專利名稱：表征led器件的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及表征發(fā)光二極管(LED)器件的方法。本發(fā)明還涉及被配置為操作這種方法的LED驅(qū)動器。
背景技術(shù)：
由于LED的已知優(yōu)點(比如，每瓦特流明方面的高效率、小形狀因素(small formfactor)及持久性)，LED用作高性能照明燈具的光源。在諸如街燈、交通信號燈等難以更換的照明燈具中，以及在例如基于安全原因而需要高可靠性的燈具(例如汽車燈)中，LED是越來越優(yōu)選的光源。與許多其它光源類似，從LED輸出的光隨著時間而衰減，最終導(dǎo)致LED失效。為了避免完全失效，典型地，根據(jù)固定時間表時更換LED。然而，因為更換時間表通常嘗試完全避免預(yù)更換失效，并且在預(yù)期LED失效的時間方面存在明顯的擴大，所以在可能失效之前，替換了相當(dāng)多的LED，這無疑是浪費的；備選的，如果延長替換時間表來減少這種浪費，則在替換之前，一些LED可能失效了，而這通常是不方便的，并且可能是危險的。為了預(yù)測，從而適當(dāng)?shù)刈柚筁ED失效，已知的是，通過諸如光敏二極管之類的外部光傳感器監(jiān)視或測量光輸出。盡管這種方式通常是魯棒的，但是其需要附加的部件、電路和線，因而是不受歡迎的。此外，在不理想的照明環(huán)境中，比如存在來自其它LED或外來光源的干擾的情況，這種方法可能是不精確的。因此，一直存在對提供預(yù)測LED的失效并總體上表征其性能的其它方法的需求。

發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提供了一種表征LED器件的方法,所述方法包括在相應(yīng)的第一和第二電流(ih，il)流經(jīng)LED器件時確定所述LED器件兩端的第一和第二電壓(Vh，VI)，并且依據(jù)Ron = (Vh-Vl)/(ih-il)，根據(jù)所述第一和第二電壓之差與所述第一和第二電流之差的比值，來確定所述特性電阻，從而確定特性電阻Ron的第一值和第二值；以及根據(jù)所述特性電阻的第一值(Ronl)和第二值(Ron2)，來預(yù)測所述器件的使用壽命的結(jié)束。因此，根據(jù)該方面，特性電阻的值變化可以被認為是LED的輸出光強度劣化的代表，或者可以指示LED的輸出光強度劣化；輸出光強度的劣化的知識可以用于預(yù)測LED的大致剩余壽命。在一些情況下，預(yù)測可以是特定電阻變化的直接外推；然而，在LED的操作條件已經(jīng)隨時間改變或修改了的更復(fù)雜環(huán)境中，更應(yīng)當(dāng)包括預(yù)測，或者預(yù)測可以考慮操作條件的變化。在實施例中，可以在LED器件的使用壽命開始時確定特性電阻的第一值。在實施例中，可以在所述LED器件的使用壽命的一部分之后確定所述特性電阻的第二值。在這種實施例中，可以在所述LED器件的使用壽命的另一部分之后確定所述特性電阻的第一值，并且所述方法還可以包括利用外推法估計所述LED器件的使用壽命開始時的特性電阻的值。
所述方法還可以包括相應(yīng)地在所述使用壽命的至少一個其他部分之后確定所述特性電阻的至少一個其他值，并且預(yù)測使用壽命的結(jié)束包括外推出所述特定電阻針對使用壽命的演變或斜率。這可以包括線性外推，或者具體地在操作條件已經(jīng)改變或修改了情況下的非線性外推法。一般而言，對特性電阻進行的測量越多，對使用壽命的結(jié)束的預(yù)測就可能越精確，原因在于可以對數(shù)據(jù)進行更好地擬合，并且可以更容易考慮操作條件的變化。在實施例中，所述方法還包括將所述特性電阻的至少一個值存儲在存儲器中。因此，例如，可以存儲所述特性的初時值，或者存儲一串值，以更好地監(jiān)視所述特性電阻的演變或變化。備選地或者附加地，并且非限制地，可以存儲對所述演變加以表示或指示的一個或多個參數(shù)。在實施例中，將所述使用壽命的結(jié)束預(yù)測為所述特性電阻Ron與所述使用壽命的開始處所述特性電阻的Ron的值相差預(yù)定量時的時間。非限制地，預(yù)定量可以在0. 6歐姆至I. 6歐姆范圍內(nèi)，更具體地，可以在0. 8歐姆至I. 2歐姆范圍內(nèi)，或者可以是近似I歐姆。
