專利名稱：液晶顯示面板測(cè)試裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種液晶顯示面板測(cè)試裝置及方法，特別是一種經(jīng)由比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格的數(shù)值，可自動(dòng)進(jìn)行液晶顯示面板相位的調(diào)整及測(cè)試，以使該液晶顯示面板符合需求，達(dá)到快速檢測(cè)。
背景技術(shù)：
一般而言，液晶顯示面板以液晶分子材料為基本要素，將白濁的液晶分子夾在經(jīng)過(guò)配向處理的兩片玻璃板之間，即可組合成目前熱門(mén)而且與我們?nèi)粘Ｉ钕⑾⑾嚓P(guān)的液晶單體。
由于液晶分子介于固態(tài)與液態(tài)之間，不但具有液體易受外力作用而流動(dòng)的特性，亦具有晶體特有的光學(xué)異方向性質(zhì)，所以能夠利用外加電場(chǎng)來(lái)驅(qū)使液晶的排列狀態(tài)改變至其它指向，造成光線穿透液晶層時(shí)的光學(xué)特性發(fā)生改變，此即是利用外加的電場(chǎng)來(lái)產(chǎn)生光的調(diào)變現(xiàn)象，稱之為液晶的光電效應(yīng)。利用此效應(yīng)可制作出各式的液晶顯示面板，如扭轉(zhuǎn)向列型(TN-Twisted Nematic)液晶顯示面板、超扭轉(zhuǎn)向列型(STN-Super TN)液晶顯示面板、及薄膜晶體管(TFT-Thin Film Transistor)液晶顯示面板等。
請(qǐng)參閱圖1所示的液晶顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖，液晶顯示面板1依序由一第一偏光板10、一第一位相差板11、一液晶單體12、一第二位相差板13及一第二偏光板14所組成，其中當(dāng)?shù)谝黄獍?0的角度為90度時(shí)，第二偏光板14的角度為0度，反之亦然，并藉旋轉(zhuǎn)調(diào)整第一位相差板11與第二位相差板13的相位，以改善位相差板對(duì)液晶單體12及偏光板光學(xué)特性的補(bǔ)償條件，以獲得較大的視角。
習(xí)用的調(diào)整方式皆使用人工校調(diào)的方式，去旋轉(zhuǎn)調(diào)整第一位相差板11與第二位相差板13的相位，以符合所需的數(shù)值，或是更換不同的位相差板再進(jìn)行人工校調(diào)，以符合所需的數(shù)值。
綜觀以上說(shuō)明，習(xí)用的液晶顯示面板測(cè)試方法，至少存在以下缺點(diǎn)一、使用人工校調(diào)的方式調(diào)整位相差板的相位，校調(diào)精準(zhǔn)度不佳，無(wú)法確保校調(diào)品質(zhì)。
二、使用人工校調(diào)的方式調(diào)整位相差板的相位，耗費(fèi)人力資源，提高生產(chǎn)成本，降低市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
三、使用人工校調(diào)的方式調(diào)整位相差板的相位，其重現(xiàn)性不佳，無(wú)法確保每次校調(diào)的客觀條件一致，進(jìn)而影響校調(diào)品質(zhì)及產(chǎn)品的再現(xiàn)性。
四、使用人工校調(diào)的方式調(diào)整位相差板的相位，無(wú)法自動(dòng)化一貫作業(yè)，因而降低生產(chǎn)效能。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的是提供一種液晶顯示面板測(cè)試裝置及方法，可提高測(cè)試的精準(zhǔn)度，以確保液晶顯示面板的品質(zhì)。
