一種準直器斷層厚度的調節(jié)裝置及調節(jié)方法
【技術領域】
[0001 ]本發(fā)明涉及工業(yè)CT設備準直器領域，具體涉及準直器斷層厚度調節(jié)方法。
【背景技術】
[0002]現有的工業(yè)CT所用線陣探測器準直器在使用中為了滿足空間分辨率和密度分辨率的要求，需要采集不同數量的射線，即需要在掃描時切換到不同的斷層厚度；同樣，射線源準直器也需要切換到不同的斷層厚度。目前的切換方式為絲桿帶動唇片移動的傳動方式。但是在切換時，由于機械傳動結構的局限(如傳動結構裝配誤差、傳動結構傳動誤差等)，造成唇片兩端移動不同步。因此，斷層厚度存在不確定性，在工業(yè)CT掃描成像中效果難能滿意。

【發(fā)明內容】

[0003]本發(fā)明的目的是解決工業(yè)CT設備準直器的斷層厚度調節(jié)問題。
[0004]本發(fā)明提出一種準直器斷層厚度的調節(jié)裝置，包含固定唇片、移動唇片與若干塞塊;所述固定唇片的兩端設有定位槽，定位槽的深度小于固定唇片的厚度;所述的塞塊為長條形，塞塊的尾端為手持端，塞塊除尾端以外的部分為工作端，所述工作端與手持端的厚度不同；所述若干塞塊的手持端具有相同的厚度值，所述若干塞塊的工作端具有不同的厚度值，每個塞塊工作端為恒定厚度值，每個塞塊的手持端上制有對應工作端的厚度值;所述移動唇片上有連接孔。
[0005]本發(fā)明還提出一種準直器斷層厚度的調節(jié)方法，包含以下步驟:⑴根據斷層厚度要求將對應厚度的標準塞塊置于固定唇片的兩端，其中塞塊的工作端置于定位槽中；⑵調節(jié)移動唇片，將兩塊塞塊壓緊;(3)目視或者手動輕輕拉動塞塊，檢查移動唇片是否將兩塊塞塊壓緊;當檢查發(fā)現塞塊未能壓緊時，再次調節(jié)移動唇片直至壓緊塞塊為止。
[0006]本發(fā)明固定唇片和移動唇片間的縫隙即為射線接收斷層，在掃描時，根據需要切換不同的斷層厚度，并通過壓緊對應厚度塞塊的方式確保斷層厚度的精度，從而進一步滿足CT空間分辨率和密度分辨率的要求。
【附圖說明】
[0007]附圖1為本發(fā)明的結構示意圖。
[0008]附圖2為本發(fā)明的局部放大圖。
【具體實施方式】
[0009]下面結合實施例與附圖對本發(fā)明做進一步的闡述。
[0010]如圖1，圖2所示，一種準直器斷層厚度的調節(jié)裝置，包含固定唇片1、移動唇片2與若干塞塊;所述固定唇片I的兩端設有長方體形的定位槽5，定位槽5的深度小于固定唇片I的厚度;所述的塞塊3為長條形，塞塊的尾端為手持端3a，塞塊除尾端以外的部分為工作端3b，所述工作端3b與手持端3a的厚度不同；所述若干塞塊的手持端具有相同的厚度值，所述若干塞塊的工作端具有不同的厚度值，每個塞塊工作端為恒定厚度值，每個塞塊的手持端上制有對應工作端的厚度值;所述移動唇片上有連接孔4，可與絲桿相連，以方便與機構連接及動作;所述的固定唇片、移動唇片由鉛塊或媽金塊制成。
[0011]—種準直器斷層厚度的調節(jié)方法，包含以下步驟:⑴根據斷層厚度要求將對應厚度的塞塊置于固定唇片的兩端，其中塞塊的工作端置于定位槽中；⑵調節(jié)移動唇片，如通過絲桿旋轉帶動移動唇片上下活動，使得移動唇片將兩塊塞塊壓緊;(3)目視或者手動輕輕拉動塞塊，檢查移動唇片是否將兩塊塞塊同時壓緊；當檢查發(fā)現塞塊未能壓緊時，再次調節(jié)移動唇片直至壓緊塞塊為止。
[0012]本發(fā)明固定唇片和移動唇片間的縫隙即為射線接收斷層，在掃描時，根據需要切換不同的斷層厚度，并通過壓緊對應厚度塞塊的方式確保斷層厚度的精度，進一步的滿足了 CT空間分辨率和密度分辨率的要求。
[0013]以上，僅為本發(fā)明較佳的【具體實施方式】，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，凡在本發(fā)明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種準直器斷層厚度的調節(jié)裝置，其特征在于:包含固定唇片、移動唇片與若干塞塊;所述固定唇片的兩端設有定位槽，定位槽的深度小于固定唇片的厚度;所述的塞塊為長條形，塞塊的尾端為手持端，塞塊除尾端以外的部分為工作端，所述工作端與手持端的厚度不同；所述若干塞塊的手持端具有相同的厚度值，所述若干塞塊的工作端具有不同的厚度值，每個塞塊工作端為恒定厚度值，每個塞塊的手持端上制有對應工作端的厚度值;所述移動唇片上有連接孔。2.根據權利要求1所述的一種準直器斷層厚度的調節(jié)裝置，其特征在于:所述的固定唇片、移動唇片由鉛塊或媽金塊制成。3.—種準直器斷層厚度的調節(jié)方法，其特征在于，包含以下步驟:⑴根據斷層厚度要求將對應厚度的塞塊置于固定唇片的兩端，其中塞塊的工作端置于定位槽中；⑵調節(jié)移動唇片，將兩塊塞塊壓緊;(3)目視或者手動輕輕拉動塞塊，檢查移動唇片是否將兩塊塞塊壓緊；當檢查發(fā)現塞塊未能壓緊時，再次調節(jié)移動唇片直至壓緊塞塊為止。
【專利摘要】本發(fā)明提出一種準直器斷層厚度的調節(jié)裝置，包含固定唇片、移動唇片與若干塞塊；固定唇片的兩端設有定位槽；塞塊為長條形；若干塞塊的手持端具有相同的厚度值，所述若干塞塊的工作端具有不同的厚度值，每個塞塊工作端為恒定厚度值；移動唇片與絲桿相連；固定唇片、移動唇片由鉛塊或鎢金塊制成。本發(fā)明還提出一種準直器斷層厚度的調節(jié)方法，包含以下步驟：⑴根據斷層厚度要求將對應厚度的塞塊置于固定唇片的兩端；⑵調節(jié)移動唇片，將兩塊塞塊壓緊；⑶目視或者手動輕輕拉動塞塊，檢查移動唇片是否將兩塊塞塊壓緊；本發(fā)明通過壓緊對應厚度塞塊的方式確保斷層厚度的精度，從而進一步提高CT空間分辨率和密度分辨率。
【IPC分類】G21K1/02
【公開號】CN105632577
【申請?zhí)枴緾N201511033731
【發(fā)明人】陳海, 張欽誠, 郭鵬輝
【申請人】重慶真測科技股份有限公司
【公開日】2016年6月1日
【申請日】2015年12月31日