專利名稱：電路板測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及電路板測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種具有同步標(biāo)記功能的電路板測試裝置。
背景技術(shù)：
電路板是電子產(chǎn)品中傳送電信號的主要器件，在電路板的制作過程中，如內(nèi)層線 路蝕刻、外層線路蝕刻、鍍孔等工序后均需對電路基板以及電路板成品進(jìn)行測試，如進(jìn)行電 性測試(簡稱為電測)，以避免電路基板及電路板成品出現(xiàn)短路、斷路及漏電等電性能的缺 陷。電性測試是通過測試電路板(電路基板)電氣相連的同一網(wǎng)點內(nèi)各電測點如焊點間 的電阻值的大小，以判斷電路板(電路基板)的電導(dǎo)通性及絕緣性，請參閱文獻(xiàn)Yiu-Wing Leung, ASignal Path Grouping Algorithm for Fast Detection of Short Circuits on PrintedCircuit Boards,IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement,Vol 43. No. 1，p288-292, February 1994。電性測試完成后，通常會將測試合格的電路板搬運至標(biāo)記設(shè)備處作標(biāo)記，以與不 合格電路板區(qū)別開來。由于電路板在測試完成后沒有及時標(biāo)記，在搬運過程中，經(jīng)常出現(xiàn) 將不合格電路板也搬至標(biāo)記設(shè)備處作標(biāo)記的情況，導(dǎo)致不合格電路板與合格電路板相互混 淆。不合格電路板與合格電路板混淆之后，只能重新測試，降低生產(chǎn)效率。因此，有必要提供一種具有同步標(biāo)記功能的電路板測試裝置。發(fā)明內(nèi)容為了克服現(xiàn)有的電路板在測試完成后沒有及時標(biāo)記容易導(dǎo)致不合格電路板與合 格電路板相互混淆的不足，本實用新型提供一種電路板測試裝置，該電路板測試裝置能實 現(xiàn)同步標(biāo)記，從而避免不合格電路板與合格電路板相互混淆。一種電路板測試裝置，包括測試器、控制器和標(biāo)記器。所述測試器用于對電路板的 性能進(jìn)行測試。所述標(biāo)記器包括可拆卸地連接于一起的驅(qū)動件和標(biāo)記件。所述控制器與所 述測試器及標(biāo)記器相連接，用于接收來自測試器的測試結(jié)果，并在測試結(jié)果為合格時控制 標(biāo)記器的驅(qū)動件驅(qū)動標(biāo)記件接觸電路板以對電路板作標(biāo)記。本技術(shù)方案的電路板測試裝置具有標(biāo)記器和連接于測試器的控制器，控制器僅在 接收到合格的測試結(jié)果時控制標(biāo)記器對電路板進(jìn)行標(biāo)記。采用本技術(shù)方案提供的電路板測 試裝置測試電路板合格的同時能實現(xiàn)同步標(biāo)記，即利用同一設(shè)備完成測試和標(biāo)記，由此避 免人為混淆不合格電路板和合格電路板，并大大提高生產(chǎn)效率。
圖1是本技術(shù)方案實施例提供的電路板測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本技術(shù)方案實施例提供的標(biāo)記器的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是本技術(shù)方案實施例提供的標(biāo)記器設(shè)置于測試器的剖面示意圖。圖4是使用本技術(shù)方案實施例提供的電路板測試裝置的示意圖。
具體實施方式