本發(fā)明的次要目地是提供一種液晶顯示面板測(cè)試裝置及方法，可簡(jiǎn)化測(cè)試流程，降低生產(chǎn)成本，進(jìn)而提升市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
本發(fā)明的另一目的是提供一種液晶顯示面板測(cè)試裝置及方法，可確保每次檢測(cè)液晶顯示面板時(shí)，其客觀條件一致，進(jìn)而確保測(cè)試的品質(zhì)及產(chǎn)品的再現(xiàn)性。
本發(fā)明的又一目的是提供一種液晶顯示面板測(cè)試裝置及方法，可自動(dòng)化一貫作業(yè)，進(jìn)而降低生產(chǎn)成本，增加生產(chǎn)效能。
為達(dá)上述目的，本發(fā)明提供一種液晶顯示面板測(cè)試裝置，該液晶顯示面板依序由一第一偏光板、一第一位相差板、一液晶單體、一第二位相差板及一第二偏光板組成，其中該液晶顯示面板測(cè)試裝置包括一光源產(chǎn)生裝置，可提供一光源；一測(cè)試基座，用以承載該液晶顯示面板，使該液晶顯示面板與該光源行進(jìn)方向呈一適當(dāng)角度，且該測(cè)試基座可旋轉(zhuǎn)調(diào)整該第一位相差板和該第二位相差板的相位，以及選擇進(jìn)行該第一位相差板與選擇進(jìn)行該第二位相差板的置換；一光擷取單元，其相對(duì)應(yīng)該光源產(chǎn)生裝置設(shè)置，用以接收由該液晶顯示面板來(lái)的光源；一光訊號(hào)檢測(cè)裝置，其連接于該光擷取單元，用以判讀該光擷取單元的數(shù)據(jù)。
其中，該液晶顯示面板測(cè)試裝置還包括一比對(duì)裝置，其設(shè)于該光訊號(hào)檢測(cè)裝置與該測(cè)試基座間，且該比對(duì)裝置可提供一比對(duì)值，用以比對(duì)該光訊號(hào)檢測(cè)裝置所判讀的數(shù)據(jù)，作為該測(cè)試基座調(diào)整的依據(jù)。
于本發(fā)明液晶顯示面板測(cè)試方法的較佳實(shí)施例中，其中一液晶顯示面板設(shè)于一測(cè)試基座上，且該液晶顯示面板依序由一第一偏光板、一第一位相差板、一液晶單體、一第二位相差板及一第二偏光板所組成，包括下列步驟(a)將一光源以一適當(dāng)角度射入該液晶顯示面板；(b)接收由該液晶顯示面板來(lái)的光源，以獲得一檢測(cè)值；(c)將該檢測(cè)值與一標(biāo)準(zhǔn)值比較；
(d)以該測(cè)試基座旋轉(zhuǎn)調(diào)整該第一位相差板和該第二位相差板的相位，以及選擇進(jìn)行該第一位相差板與選擇進(jìn)行該第二位相差板的置換，使該檢測(cè)值近似該標(biāo)準(zhǔn)值。
為了便于進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征、目的及功能，下面結(jié)合附圖以具體實(shí)例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。


圖1是液晶顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明的液晶顯示面板測(cè)試裝置第一較佳實(shí)施例示意圖；圖3是本發(fā)明的液晶顯示面板測(cè)試裝置第二較佳實(shí)施例示意圖；圖4是本發(fā)明的液晶顯示面板測(cè)試裝置第三較佳實(shí)施例示意圖；圖5是本發(fā)明液晶顯示面板測(cè)試方法較佳實(shí)施例流程示意圖。
