)，所述掃描線通過第三開關(guān)管與掃描線測試信號線路連接；和/或，在顯示區(qū)外側(cè)的所述數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路對側(cè)，所述數(shù)據(jù)線通過第四開關(guān)管與數(shù)據(jù)線測試信號線路連接； 連接多個第三開關(guān)管的第一開關(guān)管信號線路和第二開關(guān)管信號線路；和/或，連接多個第四開關(guān)管的第一開關(guān)管信號線路和第二開關(guān)管信號線路； 且與第一開關(guān)管信號線路相連的第三開關(guān)管和與第二開關(guān)管信號線路相連的第三開關(guān)管均通過相應(yīng)的掃描線、掃描線引線與第一開關(guān)管連接的兩個掃描線輸出信號金手指分別相連； 與第一開關(guān)管信號線路相連的第四開關(guān)管和與第二開關(guān)管信號線路相連的第四開關(guān)管均通過相應(yīng)的數(shù)據(jù)線、數(shù)據(jù)線引線與第二開關(guān)管連接的兩個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指分別相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置，其特征在于，相鄰兩條掃描線輸出信號金手指之間設(shè)置有一個第一開關(guān)管，且各第一開關(guān)管連接不同的掃描線輸出信號金手指。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶顯示裝置，其特征在于，相鄰兩條數(shù)據(jù)線輸出信號金手指之間設(shè)置有一個第二開關(guān)管，且各第二開關(guān)管連接不同的數(shù)據(jù)線輸出信號金手指。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的液晶顯示裝置，其特征在于，所述第一開關(guān)管信號線路連接奇數(shù)行掃描線上的第三開關(guān)管和/或奇數(shù)列數(shù)據(jù)線上的第四開關(guān)管；所述第二開關(guān)管信號線路連接偶數(shù)行掃描線上的第三開關(guān)管和/或偶數(shù)列數(shù)據(jù)線上的第四開關(guān)管。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的液晶顯示裝置，其特征在于，所述掃描線測試信號線路包括奇數(shù)行掃描線測試信號線路和偶數(shù)行掃描線測試信號線路，每一奇數(shù)行掃描線通過一個第三開關(guān)管與所述奇數(shù)行掃描線測試信號線路相連，每一偶數(shù)行掃描線通過一個第三開關(guān)管與所述偶數(shù)行掃描線測試信號線路相連。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的液晶顯示裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)線測試信號線路包括奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路，每一奇數(shù)列數(shù)據(jù)線通過一個第四開關(guān)管與所述奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路相連，每一偶數(shù)列數(shù)據(jù)線通過一個第四開關(guān)管與所述偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路相連。
7.根據(jù)權(quán)利要求1 6任一項所述的液晶顯示裝置，其特征在于，所述第一開關(guān)管、第二開關(guān)管、第三開關(guān)管、第四開關(guān)管均為N型晶體管或P型晶體管。
8.一種液晶顯示裝置的測試方法，該液晶顯示裝置為上述權(quán)利要求1所述的液晶顯示裝置，其特征在于，該測試方法包括: 打開各第三開關(guān)管和/或各第四開關(guān)管，關(guān)閉各第一開關(guān)管和各第二開關(guān)管； 向掃描線測試信號線路輸入掃描線測試信號和/或向數(shù)據(jù)線測試信號線路輸入數(shù)據(jù)線測試信號，對顯示區(qū)內(nèi)的掃描線和/或數(shù)據(jù)線進行測試； 關(guān)閉由第一開關(guān)管信號線路控制的第三開關(guān)管和/或第四開關(guān)管，或者關(guān)閉由第二開關(guān)管信號線路控制的第三開關(guān)管和/或第四開關(guān)管，打開各第一開關(guān)管和各第二開關(guān)管，對掃描線驅(qū)動電路和/或數(shù)據(jù)線驅(qū)動電路與顯示區(qū)連接處進行測試。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的液晶顯示裝置的測試方法，其特征在于， 所述第一開關(guān)管連接相鄰兩個掃描線輸出信號金手指，且各第一開關(guān)管連接不同的掃描線輸出信號金手指。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的液晶顯示裝置的測試方法，其特征在于， 所述第二開關(guān)管連接相鄰兩個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指，且各第二開關(guān)管連接不同的數(shù)據(jù)線輸出信號金手指。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的液晶顯示裝置的測試方法，其特征在于， 所述第一開關(guān)管信號線路控制奇數(shù)行掃描線上的第三開關(guān)管和/或奇數(shù)列數(shù)據(jù)線上的第四開關(guān)管；所述第二開關(guān)管信號線路控制偶數(shù)行掃描線上的第三開關(guān)管和/或偶數(shù)列數(shù)據(jù)線上的第四開關(guān)管。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的液晶顯示裝置的測試方法，其特征在于， 所述掃描線測試信號線路包括奇數(shù)行掃描線測試信號線路和偶數(shù)行掃描線測試信號線路，每一奇數(shù)行掃描線通過一個第三開關(guān)管與所述奇數(shù)行掃描線測試信號線路相連，每一偶數(shù)行掃描線通過一個第三開關(guān)管與所述偶數(shù)行掃描線測試信號線路相連。
13.根據(jù)權(quán)利 要求11所述的液晶顯示裝置的測試方法，其特征在于， 所述數(shù)據(jù)線測試信號線路包括奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路，每一奇數(shù)列數(shù)據(jù)線通過一個第四開關(guān)管與所述奇數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路相連，每一偶數(shù)列數(shù)據(jù)線通過一個第四開關(guān)管與所述偶數(shù)列數(shù)據(jù)線測試信號線路相連。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種液晶顯示裝置及其測試方法。該液晶顯示裝置在兩個掃描線輸出信號金手指之間設(shè)置有第一開關(guān)管，且在兩個數(shù)據(jù)線輸出信號金手指之間設(shè)置有第二開關(guān)管，掃描線和數(shù)據(jù)線分別通過第三和第四開關(guān)管與掃描線和數(shù)據(jù)線測試信號線路連接，第三和第四開關(guān)管中的一半連接到第一開關(guān)管信號線路，另一半連接到第二開關(guān)管信號線路，且所述第一和第二開關(guān)管信號線路所控制的第三(第四)開關(guān)管分別對應(yīng)第一(第二)開關(guān)管所連接的掃描線(數(shù)據(jù)線)輸出信號金手指。本發(fā)明所提供的液晶顯示裝置在進行測試時，不僅可檢測出顯示區(qū)內(nèi)的短路或斷路情況，而且還能檢測出顯示區(qū)與驅(qū)動IC之間連接處的短路或斷路情況，從而可減少經(jīng)濟損失。
文檔編號G02F1/1362GK103186000SQ201110459598
公開日2013年7月3日 申請日期2011年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月31日
發(fā)明者李峻, 夏志強 申請人:上海中航光電子有限公司