專(zhuān)利名稱(chēng)：一種pdp模組局部低放電消除方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及的是一種等離子模組的調(diào)試方法，尤其是一種PDP模組局部低放電消除方法。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)有技術(shù)中，公知的技術(shù)是PDP模組驅(qū)動(dòng)波形主要由復(fù)位期(reset)、尋址期(address)及維持期(sustain)組成。復(fù)位期通過(guò)斜坡波形對(duì)屏施加較高的電壓，使所有的放電單元產(chǎn)生放電，并使各單元在尋址期開(kāi)始前，放電狀態(tài)盡可能趨于一致。尋址期Y電極施加掃描脈沖，并且對(duì)需要點(diǎn)亮的單元在A電極施加尋址脈沖信號(hào)，使需要點(diǎn)亮的單元產(chǎn)生放電，并積重新累壁電荷，以便于維持期正常放電。維持期X、Y電極交替施加維持脈沖信號(hào)，需點(diǎn)亮的單元持續(xù)放電發(fā)光。PDP屏由多個(gè)單獨(dú)的放電單元組成，每一個(gè)放電單元受屏材料、結(jié)構(gòu)及制造工藝等影響，放電特性可能不同，并且可能產(chǎn)生放電不良。為消除放電不良，一般措施是對(duì)復(fù)位期的波形或電壓進(jìn)行調(diào)整，但調(diào)整的范圍、效果都有一定限制，而且可能影響尋址放電特性。尋址期放電差異體現(xiàn)在，要選定的單元如果不能放電或放電較弱時(shí)，在維持區(qū)間就可能會(huì)出現(xiàn)放電失敗(低放電)；尋址放電時(shí)不應(yīng)該放電的單元出現(xiàn)放電，則會(huì)在sustain區(qū)間發(fā)生連續(xù)放電誤放電。目前的應(yīng)對(duì)方法是根據(jù)不同的子場(chǎng)，設(shè)置不同的尋址波形，消除子場(chǎng)間尋址放電差異，但對(duì)于因單元狀態(tài)差異導(dǎo)致的尋址放電狀態(tài)偏差并沒(méi)有很好的效果。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的，就是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)所存在的不足，而提供一種PDP模組局部低放電消除方法的技術(shù)方案，該方案能夠通過(guò)調(diào)整每根掃描電極輸出掃描脈沖寬度的大小，調(diào)整對(duì)應(yīng)區(qū)域?qū)ぶ贩烹姷膹?qiáng)弱，進(jìn)一步調(diào)整尋址放電后壁電荷的量，使單元產(chǎn)生穩(wěn)定正常的維持放電。本方案是通過(guò)如下技術(shù)措施來(lái)實(shí)現(xiàn)的一種PDP模組局部低放電消除方法
a.針對(duì)任意區(qū)域的第一行尋址放電較弱的情況，增加該區(qū)域放電較弱單元第一行的Y電極輸出掃描脈沖的寬度；
b.針對(duì)任意區(qū)域的尋址放電較弱的情況，增加該區(qū)域放電較弱單元對(duì)應(yīng)行的Y電極輸出掃描脈沖的寬度；
c.針對(duì)任意區(qū)域的維持期誤放電的情況，減少該區(qū)域誤放電單元對(duì)應(yīng)行的Y電極輸出的掃描脈沖的寬度。作為本方案的優(yōu)選步驟a中，在不同的子場(chǎng)，增加的第一行Y電極輸出掃描脈沖的寬度可不相同；步驟b中，在不同的子場(chǎng)，增加該區(qū)域放電較弱單元對(duì)應(yīng)行的Y電極輸出掃描脈沖的寬度可不相同；步驟c中，在不同的子場(chǎng)中，減少該區(qū)域誤放電單元對(duì)應(yīng)行的Y電極輸出的掃描脈沖的寬度可不相同。本方案的有益效果可根據(jù)對(duì)上述方案的敘述得知，由于在該方案中通過(guò)調(diào)整每根掃描電極輸出掃描脈沖寬度的大小，調(diào)整對(duì)應(yīng)區(qū)域?qū)ぶ贩烹姷膹?qiáng)弱，進(jìn)一步調(diào)整尋址放電后壁電荷的量能夠使單元產(chǎn)生穩(wěn)定正常的維持放電；該方法通過(guò)在一個(gè)子場(chǎng)內(nèi)對(duì)不同放電狀態(tài)區(qū)域?qū)?yīng)的行施加不同寬度的掃描脈沖，針對(duì)性改善低放電或誤放電不良，比以前使用的對(duì)每個(gè)子場(chǎng)設(shè)置不同掃描脈沖寬度的方法更有效的控制所有子場(chǎng)不同區(qū)域的放電狀態(tài)差異。由此可見(jiàn)，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有突出的實(shí)質(zhì)性特點(diǎn)和顯著地進(jìn)步，其實(shí)施的有益效果也是顯而易見(jiàn)的。


