本公開涉及一種膜張力控制系統(tǒng)以及包含該系統(tǒng)的用于制造偏振板的系統(tǒng)，并且更具體地，涉及一種在從偏振膜的一個表面層分離(delaminating)離型膜后再次層壓的過程中用于適當保持偏振膜和離型膜的張力的膜張力控制系統(tǒng)以及包含該系統(tǒng)的用于制造偏振板的系統(tǒng)。

本申請要求于2014年8月14日向韓國知識產(chǎn)權局提交的韓國專利申請第10-2014-0106156號的優(yōu)先權，通過整體引用的方式將其公開內(nèi)容并入本文。

背景技術：

偏振板通常可以通過如下方法制造：在聚乙烯醇(pva)膜的兩個表面上層壓三醋酸纖維素(tac)膜，將保護膜粘附到任意一個表面上的tac膜表面來制作多結構偏振膜，以及使用粘合劑將離型膜粘附到與形成所述保護膜的表面的相對表面上。

參考圖1，由如上所述的層疊過程制作的多結構偏振板在通過切割過程切割成最佳長度后輸送，并且在輸送所述偏振板前進行檢查來確定雜質(zhì)是否被引入到粘合劑層中。

即，雜質(zhì)可能在制造偏振板的粘合劑涂敷(涂布)操作期間引入到粘合劑中，并且在此情況下，可出現(xiàn)點缺陷，并且為了檢測所述缺陷，用同一偏振板以交叉位置測量漏光量。

但是，在所述檢查階段，粘附到偏振膜的一個表面的離型膜可減少光的偏振度，導致對可能已引入的雜質(zhì)的錯誤的檢查。

技術實現(xiàn)要素：

技術問題

設計本公開以解決上述問題，并且本公開的目的是改善對可能已引入到在偏振膜的一個表面上形成的粘合劑層中的雜質(zhì)的檢查的準確度，并且在再次層壓已彼此層分離的兩個膜過程中通過適當保持偏振膜和離型膜的張力來改善制造的偏振板的質(zhì)量。

本公開的其他目的和優(yōu)點將從本公開的以下描述和示例性實施方式中顯而易見。并且，將容易理解的是，本公開的目的和優(yōu)點是由在所附權利要求中所述的手段及其組合來實現(xiàn)。

技術方案

為達到上述目的，根據(jù)本公開的一個實施方式的膜張力控制系統(tǒng)包括：層分離單元，其被安裝在偏振板的轉(zhuǎn)移路徑上以從偏振膜層分離離型膜，所述偏振板包括所述偏振膜和粘附到所述偏振膜的一個表面的離型膜；檢查單元，其被安裝在偏振膜的轉(zhuǎn)移路徑上以檢查雜質(zhì)是否存在于在偏振膜的一個表面上形成的粘合劑層中；張力指示單元，其被安裝在離型膜的移動路徑上以指示施加到所述離型膜的張力程度；再次層壓單元，其將已通過所述張力指示單元的離型膜再次層壓到已通過所述檢查單元的偏振膜的粘合劑層上，以及張力調(diào)節(jié)單元，其被安裝在再次層壓的偏振板的轉(zhuǎn)移路徑上以調(diào)節(jié)光學膜和離型膜的張力。

所述膜張力控制系統(tǒng)可包括安裝在所述偏振膜、所述離型膜和所述偏振板的轉(zhuǎn)移路徑上以引導各部件的轉(zhuǎn)移的多個導輥。

所述層分離單元可包括設置在相反兩側(cè)(oppositesides)的一對輥，所述偏振板夾在所述一對輥之間。

在所述一對輥中，與所述離型膜接觸的輥可以吸附所述離型膜以從所述偏振膜層分離所述離型膜。

所述檢查單元可包括光源和視覺攝像機，其被設置在關于夾在所述光源和視覺攝像機中間的偏振膜的相反兩側(cè)，以及在所述光源和所述視覺攝像機之間設置的交叉濾光片(crossfilter)。

所述張力指示單元可以是安裝以使得當離型膜的張力增加時上移且當離型膜的張力減少時下移的跳動輥(dancerroller)。

所述再次層壓單元可以以一對輥的形式實施，所述一對輥被設置在關于夾在所述一對輥中間的所述偏振膜和離型膜的相反兩側(cè)。

所述張力調(diào)節(jié)單元可包括引導再次層壓的偏振板轉(zhuǎn)移的活動輥；以及連接所述活動輥以上移和下移所述活動輥的調(diào)節(jié)器。

