技術(shù)編號：2527760
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及的是一種等離子模組的調(diào)試方法，尤其是一種PDP模組局部低放電消除方法。背景技術(shù)在現(xiàn)有技術(shù)中，公知的技術(shù)是PDP模組驅(qū)動波形主要由復(fù)位期(reset)、尋址期(address)及維持期(sustain)組成。復(fù)位期通過斜坡波形對屏施加較高的電壓，使所有的放電單元產(chǎn)生放電，并使各單元在尋址期開始前，放電狀態(tài)盡可能趨于一致。尋址期Y電極施加掃描脈沖，并且對需要點亮的單元在A電極施加尋址脈沖信號，使需要點亮的單元產(chǎn)生放電，并積重新累壁電荷，以便于維持期正...
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