圖1為本發(fā)明等離子顯示器電極的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為驅(qū)動(dòng)波形組成圖。圖3為Y電極輸出的掃描脈沖波形圖。
具體實(shí)施例方式為能清楚說(shuō)明本方案的技術(shù)特點(diǎn)，下面通過(guò)一個(gè)具體實(shí)施方式
，并結(jié)合其附圖，對(duì)本方案進(jìn)行闡述。由于PDP尋址期按照掃描電極順序進(jìn)行放電，且相鄰行之間存在空隙，尋址放電時(shí)，當(dāng)前行產(chǎn)生的帶電粒子可移動(dòng)到下一行，使下一行的尋址放電增強(qiáng)(priming效應(yīng))。但第一行并不存在有帶電粒子流入的情況，因此尋址放電較弱，壁電荷不足，導(dǎo)致維持期不能正常持續(xù)放電。這時(shí)，可將第一行掃描脈沖寬度設(shè)置為比其他行更寬，以產(chǎn)生足夠的壁電荷，保證維持放電正常。另外，因PDP屏結(jié)構(gòu)等偏差導(dǎo)致的其他部位的尋址放電較弱的情況，也可通過(guò)增加對(duì)應(yīng)行的掃描脈沖寬度方法進(jìn)行調(diào)整。當(dāng)屏的部分區(qū)域存在著火電壓較低的單元，尋址放電時(shí)，如果相鄰單元放電流入的帶電粒子較多，則可能造成不被選中的單元出現(xiàn)尋址放電，導(dǎo)致維持期出現(xiàn)誤放電。這時(shí)，可將對(duì)應(yīng)區(qū)域掃描脈沖設(shè)置為比其他行更窄，減少priming效應(yīng)阻止誤放電發(fā)生。該措施通過(guò)在一個(gè)子場(chǎng)內(nèi)對(duì)屏不同放電狀態(tài)區(qū)域?qū)?yīng)的行施加不同寬度的掃描脈沖，針對(duì)性改善低放電或誤放電不良，比以前使用的對(duì)每個(gè)子場(chǎng)設(shè)置不同掃描脈沖寬度的方法更有效的控制所有子場(chǎng)不同區(qū)域的放電狀態(tài)差異。本發(fā)明并不局限于前述的具體實(shí)施方式
。本發(fā)明擴(kuò)展到任何在本說(shuō)明書(shū)中披露的新特征或任何新的組合，以及披露的任一新的方法或過(guò)程的步驟或任何新的組合。
權(quán)利要求
1.一種PDP模組局部低放電消除方法，其特征是: a.針對(duì)任意區(qū)域的第一行尋址放電較弱的情況，增加該區(qū)域放電較弱單元第一行的Y電極輸出掃描脈沖的寬度； b.針對(duì)任意區(qū)域的尋址放電較弱的情況，增加該區(qū)域放電較弱單元對(duì)應(yīng)行的Y電極輸出掃描脈沖的寬度； c.針對(duì)任意區(qū)域的 維持期誤放電的情況，減少該區(qū)域誤放電單元對(duì)應(yīng)行的Y電極輸出的掃描脈沖的寬度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PDP模組局部低放電消除方法，其特征是:所述步驟a中，在不同的子場(chǎng)，增加的第一行Y電極輸出掃描脈沖的寬度可不相同；所述步驟b中，在不同的子場(chǎng)，增加該區(qū)域放電較弱單元對(duì)應(yīng)行的Y電極輸出掃描脈沖的寬度可不相同；所述步驟c中，在不同的子場(chǎng)中，減少該區(qū)域誤放電單元對(duì)應(yīng)行的Y電極輸出的掃描脈沖的寬度可不相同。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種PDP模組局部低放電消除方法的技術(shù)方案，該方案通過(guò)調(diào)整每根掃描電極輸出掃描脈沖寬度的大小，調(diào)整對(duì)應(yīng)區(qū)域?qū)ぶ贩烹姷膹?qiáng)弱，進(jìn)一步調(diào)整尋址放電后壁電荷的量，使單元產(chǎn)生穩(wěn)定正常的維持放電。
文檔編號(hào)G09G3/28GK103077676SQ201310036870
公開(kāi)日2013年5月1日 申請(qǐng)日期2013年1月31日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月31日
發(fā)明者周超, 衛(wèi)偉, 鐘文建, 柳希武 申請(qǐng)人:四川虹歐顯示器件有限公司