所述膜張力控制系統(tǒng)能夠使所述指示單元和所述張力調(diào)節(jié)單元配合動作(interoperation)。

為達到上述目的，實施根據(jù)本公開的一個實施方式的用于制造偏振膜的系統(tǒng)以包括所述膜張力控制系統(tǒng)。

有益效果

根據(jù)本公開的一個方面，在確定雜質(zhì)是否已引入在偏振膜的一個表面上形成的粘合劑層中的檢查中，其準確度可以增加。

根據(jù)本公開的另一個方面，在層分離以進行對可能已引入的雜質(zhì)的檢查的偏振膜和離型膜的再次層壓中，可以通過適當保持兩個膜的張力來改善制造的偏振板的質(zhì)量。

附圖說明

附圖顯示本公開的優(yōu)選實施方式，并與先前公開的內(nèi)容一起用來提供本公開的技術實質(zhì)的進一步理解，并且因此，本公開不解釋為局限于附圖。

圖1為顯示根據(jù)現(xiàn)有技術的用于制造偏振板的系統(tǒng)的方框圖。

圖2為顯示根據(jù)本公開的一個實施方式的膜張力控制系統(tǒng)以及包含該系統(tǒng)的用于制造偏振板的系統(tǒng)的方框圖。

圖3為顯示應用于本公開的偏振板的示例性實施的圖。

圖4為顯示根據(jù)本公開的一個實施方式的膜張力控制系統(tǒng)的示例性實施的圖。

圖5為顯示在兩個層分離的膜之間的張力關系的圖。

圖6至9為顯示張力指示單元基于偏振膜的張力水平的移動和張力調(diào)節(jié)單元對此做出反應的移動的圖。

圖10為顯示根據(jù)本公開的另一個實施方式的對偏振膜的張力控制系統(tǒng)的一部分的方框圖。

具體實施方式

以下，將詳細描述本公開。在描述之前，應當理解的是，在本說明書和所附權利要求中使用的術語不應當解釋為局限于一般含義和詞典含義，而是在允許發(fā)明人適當?shù)囟x術語以供最佳說明的原則的基礎上，基于與本公開的技術方面相應的含義和概念來解釋。因此，在此提出的描述只是僅用于說明目的的優(yōu)選的例子，不意欲局限本公開的范圍，因此，應當理解的是在不脫離本公開的精神和范圍的情況下在此可以做出其他等價和修改。

因此，參考圖2描述根據(jù)本公開的一個實施方式的用于制造偏振板的系統(tǒng)和膜張力控制系統(tǒng)的全部結構。

圖2為顯示根據(jù)本公開的一個實施方式的膜張力控制系統(tǒng)以及包含該系統(tǒng)的用于制造偏振板的系統(tǒng)的方框圖。

參考圖2，實施根據(jù)本公開的一個實施方式的用于制造偏振板的系統(tǒng)以包括層壓單元10、膜張力控制系統(tǒng)20、切割單元30和輸送單元40，并且實施所述膜張力控制系統(tǒng)20以包括層分離單元21、檢查單元22、張力指示單元23、再次層壓單元24和張力調(diào)節(jié)單元25。

所述層壓單元10將包括聚乙烯醇(pva)膜、三醋酸纖維素(tac)膜、保護膜和離型膜的膜層疊在彼此的上部，以制造完整偏振板，并且使用輥對輥技術提供并層壓各膜以形成多層偏振板。

配置所述膜張力控制系統(tǒng)20以在通過經(jīng)所述層壓單元10層壓多個膜形成的偏振板中將偏振板層分離成兩個來檢查雜質(zhì)是否已引入到粘合劑層中，并且再次層壓它們。

即，所述層分離單元21用來將由多個膜層組成的偏振板層分離成兩個(偏振膜和離型膜)，并且在兩個層分離的膜中，檢查單元22用作檢查雜質(zhì)是否存在于帶有粘合劑層的偏振膜中。

而且，所述張力指示單元23用來通過基于張力程度的移動指示施加到離型膜的張力程度，并且所述再次層壓單元24用來再次層壓層分離的偏振膜和離型膜，并且所述張力調(diào)節(jié)單元25用來基于通過所述張力指示單元23指示的離型膜的張力程度適當?shù)卣{(diào)節(jié)偏振膜和離型膜的張力。

配置所述切割單元30將已經(jīng)通過所述膜張力控制系統(tǒng)20確定雜質(zhì)是否已引入的檢查并再次層壓的偏振板切割成待使用的應用裝置的所需目的最佳尺寸，并配置所述輸送單元40以輸送切割的偏振板以將其運送到工藝線外部。

