專利名稱：檢查電路板及其設(shè)備的方法、設(shè)備、系統(tǒng)、程序和介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于檢查電路板和檢查結(jié)合有電路板的設(shè)備的技術(shù)，尤其涉及一種用于確定電路板和結(jié)合有電路板的設(shè)備的可接受性的方法、設(shè)備、系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)程序以及介質(zhì)。
背景技術(shù)：
為了確定電路板或結(jié)合電路板的設(shè)備的可接受性，通常在電路板上或設(shè)備上連接檢查設(shè)備。
在一個(gè)示例中，檢查設(shè)備向電路板輸入測(cè)試數(shù)據(jù)，并且將通過電路板輸出的處理過的數(shù)據(jù)與預(yù)定的參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較?；诒容^結(jié)果，檢查設(shè)備檢查電路板的可接受性以及設(shè)備的可接受性。
在另一個(gè)示例中，檢查設(shè)備向被檢查設(shè)備輸入測(cè)試數(shù)據(jù)，并且將通過所述被檢查設(shè)備輸出的處理過的數(shù)據(jù)與預(yù)定的參考數(shù)據(jù)直觀地比較。
但是由于檢查是基于電路板或者設(shè)備任意一個(gè)進(jìn)行的，因此上述任何一種方法都不能判別故障是否是由電路板或設(shè)備引起的。此外，當(dāng)電路板包括多個(gè)功能塊時(shí)，要指明實(shí)際引起故障的功能塊是很困難的。
除上述缺點(diǎn)外，傳統(tǒng)的檢查設(shè)備在兼容性方面還存在問題。為了給要被檢查的電路板或設(shè)備提供合適的測(cè)試數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)，通常檢查設(shè)備被制作成針對(duì)電路板或設(shè)備的每一種類型。因而，希望實(shí)現(xiàn)一種能夠檢查多種被檢查項(xiàng)的通用檢查設(shè)備。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于到以上內(nèi)容，本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種能夠識(shí)別故障原因的用于檢查電路板和檢查結(jié)合有電路板的設(shè)備的技術(shù)。
本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種能檢查多種電路板和設(shè)備的技術(shù)。
在一示例中，可以使用一種用于檢查被檢查項(xiàng)的可接受性的新型檢查設(shè)備來(lái)實(shí)現(xiàn)這種技術(shù)。
這種新型的檢查設(shè)備包括控制器、存儲(chǔ)裝置、測(cè)試數(shù)據(jù)輸入裝置、參考數(shù)據(jù)輸入裝置、測(cè)試數(shù)據(jù)輸出裝置、處理過的數(shù)據(jù)輸入裝置、地址管理器、以及數(shù)據(jù)比較器。
控制器提供包括至少一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)集，和包括至少一個(gè)參考數(shù)據(jù)的參考數(shù)據(jù)集。這些數(shù)據(jù)集可以由控制器本身或其它任何通過網(wǎng)絡(luò)與控制器連接的器件產(chǎn)生，例如只要與從被檢查項(xiàng)獲得的特征信息相應(yīng)地產(chǎn)生它們即可。
存儲(chǔ)裝置具有第一數(shù)據(jù)區(qū)、第二數(shù)據(jù)區(qū)、以及第三數(shù)據(jù)區(qū)。
測(cè)試數(shù)據(jù)輸入裝置從控制器中提取測(cè)試數(shù)據(jù)，并且將其存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置的第一數(shù)據(jù)區(qū)。同時(shí)，參考數(shù)據(jù)輸入裝置從控制器中提取參考數(shù)據(jù)，并且將其存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置的第二數(shù)據(jù)區(qū)。
測(cè)試數(shù)據(jù)輸出裝置從第一數(shù)據(jù)區(qū)中提取測(cè)試數(shù)據(jù)，并且將其提供給被檢查項(xiàng)。然后被檢查項(xiàng)使用測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)產(chǎn)生處理過的數(shù)據(jù)。
處理過的數(shù)據(jù)輸入裝置接收來(lái)自被檢查項(xiàng)的處理過的數(shù)據(jù)，并且將其存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置的第三數(shù)據(jù)區(qū)。
地址管理器獲得地址信息，這些地址信息分別表示第一數(shù)據(jù)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)的位置、第二數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的參考數(shù)據(jù)的位置、以及第三數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的處理過的數(shù)據(jù)的位置，并且存儲(chǔ)這些用于以后的參考。
數(shù)據(jù)比較器為了進(jìn)行比較，使用地址信息從存儲(chǔ)裝置中提取處理過的數(shù)據(jù)以及相應(yīng)的參考數(shù)據(jù)。基于比較結(jié)果，數(shù)據(jù)比較器能夠確定被檢查項(xiàng)的可接受性。
除去以上操作外，當(dāng)被檢查項(xiàng)使用與新型檢查設(shè)備的位寬不同的位寬操作時(shí)，新型檢查設(shè)備能夠轉(zhuǎn)換測(cè)試數(shù)據(jù)和處理過的數(shù)據(jù)。
在另一示例中，新型檢查設(shè)備可以在多種位寬選項(xiàng)中，比較處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)。
在另一示例中，新型檢查設(shè)備可以基于檢測(cè)到的故障數(shù)量，確定被檢查項(xiàng)的可接受性。例如，當(dāng)故障數(shù)量超過預(yù)定值時(shí)，確定被檢查項(xiàng)存在故障。
在另一示例中，新型檢查設(shè)備可以使用地址信息，識(shí)別引起故障的被檢查項(xiàng)的特定部分。
除去已描述的新型檢查設(shè)備外，本專利說(shuō)明書可以結(jié)合在許多其它的特定形式中，包括系統(tǒng)、方法、計(jì)算器程序以及介質(zhì)，這對(duì)于相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)講是顯而易見的，而且不脫離本發(fā)明的精神和范圍。


在結(jié)合附圖考慮的同時(shí)通過參照以下的詳細(xì)描述，可以很容易地獲知并且更好地理解所公開內(nèi)容的更加完整的評(píng)價(jià)以及本發(fā)明附帶的更多的優(yōu)點(diǎn)，其中圖1是說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的檢查系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意方塊圖；圖2是說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明另一優(yōu)選實(shí)施例的檢查系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意方塊圖；圖3是說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明另一優(yōu)選實(shí)施例的檢查系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意方塊圖；圖4是說(shuō)明由圖3的檢查系統(tǒng)執(zhí)行的測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換操作的示意圖；圖5是說(shuō)明由圖3的檢查系統(tǒng)執(zhí)行的處理過的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換操作的示意圖；圖6是說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的檢查系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意方塊圖；圖7是說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的檢查系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意方塊圖；圖8是說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的檢查系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意方塊圖；圖9是說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的檢查系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意方塊圖；圖10是由圖9的檢查系統(tǒng)產(chǎn)生的示范性數(shù)據(jù)文件；圖11是說(shuō)明由本發(fā)明的任一檢查系統(tǒng)執(zhí)行的示范性比較操作的示意圖；圖12是說(shuō)明由本發(fā)明的任一檢查系統(tǒng)執(zhí)行的比較結(jié)果的示范性存儲(chǔ)操作的示意圖；圖13是說(shuō)明由本發(fā)明的任一檢查系統(tǒng)執(zhí)行的示范性屏蔽操作的示意圖；和圖14是說(shuō)明本發(fā)明的任一檢查系統(tǒng)執(zhí)行的示范性比較操作的示意圖。
具體實(shí)施例方式