附圖標(biāo)記說(shuō)明1、201、201a、201b液晶顯示面板；10、2010第一偏光板；11、2011第一位相差板；12、2012液晶單體；13、2013第二位相差板；14、2014第二偏光板；202光源產(chǎn)生裝置；203、203a、203b光源；204、204a、204b比對(duì)裝置；2040分光裝置；2041、2041a、2041b樣品液晶顯示面板；2042、2042a、2042b、2042c樣品光擷取單元；205測(cè)試基座；206、206a、206b、206c光擷取單元；207光訊號(hào)檢測(cè)裝置；208記錄裝置；209數(shù)字延遲器；301將一光源垂直該液晶顯示面板射入；302接收由該液晶顯示面板來(lái)的光源，以獲得一檢測(cè)值；303將該檢測(cè)值與一標(biāo)準(zhǔn)值比較；304以該測(cè)試基座調(diào)整該液晶顯示面板的相位，使該檢測(cè)值近似該標(biāo)準(zhǔn)值。
具體實(shí)施例方式
圖2是本發(fā)明的液晶顯示面板測(cè)試裝置第一較佳實(shí)施例示意圖。如圖2所示，液晶顯示面板201依序由一第一偏光板2010、一第一位相差板2011、一液晶單體2012、一第二位相差板2013及一第二偏光板2014等五層組成，且該液晶顯示面板201是穿透式的面板，該液晶顯示面板測(cè)試裝置由光源產(chǎn)生裝置202提供一光源203，本發(fā)明的光源產(chǎn)生裝置202使用染料激光器(DyeLaser)作為可見(jiàn)光的產(chǎn)生裝置，因激光具有高分辨率、高亮度及高純度的特性，故該光源203的波長(zhǎng)可控制在380nm至780nm，其分辨率還可達(dá)到0.01nm，亦即可見(jiàn)光的波長(zhǎng)，如此測(cè)試者才可分清楚所產(chǎn)生的圖形。
接著，光源203進(jìn)入-比對(duì)裝置204，該比對(duì)裝置204依序包括有一分光裝置2040、一樣品液晶顯示面板2041及一樣品光擷取單元2042，其中該分光裝置2040可將該光源203等量、等光程長(zhǎng)(D1＝D2)分成光源203a及光源203b，分別配置光源203a垂直進(jìn)入樣品液晶顯示面板2041與光源203b垂直進(jìn)入液晶顯示面板201，使樣品液晶顯示面板2041與液晶顯示面板201的測(cè)試客觀條件一致，再利用相對(duì)應(yīng)分光裝置2040所設(shè)置的樣品光擷取單元2042來(lái)接收光源203a。
該光源203b以垂直方向進(jìn)入測(cè)試基座205上所承載的液晶顯示面板201，該光源203b通過(guò)液晶顯示面板201后被一光擷取單元206所接收，且由液晶顯示面板201至光擷取單元206的距離(D4即光程長(zhǎng))等于由樣品液晶顯示面板2041至樣品光擷取單元2042的距離(D3即光程長(zhǎng))，將光擷取單元206與樣品光擷取單元2042皆連接至光訊號(hào)檢測(cè)裝置207，用以判讀光擷取單元206與樣品光擷取單元2042的數(shù)據(jù)。因該樣品液晶顯示面板2041是標(biāo)準(zhǔn)樣品的確定規(guī)格，故該比對(duì)裝置204可提供一比對(duì)值Ch2，用以比對(duì)該光訊號(hào)檢測(cè)裝置207所判讀待測(cè)的液晶顯示面板201的數(shù)據(jù)Ch1，且該測(cè)試基座205可0至360度分別旋轉(zhuǎn)調(diào)整該第一位相差板2011和該第二位相差板2013的相位，或選擇進(jìn)行該第一位相差板2011的置換，或選擇進(jìn)行該第二位相差板2013的置換，使數(shù)據(jù)Ch1與比對(duì)值Ch2近似，亦即液晶顯示面板201的相位達(dá)到所需的標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試值。