然后，將參考圖3和4更詳細地描述根據(jù)本公開的一個實施方式的膜張力控制系統(tǒng)的示例性實施例。

圖3為顯示應用于本公開的偏振板的示例性實施例的圖，并且圖4為顯示根據(jù)本公開的一個實施方式的膜張力控制系統(tǒng)的示例性實施例的圖。

首先參考圖3，應用于本公開的偏振板(f)可以以如下結構實施，其中，tac膜層疊在pva膜的兩個表面上，并且保護膜層疊于在一側(cè)的tac膜上部，以及離型膜(f2)層疊于在其相反的另一側(cè)上，并具有放置于內(nèi)部的粘合劑層。

在本公開的描述中，將除所述離型膜(f2)部分之外偏振板(f)的剩余部分，即，具有在兩個表面上的所述保護膜和所述粘合劑層的部分定義為偏振膜(f1)。

參考圖4，將所述層分離單元21安裝在偏振板(f)的轉(zhuǎn)移路徑上以從所述偏振膜(f1)層分離所述離型膜(f2)，并且可以實施所述層分離單元21以包括設置在偏振板(f)的相反兩側(cè)的一對輥。

在此情況下，在一對輥中，與所述離型膜(f2)接觸的輥可具有吸附襯墊以吸附所述離型膜(f2)，或該吸附襯墊可以沿輥的外周表面設置，并且通過所述一對輥，可以將所述偏振板(f)層分離成兩片。

在經(jīng)過所述層分離單元21層分離的偏振膜(f1)和離型膜(f2)中，將檢查單元22安裝在偏振膜(f1)的轉(zhuǎn)移路徑上以檢查雜質(zhì)是否存在于在偏振膜(f1)的一個表面上形成的粘合劑層中(以檢測在偏振膜的一個表面上涂敷粘合劑期間可能已引入而導致點缺陷的雜質(zhì))，并且可包括光源22a，交叉濾光片22b和視覺攝像機22c。

所述光源22a和所述視覺攝像機22c被設置在從所述離型膜(f2)層分離的偏振膜(f1)的移動路徑上相反兩側(cè)，且所述光源22a和所述視覺攝像機22c之間夾著所述偏振膜(f1)，并且所述交叉濾光片22b設置在所述光源22a和所述視覺攝像機22c之間。

所述張力指示單元23被安裝在與所述偏振膜(f1)的移動路徑不同的從所述偏振膜(f1)層分離的離型膜的移動路徑上，并且可以基于應用于所述離型膜(f2)的張力的大小，以上下移動的跳動輥的形式實施。

在此情況下，所述跳動輥被安裝在引導離型膜(f2)的轉(zhuǎn)移的一對導輥(r)之間，并且當施加到離型膜的張力增加時所述跳動輥上移且當所述張力下降時所述跳動輥下移。

在該例子中，配置所述導輥(r)以引導膜的轉(zhuǎn)移，并且為了偏振板(f)、偏振膜(f1)和離型膜(f2)的穩(wěn)定轉(zhuǎn)移，可以在膜的轉(zhuǎn)移路徑和跳動輥的兩側(cè)上安裝多個導輥。

配置所述再次層壓單元24以在已通過所述檢查單元22的偏振膜(f1)的粘合劑層上再次層壓已通過所述張力指示單元的離型膜(f2)，并且所述再次層壓單元24可以以一對輥的形式實施：所述一對輥被設置在關于夾在所述一對輥中間的所述偏振膜(f1)和離型膜(f2)的相反兩側(cè)。

即，通過所述層分離單元21層分離之后沿不同路徑轉(zhuǎn)移的偏振膜(f1)和離型膜(f2)通過所述一對輥再次放在一起。

接著，所述張力調(diào)節(jié)單元25被安裝在通過所述再次層壓單元24轉(zhuǎn)移的偏振板(f)的轉(zhuǎn)移路徑上以調(diào)節(jié)光學膜(f1)和離型膜(f2)的張力，并且可以實施所述張力調(diào)節(jié)單元25以包括活動輥來在引導再次層壓的偏振板(f)的移動的同時，通過上下移動調(diào)節(jié)光學膜(f1)和離型膜(f2)的張力。

即，所述張力調(diào)節(jié)單元25可以連接到用于上下移動的調(diào)節(jié)器，并且系統(tǒng)的用戶可基于經(jīng)所述張力指示單元23檢測的各膜(f1、f2)的張力程度通過移動所述活動輥來調(diào)節(jié)各膜(f1、f2)的張力至最佳水平。

參考圖5至9更詳細地描述了各膜(f1、f2)對跳動輥和移動輥的移動的反應的張力改變方面。

圖5為顯示在兩個層分離的膜之間的張力關系的圖，以及圖6至9為顯示張力指示單元基于偏振膜的張力水平的移動和張力調(diào)節(jié)單元對此做出反應的移動的圖。