為清楚起見，在對(duì)附圖中所示的優(yōu)選實(shí)施例的詳細(xì)描述中，采用特殊的術(shù)語(yǔ)。但是，本發(fā)明說(shuō)明書所公開的內(nèi)容并不旨在限制為特定的所選擇的術(shù)語(yǔ)，應(yīng)該理解每一特定的元件都包括操作方式與其相似的所有等價(jià)物。現(xiàn)在參照附圖，其中相同的附圖標(biāo)記表示在所有附圖中相同或相似的部分，尤其圖1，是對(duì)根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的檢查系統(tǒng)1的說(shuō)明。
檢查系統(tǒng)1包括具有電路板31的被檢查設(shè)備30，和能夠檢查電路板31的可接受性的檢查設(shè)備10。此外，檢查設(shè)備10可以基于電路板31的可接受性來(lái)確定被檢查設(shè)備30的可接受性。
電路板31具有多個(gè)功能塊，每個(gè)塊都具有特定的功能。這些功能塊的全部功能決定了電路板31的特性。功能塊的數(shù)量取決于電路板的類型，然而，為了便于說(shuō)明，假設(shè)圖1的電路板31包括三個(gè)功能塊，31a、31b和31c。
檢查設(shè)備10包括控制器11、測(cè)試數(shù)據(jù)輸入裝置12、參考數(shù)據(jù)輸入裝置13、存儲(chǔ)器14、測(cè)試數(shù)據(jù)輸出裝置18、處理過的數(shù)據(jù)輸入裝置19、數(shù)據(jù)比較器20、以及地址管理器21。存儲(chǔ)器14包括測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)15、參考數(shù)據(jù)區(qū)16、以及處理過的數(shù)據(jù)區(qū)17。
在操作時(shí)，控制器11獲得有關(guān)被檢查設(shè)備30的特性(特征信息)的信息，并且根據(jù)被檢查設(shè)備30的特征信息產(chǎn)生一組測(cè)試數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)。特征信息包括，例如關(guān)于電路板31的結(jié)構(gòu)方面的信息，諸如引腳數(shù)數(shù)量。
測(cè)試數(shù)據(jù)輸入裝置12將測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器14的測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)15。參考數(shù)據(jù)輸入裝置13將參考數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器14的參考數(shù)據(jù)區(qū)16。同時(shí)，地址管理器21分別獲取測(cè)試數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)的地址信息。這些地址信息指明，例如測(cè)試數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)的實(shí)際位置和數(shù)據(jù)長(zhǎng)度。
測(cè)試數(shù)據(jù)輸出裝置18從測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)15取出測(cè)試數(shù)據(jù)，并且將其發(fā)送給被檢查設(shè)備30的電路板31。電路板31使用功能塊31a至31c，產(chǎn)生與接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)相應(yīng)的處理過的數(shù)據(jù)。
處理過的數(shù)據(jù)輸入裝置19接收從電路板31輸出的處理過的數(shù)據(jù)，并且將其存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器14的處理過的數(shù)據(jù)區(qū)17。同時(shí)，地址管理器21獲取處理過的數(shù)據(jù)的地址信息。
數(shù)據(jù)比較器20使用存儲(chǔ)在地址管理器21中的地址信息，以位為基礎(chǔ)比較處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)。然后數(shù)據(jù)比較器20基于比較結(jié)果，確定電路板31的可接受性。更確切的說(shuō)，如果處理過的數(shù)據(jù)與參考數(shù)據(jù)匹配，那么數(shù)據(jù)比較器20確定電路板31可接受的。進(jìn)一步，如果電路板31是可接受的，那么數(shù)據(jù)比較器20可以確定結(jié)合有電路板31的被檢查設(shè)備30是可接受的。
數(shù)據(jù)比較器20給控制器11輸出確定結(jié)果?？刂破?1可以在與控制器11相連的顯示裝置(未示出)上顯示確定結(jié)果?？商鎿Q地，控制器11也可以使用與控制器11相連的打印機(jī)(未示出)，在記錄片上記錄確定結(jié)果。
以這種方式，檢查系統(tǒng)1可以檢查多種電路板，而不用改變檢查設(shè)備10的結(jié)構(gòu)。
圖2說(shuō)明了根據(jù)本發(fā)明另一優(yōu)選實(shí)施例的檢查系統(tǒng)100。
檢查系統(tǒng)100包括具有電路板31的被檢查設(shè)備30，和能夠檢查各個(gè)功能塊31a至31c的可接受性的檢查設(shè)備110。此外，檢查設(shè)備110可以基于功能塊31a至31c的可接受性，確定電路板31和/或被檢查設(shè)備30的可接受性。
如圖2所示，檢查設(shè)備110包括控制器111、測(cè)試數(shù)據(jù)輸入裝置112、參考數(shù)據(jù)輸入裝置113、存儲(chǔ)器114、測(cè)試數(shù)據(jù)輸出裝置118、處理過的數(shù)據(jù)輸入裝置119、數(shù)據(jù)比較器120、以及地址管理器121。存儲(chǔ)器114包括測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)115、參考數(shù)據(jù)區(qū)116、以及處理過的數(shù)據(jù)區(qū)117。
參看圖2，將說(shuō)明檢查各個(gè)功能塊31a至31c的可接受性的示例。
控制器111分別獲取功能塊31a至31c的特征信息。然后控制器111產(chǎn)生一組與功能塊31a相應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)115a和參考數(shù)據(jù)116a、一組與功能塊31b相應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)115b和參考數(shù)據(jù)116b、一組與功能塊31c相應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)115c和參考數(shù)據(jù)116c。
測(cè)試數(shù)據(jù)輸入裝置112將測(cè)試數(shù)據(jù)115a至115c存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器114的測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)115。參考數(shù)據(jù)輸入裝置113將參考數(shù)據(jù)116a至116c存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器114的參考數(shù)據(jù)區(qū)116。同時(shí)，地址管理器121分別獲取測(cè)試數(shù)據(jù)115a至115c以及參考數(shù)據(jù)116a至116c的地址信息。
測(cè)試數(shù)據(jù)輸出裝置118取出測(cè)試數(shù)據(jù)115a至115c，并且給功能塊31a、31b和31c分別輸入測(cè)試數(shù)據(jù)115a、115b和115c。
功能塊31a、31b和31c分別產(chǎn)生處理過的數(shù)據(jù)117a、117b和117c，并且將處理過的數(shù)據(jù)117a、117b和117c輸出到處理過的數(shù)據(jù)輸入裝置119。
處理過的數(shù)據(jù)輸入裝置119將處理過的數(shù)據(jù)117a至117c存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器114的處理過的數(shù)據(jù)區(qū)117。
數(shù)據(jù)比較器120以位為基礎(chǔ)，將處理過的數(shù)據(jù)117a、117b和117c分別與參考數(shù)據(jù)116a、116b和116c比較。在此情況中，數(shù)據(jù)比較器120可以使用存儲(chǔ)在地址管理器121中的地址信息?；诒容^結(jié)果，數(shù)據(jù)比較器120確定功能塊31a、31b和31c的可接受性。更確切地說(shuō)，如果處理過的數(shù)據(jù)117a與參考數(shù)據(jù)116a匹配，那么數(shù)據(jù)比較器120確定功能塊31a是可接受的。如果處理過的數(shù)據(jù)117b與參考數(shù)據(jù)116b匹配，那么數(shù)據(jù)比較器120確定功能塊31b是可接受的。如果處理過的數(shù)據(jù)117c與參考數(shù)據(jù)116c匹配，那么數(shù)據(jù)比較器120確定功能塊31c是可接受的。
數(shù)據(jù)比較器120將比較結(jié)果輸出到控制器111。數(shù)據(jù)比較器120可以采用與參照?qǐng)D1所述的方式相似的方式，顯示或記錄確定結(jié)果。
按照這種方式，檢查系統(tǒng)100能夠檢查結(jié)合在電路板31中的每個(gè)功能塊31a至31c的可接受性。
除可以檢查電路板31的所有功能塊31a至31c以外，檢查設(shè)備110也可以檢查三個(gè)功能塊31a至31c中的一個(gè)或兩個(gè)。
例如，如果選擇檢查功能塊31a，那么控制器111可以只產(chǎn)生測(cè)試數(shù)據(jù)115a和參考數(shù)據(jù)116a的集合?？商鎿Q的，控制器111可以產(chǎn)生用于功能塊31b至31c的另外的測(cè)試數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)的集合，并且通過測(cè)試數(shù)據(jù)輸入裝置112或參考數(shù)據(jù)輸入裝置113把它們存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器114內(nèi)。