且該光訊號(hào)檢測(cè)裝置207連接一記錄裝置208作為記錄數(shù)據(jù)之用，并利用外來(lái)觸發(fā)信號(hào)(External Trigger)的方式連接一數(shù)字延遲器209后，再連接到光源產(chǎn)生裝置202，以便控制該光源產(chǎn)生裝置202與該光訊號(hào)檢測(cè)裝置207同步運(yùn)作，使檢測(cè)工作順利完成。通常，該光訊號(hào)檢測(cè)裝置207都是使用示波器作為檢測(cè)裝置，該記錄裝置208使用計(jì)算機(jī)或積分器，該光擷取單元206與該樣品光擷取單元2042使用電荷耦合器(CCD)、互補(bǔ)式金屬氧化半導(dǎo)體(CMOS)或光電倍增管(PMT)。以下所述的本發(fā)明其它較佳實(shí)施例中，因大部份的組件相同或類似于前述實(shí)施例，因此相同的組件將直接給予相同的名稱及編號(hào)，且對(duì)于類似的組件則給予相同名稱但在原編號(hào)后另增加一英文字母以資區(qū)別且不予贅述。
圖3是本發(fā)明的液晶顯示面板測(cè)試裝置第二較佳實(shí)施例示意圖。如圖3所示，液晶顯示面板201a與樣品液晶顯示面板2041a皆為反射式的面板，光源203a被樣品液晶顯示面板2041a所反射的夾角為θ1，光源203b被液晶顯示面板201a所反射的夾角為θ2，且?jiàn)A角θ1等于夾角θ2，光程長(zhǎng)(D1＝D2、D3＝D4)，如此一來(lái)，樣品液晶顯示面板2041a與液晶顯示面板201a的測(cè)試客觀條件便一致；由樣品液晶顯示面板2041a來(lái)的反射光源被樣品光擷取單元2042a所接收，由液晶顯示面板201a來(lái)的反射光源被光擷取單元206a所接收，再由光訊號(hào)檢測(cè)裝置207檢測(cè)比對(duì)。其它各組件作動(dòng)方式與本發(fā)明第一較佳實(shí)施例相同，在此不予贅述。
如圖4是本發(fā)明的液晶顯示面板測(cè)試裝置第三較佳實(shí)施例示意圖。如圖4所示，液晶顯示面板201b與樣品液晶顯示面板2041b皆為穿透反射式(半反射式)的面板，光源203a被樣品液晶顯示面板2041b所反射的夾角為θ3，至樣品光擷取單元2042b的距離(光程長(zhǎng))為D3，光源203a通過(guò)樣品液晶顯示面板2041b至樣品光擷取單元2042c的距離(光程長(zhǎng))為D5；光源203b被液晶顯示面板201b所反射的夾角為θ4，至光擷取單元206b的距離(光程長(zhǎng))為D4，光源203b通過(guò)液晶顯示面板201b至光擷取單元206c的距離(光程長(zhǎng))為D6；其中，夾角(θ3＝θ4)、光程長(zhǎng)(D1＝D2、D3＝D4、D5＝D6)，如此一來(lái)，樣品液晶顯示面板2041b與液晶顯示面板201b的測(cè)試客觀條件亦一致，由樣品液晶顯示面板2041b來(lái)的反射光源被樣品光擷取單元2042b所接收，由樣品液晶顯示面板2041b來(lái)的穿透光源被樣品光擷取單元2042c所接收；由液晶顯示面板201b來(lái)的反射光源被光擷取單元206b所接收，由液晶顯示面板201b來(lái)的穿透光源被光擷取單元206c所接收，四者訊號(hào)皆由光訊號(hào)檢測(cè)裝置207檢測(cè)比對(duì)。其它各組件作動(dòng)方式亦與本發(fā)明第一較佳實(shí)施例相同，在此不予贅述。
當(dāng)然，圖2、圖3與圖4中的比對(duì)裝置(204、204a、204b)亦可省略，直接由預(yù)存于計(jì)算機(jī)中的資料，取得比對(duì)值來(lái)比對(duì)即可。