在實施例中，所述第一電流比所述第二電流大，二者相差4至6個數(shù)量級，或者具體地,5個數(shù)量級。在實施例中，所述方法還包括提供對所預(yù)測的使用壽命結(jié)束加以指示的警告信號。在實施例中，所述方法還包括基于所述所預(yù)測的使用壽命結(jié)束選擇多個性能區(qū)段(bin)中的一個。因此，表征特性可以包括對LED的預(yù)篩，以及根據(jù)LED的期望使用壽命對LED進行分類，使得具有類似使用壽命的LED可以“被劃分在相同區(qū)段內(nèi)”，從而例如簡化了預(yù)防性維護操作或相似操作期間的更換，原因在于可以預(yù)期相同性能區(qū)段中的LED將以廣泛相似的方式劣化。這與提供例如波長匹配的其它LED劃分區(qū)段類似。根據(jù)另一方面，提供了一種集成電路，被配置為驅(qū)動LED器件，并且操作任何前述權(quán)利要求的方法。根據(jù)下文描述的實施例，這些和其它方面將顯而易見，并且將參考下文描述的實施例闡述這些和其它方面。


將參考附圖僅以示例的方式描述本發(fā)明的實施例，其中圖I是LED (發(fā)光二極管)的典型正向偏置電流-電壓(IV)曲線的圖；圖2繪制了在圖2(a)的相對高驅(qū)動電流下，特定條件下有效電阻相對于LED的使用壽命的變化，以及在圖2(b)的相對低驅(qū)動電流下，特定條件下有效電阻相對于LED的使用壽命的變化；圖3示出了 A Ron相對于歸一化輸出光強度的變化，其代表高功率藍色LED的使用壽命；圖4是不出了相對光輸出與使用壽命之間關(guān)系的實驗測量的表；圖5不出了對于圖4中所列器件,相對光輸出與ARon之間的關(guān)系；以及圖6示出了根據(jù)實施例的方法的流程圖。應(yīng)該注意，附圖是圖示，并且未按照比例繪制。為了清楚和方便的目的，在附圖中，以擴大或縮小的尺寸示出了這些附圖的部件的相對尺寸及比例。相同參考標記一般用于指代修改的和不同的實施例中的相應(yīng)或相似特征。
具體實施例方式圖I是LED的典型正向偏置電流-電壓(IV)曲線的圖。曲線10是“新”或原始LED (pristine LED)(即是說，在使用壽命的開始時的LED)的典型曲線。該曲線由具有低泄漏電流來表征。朝向曲線左方的且在曲線的“彎曲處”以下的區(qū)域11示出了這種情況。此夕卜，在“彎曲處”以上，如區(qū)域12所示，曲線總體上是陡峭的。附圖還示出了典型的老化LED的對應(yīng)IV特性20。相對于新或原始的LED曲線10，如區(qū)域21所示，該曲線20在低正向偏置處具有稍高些的泄露，以及典型地，如22處所示，在更高的正向偏置處，具有不那么陡峭的斜率?？梢匀缦吕斫馇€隨著LED的老化，LED的金屬_半導(dǎo)體接觸可能劣化,導(dǎo)致這些觸點處的附加電阻。在較大驅(qū)動電流的情況下，這種增大的觸點電阻導(dǎo)致增大的有效電阻。同時，典型地，存在在LED內(nèi)形成的新泄漏路徑。這與p_n結(jié)處的載流子的增大的非輻 射復(fù)合相對應(yīng)；一般而言，由于半導(dǎo)體的晶體學(xué)方面的變化以及雜質(zhì)的電遷移或熱擴散和位錯，這種非輻射復(fù)合將隨著LED的使用壽命而增加。因此，器件的光輸出減小，并且其消耗更多的功率，典型地，這導(dǎo)致了較熱的操作，并且如果調(diào)整操作條件來維持相同的輸出發(fā)光度，則甚至將導(dǎo)致更熱溫度。圖I還示出了與LED的2個驅(qū)動電平相對應(yīng)的兩個電流電平(水平線)。第一驅(qū)動電平(ih)完全在曲線的“彎曲處”以上，所以二極管被導(dǎo)通，并提供光輸出。第二驅(qū)動電平(il)明顯低得多，但是重要的是，非零且為正。因為該驅(qū)動電平在曲線的彎曲處以下，所以LED高效地(即在光學(xué)上)被截止了(即是說，輻射復(fù)合小到足以忽略或為零)。