換句話說(shuō)，由控制器111產(chǎn)生的數(shù)據(jù)數(shù)量取決于檢查系統(tǒng)100的各種因素，諸如用于檢查的功能塊的數(shù)量以及存儲(chǔ)器114的可利用的存儲(chǔ)空間。
進(jìn)一步，當(dāng)檢查功能塊31a時(shí)，測(cè)試數(shù)據(jù)輸出裝置118可以使用存儲(chǔ)在地址管理器121中的地址信息，選擇測(cè)試數(shù)據(jù)115a和參考數(shù)據(jù)116a的集合。
圖3說(shuō)明了根據(jù)本發(fā)明另一優(yōu)選實(shí)施例的檢查系統(tǒng)200。
除檢查設(shè)備210以外，圖3的檢查系統(tǒng)200的結(jié)構(gòu)基本上與圖2所示的檢查系統(tǒng)100的結(jié)構(gòu)相似。更確切地說(shuō)，控制器211、測(cè)試數(shù)據(jù)輸出裝置218和處理過的數(shù)據(jù)輸入裝置219的結(jié)構(gòu)與圖2的檢查設(shè)備110的相應(yīng)裝置的結(jié)構(gòu)不同。
除參看圖2所描述的操作以外，檢查設(shè)備210使用新增加的轉(zhuǎn)換器218a和219a執(zhí)行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換。
例如，如果存儲(chǔ)器114包括64位SDRAM(同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器)，那么電路板31以低于64位的位操作，轉(zhuǎn)換器218a將64位測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為低位測(cè)試數(shù)據(jù)。同樣地，轉(zhuǎn)換器219a將低位處理過的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為64位處理過的數(shù)據(jù)。
圖4說(shuō)明了三種由轉(zhuǎn)換器218a執(zhí)行的由64位測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換到低位測(cè)試數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換情況。更確切的說(shuō)，圖4說(shuō)明了轉(zhuǎn)換為8位測(cè)試數(shù)據(jù)、16位測(cè)試數(shù)據(jù)、和32位測(cè)試數(shù)據(jù)的情況。
現(xiàn)在參看圖4來(lái)說(shuō)明轉(zhuǎn)換64位測(cè)試數(shù)據(jù)的一般操作。
在從測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)115讀出64位測(cè)試數(shù)據(jù)后，轉(zhuǎn)換器218a從控制器211中獲取有關(guān)電路板31的位寬(位寬信息)的信息。在此例中，控制器211預(yù)先存儲(chǔ)這種位寬信息作為部分特征信息。位寬可以定義為表示數(shù)量的最大數(shù)量的位。
基于位寬信息，轉(zhuǎn)換器218a將64位測(cè)試數(shù)據(jù)分割成多個(gè)較小的數(shù)據(jù)段。
然后轉(zhuǎn)換器218a在每個(gè)時(shí)鐘周期輸出每個(gè)數(shù)據(jù)段，一直到所有的數(shù)據(jù)段都輸出給電路板31。
例如，如果電路板31以8位操作，那么轉(zhuǎn)換器218a將64位測(cè)試數(shù)據(jù)分割成8個(gè)數(shù)據(jù)段，如圖4所示。第一個(gè)數(shù)據(jù)段在第一時(shí)鐘(“時(shí)鐘0”)輸出給電路板31。第二數(shù)據(jù)段在第二時(shí)鐘(“時(shí)鐘1”)輸出給電路板31。這個(gè)過程一直重復(fù)，直到最后一個(gè)數(shù)據(jù)段在第八時(shí)鐘(“時(shí)鐘7”)輸出給電路板31。
相似地，如果電路板31以16位操作，那么轉(zhuǎn)換器218a將64位測(cè)試數(shù)據(jù)分割成4個(gè)數(shù)據(jù)段，如圖4所示。進(jìn)一步，如果電路板31以32位操作，那么轉(zhuǎn)換器218a將64位數(shù)據(jù)分割成兩個(gè)數(shù)據(jù)段，如圖4所示。
轉(zhuǎn)換操作完成后，低位測(cè)試數(shù)據(jù)輸出給電路板31，并產(chǎn)生低位處理過的數(shù)據(jù)。
現(xiàn)在參看圖5，解釋由低位處理過的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換到64位處理過的數(shù)據(jù)的一般的轉(zhuǎn)換操作。
圖5說(shuō)明了三種由轉(zhuǎn)換器219a執(zhí)行的低位處理過的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為64位處理過的數(shù)據(jù)的示范性情況。更確切地說(shuō)，圖5說(shuō)明了8位處理過的數(shù)據(jù)、16位處理過的數(shù)據(jù)、以及32位處理過的數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換情況。
轉(zhuǎn)換器219a從電路板31一位一位地接受低位處理過的數(shù)據(jù)，并且將處理過的數(shù)據(jù)的位存儲(chǔ)在寄存器(未示出)中。如果存儲(chǔ)在寄存器中的位數(shù)達(dá)到64位，那么轉(zhuǎn)換器219a將處理過的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)位形成為64位處理過的數(shù)據(jù)，并且將其立刻傳送給存儲(chǔ)器114。
例如，如果電路板31以8位操作，那么轉(zhuǎn)換器219a在寄存器內(nèi)累積8位處理過的數(shù)據(jù)，直到累積的位達(dá)到64位。這增加了檢查系統(tǒng)200的總體性能。
在以上任意一個(gè)示例中，分別產(chǎn)生測(cè)試數(shù)據(jù)、參考數(shù)據(jù)、和處理過的數(shù)據(jù)。只要處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)匹配，那么這些數(shù)據(jù)中的任何一種數(shù)據(jù)都可以表示為信號(hào)、圖樣、和/或圖像等。
例如，上述任何一種檢查系統(tǒng)都可以另外包括圖樣產(chǎn)生器。此圖樣產(chǎn)生器能夠產(chǎn)生圖樣數(shù)據(jù)，這些圖樣數(shù)據(jù)可以用作測(cè)試數(shù)據(jù)和/或參考數(shù)據(jù)。在這種情形下，電路板31產(chǎn)生處理過的圖樣數(shù)據(jù)。
此外，在上述任何一種檢查系統(tǒng)中，測(cè)試數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)的集合可以根據(jù)從被檢查設(shè)備接受到的特征信息，由控制器產(chǎn)生。但是，控制器也可以從檢查系統(tǒng)的外部獲得這些數(shù)據(jù)集合。
在一個(gè)示例中，控制器可以從結(jié)合有正常操作的主電路板的設(shè)備獲取數(shù)據(jù)集合。
圖6說(shuō)明了根據(jù)本發(fā)明另一優(yōu)選實(shí)施例的檢查系統(tǒng)300。檢查系統(tǒng)300包括信息處理器件301、檢查設(shè)備210、和目標(biāo)圖像處理器330。在此示例中，檢查系統(tǒng)300使用檢查設(shè)備210，但是也可以使用根據(jù)本發(fā)明的上述任何一種或其他的檢查設(shè)備。
檢查設(shè)備210使用由圖像形成裝置301產(chǎn)生的數(shù)據(jù)集合，檢查目標(biāo)圖像處理器330的可接受性。
正常操作的圖像形成裝置301包括掃描器302、圖像處理器303、以及打印機(jī)304。
如圖6所示，掃描器302的輸出端子連接到存儲(chǔ)器114的測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)115的輸入端子。測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)115的輸出端子連接到目標(biāo)圖像處理器330的輸入端子。目標(biāo)圖像處理器330的輸出端子連接在處理過的數(shù)據(jù)117的輸入端子。圖像處理器303的輸出端子連接到存儲(chǔ)器114的參考數(shù)據(jù)區(qū)116的輸入端子。
在操作時(shí)，檢查設(shè)備210獲取由掃描器302產(chǎn)生的測(cè)試數(shù)據(jù)，將其存儲(chǔ)在測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)115，并且將其輸出給目標(biāo)圖像處理器330。
目標(biāo)圖像處理器330使用這個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)產(chǎn)生處理過的數(shù)據(jù)，并且將其存儲(chǔ)在處理過的數(shù)據(jù)區(qū)117。
此外，檢查設(shè)備210獲取由圖像處理器303產(chǎn)生的參考數(shù)據(jù)，并且將其存儲(chǔ)在參考數(shù)據(jù)區(qū)116。
檢查設(shè)備210比較存儲(chǔ)在處理過的數(shù)據(jù)區(qū)117的處理過的數(shù)據(jù)和存儲(chǔ)在參考數(shù)據(jù)區(qū)116內(nèi)的參考數(shù)據(jù)?；诒容^結(jié)果，檢查設(shè)備210確定目標(biāo)圖像處理器330的可接受性。
此外，在此操作中，可以向打印機(jī)304輸出處理過的數(shù)據(jù)，從而打印用于可視檢查的實(shí)際處理過的數(shù)據(jù)。
使用此結(jié)構(gòu)，可以在基本相同的環(huán)境下比較目標(biāo)圖像處理器330和圖像處理器303。