以下將結(jié)合附圖和實施例，對本技術(shù)方案提供的電路板測試裝置進(jìn)行詳細(xì)描述。[0017]請參見圖1，本技術(shù)方案實施例提供的電路板測試裝置100包括機臺10、測試器 20、標(biāo)記器30和控制器40。所述機臺10包括承載板11和沿垂直于所述承載板11設(shè)置的滑軌12。所述滑軌 12為兩個，分別設(shè)置于承載板11相對的兩側(cè)。所述測試器20用于對電路板的性能進(jìn)行測試。例如，對電路板進(jìn)行電性測試。所述測試器20包括相對設(shè)置的第一測試板21和第二測試板22。所述第一測試板21承載于 所述機臺10的承載板11。所述第一測試板21具有相對的第一表面210和第一測試面211。 所述第一表面210位于遠(yuǎn)離第二測試板22的一側(cè)，且與承載板11相接觸。所述第一測試 面211靠近第二測試板22，用于與電路板相對。所述第一測試面211具有至少一個第一探 針212，其用于與電路板上的測試點相接觸以對電路板進(jìn)行測試。所述第二測試板22設(shè)置 于所述滑軌12，從而可沿所述滑軌12向靠近或遠(yuǎn)離第一測試板21方向移動。所述第二測 試板22具有相對的第二表面220和第二測試面221。所述第二表面220位于遠(yuǎn)離第一測試 板21的一側(cè)。所述第二測試面221靠近第一測試板21，用于與電路板相對。所述第二測試 面221也具有至少一個第二探針222，其用于與電路板上的測試點相接觸以對電路板進(jìn)行 測試。所述第二測試板22還具有貫穿所述第二表面220和第二測試面221的收容孔223。當(dāng)然，若僅需對電路板的一個表面進(jìn)行測試時，所述第一測試板21和第二測試板 22中，也可以只有一個具有測試面或探針。 所述標(biāo)記器30設(shè)置于所述測試器20，用于對測試合格的電路板作標(biāo)記。本實施例 中，所述標(biāo)記器30嵌設(shè)于第二測試板22的收容孔223。所述標(biāo)記器30包括驅(qū)動件31、標(biāo) 記件32和連接所述驅(qū)動件31和標(biāo)記件32的磁性連接器33。所述驅(qū)動件31用于驅(qū)動所述 標(biāo)記件32向靠近或遠(yuǎn)離電路板方向移動。所述驅(qū)動件31位于遠(yuǎn)離第一測試板21的一側(cè)， 且部分突出于收容孔223。所述驅(qū)動件31位于靠近第一測試板21的一側(cè)。所述驅(qū)動件31 可為驅(qū)動氣缸，其包括進(jìn)氣裝置310、氣缸體311和活塞桿312。所述進(jìn)氣裝置310用于向 氣缸體311內(nèi)充入氣體，以驅(qū)動所述活塞桿312沿氣缸體311的中心軸線移動。所述標(biāo)記 件32用于在驅(qū)動件31的帶動下與電路板相接觸以對電路板作標(biāo)記。所述標(biāo)記件32可為 印章。所述磁性連接器33包括與所述驅(qū)動件31相接觸的第一磁體330和與標(biāo)記件32相 接觸的第二磁體331。本實施例中，所述磁性連接器33連接于所述驅(qū)動件31和標(biāo)記件32 之間，所述第一磁體330與所述驅(qū)動件31固定接觸，所述第二磁體331與所述標(biāo)記件32固 定接觸。所述第一磁體330和第二磁體331可均為磁鐵。當(dāng)然，若第一磁體330為磁鐵，而 第二磁體331為鐵、鈷、鎳，或者為包括鐵、鈷或鎳的合金或化合物，也可實現(xiàn)第一磁體330 與第二磁體331之間的可拆卸的連接。所述驅(qū)動件31和標(biāo)記件32通過所述磁性連接器33 可拆卸地連接于一起。如此，可便于拆卸所述標(biāo)記件32以對其填充油墨，或者根據(jù)操作人 員的變化而換上具有不同標(biāo)記圖案的標(biāo)記件32。可以理解，磁性連接器33的第一磁體330和第二磁體331也可以不連接在驅(qū)動件 31和標(biāo)記件32之間，也可以設(shè)置在驅(qū)動件31的活塞桿312的側(cè)邊或在標(biāo)記件32的側(cè)邊， 也可實現(xiàn)將所述驅(qū)動件31和標(biāo)記件32可拆卸地連接于一起。