如附圖所示，對于老化器件而言，處于較高驅(qū)動電平ih處的LED的操作電壓較高，而處于較低驅(qū)動電平ih處的LED的操作電壓較低。這已經(jīng)通過實驗進行了測量，如圖2所示，在圖2中，繪制了特定操作條件下有效電阻相對于LED的使用壽命的變化?！坝行щ娮琛币馕吨谔囟ú僮鳁l件下(在這種情況下，固定電流)，電壓與電流之比的值。因為LED具有非線性電流-電壓響應(yīng)曲線，歐姆定律不適用，所以測量結(jié)果并非真實的電阻，但是仍然產(chǎn)生了有用值，換句話說，品質(zhì)因數(shù)，本文稱作“有效電阻”。圖2(a)示出了，對于具有高驅(qū)動電流(在這種情況下，1A)的LED，根據(jù)vl/il確定的有效電阻相對于使用壽命的變化。在X軸(或橫坐標)上,繪制了隨時間的歸一化光輸出；這被視為代表器件的老化。在y軸上(縱坐標)繪制了有效電阻。可見，有效電阻隨著器件的操作而增大。如以上所討論的，這可以在增加的串聯(lián)電阻方面來說明。參考圖1，這相當(dāng)于高驅(qū)動電流ih處的操作點隨著器件老化而向右移動。圖2(b)示出了，對于具有低驅(qū)動電流(在這種情況下，IOyA)的LED，根據(jù)vl/Vi確定的有效電阻相對于使用壽命的變化。軸與圖2(a)相同——盡管在這種情況下，與圖2(a)所示的0-7歐姆相比，垂直范圍是10-22k歐姆。在兩種情況下，繪制了從左100%(即，新或原始LED)至右50% (嚴重老化器件)的正常輸出?？梢姡行щ娮桦S著器件的操作而下降。如上所述的，這可以在增加的泄漏路徑方面來說明。參考圖1，這相當(dāng)于低驅(qū)動電流i I處的操作點隨著器件的老化而向左移動。可以從以上測量中獲得參數(shù)的特性值，該參數(shù)具有歐姆的量綱，因而可以被稱作特性電阻。在本文中，該特性電阻還將被描述為器件的“導(dǎo)通電阻(on-resistance) ”Ron，其中根據(jù)以下等式計算Ron Ron = (Vh-Vl) / (ih_i I)應(yīng)該馬上認識到,Ron是所選電流的函數(shù)，即是說,Ron-Ron(iI, ih)。此外,顯而易見的是，Ron等于將高和低驅(qū)動電流處的操作點連接的線(對于原始器件，30處所示，以及對于老化器件，40處所示)的斜率的倒數(shù)。如圖I所示以及如以上在損耗機制方面說明的，將高和低驅(qū)動電流處的動作點連接的線的斜率隨著器件的老化而變得更小。因此斜率的倒數(shù)增大。這種增加可以表示為A Ron，并且一般地，為正。A R0n是器件壽命的函數(shù)，以及在器件壽命期間的任何時刻， ARon的值可以被定義為在器件壽命期間的該時刻測量的Ron與最初器件的Ron之差。即，被認為是操作時間t的函數(shù)A Ron (t) = A Ron (t) - A Ron (0),或者A Ron (t) = [ (Vh (t) -Vl (t)) - (Vh (0) -Vl (0)) ] / (ih_i I)。如上已經(jīng)討論的，Ron的量值是所選驅(qū)動電流ih和il的函數(shù)，因而ARon也是。然而，本發(fā)明人已經(jīng)不可思議地實現(xiàn)并實驗地證實了，隨著器件的老化，A R0n遵循與歸一化光輸出的減少的線性關(guān)系，并且這在一定程度上獨立于或者幾乎獨立于操作條件。圖3示出了 A Ron隨著高功率藍色LED的使用壽命的變化。附圖繪制了 y軸或縱坐標上器件的歸一化光輸出對X軸或橫坐標上特性電阻的增加量，即是說，具有歐姆量綱的ARon。如所示，這兩個屬性之間存在線性關(guān)系。然后，只要這種關(guān)系成立，或者至少這種關(guān)系是通過找出在LED的使用壽命期間的特定時刻的ARon而可預(yù)測的或者確定的，因此能夠推導(dǎo)出LED在該時刻的相對光輸出，并且可以基于逝去的時間及過去的操作條件預(yù)測出在可以預(yù)期的完全失效之前的剩余使用壽命。