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紡錘型保偏光纖預(yù)制棒及其生產(chǎn)方法

文檔序號:1962635閱讀:268來源:國知局
專利名稱:紡錘型保偏光纖預(yù)制棒及其生產(chǎn)方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種保偏光纖預(yù)制棒及其生產(chǎn)方法,具體涉及一種紡錘型保偏光纖預(yù)
制棒及其生產(chǎn)方法,應(yīng)用本方法可制造出不同應(yīng)用工作波長的高雙折射偏振保持光纖預(yù)制棒。
背景技術(shù)
近二十多年以來,各軍事大國爭相開發(fā)光纖傳感器技術(shù),如光纖陀螺。主要應(yīng)用在
軍事領(lǐng)域,如航天、航海、戰(zhàn)車定位導(dǎo)航,各種導(dǎo)彈的精確制導(dǎo)等。在高科技領(lǐng)域的應(yīng)用也日
趨廣泛。至今此項(xiàng)技術(shù)已達(dá)到了較高水平。美、法等國已達(dá)到實(shí)用化水平。 近年來,我國光纖陀螺技術(shù)發(fā)展迅速,并有部分產(chǎn)品問世。隨之也促進(jìn)了保偏光纖
制造技術(shù)和產(chǎn)業(yè)化的發(fā)展。 但我國用刻蝕技術(shù)生產(chǎn)保偏光纖的工藝尚不成熟。光纖的幾何參數(shù)尚難過關(guān)。
國產(chǎn)蝶結(jié)型保偏光纖纖芯呈"杏核型"降低了光纖的連結(jié)耦合效率,也增加了光纖的熔接損耗。 這對于制備高精度的導(dǎo)航儀表而言,帶來了難以預(yù)測的長久隱患。保偏光纖是制備光纖陀螺的主體部件,它的制備工藝復(fù)雜,要求嚴(yán)格,影響其參數(shù)因素繁多,難度大。
本專利提出的紡錘型保偏光纖棒及其制備方案,本方法是對保偏光纖生產(chǎn)工藝中的刻蝕技術(shù)將是進(jìn)一步的完善和補(bǔ)充。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明就是為了解決上述問題,克服纖芯不圓,內(nèi)阻擋層過薄的問題,提供一種紡錘型保偏光纖預(yù)制棒,并且提供了一種新的刻蝕補(bǔ)償?shù)纳a(chǎn)方法,制出的纖芯呈圓形,應(yīng)力區(qū)大小適中,全參數(shù)合格、達(dá)到國際標(biāo)準(zhǔn)的保偏光纖。該發(fā)明適用于航天、航海、戰(zhàn)車定位導(dǎo)航,各種導(dǎo)彈的精確制導(dǎo)等領(lǐng)域。 本發(fā)明所需要解決的技術(shù)問題,可以通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn) 作為本發(fā)明的第一方面,一種紡錘型保偏光纖預(yù)制棒,所述光纖預(yù)制棒從內(nèi)到外
包括纖芯、內(nèi)包層、應(yīng)力區(qū)和外包層,其特征在于,所述纖芯呈圓形結(jié)構(gòu),所述內(nèi)包層包裹
在纖芯的外圍,所述內(nèi)包層的外設(shè)置兩對稱的紡錘型的應(yīng)力區(qū),所述應(yīng)力區(qū)外圍為外包層,
外包層包含基管。 其中,所述應(yīng)力區(qū)包括B^+S叫,其中按質(zhì)量百分比計,摻17 22%的8203提高應(yīng)力區(qū)熱膨脹系數(shù)達(dá)到28 32X10—7°C。 應(yīng)力區(qū)的面積比為應(yīng)力區(qū)面積/光纖截面為9 10%。本發(fā)明的應(yīng)力區(qū)的面積比(9 10% )小于蝶結(jié)型(應(yīng)力區(qū)的面積比為10 14% ),因而可提高光纖強(qiáng)度,彎曲性能及高低溫特性。 所述應(yīng)力區(qū)是以纖芯為對稱的分開結(jié)構(gòu),呈紡錘型。本發(fā)明的紡錘型的應(yīng)力區(qū),較蝶結(jié)型的窄,但有足夠的應(yīng)力確保光纖的保偏性能。
其中,所述內(nèi)包層的厚度為纖芯半徑的1.5 2.0倍,可有效的防止應(yīng)力區(qū)的8203在長久可變環(huán)境下向芯部擴(kuò)散。
作為本發(fā)明的第二方面, —種如權(quán)利要求1所述的紡錘型保偏光纖預(yù)制棒的生產(chǎn)方法,采用MCVD工藝系統(tǒng)和刻蝕技術(shù),包括以下制備程序 (1)、基管選用石英基管,火燃拋光,內(nèi)通Cl2及SFe,在1400 180(TC下刻蝕掉基管內(nèi)壁的雜質(zhì)及缺陷; (2)、沉積外包層包括S叫+P^,其中P兆為2_4%,防雜質(zhì)向內(nèi)擴(kuò)散,參見圖1 ;