當(dāng)然，所述標(biāo)記器30也可以不包括所述磁性連接器33，所述驅(qū)動件31和標(biāo)記件 32之間也可以通過螺接、卡接等其他方式實現(xiàn)可拆卸的連接，例如，在活塞桿312上設(shè)置第 一螺紋，在標(biāo)記件32上設(shè)置與該第一螺紋相匹配的第二螺紋。[0024]所述控制器40設(shè)置于所述機臺10，其與所述測試器20及標(biāo)記器30相連接。所述控制器40用于接收來自測試器20的測試結(jié)果，并在測試結(jié)果為合格時驅(qū)動標(biāo)記器30的驅(qū) 動件31，使標(biāo)記件32接觸電路板以對電路板作標(biāo)記。具體地，所述控制器40可連接于所述 驅(qū)動件31的進(jìn)氣裝置310。本技術(shù)方案的電路板測試裝置100具有標(biāo)記器30和連接于測試器20的控制器 40，控制器40僅在接收到合格的測試結(jié)果時控制標(biāo)記器30對電路板進(jìn)行標(biāo)記。請一并參閱圖1和圖4，使用本技術(shù)方案實施例提供的電路板測試裝置100進(jìn)行測 試時，可包括以下步驟首先，提供一待測試的電路板200。所述電路板200具有相對的第一待測面201和 第二待測面202。所述第一待測面201用于與第一測試板21的第一測試面211相對，且其 上具有與所述至少一個第一探針212相對應(yīng)的至少一個第一待測點203。第二待測面202 用于與第二測試板22的第二測試面221相對，其上也具有與第二測試板22的至少一個第 二探針222相對應(yīng)的至少一個第二待測點204?？梢岳斫猓谝粶y試板21與第二測試板22 的探針的分布可根據(jù)待測試的電路板22的型號作相應(yīng)設(shè)計。其次，使電路板200的第一待測面201與第一測試面211相對，并使其至少一個第 一待測點203與所述至少一個第一探針212 —一對應(yīng)接觸，將所述電路板200固定于第一 測試板21上。再次，使第二測試板22向靠近第一測試板21方向移動，直至所述第二測試面221 的至少一個第二探針222與第二待測面202的至少一個第二待測點204 —一對應(yīng)接觸，并 對電路板200進(jìn)行測試。測試完成后，將測試結(jié)果輸出至控制器40。具體地，可采用手動或 機械驅(qū)動的方式使第二測試板22沿滑軌12向靠近第一測試板21方向移動。最后，所述控制器40接收測試器20的測試結(jié)果，若測試結(jié)果為合格，控制器40驅(qū) 動所述標(biāo)記器30的驅(qū)動件31，即控制進(jìn)氣裝置310向氣缸體311內(nèi)充入氣體，活塞桿312 在該作用下沿氣缸體311的中心軸線向靠近電路板200的方向移動，所述標(biāo)記件32在驅(qū)動 件31的帶動下與電路板200的第二待測面202相接觸，從而對電路板200作標(biāo)記。若測試 結(jié)果為不合格，可直接將該電路板200移至廢料區(qū)。可以理解，所述標(biāo)記器30可對應(yīng)設(shè)置于第二待測面202的非線路區(qū)域上方，以避 免標(biāo)記器30在電路板200的線路區(qū)域作標(biāo)記，影響到電路板200的性能。當(dāng)然，所述標(biāo)記器30不一定設(shè)置于第二測試板22，若第一測試板21開設(shè)有收容 孔，也可將標(biāo)記器30設(shè)置于第一測試板21。采用本技術(shù)方案提供的電路板測試裝置100測試電路板200合格的同時能實現(xiàn)同 步標(biāo)記，即利用同一設(shè)備完成測試和標(biāo)記，由此避免人為混淆不合格電路板和合格電路板， 并大大提高生產(chǎn)效率。以上對本技術(shù)方案的電路板測試裝置進(jìn)行了詳細(xì)描述，但不能理解為是對本技術(shù) 方案構(gòu)思的限制。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本技術(shù)方案的技術(shù)構(gòu)思做出 其它各種相應(yīng)的改變與變形，而所有改變與變形都應(yīng)屬于本申請權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求一種電路板測試裝置，包括用于對電路板的性能進(jìn)行測試的測試器，其特征在于，所述電路板測試裝置還包括控制器和標(biāo)記器，所述標(biāo)記器包括可拆卸地連接于一起的驅(qū)動件和標(biāo)記件，所述控制器與所述測試器及標(biāo)記器相連接，所述控制器用于接收來自測試器的測試結(jié)果，并在測試結(jié)果為合格時控制標(biāo)記器的驅(qū)動件驅(qū)動標(biāo)記件接觸電路板以對電路板作標(biāo)記。