作為示例,考慮高功率藍色LED,其已經(jīng)操作了 10000小時的操作時間tl,并且具有0.2歐姆的ARon。如圖3的虛線所示，可以計算出，tl處的該LED的光輸出是其原始值的92. 5%。根據(jù)簡單線性外推，因為使LED光輸出從100%下降到92. 5%花去了 10000個小時，所以使其下降至70%將總共花去40000個小時。如果光輸出下降至其額定或原始值的70%被視為指示器件的使用壽命的額定結(jié)束，則可以基于過去的操作條件計算得出，還有剩余的30000個小時使用壽命。應(yīng)該認識到，用于壽命預(yù)測的其它外推算法也是可能的，比如指數(shù)方程、阿倫尼烏斯(Arrhenius)方程、通過預(yù)測的平均時間黑(Rlack)方程。還應(yīng)該認識到，可以通過測量LED的使用壽命期間的若干時刻的A Ron來獲得對剩余壽命的更精確預(yù)測，并且一般而言，隨著器件的老化，預(yù)測的精度將增加。如圖4所示，已經(jīng)實驗地證實了相對光輸出與使用壽命之間的關(guān)系。在多種條件下對若干高功率藍色LED進行了測試，附圖示出了表格，該表格呈現(xiàn)出，對于每個器件(#)，測試條件是，散熱片的溫度T (單位。C )，LED受到的電流I (單位mA)、器件在完全失效之前的總使用壽命L (單位S)，以及小(結(jié)束)/>0的值，其中小(結(jié)束)/>0與LED剛失靈(即，LED總使用壽命的結(jié)束)之前的最后一次光輸出(對原始光輸出的歸一化)相對應(yīng)。通過附圖可觀察到，甚至對于相同額定條件下操作的器件(比如器件#8、#9、#11)，器件的總使用壽命也改變了。
圖5示出了在y軸上繪制的圖4中所列器件的相對光輸出與x軸上繪制的且進行了歐姆測量的特性電阻的增加量(即是說，ARon)之間的關(guān)系。盡管圖5表明了 LED具有極不相同的總使用壽命的事實，但是每個LED的ARon與其相對光輸出之間的關(guān)系遵循相當(dāng)類似的線性曲線。因而，能夠使用該關(guān)系根據(jù)ARon的測量值來確定相對光輸出的估計。例如，可以預(yù)測的是，如果AR0n近似I歐姆，則如果LED的有效使用壽命被定義為其原始光輸出的70% ±3%，則LED接近其經(jīng)濟使用壽命的結(jié)束。圖6示出了根據(jù)實施例的方法的流程圖。所述方法包括以下步驟 如610處所示，在LED使用壽命期間的第一已知時刻，通過以下步驟確定特性電阻的第一值Ronl :在612和614處，當(dāng)相應(yīng)第一和第二電流(ih，il)流經(jīng)LED器件時，相應(yīng)地確定LED器件兩端的第一和第二電壓(Vh，Vl);在616處，依據(jù)Ron= (Vh-Vl) / (ih_i I)，根據(jù)第一電壓與第二電壓之差對第一電流與第二電流之差的比值來確定特性電阻； 如圖620所示，在LED使用壽命期間的第二已知時刻，通過以下步驟確定特性電 阻的第二值Ron2 :在622和624處，當(dāng)相應(yīng)第一和第二電流(ih，il)流經(jīng)LED器件時，相應(yīng)地確定LED器件兩端的第一和第二電壓(Vh，Vl);在626處，依據(jù)Ron= (Vh-Vl) / (ih_i I)，根據(jù)第一電壓與第二電壓之差對第一電流與第二電流之差的比值來確定特性電阻； 如630所示，根據(jù)特性電阻的第一值(Ronl)與第二值(Ron2)來預(yù)測器件的使用壽命的結(jié)束。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該認識到，第二已知時刻的值Vh和Vl可以與第一已知時刻的相應(yīng)值Vh和Vl不相同?？梢曰诘谝慌c第二已知時刻的Ron的值之差(如果第一時刻是使用壽命的開始，即是說，可以基于AR0n的值)來預(yù)測器件的使用壽命的結(jié)束。第一已知時刻可以是器件的使用壽命的開始；在這些實施例中，第一與第二已知時刻的Ron的值之差等于AR0n的值。對使用壽命的結(jié)束的預(yù)測可以根據(jù)AR0n的線性外推。