圖7說(shuō)明了根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的檢查系統(tǒng)400。除設(shè)置取代了目標(biāo)圖像處理器330的用于檢查的目標(biāo)掃描器430外，檢查系統(tǒng)400基本上與檢查系統(tǒng)300相似。由于目標(biāo)掃描器430使用模擬數(shù)據(jù)，因此附加提供了A/D(模擬-數(shù)字)轉(zhuǎn)換器405、和D/A(數(shù)字-模擬)轉(zhuǎn)換器431。
在操作時(shí)，檢查設(shè)備210獲取由掃描器302使用的測(cè)試數(shù)據(jù)，將模擬測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為數(shù)字測(cè)試數(shù)據(jù)，并且將其存儲(chǔ)在測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)115。通過D/A轉(zhuǎn)換器431將數(shù)字轉(zhuǎn)換成模擬后，然后將測(cè)試數(shù)據(jù)輸出到目標(biāo)掃描器430。
目標(biāo)掃描器430使用這個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)產(chǎn)生處理過的數(shù)據(jù)，并且將其存儲(chǔ)在處理過的數(shù)據(jù)區(qū)117。
此外，檢查設(shè)備210獲取由掃描器302產(chǎn)生的參考數(shù)據(jù)，并且將其存儲(chǔ)在參考數(shù)據(jù)區(qū)116。
檢查設(shè)備210比較存儲(chǔ)在處理過的數(shù)據(jù)區(qū)117中的處理過的數(shù)據(jù)和存儲(chǔ)在參考數(shù)據(jù)區(qū)116中的參考數(shù)據(jù)?；诒容^結(jié)果，檢查設(shè)備210確定目標(biāo)掃描器430的可接受性。
而且，在該操作時(shí)，處理過的數(shù)據(jù)可以被輸出給圖像處理器303的輸入端子，并且進(jìn)一步被輸出給打印機(jī)304。按照這種方式，可以記錄用于可視檢查的實(shí)際處理過的數(shù)據(jù)。
圖8說(shuō)明了根據(jù)本發(fā)明另一優(yōu)選實(shí)施例的檢查系統(tǒng)500。除去設(shè)置了取代目標(biāo)掃描器430的用于檢查的打印機(jī)530外，檢察系統(tǒng)500基本上與檢查系統(tǒng)400相似。由于目標(biāo)打印機(jī)530也使用模擬數(shù)據(jù)，因此取代A/D轉(zhuǎn)換器405和D/A轉(zhuǎn)換器431而提供A/D轉(zhuǎn)換器505和531。
在操作時(shí)，檢查設(shè)備210獲取由打印機(jī)304要使用的測(cè)試數(shù)據(jù)，將其存儲(chǔ)在測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)115，并且將其輸出給目標(biāo)打印機(jī)530。
目標(biāo)打印機(jī)530使用該測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)產(chǎn)生處理過的數(shù)據(jù)，并且在通過A/D轉(zhuǎn)換器531將處理過的數(shù)據(jù)由模擬轉(zhuǎn)換為數(shù)字后，將其存儲(chǔ)在處理過的數(shù)據(jù)區(qū)117。
此外，檢察器件210獲得由打印機(jī)304產(chǎn)生的參考數(shù)據(jù)，在通過A/D轉(zhuǎn)換器505將其從模擬轉(zhuǎn)換為數(shù)字后，將其存儲(chǔ)在參考數(shù)據(jù)區(qū)116。
檢查設(shè)備210比較存儲(chǔ)在處理過的數(shù)據(jù)區(qū)117內(nèi)的處理過的數(shù)據(jù)和存儲(chǔ)在參考數(shù)據(jù)區(qū)116中的參考數(shù)據(jù)?；谠摫容^結(jié)果，檢查設(shè)備210確定目標(biāo)打印機(jī)530的可接受性。
在該操作時(shí)，處理過的數(shù)據(jù)可以不用轉(zhuǎn)換就直接輸出為模擬數(shù)據(jù)，與模擬參考數(shù)據(jù)作可視地比較。
如上所述，只要可以用作被檢查電路板的主板，任何類型的設(shè)備都可連接在檢查系統(tǒng)上。
在另一個(gè)實(shí)施例中，控制器可以從檢查系統(tǒng)的外部獲得數(shù)據(jù)集合作為數(shù)據(jù)文件。
圖9說(shuō)明了檢查系統(tǒng)600，其中在圖3的檢查系統(tǒng)200上連接主機(jī)設(shè)備601。在此示范性情形中，主機(jī)設(shè)備601根據(jù)被檢查設(shè)備30的特征信息產(chǎn)生測(cè)試數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)的集合。主機(jī)設(shè)備601可以連接在本發(fā)明的上述任何一種系統(tǒng)或其他的檢查系統(tǒng)上。
參看圖9，主機(jī)設(shè)備601主要包括CPU(中央處理單元)、輸入裝置、顯示裝置、RAM(隨機(jī)可存取存儲(chǔ)器)、HDD(硬盤驅(qū)動(dòng))、以及通信I/F(接口)。
CPU控制主機(jī)設(shè)備601的整個(gè)操作。輸入裝置允許用戶給CPU輸入命令，并且包括例如鍵盤和鼠標(biāo)。顯示裝置顯示從CPU輸出的各種信息，并且包括例如液晶顯示器。特別是，在此示例中，顯示裝置可以顯示由檢查設(shè)備210的比較器120產(chǎn)生的比較和/或確定結(jié)果。RAM例如是CPU使用的操作存儲(chǔ)器。HDD存儲(chǔ)包括用于檢查被檢查設(shè)備30的程序的各種程序，以及存儲(chǔ)包括檢查設(shè)備210要使用的數(shù)據(jù)集的數(shù)據(jù)文件。通信I/F允許與其他設(shè)備，諸如檢查設(shè)備210，通過網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行雙向通信。
如上所述，主機(jī)設(shè)備601能夠根據(jù)被檢查設(shè)備30的特征信息產(chǎn)生數(shù)據(jù)集合。圖10說(shuō)明了由主機(jī)設(shè)備601產(chǎn)生的數(shù)據(jù)文件的示例。如圖10所示，數(shù)據(jù)文件包括頭標(biāo)部分，其具有包括例如特征信息的各種信息。數(shù)據(jù)文件還包括數(shù)據(jù)區(qū)部分，其包括實(shí)際的數(shù)據(jù)集合和數(shù)據(jù)集的地址信息。
另外，主機(jī)設(shè)備601可以具有確定由轉(zhuǎn)換器218a和或219a執(zhí)行的位寬轉(zhuǎn)換的功能。換句話說(shuō)，主機(jī)設(shè)備601在功能上部分地充當(dāng)控制器。另外，主機(jī)設(shè)備601可以作用為檢查控制中心，例如能夠通過網(wǎng)絡(luò)遠(yuǎn)程控制被檢查設(shè)備的大范圍的檢查。
結(jié)合有美國(guó)專利申請(qǐng)公開號(hào)2002/007 8266中公開的軟件程序的任何設(shè)備都可以用作主機(jī)設(shè)備601，在此援引該專利全文以作參考。
參看圖11，說(shuō)明本發(fā)明的上述任何一種以及其他比較器(其后，簡(jiǎn)單地稱為“比較器”)的操作和總體結(jié)構(gòu)。如上所述，比較器能夠大范圍地檢查被檢查項(xiàng)目，包括被檢查設(shè)備、電路板、以及功能塊(此后，統(tǒng)稱為“被檢查項(xiàng)目”)。
在此示例中，采用具有四種彩色平面的測(cè)試圖像作為測(cè)試數(shù)據(jù)。測(cè)試圖像包括藍(lán)綠色測(cè)試平面、紅紫色測(cè)試平面、黃色測(cè)試平面、以及黑色測(cè)試平面。為了便于說(shuō)明，圖11的比較器以16位寬操作。
相應(yīng)于該測(cè)試圖像，產(chǎn)生具有四個(gè)數(shù)據(jù)段的參考數(shù)據(jù)，如圖11所示。更確切地，參考數(shù)據(jù)包括藍(lán)綠色參考數(shù)據(jù)段Cr、紅紫色參考數(shù)據(jù)段Mr、黃色參考數(shù)據(jù)段Yr、以及黑色參考數(shù)據(jù)段Kr。
另外，相應(yīng)于測(cè)試圖像，產(chǎn)生具有四個(gè)數(shù)據(jù)段的處理過的數(shù)據(jù)，如圖11所示。更確切的，處理過的數(shù)據(jù)包括藍(lán)綠色數(shù)據(jù)段Cp、紅紫色處理過的數(shù)據(jù)段Mp、黃色處理過的數(shù)據(jù)段Yp、黑色處理過的數(shù)據(jù)段Kr。
在操作時(shí)，比較器為了進(jìn)行比較，使用存儲(chǔ)在地址管理器中的地址信息，提取藍(lán)綠色處理過的數(shù)據(jù)段Cp、紅紫色參考數(shù)據(jù)段Cr。然后比較器產(chǎn)生值為0或1的比較結(jié)果1。更確切的，如果藍(lán)綠色處理過的數(shù)據(jù)段Cp與藍(lán)綠色參考數(shù)據(jù)段Cr匹配，那么比較結(jié)果為0，否則比較結(jié)果為1。
相似地，比較器能夠產(chǎn)生分別用于其他顏色數(shù)據(jù)段的比較結(jié)果2，3，4?；诒容^結(jié)果1至4，比較器能夠確定引起故障的被檢查項(xiàng)的特定部分。例如，如果比較結(jié)果1的值為1，那么確定控制黃色數(shù)據(jù)線的部分具有故障。
在此示范性情形中，如上所述比較器以16位為基礎(chǔ)進(jìn)行比較，但是比較器也可以比較任何位寬。換句話說(shuō)，比較器可以根據(jù)由控制器或主機(jī)設(shè)備601定義的位寬的數(shù)量，在邏輯上將數(shù)據(jù)分割成多個(gè)較小的數(shù)據(jù)段。
另外，比較結(jié)果1至4可以存儲(chǔ)在設(shè)置于比較器內(nèi)的寄存器(未示出)中，用于確定被檢查項(xiàng)的可接受性。
例如，對(duì)于每次以特定位寬進(jìn)行的比較，可以由計(jì)數(shù)器(未示出)對(duì)標(biāo)定值為1的比較結(jié)果的數(shù)量(誤差數(shù))計(jì)數(shù)。使用該誤差數(shù)，比較器可以確定被檢查項(xiàng)的可接受性。例如，如果誤差數(shù)超過預(yù)定值，那么比較器確定被檢查項(xiàng)存在故障。