首先，參考圖5，在兩個層分離的膜(f1、f2)中，當離型膜(f2)的張力增加時，所述偏振膜(f1)被沿膜(f1、f2、f)的移動方向的力拉伸(沿圖5中的箭頭的方向)，并且因此，施加到所述偏振膜(f1)的張力在一定程度減少。反過來，當離型膜(f2)的張力減少時，偏振膜(f1)的張力增加。

如上所述，施加到兩個膜(f1、f2)的張力由于兩個膜被層分離而顯示出不同的改變方面，并且，如果不校正這樣的張力失調(diào)，由再次層壓兩個膜(f1、f2)而獲得的偏振板將無法避免質(zhì)量劣化。

因此，基于通過應用于本公開的張力指示單元23檢測的離型膜(f2)的張力水平，應使用所述張力調(diào)節(jié)單元25將兩個膜(f1、f2)的張力保持在最佳水平上。

參考圖6，可見所述跳動輥已比表示離型膜(f2)的最佳張力水平的參考位置向下移動得更遠。這暗示離型膜(f2)的張力比最佳水平低，換句話說，偏振膜(f1)的張力比最佳水平高。

因此，在此情況下，如圖7所示，進行上移所述活動輥的操作以減小偏振膜(f1)的張力，由此增加離型膜(f2)的張力，從而使得兩個膜(f1，f2)之間的張力平衡。

參考圖8，可見所述跳動輥已比表示離型膜(f2)的最佳張力水平的參考位置移動得更向上。這暗示離型膜(f2)的張力高于所述最佳水平，換句話說，偏振膜(f1)的張力低于所述最佳水平。

因此，在此情況下，如圖9所示，進行下移所述活動輥的操作以增加偏振膜(f2)的張力，由此增加離型膜(f2)的張力，從而使得兩個膜(f1，f2)之間的張力平衡。

如上所述，根據(jù)本公開的一個實施方式的膜張力控制系統(tǒng)和包含該系統(tǒng)的用于制造偏振板的系統(tǒng)通過如下方式可以改善整個偏振板的質(zhì)量：當基于精確檢查可能已經(jīng)引入到所述偏振膜的雜質(zhì)的目的將偏振板層分離為兩部分時，實現(xiàn)兩個層分離的膜之間的平衡的張力。

接著，參考圖10描述根據(jù)本公開的另一個實施方式所述的膜張力控制系統(tǒng)。

圖10為顯示根據(jù)本公開的另一個實施方式的所述膜的張力控制系統(tǒng)的一部分的方框圖。

除了設置用于所述張力指示單元23和所述張力調(diào)節(jié)單元25之間的配合動作的額外部件以外，根據(jù)本公開的另一個實施方式所述的膜張力控制系統(tǒng)具有與先前的實施方式基本上相同的部件。因此，在根據(jù)本公開的另一個實施方式所述的膜張力控制系統(tǒng)的描述中，省略與所述先前實施方式重疊的描述并且以下僅描述差異。

參考圖10，根據(jù)本公開的另一個實施方式所述的膜張力控制系統(tǒng)可進一步包括用于所述張力指示單元23和所述張力調(diào)節(jié)單元25之間的配合動作的張力測量單元26和控制單元27，即，基于由所述張力指示單元23指示的離型膜(f2)的張力水平能夠自動操作所述張力調(diào)節(jié)單元25。

所述張力測量單元26基于張力指示單元23的上下移動檢測位置，產(chǎn)生對此相應的信息，并且傳送至所述控制單元27。所述張力測量單元26可以是機械地連接到所述張力指示單元23的傳感器，但是也可以在無機械連接的情況下使用光學傳感來測量所述張力。

所述控制單元27比較從所述張力測量單元26獲得的與張力測量單元26的位置有關的信息與預存參考值，并且基于比較的結果輸出用于控制張力調(diào)節(jié)單元25的移動的控制信號，并且接收了輸出的控制信號的張力調(diào)節(jié)單元25響應該控制信號運轉(zhuǎn)以調(diào)節(jié)各膜(f1、f2)的張力。

如上所述，配置根據(jù)本公開的另一個實施方式所述的膜張力控制系統(tǒng)以在膜(f1、f2)的層分離之后的再次層壓過程中使所述張力指示單元23和所述張力調(diào)節(jié)單元25之間能夠配合動作來自動調(diào)節(jié)膜(f1、f2)的張力，從而確保整個偏振膜(f)的高質(zhì)量并改善制造過程的效率。

雖然在上文中已結合僅有限數(shù)量的實施方式和附圖描述本公開，本公開不局限于此并且應當理解的是可以由本領域的普通技術人員在本公開和所附權利要求及其等同替代的實質(zhì)和范圍內(nèi)做出各種改變和修改。