2.如權(quán)利要求1所述的電路板測試裝置，其特征在于，所述測試器包括相對設(shè)置的第 一測試板和第二測試板，所述第二測試板具有貫穿其相對的兩個表面的收容孔，所述標(biāo)記 器設(shè)置于所述收容孔，所述標(biāo)記件位于靠近第一測試板的一側(cè)。
3.如權(quán)利要求2所述的電路板測試裝置，其特征在于，所述電路板測試裝置還包括機 臺，所述機臺包括承載板和垂直于所述承載板設(shè)置的滑軌，所述測試器的第一測試板設(shè)置 于所述承載板，所述第二測試板可滑動地設(shè)置于所述滑軌。
4.如權(quán)利要求2所述的電路板測試裝置，其特征在于，所述第一測試板具有靠近第二 測試板的第一測試面，所述第一測試面具有至少一個第一探針，所述第二測試板具有靠近 第一測試板的第二測試面，所述第二測試面具有至少一個第二探針，所述至少一個第一探 針和至少一個第二探針均用于與電路板上的測試點相接觸以對電路板進(jìn)行測試。
5.如權(quán)利要求1所述的電路板測試裝置，其特征在于，所述驅(qū)動件包括進(jìn)氣裝置、氣缸 體和活塞桿，所述進(jìn)氣裝置用于向所述氣缸體內(nèi)輸入氣體，所述控制器連接于所述進(jìn)氣裝 置并對其進(jìn)行控制，所述活塞桿設(shè)置于氣缸體內(nèi)，且可沿氣缸體的中心軸線移動，所述標(biāo)記 件連接于所述活塞桿，用于在活塞桿的帶動下靠近或遠(yuǎn)離電路板。
6.如權(quán)利要求5所述的電路板測試裝置，其特征在于，所述驅(qū)動件的活塞桿具有第一 螺紋，所述標(biāo)記件具有與所述第一螺紋相匹配的第二螺紋，所述標(biāo)記件通過所述第二螺紋 與第一螺紋之間的配合連接于所述活塞桿。
7.如權(quán)利要求1所述的電路板測試裝置，其特征在于，所述標(biāo)記器還包括磁性連接器， 所述磁性連接器包括設(shè)置于所述驅(qū)動件的第一磁體和設(shè)置于所述標(biāo)記件的第二磁體，所述 第一磁體和第二磁體具有相互作用的磁力。
8.如權(quán)利要求7所述的電路板測試裝置，其特征在于，所述磁性連接器連接于所述驅(qū) 動件和標(biāo)記件之間，所述第一磁體與所述驅(qū)動件固定接觸，所述第二磁體與所述標(biāo)記件固 定接觸。
9.如權(quán)利要求7所述的電路板測試裝置，其特征在于，所述第一磁體為磁鐵，第二磁體 包括鐵、鈷或鎳。
10.如權(quán)利要求7所述的電路板測試裝置，其特征在于，所述驅(qū)動件和標(biāo)記件通過螺紋 可拆卸地配合連接。
專利摘要本實用新型涉及一種電路板測試裝置，包括測試器、控制器和標(biāo)記器。所述測試器用于對電路板的性能進(jìn)行測試。所述標(biāo)記器包括可拆卸地連接于一起的驅(qū)動件和標(biāo)記件。所述控制器與所述測試器及標(biāo)記器相連接，用于接收來自測試器的測試結(jié)果，并在測試結(jié)果為合格時控制標(biāo)記器的驅(qū)動件驅(qū)動標(biāo)記件接觸電路板以對電路板作標(biāo)記。
文檔編號H05K3/00GK201589851SQ200920310088
公開日2010年9月22日 申請日期2009年9月10日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月10日
發(fā)明者丘文榮, 李燕, 連云飛, 陳文村 申請人:富葵精密組件(深圳)有限公司;鴻勝科技股份有限公司