除存儲(chǔ)誤差數(shù)外，比較器也可以存儲(chǔ)與其中檢測(cè)有誤差的實(shí)際地址有關(guān)的信息，例如誤差的偏移地址，其表示了從開始比較的地址(“開始地址”)開始計(jì)數(shù)的地址。
圖12說(shuō)明了在存儲(chǔ)器114中存儲(chǔ)該偏移地址的操作的示例。
如圖12所示，存儲(chǔ)器114包括存儲(chǔ)處理過的數(shù)據(jù)的處理過的數(shù)據(jù)區(qū)117，以及存儲(chǔ)參考數(shù)據(jù)的參考數(shù)據(jù)區(qū)116。
為了比較處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)，從朝向上箭頭所示方向的位置A開始，一個(gè)接一個(gè)地取出處理過的數(shù)據(jù)的位。同時(shí)，從朝向下箭頭所示方向的位置B開始，一個(gè)接一個(gè)地取出參考數(shù)據(jù)。換句話說(shuō)，位置A相應(yīng)于處理過的數(shù)據(jù)的開始地址。
如果在位置C檢測(cè)出誤差，那么在寄存器中存儲(chǔ)偏移地址D，此地址表示從開始位置開始計(jì)數(shù)的地址。
基于偏移地址和開始地址，即使是在以后的時(shí)間里也能夠識(shí)別出現(xiàn)誤差的位置。
圖11說(shuō)明了以16位寬進(jìn)行比較的示例，但是該比較也可以采用由控制器預(yù)先設(shè)置的任何位寬執(zhí)行。在一個(gè)示例中，比較器可以分別以8位寬、16位寬、32位寬、64位寬比較處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)。每種位寬的比較結(jié)果存儲(chǔ)在寄存器中，作為誤差數(shù)。通過參照誤差數(shù)，控制器可以容易地確定被檢查項(xiàng)的出現(xiàn)故障的部分。
在比較前，采用圖13所示的位屏蔽(bit mask)來(lái)選擇用于比較的位，同時(shí)忽略其他位。
例如，如果圖13所示的位屏蔽設(shè)置OR電路，那么用于比較的位不被屏蔽。也就是說(shuō)，當(dāng)位屏蔽的值為0時(shí)，處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)輸入至比較器，并且不改變它們的初始位值。
另一方面，屏蔽將要被忽略的位。也就是說(shuō)，當(dāng)位屏蔽的值為1時(shí)，處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)都變?yōu)?。向比較器輸入被屏蔽的處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)，但是由于被屏蔽的數(shù)據(jù)總是匹配的，因此不進(jìn)行實(shí)際的比較。
位屏蔽由控制器或是主機(jī)設(shè)備601使用設(shè)置在檢查設(shè)備中的屏蔽寄存器(未示出)預(yù)先設(shè)置。
圖14說(shuō)明了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的比較器的另一種示范性結(jié)構(gòu)。
圖14的比較器包括差分(differential)比較電路91，92，93和94，這些電路能夠糾正在數(shù)據(jù)傳送或是數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換過程中自然發(fā)生的誤差的。
例如，如果從被檢查項(xiàng)中輸出的處理過的數(shù)據(jù)DATA_A從-2至2變化，那么這個(gè)變化可以通過將比較電路91和92的差分值“a”設(shè)置成大于2的值來(lái)消除。然后比較器能夠比較處理過的數(shù)據(jù)DATA_A和參考數(shù)據(jù)m_DATA_A，并且產(chǎn)生比較結(jié)果5。
在上述情形中，差分值(differential value)可以由控制器或是主機(jī)設(shè)備601根據(jù)位寬信息來(lái)定義。換句話說(shuō)，比較器可以預(yù)先存儲(chǔ)用于多種不同位寬的許多差分值。在操作時(shí)，比較器可以相應(yīng)于位寬信息來(lái)選擇差分值。
在上述示教的啟示下，可以作出多種另外的變形和改動(dòng)。因此可以理解在所附如權(quán)利要求的范圍內(nèi)，可以采用在此特別描述的方式以外的其他方式來(lái)實(shí)施本專利說(shuō)明書公開的內(nèi)容。
例如，在本說(shuō)明書以及所述如權(quán)利要求的范圍內(nèi)，在此說(shuō)明的不同實(shí)施例中的元件和/或特征都可以彼此結(jié)合或相互替代。
另外，本發(fā)明可以采用能夠提供上述功能的可編程邏輯裝置來(lái)實(shí)施?？商鎿Q地，本發(fā)明可以采用通過與傳統(tǒng)組件電路的適當(dāng)網(wǎng)絡(luò)互連或是通過與一個(gè)或多個(gè)傳統(tǒng)的通用微處理器和/或相應(yīng)編程的信號(hào)處理器結(jié)合制備而成的ASIC(特定用途集成電路)來(lái)實(shí)施。
本發(fā)明還包括可以寄存于存儲(chǔ)媒介上的基于計(jì)算機(jī)的產(chǎn)品，且包括能夠用于給微處理器編程使其執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明過程的指令。存儲(chǔ)媒介可包括任何類型軟盤、光盤、CD-ROM、磁光盤、ROM、RAM、EPROM、EEPROM、閃存、磁或光卡、或任何適于存儲(chǔ)電子指令的介質(zhì)。
本專利說(shuō)明書以2003年9月30日在日本專利局提交的日本專利申請(qǐng)，申請(qǐng)?zhí)枮镴PAP2003-340381的申請(qǐng)為基礎(chǔ)，在此結(jié)合該專利全文以作參考。
權(quán)利要求
1.一種檢查設(shè)備，用于檢查被檢查項(xiàng)的可接受性，包括獲取被檢查項(xiàng)的特征信息的器件；根據(jù)所述特征信息，生成包括一個(gè)或多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)集的器件；產(chǎn)生包括相應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的一個(gè)或多個(gè)參考數(shù)據(jù)的參考數(shù)據(jù)集的器件；將測(cè)試數(shù)據(jù)集存儲(chǔ)在第一數(shù)據(jù)區(qū)的器件；將參考數(shù)據(jù)集存儲(chǔ)在第二數(shù)據(jù)區(qū)的器件；從所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中選擇測(cè)試數(shù)據(jù)并且從參考數(shù)據(jù)集中選擇相應(yīng)的參考數(shù)據(jù)的器件；向被檢查項(xiàng)輸出所述測(cè)試數(shù)據(jù)，從而使被檢查項(xiàng)生成處理過的數(shù)據(jù)的器件；將處理過的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在第三數(shù)據(jù)區(qū)的器件；獲取地址信息的器件，這些地址信息表示第一數(shù)據(jù)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)的位置，第一數(shù)據(jù)區(qū)中的參考數(shù)據(jù)的位置，以及第一數(shù)據(jù)區(qū)中的處理過的數(shù)據(jù)的位置；關(guān)于地址信息，從存儲(chǔ)裝置中提取處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)的器件；以位為基礎(chǔ)，比較處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)的器件；以及基于所述比較，確定被檢查項(xiàng)的可接受性的器件。
2.如權(quán)利要求1所述的檢查設(shè)備，其中所述比較器件包括在所述比較前，將處理過的數(shù)據(jù)分割成多個(gè)處理過的數(shù)據(jù)段的器件，每個(gè)處理過的數(shù)據(jù)段包含一位處理過的數(shù)據(jù)；在所述比較前，將參考數(shù)據(jù)分割成多個(gè)參考數(shù)據(jù)段的器件，每個(gè)參考數(shù)據(jù)段包含一位參考數(shù)據(jù)；使用所述地址信息，選擇目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段的器件；使用所述地址信息，識(shí)別與目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段相應(yīng)的目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段的器件；比較目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段和目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段的器件；以及基于所述比較，生成數(shù)據(jù)比較結(jié)果的器件。
3.如權(quán)利要求2所述的檢查設(shè)備，其中所述選擇器件包括屏蔽處理過的數(shù)據(jù)段但不屏蔽所選處理過的數(shù)據(jù)段的器件。
4.如權(quán)利要求3所述的檢查設(shè)備，其中所述識(shí)別器件包括屏蔽參考數(shù)據(jù)段但不屏蔽所選的參考數(shù)據(jù)段的器件。
5.如權(quán)利要求2所述的檢查設(shè)備，其中所述比較器件還包括當(dāng)所述數(shù)據(jù)比較結(jié)果表示目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段與目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段匹配時(shí)，給所述數(shù)據(jù)比較結(jié)果指定第一值的器件；以及當(dāng)所述數(shù)據(jù)比較結(jié)果表示目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段與目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段不同時(shí)，給所述數(shù)據(jù)比較結(jié)果指定第二值的器件。