(3)、沉積應(yīng)力區(qū)層包括Si02+B203, B203的含量按質(zhì)量百分比為17 22% ;
(4)、定向刻蝕車床停轉(zhuǎn),向基管內(nèi)通入SF6刻蝕氣體,用于刻蝕的噴燈從一側(cè)或以纖芯為對稱兩側(cè)定向往返移動,如圖2所示,在1400 180(TC下將基管的部分內(nèi)層刻蝕掉,對稱兩邊不互相連接,可見基管內(nèi)壁厚度出現(xiàn)明顯的厚度差異; (5)、車床旋轉(zhuǎn)沉積填充層包括Si02+P205,其中P205為2-4% ,其組分及含量與外包層相同,其厚度與應(yīng)力區(qū)層一致,見圖2 ; (6)、車床停轉(zhuǎn),再次刻蝕與第一次刻蝕方向垂直90°將沉積在應(yīng)力區(qū)上的沉積填充層刻蝕掉,見圖3; (7)、沉積內(nèi)包層內(nèi)包層包括Si02+P205+Fj* P205為3. 5 4. 5X,F(xiàn)為0. 4 0. 5%,內(nèi)包層的厚度為纖芯半徑的1. 5 2. 0倍,停止進(jìn)料;
(8)、沉積纖芯按工藝設(shè)計控制纖芯直徑和折射率; 以光纖為125iim為例,光纖預(yù)制棒直徑為15mm,光纖預(yù)制棒的纖芯徑為0. 6
0. 8mm,折射率n為1. 466 1. 475。 (9)、縮棒直至收縮成光纖預(yù)制棒,見圖4。 按上述實(shí)施步驟制得的"紡錘型"偏光纖預(yù)制棒(光纖預(yù)制棒簡稱光棒),通過光纖拉絲塔拉制成不同直徑的保偏光纖。 本專禾U應(yīng)用MCVD (modified chemical vapor d印osition process,改進(jìn)的化學(xué)氣相沉積法)工藝,采用刻蝕技術(shù),創(chuàng)立高雙折射保偏光纖的新型結(jié)構(gòu)一紡錘型。本工藝的特點(diǎn)是在刻蝕應(yīng)力層后,沉積一定厚度的內(nèi)包層,再采用與前一次刻蝕應(yīng)力層的方向成90度角再刻蝕一定厚度的內(nèi)包層,使其基管四周的壁厚基本一致;這樣就保證了沉積芯層的圓正性。 本發(fā)明的有益效果 1、紡錘型保偏光纖芯部呈圓形。本專利從原理上消除了因刻蝕作用造成的沉積管壁厚差異而導(dǎo)致的纖芯呈"杏核型"或"類矩形"的產(chǎn)生。 2、紡錘形狀的應(yīng)力區(qū),且以纖芯為對稱、分開。本發(fā)明的應(yīng)力區(qū)的面積比小于蝶結(jié)型。 3、紡錘型保偏光纖的內(nèi)包層的厚度為纖芯半徑的1. 5 2. 0倍,可有效的防止應(yīng)力區(qū)的B203在長久可變環(huán)境下向芯部擴(kuò)散。


以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
來進(jìn)一步說明本發(fā)明。附圖為工藝過程中不同階段管及棒的截面分布圖。
圖1為沉積應(yīng)力層后管壁的截面圖。 圖2為刻蝕應(yīng)力區(qū)后沉積好填充層時管壁的截面分布圖。
圖3為芯層沉積好后管壁截面分布圖。
圖4為保偏光纖預(yù)制棒截面圖。 圖中標(biāo)號1為纖芯、2為內(nèi)包層、3為應(yīng)力區(qū)、4為外包層,5為填充層,6為基管。
具體實(shí)施例方式
為了使本發(fā)明的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達(dá)成目的與功效易于明白了解,下面結(jié)合具體圖示,進(jìn)一步闡述本發(fā)明。本實(shí)施步驟以基管為30 (外徑)X 2. 5 (壁厚)X 500 (長度)mm為例。 —種紡錘型保偏光纖預(yù)制棒的生產(chǎn)方法,采用MCVD工藝系統(tǒng)和刻蝕技術(shù),包括以下制備程序 (1)、基管6選用高純石英基管(德國Heraeus公司F300Tube),火燃拋光,內(nèi)通Cl2(100ml/min)及SF6 (20ml/min),在1400 1800。C高溫下刻蝕掉基管1內(nèi)壁的雜質(zhì);