圖5是本發(fā)明液晶顯示面板測(cè)試方法較佳實(shí)施例流程示意圖。如圖5所示，液晶顯示面板設(shè)于一測(cè)試基座上，且該液晶顯示面板依序由一第一偏光板、一第一位相差板、一液晶單體、一第二位相差板及一第二偏光板，該測(cè)試方法包括下列步驟(a)將一光源垂直該液晶顯示面板射入301，其中該光源是可見(jiàn)光，波長(zhǎng)為380至780nm，分辨率為0.01nm，且產(chǎn)生該光源的裝置通常是使用一染料激光器(Dye Laser)作為可見(jiàn)光的產(chǎn)生裝置。
(b)接收由該液晶顯示面板來(lái)的光源，以獲得一檢測(cè)值302，該檢測(cè)值通常將由該液晶顯示面板來(lái)的光源以一光擷取單元接收后，再使用示波器轉(zhuǎn)換成數(shù)據(jù)資料所獲得的值，且由該液晶顯示面板來(lái)的光源會(huì)隨該液晶顯示面板的類型不同而改變，該液晶顯示面板為穿透式面板時(shí)，由該液晶顯示面板來(lái)的光源是穿透式的光源；該液晶顯示面板為反射式面板時(shí)，由該液晶顯示面板來(lái)的光源是反射式的光源；該液晶顯示面板為穿透反射式(半反射式)面板時(shí)，由該液晶顯示面板來(lái)的光源是穿透反射式的光源。
(c)將該檢測(cè)值與一標(biāo)準(zhǔn)值比較303，該標(biāo)準(zhǔn)值是廠商所需的規(guī)格數(shù)據(jù)，可使用現(xiàn)有的數(shù)據(jù)庫(kù)，或是直接由樣品取得數(shù)據(jù)。
(d)以該測(cè)試基座調(diào)整該液晶顯示面板的相位，使該檢測(cè)值近似該標(biāo)準(zhǔn)值304，以該測(cè)試基座旋轉(zhuǎn)調(diào)整該第一位相差板和該第二位相差板的相位，或選擇進(jìn)行該第一位相差板的置換，或選擇進(jìn)行該第二位相差板的置換，以使該檢測(cè)值近似該標(biāo)準(zhǔn)值。
綜上所述，本發(fā)明的一種液晶顯示面板測(cè)試裝置及方法，可提高測(cè)試的精準(zhǔn)度，以確保液晶顯示面板的品質(zhì)，并簡(jiǎn)化測(cè)試流程，降低生產(chǎn)成本，以及，可確保每次檢測(cè)液晶顯示面板時(shí)，其客觀條件一致，以自動(dòng)化一貫作業(yè)，進(jìn)而降低生產(chǎn)成本，增加生產(chǎn)效能。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，不能以此限制本發(fā)明的范圍，容易聯(lián)想得到，諸如使用不同的光源、液晶顯示面板的組成不同、以計(jì)算機(jī)取代示波器等等，本領(lǐng)域熟練技術(shù)人員于領(lǐng)悟本發(fā)明的精神后，皆可想到變化實(shí)施的，即凡依本發(fā)明權(quán)利要求所做的均等變化及修飾，仍將不失本發(fā)明的要義所在，亦不脫離本發(fā)明的精神和范圍的，都應(yīng)視為本發(fā)明的進(jìn)一步實(shí)施。
權(quán)利要求
1.一種液晶顯示面板測(cè)試裝置，該液晶顯示面板依序由一第一偏光板、一第一位相差板、一液晶單體、一第二位相差板及一第二偏光板組成，其中該液晶顯示面板測(cè)試裝置包括一光源產(chǎn)生裝置，提供一光源；一測(cè)試基座，用以承載該液晶顯示面板，使該液晶顯示面板與該光源行進(jìn)方向呈一適當(dāng)角度，且該測(cè)試基座可分別旋轉(zhuǎn)調(diào)整該第一位相差板和該第二位相差板的相位，以及選擇進(jìn)行第一位相差板與選擇進(jìn)行第二位相差板的置換；一光擷取單元，相對(duì)應(yīng)該光源產(chǎn)生裝置設(shè)置，用以接收由該液晶顯示面板來(lái)的光源；一光訊號(hào)檢測(cè)裝置，連接于該光擷取單元，用以判讀光擷取單元的數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1所述的液晶顯示面板測(cè)試裝置，其中該液晶顯示面板測(cè)試裝置還包括一比對(duì)裝置，設(shè)于該光訊號(hào)檢測(cè)裝置與該測(cè)試基座間，且該比對(duì)裝置可提供一比對(duì)值，用以比對(duì)該光訊號(hào)檢測(cè)裝置所判讀的數(shù)據(jù)，作為該測(cè)試基座調(diào)整的依據(jù)。