6.如權(quán)利要求5所述的檢查設(shè)備，其中所述比較器件還包括對(duì)用所述第一值指定的多個(gè)數(shù)據(jù)比較結(jié)果計(jì)數(shù)的器件；以及存儲(chǔ)所計(jì)的數(shù)作為誤差數(shù)的器件。
7.如權(quán)利要求6所述的檢查設(shè)備，其中所述比較器件還包括基于所述誤差數(shù)，確定所述被檢查項(xiàng)的可接受性的器件。
8.如權(quán)利要求7所述的檢查設(shè)備，其中當(dāng)所述誤差數(shù)超過預(yù)定值時(shí)，確定器件確定被檢查項(xiàng)存在故障，當(dāng)所述誤差數(shù)等于或低于預(yù)定值時(shí)，確定器件確定被檢查項(xiàng)是可接受的。
9.如權(quán)利要求8所述的檢查設(shè)備，其中所述預(yù)定值是由所述獲取器件預(yù)先定義的。
10.如權(quán)利要求8所述的檢查設(shè)備，其中所述比較器件還包括設(shè)定差分值的器件，該差分值指定所述預(yù)定值。
11.如權(quán)利要求8所述的檢查設(shè)備，其中所述比較器件還包括識(shí)別用第一值指定的數(shù)據(jù)比較結(jié)果的器件；相應(yīng)于數(shù)據(jù)比較結(jié)果的識(shí)別，提取處理過的數(shù)據(jù)段的偏移地址的器件；存儲(chǔ)所述偏移地址的器件；以及識(shí)別歸因于故障的被檢查項(xiàng)的部分的器件。
12.如權(quán)利要求1所述的檢查設(shè)備，進(jìn)一步包括獲取所述檢查設(shè)備操作的位寬的器件；獲取所述被檢查項(xiàng)操作的位寬的器件；比較所述檢查設(shè)備的位寬和所述被檢查項(xiàng)的位寬的器件；以及產(chǎn)生表示位寬比較結(jié)果的位寬信息的器件。
13.如權(quán)利要求12所述的檢查設(shè)備，其中所述獲取器件獲取作為部分特征信息的所述位寬信息。
14.如權(quán)利要求13所述的檢查設(shè)備，當(dāng)所述比較結(jié)果表示被檢查項(xiàng)的位寬低于所述檢查設(shè)備的位寬時(shí)，進(jìn)一步包括將所述測(cè)試數(shù)據(jù)由檢查設(shè)備的位寬轉(zhuǎn)換成被檢查項(xiàng)的位寬的器件；以及將所述處理過的數(shù)據(jù)由被檢查項(xiàng)的位寬轉(zhuǎn)換成檢查設(shè)備的位寬的器件。
15.如權(quán)利要求13所述的檢查設(shè)備，其中所述比較器件包括在所述比較前，將所述處理過的數(shù)據(jù)分割成多個(gè)處理過的數(shù)據(jù)段的器件，其中每段包含多位處理過的數(shù)據(jù)；在所述比較前，將所述參考數(shù)據(jù)分割成多個(gè)參考數(shù)據(jù)段的器件，其中每段包含多位參考數(shù)據(jù)；使用所述地址信息，選擇目標(biāo)處理過的位數(shù)據(jù)段的器件；使用所述地址信息，識(shí)別與目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段相應(yīng)的目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段的器件；比較所述目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段和所述目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段的器件；以及基于所述比較，生成數(shù)據(jù)比較結(jié)果的器件。
16.如權(quán)利要求15所述的檢查設(shè)備，其中根據(jù)所述位寬信息，使得包含在所述處理過的數(shù)據(jù)段中的處理過的數(shù)據(jù)的位數(shù)與包含在所述參考數(shù)據(jù)段內(nèi)的參考數(shù)據(jù)的位數(shù)彼此相同。
17.如權(quán)利要求16所述的檢查設(shè)備，其中所述選擇器件包括屏蔽處理過的數(shù)據(jù)段但不屏蔽所選處理過的數(shù)據(jù)段的器件。
18.如權(quán)利要求17所述的檢查設(shè)備，其中所述識(shí)別器件包括屏蔽參考數(shù)據(jù)段但不屏蔽所選參考數(shù)據(jù)段的器件。
19.如權(quán)利要求15所述的檢查設(shè)備，其中所述比較器件進(jìn)一步包括當(dāng)所述比較表示目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段與目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段相匹配時(shí)，向所述數(shù)據(jù)比較結(jié)果指定第一值的器件；以及當(dāng)所述比較表示目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段與目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段不同時(shí)，向所述數(shù)據(jù)比較結(jié)果指定第二值的器件。
20.如權(quán)利要求19所述的檢查設(shè)備，其中所述比較器件進(jìn)一步包括對(duì)用所述第一值指定的多個(gè)數(shù)據(jù)比較結(jié)果計(jì)數(shù)的器件；以及存儲(chǔ)所計(jì)的數(shù)作為誤差數(shù)的器件。
21.如權(quán)利要求20所述的檢查設(shè)備，其中所述比較器件進(jìn)一步包括基于所述誤差數(shù)，確定被檢查項(xiàng)的可接受性的器件。
22.如權(quán)利要求21所述的檢查設(shè)備，其中當(dāng)所述誤差數(shù)超過預(yù)定值時(shí)，確定器件確定被檢查項(xiàng)存在故障，當(dāng)所述誤差數(shù)等于或小于預(yù)定值時(shí)，確定器件確定被檢查項(xiàng)是可接受的。
23.如權(quán)利要求22所述的檢查設(shè)備，其中所述預(yù)定值是由所述獲取器件預(yù)先定義的。
24.如權(quán)利要求22所述的檢查設(shè)備，其中所述比較器件進(jìn)一步包括設(shè)定差分值的器件，該差分值指定所述預(yù)定值。
25.如權(quán)利要求22所述的檢查設(shè)備，其中所述比較器件進(jìn)一步包括識(shí)別用第一值指定的數(shù)據(jù)比較結(jié)果的器件；提取與識(shí)別的數(shù)據(jù)比較結(jié)果相應(yīng)的、處理過的數(shù)據(jù)段的偏移地址的器件；存儲(chǔ)所述偏移地址的器件；以及識(shí)別歸因于故障的被檢查項(xiàng)的部分的器件。
26.一種檢查系統(tǒng)，包括包含特征信息的目標(biāo)電路板；以及連接到所述目標(biāo)電路板的檢查設(shè)備，其配置為檢查所述目標(biāo)電路板的可接受性，其中所述檢查設(shè)備包括控制器，配置為提供包括至少一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)集和包括至少一個(gè)參考數(shù)據(jù)的參考數(shù)據(jù)集，其是根據(jù)所述目標(biāo)電路板的特征信息產(chǎn)生的；存儲(chǔ)裝置，具有第一數(shù)據(jù)區(qū)，第二數(shù)據(jù)區(qū)，以及第三數(shù)據(jù)區(qū)；測(cè)試數(shù)據(jù)輸入裝置，配置為從所述控制器中提取所述測(cè)試數(shù)據(jù)，并將該測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置的所述第一數(shù)據(jù)區(qū)；參考數(shù)據(jù)輸入裝置，配置為從所述控制器中提取所述參考數(shù)據(jù)，并將該參考數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置的第二數(shù)據(jù)區(qū)；測(cè)試數(shù)據(jù)輸出裝置，配置為從所述存儲(chǔ)裝置的所述第一數(shù)據(jù)區(qū)提取所述測(cè)試數(shù)據(jù)，將該測(cè)試數(shù)據(jù)輸出給目標(biāo)電路板，并且使所述目標(biāo)電路板由所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成處理過的數(shù)據(jù)；處理過的數(shù)據(jù)輸入裝置，配置為從所述目標(biāo)電路板接收處理過的數(shù)據(jù)，并且將處理過的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)裝置的所述第三數(shù)據(jù)區(qū)；地址管理器，配置為存儲(chǔ)表示所述第一數(shù)據(jù)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)的位置、所述第二數(shù)據(jù)區(qū)中的參考數(shù)據(jù)的位置、以及所述第三數(shù)據(jù)區(qū)中的處理過的數(shù)據(jù)的位置的地址信息；以及數(shù)據(jù)比較器，配置為關(guān)于地址信息，從所述存儲(chǔ)裝置中提取處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)，并且以位為基礎(chǔ)比較處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)，以及基于所述比較來(lái)確定目標(biāo)電路板的可接受性。
27.如權(quán)利要求26所述的檢查系統(tǒng)，進(jìn)一步包括通過網(wǎng)絡(luò)與所述檢查設(shè)備連接的主機(jī)設(shè)備。
28.如權(quán)利要求27所述的檢查系統(tǒng)，其中所述主機(jī)設(shè)備包括處理器；以及主機(jī)存儲(chǔ)裝置，配置為存儲(chǔ)多個(gè)指令，當(dāng)處理器執(zhí)行這些指令時(shí)，該指令使得處理器執(zhí)行編程的操作，包括獲取所述目標(biāo)電路板的特征信息；根據(jù)所述特征信息產(chǎn)生所述測(cè)試數(shù)據(jù)集，以及產(chǎn)生與測(cè)試數(shù)據(jù)集相應(yīng)的參考數(shù)據(jù)集；以及發(fā)送所述測(cè)試數(shù)據(jù)集和參考數(shù)據(jù)集給所述檢查設(shè)備作為數(shù)據(jù)文件。