(2)、沉積夕卜包層4[Si02+P205(P205為2-4 % )],通入SiCl4 (1000ml/min)、P0C13 (120ml/min)及02 (1500ml/min)在1800°C的高溫下反應(yīng)生成Si02+P205,其沉積厚度為2 4層,防雜質(zhì)向內(nèi)擴(kuò)散,參見圖1 ; (3)、沉積應(yīng)力區(qū)2,在外包層沉積好后,通入SiCl4(180ml/min) 、 BBr3 (800ml/min)及02(1500ml/min)在1600 1800°C的高溫下反應(yīng)生成Si02+B203,其沉積厚度為10 12層。 (4)、定向刻蝕MCVD車床停轉(zhuǎn),向基管內(nèi)通入SF6(80ml/min)刻蝕氣體,用于刻蝕的噴燈,從一側(cè)或以纖芯為對稱兩側(cè),定向往返移動移方向如圖2的箭頭所示,在1400 180(TC高溫下將基管內(nèi)層的部分應(yīng)力區(qū)(Si02+B203)刻蝕掉,對稱兩邊的應(yīng)力層不互相連接見圖2,可見基管內(nèi)壁厚度出現(xiàn)明顯的厚度差異; (5)、車床旋轉(zhuǎn)沉積的填充層5 (Si02+P205),其組分與外包層相同,厚度與應(yīng)力區(qū)層一致,見圖3 ; (6)、車床停轉(zhuǎn),再次刻蝕(與第一次刻蝕方向垂直9(T )將沉積在應(yīng)力區(qū)層(Si02+B203)上的沉積的部分填充層(Si02+P205)刻蝕掉,移動方向見圖3的箭頭所示;
(7)、沉積內(nèi)包層2 :在要兩次刻蝕完成后,通入SiCl4(200ml/min)、 P0Cl3(20ml/min) 、 SF6(5ml/min)和02 (1500ml/min)在1800 2000°C的高溫下反應(yīng)生成Si02+P205+F,其沉積厚度為4 6層。 (8)、沉積纖芯1 :在內(nèi)外層沉積完成后,通入SiCl4(50ml/min) 、 GeCl4 (85ml/min)和02(1200ml/min)在1800 2000°C的高溫下反應(yīng)生成Si02+GeCl4,其沉積厚度為3 4層。; (9)、縮棒在2200 2400°C的高溫下,將沉積好各層后的基管收縮成光纖預(yù)制棒,見圖4。 —種紡錘型保偏光纖預(yù)制棒,預(yù)制棒從內(nèi)到外包括纖芯1、內(nèi)包層2、應(yīng)力區(qū)3和外包層4。參見圖4。
纖芯1呈圓形結(jié)構(gòu)。內(nèi)包層2的厚度為纖芯半徑的1. 5 2. 0倍??捎行У姆乐箲?yīng)力區(qū)的B203在長久可變環(huán)境下向芯部擴(kuò)散。 應(yīng)力區(qū)3的面積比為應(yīng)力區(qū)面積/光纖截面為9 10%。本發(fā)明的應(yīng)力區(qū)的面積比(10 14%)小于蝶結(jié)型(應(yīng)力區(qū)的面積比為10 14%),因而可提高光纖強(qiáng)度,彎曲性能及高低溫特性。應(yīng)力區(qū)3是以纖芯為對稱的分開結(jié)構(gòu),呈紡錘型。本發(fā)明的紡錘型的應(yīng)力區(qū),較蝶結(jié)型的窄,但有足夠的應(yīng)力確保光纖的保偏性能。 本發(fā)明的創(chuàng)新內(nèi)容為①用沉積補(bǔ)償工藝確保纖芯呈圓形,以確保光連接耦合的高效性;②纖芯呈正圓形,可保證光纖模場直徑的圓正度;③應(yīng)力區(qū)呈類梯形,以纖芯為對稱而分離,且應(yīng)力區(qū)面積僅占光纖截面積比為9_10%,較蝶結(jié)型(10-14%)要小,可提高光纖強(qiáng)度,而不影響保偏性能。 按上述實(shí)施步驟制得的"紡錘型"保偏光棒,通過光纖拉絲塔拉制成不同直徑的保偏光纖。 以上顯示和描述了本發(fā)明的基本原理、主要特征和本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)。本行業(yè)的技術(shù)人員應(yīng)該了解,本發(fā)明不受上述實(shí)施例的限制,上述實(shí)施例和說明書中描述的只是說明本發(fā)明的原理,在不脫離本發(fā)明精神和范圍的前提下本發(fā)明還會有各種變化和改進(jìn),這些變化和改進(jìn)都落入要求保護(hù)的本發(fā)明范圍內(nèi)。本發(fā)明要求保護(hù)范圍由所附的權(quán)利要求書及其等同物界定。
權(quán)利要求