3.如權(quán)利要求2所述的液晶顯示面板測(cè)試裝置，其中該比對(duì)裝置包括一樣品液晶顯示面板；一分光裝置，將該光源等量、等光程長(zhǎng)分別配置至樣品液晶顯示面板與該液晶顯示面板；一樣品光擷取單元，相對(duì)應(yīng)分光裝置設(shè)置，用以接收通過(guò)該樣品液晶顯示面板的光源。
4.如權(quán)利要求1所述的液晶顯示面板測(cè)試裝置，其中光源產(chǎn)生裝可為一染料激光器(Dye Laser)。
5.一種液晶顯示面板測(cè)試方法，其中一液晶顯示面板設(shè)于一測(cè)試基座上，且該液晶顯示面板依序由一第一偏光板、一第一位相差板、一液晶單體、一第二位相差板及一第二偏光板組成，該測(cè)試方法包括有下列步驟(a)將一光源以一適當(dāng)角度射入該液晶顯示面板；(b)接收由該液晶顯示面板來(lái)的光源，以獲得一檢測(cè)值；(c)將該檢測(cè)值與一標(biāo)準(zhǔn)值比較；(d)以該測(cè)試基座旋轉(zhuǎn)調(diào)整該第一位相差板和該第二位相差板的相位，以及選擇進(jìn)行該第一位相差板與選擇進(jìn)行該第二位相差板的置換，使該檢測(cè)值近似該標(biāo)準(zhǔn)值。
6.如權(quán)利要求5所述的液晶顯示面板測(cè)試方法，其中步驟(b)所述的由該液晶顯示面板來(lái)的光源為穿透式的光源。
7.如權(quán)利要求5所述的液晶顯示面板測(cè)試方法，其中步驟(b)所述的由該液晶顯示面板來(lái)的光源可為反射式光源。
8.如權(quán)利要求5所述的液晶顯示面板測(cè)試方法，其中步驟(b)所述的由該液晶顯示面板來(lái)的光源為穿透反射式的光源。
9.如權(quán)利要求5所述的液晶顯示面板測(cè)試方法，其中產(chǎn)生光源的裝置為一染料激光器(Dye Laser)。
10.如權(quán)利要求5所述的液晶顯示面板測(cè)試方法，其中該光源的波長(zhǎng)為380至780nm。
11.如權(quán)利要求5所述的液晶顯示面板測(cè)試方法，其中該光源的分辨率為0.01nm。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種液晶顯示面板測(cè)試裝置及方法，該液晶顯示面板依序由一第一偏光板、一第一位相差板、一液晶單體、一第二位相差板及一第二偏光板組成，其中該液晶顯示面板測(cè)試裝置包括有一光源產(chǎn)生裝置，提供一光源；一測(cè)試基座，用以承載該液晶顯示面板，使該液晶顯示面板與該光源行進(jìn)方向呈一適當(dāng)角度，且該測(cè)試基座可旋轉(zhuǎn)調(diào)整該第一位相差板和該第二位相差板的相位，以及選擇進(jìn)行該第一位相差板與選擇進(jìn)行該第二位相差板的置換；一光擷取單元，其相對(duì)應(yīng)該光源產(chǎn)生裝置設(shè)置，用以接收由該液晶顯示面板來(lái)的光源；一光訊號(hào)檢測(cè)裝置，連接于該光擷取單元，用以判讀該光擷取單元的數(shù)據(jù)。
文檔編號(hào)G01N21/17GK1673720SQ20041000629
公開(kāi)日2005年9月28日 申請(qǐng)日期2004年3月23日 優(yōu)先權(quán)日2004年3月23日
發(fā)明者陳志忠, 王伯萍 申請(qǐng)人:力特光電科技股份有限公司