29.如權(quán)利要求28所述的檢查系統(tǒng)，其中所述編程的操作進(jìn)一步包括獲取第一位寬值，該值表示了目標(biāo)電路操作的位寬；以及，獲取第二位寬值，該值表示了檢查設(shè)備操作的位寬數(shù)。
30.如權(quán)利要求29所述的檢查系統(tǒng)，其中所述數(shù)據(jù)比較器在進(jìn)行比較前，將所述處理過的數(shù)據(jù)分割成預(yù)定數(shù)量的處理過的數(shù)據(jù)段，并且將所述參考數(shù)據(jù)分割成預(yù)定數(shù)量的參考數(shù)據(jù)段。
31.如權(quán)利要求30所述的檢查系統(tǒng)，其中所述編程操作進(jìn)一步包括根據(jù)所述第一位寬值和第二位寬值之間的關(guān)系，限定所述預(yù)定數(shù)量。
32.如權(quán)利要求29所述的檢查系統(tǒng)，其中所述測(cè)試數(shù)據(jù)輸出裝置包括第一轉(zhuǎn)換器，配置為當(dāng)所述第二位寬值低于所述第一位寬值時(shí)，將所述測(cè)試數(shù)據(jù)由第一位寬值轉(zhuǎn)換為第二位寬值；以及第二轉(zhuǎn)換器，配置為當(dāng)所述第二位寬值低于所述第一位寬值時(shí)，將處理過的數(shù)據(jù)由第二位寬值轉(zhuǎn)換為第一位寬值。
33.如權(quán)利要求28所述的檢查設(shè)備，其中所述主機(jī)設(shè)備進(jìn)一步包括顯示裝置，配置為顯示包括由處理器生成的數(shù)據(jù)文件以及由檢查設(shè)備生成的比較結(jié)果的各種信息。
34.如權(quán)利要求33所述的檢查系統(tǒng)，其中所述主機(jī)設(shè)備進(jìn)一步包括輸入裝置，配置為向處理器輸入命令。
35.如權(quán)利要求26所述的檢查系統(tǒng)，進(jìn)一步包括具有第一端子和第二端子的主電路板，其中第一端子連接到第一數(shù)據(jù)區(qū)，第二端子連接到第二數(shù)據(jù)區(qū)，該主電路板配置為通過所述控制器分別將所述測(cè)試數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在所述第一數(shù)據(jù)區(qū)和第二數(shù)據(jù)區(qū)。
36.如權(quán)利要求35所述的檢查系統(tǒng)，其中所述目標(biāo)電路板具有圖像處理功能，并且所述主電路板包括要被結(jié)合在圖像形成裝置中的圖像處理器單元。
37.如權(quán)利要求35所述的檢查系統(tǒng)，其中所述目標(biāo)電路板具有掃描功能，并且所述主電路板包括要被結(jié)合在圖像形成裝置中的掃描單元。
38.如權(quán)利要求37所述的檢查系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第一模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器，插在所述主電路板的第一端子和第一數(shù)據(jù)區(qū)之間，其配置為在存儲(chǔ)操作前，將所述測(cè)試數(shù)據(jù)由數(shù)字轉(zhuǎn)換為模擬；以及數(shù)/模轉(zhuǎn)換器，插在第一數(shù)據(jù)區(qū)和目標(biāo)電路板之間，其配置為在輸出操作前，將所述測(cè)試數(shù)據(jù)由數(shù)字轉(zhuǎn)換為模擬。
39.如權(quán)利要求35所述的檢查系統(tǒng)，其中所述目標(biāo)電路板具有打印功能，并且所述主電路板包括要被結(jié)合在圖像形成裝置中的打印機(jī)單元。
40.如權(quán)利要求39所述的檢查系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第二模/數(shù)轉(zhuǎn)換器，插在主電路板的第二端子和第二數(shù)據(jù)區(qū)之間，配置為在存儲(chǔ)操作前，將所述參考數(shù)據(jù)由模擬轉(zhuǎn)換為數(shù)字；以及第三模/數(shù)轉(zhuǎn)換器，插在第三數(shù)據(jù)區(qū)和目標(biāo)電路板之間，配置為在存儲(chǔ)操作前，將所述處理過的數(shù)據(jù)由模擬轉(zhuǎn)換為數(shù)字。
41.一種用于檢查被檢查項(xiàng)的方法，包括以下步驟獲取所述被檢查項(xiàng)的特征信息；根據(jù)所述特征信息，產(chǎn)生包括一個(gè)或多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)集；產(chǎn)生包括相應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的一個(gè)或多個(gè)參考數(shù)據(jù)的參考數(shù)據(jù)集；分別將所述測(cè)試數(shù)據(jù)集存儲(chǔ)在第一數(shù)據(jù)區(qū)，將所述參考數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在第二數(shù)據(jù)區(qū)；生成地址信息，這些地址信息包括有關(guān)第一數(shù)據(jù)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)的相應(yīng)位置、和第二數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的參考數(shù)據(jù)的相應(yīng)位置的信息，使用所述地址信息，從所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中選擇測(cè)試數(shù)據(jù)以及從所述參考數(shù)據(jù)集中選擇相應(yīng)的參考數(shù)據(jù)；輸出所述測(cè)試數(shù)據(jù)給被檢查項(xiàng)；使用所述被檢查項(xiàng)，由所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成處理過的數(shù)據(jù)；將所述處理過的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在第三數(shù)據(jù)區(qū)；將在第三數(shù)據(jù)區(qū)中處理過的數(shù)據(jù)的位置有關(guān)的信息加到所述地址信息；在地址信息中加入有關(guān)第三數(shù)據(jù)區(qū)中的處理過的數(shù)據(jù)的位置的信息；使用所述地址信息，從第三數(shù)據(jù)區(qū)中提取處理過的數(shù)據(jù)并且從第二數(shù)據(jù)區(qū)中提取參考數(shù)據(jù)；以位為基礎(chǔ)，比較處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)；以及基于所述比較結(jié)果，確定所述被檢查項(xiàng)的可接受性。
42.如權(quán)利要求41所述的方法，進(jìn)一步包括以下步驟獲取所述檢查設(shè)備操作的位寬；獲取所述被檢查項(xiàng)操作的位寬；比較所述檢查設(shè)備的位寬和被檢查項(xiàng)的位寬；以及生成表示位寬比較結(jié)果的位寬信息。
43.如權(quán)利要求42所述的方法，其中所述比較結(jié)果表示所述被檢查項(xiàng)的位寬低于檢查設(shè)備的位寬。
44.如權(quán)利要求43所述的方法，進(jìn)一步包括以下步驟將所述測(cè)試數(shù)據(jù)由檢查設(shè)備的位寬轉(zhuǎn)換為被檢查項(xiàng)的位寬；以及將所述處理過的數(shù)據(jù)由被檢查項(xiàng)的位寬轉(zhuǎn)換為檢查設(shè)備的位寬。
45.如權(quán)利要求42所述的方法，進(jìn)一步包括以下步驟在所述比較前，將所述處理過的數(shù)據(jù)分割成多個(gè)處理過的數(shù)據(jù)段，每個(gè)段都包含多位處理過的數(shù)據(jù)；在所述比較前，將所述參考數(shù)據(jù)分割成多個(gè)參考數(shù)據(jù)段，每個(gè)段都包含多位參考數(shù)據(jù)；使用所述地址信息，選擇目標(biāo)處理過的位數(shù)據(jù)段；使用所述地址信息，識(shí)別與所述目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段相應(yīng)的目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段；比較所述目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段和目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段；以及基于所述比較，生成數(shù)據(jù)比較結(jié)果。
46.如權(quán)利要求45所述的方法，其中根據(jù)所述位寬信息，使包含在處理過的數(shù)據(jù)段內(nèi)的處理過的數(shù)據(jù)的位數(shù)與包含在參考數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的參考數(shù)據(jù)的位數(shù)彼此相同。
47.如權(quán)利要求46所述的方法，進(jìn)一步包括以下步驟屏蔽處理過的數(shù)據(jù)段但不屏蔽所選的處理過的數(shù)據(jù)段。
48.如權(quán)利要求47所述的方法，進(jìn)一步包含以下步驟屏蔽參考數(shù)據(jù)段但不屏蔽所選的參考數(shù)據(jù)段。
49.如權(quán)利要求45所述的方法，進(jìn)一步包含以下步驟當(dāng)所述比較表示目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段與目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段匹配時(shí)，給數(shù)據(jù)比較結(jié)果指定第一值；以及當(dāng)所述比較顯示目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段與目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段不同時(shí)，給數(shù)據(jù)比較結(jié)果指定第二值。