一種紡錘型保偏光纖預(yù)制棒,所述光纖預(yù)制棒從內(nèi)到外包括纖芯、內(nèi)包層、應(yīng)力區(qū)和外包層,其特征在于,所述纖芯呈圓形結(jié)構(gòu),所述內(nèi)包層包裹在纖芯的外圍,所述內(nèi)包層外設(shè)置兩對稱的紡錘型應(yīng)力區(qū),所述應(yīng)力區(qū)外圍為外包層,外包層包含基管。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的紡錘型保偏光纖預(yù)制棒,其特征在于,所述應(yīng)力區(qū)包括8203+5102,其中按質(zhì)量百分比計,摻17 22%質(zhì)量百分比的8203提高應(yīng)力區(qū)熱膨脹系數(shù)達(dá) 到28 32X10—7°C。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的紡錘型保偏光纖預(yù)制棒,其特征在于,所述應(yīng)力區(qū)的面積比 為應(yīng)力區(qū)面積/光纖截面為9 10 % 。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的紡錘型保偏光纖預(yù)制棒,其特征在于,所述應(yīng)力區(qū)是以纖芯 為對稱的分開結(jié)構(gòu),呈紡錘型。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的紡錘型保偏光纖預(yù)制棒,其特征在于,所述內(nèi)包層的厚度為 纖芯半徑的1. 5 2. 0倍,防止應(yīng)力區(qū)的B203向纖芯部擴(kuò)散。
6. —種如權(quán)利要求1所述的紡錘型保偏光纖預(yù)制棒的生產(chǎn)方法,采用MCVD工藝系統(tǒng)和 刻蝕技術(shù),包括以下制備程序(1) 、基管選用石英基管,火燃拋光,內(nèi)通Cl2及SF6,在1400 180(TC下刻蝕掉基管內(nèi) 壁的雜質(zhì)及缺陷;(2) 、沉積外包層包括S叫+P^,其中P205為2-4%,防雜質(zhì)向內(nèi)擴(kuò)散;(3) 、沉積應(yīng)力區(qū)層包括Si02+B203, B203的含量按質(zhì)量百分比為17 22% ;(4) 、定向刻蝕車床停轉(zhuǎn),向基管內(nèi)通入SF6刻蝕氣體,用于刻蝕的噴燈從一側(cè)或以纖 芯為對稱兩側(cè)定向往返移動,如圖2所示,在1400 180(TC下將基管的部分內(nèi)層刻蝕掉,基 管內(nèi)壁厚度出現(xiàn)明顯的厚度差異;(5) 、車床旋轉(zhuǎn)沉積填充層包括Si02+P20s,其中P205為2-4% ;(6) 、車床停轉(zhuǎn),再次刻蝕與第一次刻蝕方向垂直90°將沉積在應(yīng)力區(qū)上的沉積填充層 刻蝕掉;(7) 、沉積內(nèi)包層內(nèi)包層包括Si02+P205+F,其中P20s為3. 5 4. 5X,F(xiàn)為0. 4 0. 5%, 內(nèi)包層的厚度為纖芯半徑的1. 5 2. 0倍,停止進(jìn)料;(8) 、沉積纖芯按工藝設(shè)計控制纖芯直徑和折射率;(9) 、縮棒直至收縮成光纖預(yù)制棒。
全文摘要
一種紡錘型保偏光纖預(yù)制棒,從內(nèi)到外包括纖芯、內(nèi)包層、應(yīng)力區(qū)和外包層。纖芯呈圓形結(jié)構(gòu),內(nèi)包層包裹在纖芯的外圍,內(nèi)包層外設(shè)置兩對稱紡錘型的應(yīng)力區(qū),應(yīng)力區(qū)外圍為外包層,外包層含沉積基管。本發(fā)明采用MCVD工藝系統(tǒng)及刻蝕技術(shù)生產(chǎn)該預(yù)制棒。①用沉積補(bǔ)償工藝確保纖芯呈圓形,以確保光纖連接耦合的高效性;纖芯呈正圓形,可保證光纖模場直徑的圓正度。②內(nèi)包層的厚度為纖芯半徑的1.5~2.0倍,防止應(yīng)力區(qū)的B2O3在長久可變環(huán)境下向芯部擴(kuò)散。③應(yīng)力區(qū)呈類梯形,以纖芯為對稱而分離,應(yīng)力區(qū)的面積比為應(yīng)力區(qū)面積/光纖截面為9~10%,可提高光纖強(qiáng)度,彎曲性能及高低溫特性。
文檔編號C03B37/018GK101734852SQ20091024759
公開日2010年6月16日 申請日期2009年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月30日
發(fā)明者文雁平, 李沅桉, 王奇志, 申云華, 黃興旺 申請人:上海亨通光電科技有限公司
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