此外，可以在LED的使用壽命期間的第三或者后續(xù)已知一個時刻或多個時刻確定Ron的其他值，以改善對使用壽命的預(yù)測?？梢曰趯ED的使用壽命的預(yù)測，采取進一步的動作這些動作包括，例如通過在較低功率操作LED來減小LED上的應(yīng)力，來提供對LED的操作條件的補償，以維持初始或預(yù)定光輸出，或者增加LED的使用壽命?？梢圆扇〉牧硪粍幼骼缡翘峁┡c預(yù)期的使用壽命結(jié)束相關(guān)的警告。應(yīng)該認識到，本文使用的術(shù)語“使用壽命”等應(yīng)該被廣義地解釋，以包括預(yù)燒(burn-in)時間段或預(yù)篩(pre-screening)時間段。因而,在LED的正常操作環(huán)境或期望應(yīng)用中使用LED之前，可以進行對總使用壽命的預(yù)測作為預(yù)篩操作或預(yù)應(yīng)力操作的結(jié)果。如以上已經(jīng)討論的，所預(yù)測的總使用壽命并因此所預(yù)測的LED的使用壽命結(jié)束取決于操作LED的操作條件本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該認識到，ARon取決于累積操作通量(cumulative operationalf lux),并且ARon的演變?nèi)Q于在該演變時間段期間的操作條件，而不是取決于特定時刻的操作條件。因為不可能肯定知道將來的操作條件，所以總使用壽命預(yù)測將受到基于操作條件的變化的誤差的影響。不用說，針對使用壽命的結(jié)束將提高精度，原因在于，即使劣化速率的顯著變化，也對總累積操作條件具有相對不太顯著的影響。應(yīng)該認識到，針對第一電流或第二電流選擇的電流的精確值并不嚴格。總體上，較大的電流應(yīng)該大到足以區(qū)分器件的接觸電阻中的變化。方便地，可以將其選擇為LED自身的額定操作電流，典型地，這可以在IOOmA與IA之間，或者大體上在IO6 ii A/mm2的量級。應(yīng)該選擇較小電流，以充分地區(qū)分通過器件的一條泄漏路徑或多條泄漏路徑中的變化，并且較小電流可以大約是IOii A或在lO^A/mm2的量級，因而，方便地，較高電流可以是較低電流的IO4至IO6倍，具體地，IO5倍。因為接觸電阻可以是歐姆量級，并且可以是IOOk歐姆量級的泄漏電阻，所以應(yīng)該認識到，電流之間IO5倍比值是方便的。然后，從一個角度看，本文公開了基于所謂的特性電阻來表征LED的方法，其中，首先在相對低的操作電流下操作LED，然后載相對高的第二操作電流下操作LED。根據(jù)這兩個操作電流下的正向電壓之差與操作電流之差的比值來確定特性電阻。在器件的使用壽命期間的兩個或多個時刻測量特性電阻，并且根據(jù)特性電阻的演變或變化，進行與器件的總使用壽命相關(guān)的預(yù)測或估計。還公開了被配置為操作這種過程的集成電路。
通過閱讀本公開，其它變型和修改對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言將是顯而易見的。這樣的變型和修改可以包括LED器件領(lǐng)域已知的等同特征及其它特征，并且所述其它特征可以用于替代或者補充本文已經(jīng)描述的特征。盡管所附權(quán)利要求涉及特征的特定組合，但是應(yīng)該理解，無論是否涉及任何權(quán)利要求中當(dāng)前要求保護的相同發(fā)明，并且無論是否消除了本發(fā)明解決的任何相同技術(shù)問題或所有相同技術(shù)問題，本發(fā)明的公開的范圍都包括任何新穎特征、或者本文顯式或隱式公開的特征的任何新穎組合、或者其任何概括。還可以在單個實施例中以組合的形式提供在分離實施例的上下文中描述的特征。相反地，還可以分離地或以任何適當(dāng)?shù)淖咏M合的形式提供為了簡潔而在單個實施例的上下文中描述的各種特征。申請人:在此給出聲明，在本申請的進行期間或者在從本申請獲得的任何其它申請的進行期間，新權(quán)利要求可以制定為這些特征和/或這些特征的組合。為了完整性的目的，還聲明，術(shù)語“包括”不排除其它元件或步驟，術(shù)語“一”不排除多個，單個處理器或其它單元可以滿足權(quán)利要求中記載的若干裝置的功能，并且權(quán)利要求中的參考標記不應(yīng)視為為限制權(quán)利要求的范圍。