50.如權(quán)利要求49所述的方法，進(jìn)一步包括以下步驟對(duì)用所述第一值指定的多個(gè)數(shù)據(jù)比較結(jié)果計(jì)數(shù)；以及存儲(chǔ)所計(jì)的數(shù)作為誤差數(shù)。
51.如權(quán)利要求50所述的方法，進(jìn)一步包括以下步驟基于所述誤差數(shù)，確定被檢查項(xiàng)的可接受性。
52.如權(quán)利要求51所述的方法，進(jìn)一步包括以下步驟當(dāng)所述誤差數(shù)超過預(yù)定值時(shí)，確定被檢查項(xiàng)存在故障；以及當(dāng)所述誤差數(shù)等于或低于預(yù)定值時(shí)，確定被檢查項(xiàng)是可接受的。
53.如權(quán)利要求52所述的方法，其中所述預(yù)定值是預(yù)先設(shè)定的。
54.如權(quán)利要求52所述的方法，進(jìn)一步包括以下步驟設(shè)定差分值，該差分值指明所述預(yù)定值。
55.如權(quán)利要求52所述的方法，進(jìn)一步包括以下步驟識(shí)別用所述第一值指定的數(shù)據(jù)比較結(jié)果；提取相應(yīng)于識(shí)別的數(shù)據(jù)比較結(jié)果的處理過的數(shù)據(jù)段的偏移地址；存儲(chǔ)該偏移地址；以及識(shí)別歸因于故障的被檢查項(xiàng)的部分。
56.一種存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，其用于在設(shè)備上運(yùn)行時(shí)執(zhí)行一種方法，該方法包括以下步驟獲取所述被檢查項(xiàng)的特征信息；根據(jù)所述特征信息，生成包括一個(gè)或多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)集；生成包括與一個(gè)或多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)相應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)參考數(shù)據(jù)的參考數(shù)據(jù)集；分別將所述測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在第一數(shù)據(jù)區(qū)，將所述參考數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在第二數(shù)據(jù)區(qū)；生成地址信息，這些地址信息包括有關(guān)所述第一數(shù)據(jù)區(qū)的測(cè)試數(shù)據(jù)的相應(yīng)位置、和所述第二數(shù)據(jù)區(qū)的參考數(shù)據(jù)的相應(yīng)位置的信息；使用所述地址信息，從所述測(cè)試數(shù)據(jù)集中選擇測(cè)試數(shù)據(jù)，并且從所述參考數(shù)據(jù)集中選擇參考數(shù)據(jù)；輸出所述測(cè)試數(shù)據(jù)到被檢查項(xiàng)；使用所述被檢查項(xiàng)，由所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成處理過的數(shù)據(jù)；將所述處理過的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在第三數(shù)據(jù)區(qū)；向所述地址信息增加有關(guān)第三數(shù)據(jù)區(qū)中的處理過的信息的位置的信息；使用所述地址信息，從第三數(shù)據(jù)區(qū)中提取處理過的數(shù)據(jù)，從第二數(shù)據(jù)區(qū)中提取參考數(shù)據(jù)；以位為基礎(chǔ)，比較所述處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)；以及基于所述比較結(jié)果，確定被檢查項(xiàng)的可接受性。
57.如權(quán)利要求57所述的產(chǎn)品，其中所述方法進(jìn)一步包括以下步驟獲取所述檢查設(shè)備操作的位寬；獲取所述被檢查項(xiàng)操作的位寬；將所述測(cè)試數(shù)據(jù)由檢查設(shè)備的位寬轉(zhuǎn)換為被檢查項(xiàng)的位寬；以及將所述處理過的數(shù)據(jù)由被檢查項(xiàng)的位寬轉(zhuǎn)換為檢查設(shè)備的位寬。
58.如權(quán)利要求57所述的產(chǎn)品，其中所述方法進(jìn)一步包括在所述比較前，將處理過的數(shù)據(jù)分割成多個(gè)處理過的數(shù)據(jù)段，每段都包含多位處理過的數(shù)據(jù)；在所述比較前，將參考數(shù)據(jù)分割成多個(gè)參考數(shù)據(jù)段，每段都包含多位參考數(shù)據(jù)；使用所述地址信息，選擇目標(biāo)處理過的位數(shù)據(jù)段；使用所述地址信息，識(shí)別與目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段相應(yīng)的目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段，比較所述目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段與目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段；以及基于所述比較的比較產(chǎn)生數(shù)據(jù)比較結(jié)果。
59.一種存儲(chǔ)用于執(zhí)行一種方法計(jì)算機(jī)指令的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，所述方法包括獲取被檢查項(xiàng)的特征信息；根據(jù)特征信息，生成包括一個(gè)或多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)集；生成包括與所述一個(gè)或多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)相應(yīng)的一個(gè)或多個(gè)參考數(shù)據(jù)的測(cè)試數(shù)據(jù)集；分別將所述測(cè)試數(shù)據(jù)集存儲(chǔ)在第一數(shù)據(jù)區(qū)，將所述參考數(shù)據(jù)集存儲(chǔ)在第二數(shù)據(jù)區(qū)；生成地址信息，這些地址信息包括有關(guān)第一數(shù)據(jù)區(qū)中的測(cè)試數(shù)據(jù)的相應(yīng)位置、和第二數(shù)據(jù)區(qū)內(nèi)的參考數(shù)據(jù)的相應(yīng)位置的信息；使用所述地址信息，從所述測(cè)試數(shù)據(jù)集選擇測(cè)試數(shù)據(jù)，從所述參考數(shù)據(jù)集中選擇參考數(shù)據(jù)；輸出所述測(cè)試數(shù)據(jù)到所述被檢查項(xiàng)；使用所述被檢查項(xiàng)，由測(cè)試數(shù)據(jù)生成處理過的數(shù)據(jù)；將所述處理過的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在第三數(shù)據(jù)區(qū)；向所述地址信息加入有關(guān)第三數(shù)據(jù)區(qū)中的處理過的數(shù)據(jù)的位置的信息；使用所述地址信息，從所述第三數(shù)據(jù)區(qū)提取處理過的數(shù)據(jù)，從所述第二數(shù)據(jù)區(qū)提取參考數(shù)據(jù)；以位為基礎(chǔ)比較所述處理過的數(shù)據(jù)和所述參考數(shù)據(jù)；以及基于所訴比較結(jié)果，確定所述被檢查項(xiàng)的可接受性。
60.如權(quán)利要求59所述的介質(zhì)，其中所述方法進(jìn)一步包括以下步驟獲取所述檢查設(shè)備操作的位寬；獲取所述被檢查項(xiàng)操作的位寬；將所述測(cè)試數(shù)據(jù)由檢查設(shè)備的位寬轉(zhuǎn)換為被檢查項(xiàng)的位寬；以及將所述處理過的數(shù)據(jù)由被檢查項(xiàng)的位寬轉(zhuǎn)換為檢查設(shè)備的位寬。
61.如權(quán)利要求60所述的介質(zhì)，其中所述方法進(jìn)一步包括以下步驟在所述比較前，將所述處理過的數(shù)據(jù)分割成多個(gè)處理過的數(shù)據(jù)段，每段都包含多位處理過的數(shù)據(jù)；在所述比較前，將參考數(shù)據(jù)分割成多個(gè)參考數(shù)據(jù)段，每段都包含多位參考數(shù)據(jù)；使用所述地址信息，選擇目標(biāo)已處理位數(shù)據(jù)段；使用所述地址信息，識(shí)別與目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段相應(yīng)的目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段；比較所述目標(biāo)處理過的數(shù)據(jù)段與所述目標(biāo)參考數(shù)據(jù)段；以及基于使用的所述比較的比較來(lái)生成數(shù)據(jù)比較結(jié)果。
全文摘要
公開了一種能夠檢查多種電路板的方法、設(shè)備、系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)程序以及相關(guān)的計(jì)算機(jī)介質(zhì)?？刂破骷鶕?jù)電路板的特征信息生成測(cè)試數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)。使用該測(cè)試數(shù)據(jù)，電路板生成處理過的數(shù)據(jù)。比較器件以位為基礎(chǔ)比較處理過的數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)?；诒容^結(jié)果，比較器確定電路板的可接受性。此外，比較器能夠指定引起故障的電路板的特定部分。
文檔編號(hào)H05K3/00GK1629648SQ200410010499
公開日2005年6月22日 申請(qǐng)日期2004年9月30日 優(yōu)先權(quán)日2003年9月30日
發(fā)明者清水武彥 申請(qǐng)人:株式會(huì)社理光