權(quán)利要求
1.一種表征LED器件的方法,所述方法包括 確定第一和第二電流(ih，il)流經(jīng)LED器件時所述LED器件兩端的相應(yīng)第一和第二電壓(Vh，VI)，并且依據(jù)Ron= (Vh-Vl)/(ih-il)，根據(jù)所述第一和第二電壓之差與所述第一和第二電流之差的比值,來確定所述特性電阻,從而確定特性電阻Ron的第一值和第二值；以及 根據(jù)所述特性電阻的第一值(Ronl)和第二值(Ron2)，來預(yù)測所述器件的使用壽命的結(jié)束。
2.如權(quán)利要求I所述的方法，其中，在所述LED器件的使用壽命開始時確定所述特性電 阻的第一值。
3.如權(quán)利要求I所述的方法，其中，在所述LED器件的使用壽命的一部分之后確定所述特性電阻的第二值。
4.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，在所述LED器件的使用壽命的另一部分之后確定所述特性電阻的第一值，并且所述方法還包括外推以估計所述LED器件的使用壽命開始時的特性值。
5.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，還包括相應(yīng)地在所述使用壽命的至少一個其他部分之后確定所述特性電阻的至少一個其他值，并且預(yù)測使用壽命的結(jié)束包括外推所述特定電阻相對于使用壽命的演變。
6.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，還包括將所述特性電阻的至少一個值存儲在存儲器中。
7.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，將所述使用壽命的結(jié)束預(yù)測為所述特性電阻R0n與所述使用壽命開始時所述特性電阻的Ron值相差預(yù)定量時的時間。
8.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，所述第一電流比所述第二電流大，兩者相差4至6個數(shù)量級。
9.如權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述第一電流比第二電流大，兩者相差5個數(shù)量級。
10.如前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，還包括提供對所預(yù)測的使用壽命的結(jié)束加以指示的警告信號。
11.如權(quán)利要求I至8中任一項所述的方法，其中，所述方法還包括基于所預(yù)測的使用壽命的結(jié)束，來選擇多個性能區(qū)段中的一個。
12.—種集成電路，被配置為驅(qū)動LED器件，并且操作任何前述權(quán)利要求所述的方法。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種基于所謂的特性電阻來表征LED的方法，其中，首先以相對低的第一操作電流來操作LED，然后以相對高的第二操作電流來操作LED。根據(jù)這兩個操作電流處的正向電壓之差與所述操作電流之差的比值來確定特性電阻。在器件的使用壽命期間的兩個或多個時刻測量特性電阻，并且根據(jù)特性電阻的演變或變化，進行與器件的總使用壽命相關(guān)的預(yù)測或估計。還公開了一種被配置為操作這種過程的集成電路。
文檔編號H05B37/02GK102778655SQ20121013918
公開日2012年11月14日 申請日期2012年5月7日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月9日
發(fā)明者帕斯卡爾·貝思肯, 菲特·恩古耶恩 申請人:Nxp股份有限公司