網(wǎng)絡(luò)設(shè)備性能測試方法及測試裝置和測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】一種電子產(chǎn)品的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試方法，包括步驟：a，執(zhí)行誤碼率測試程序，測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的誤碼率；b，獲取當(dāng)前時間；c，獲取BER測試程序的測試數(shù)據(jù)；d，記錄當(dāng)前時間以及測試數(shù)據(jù)于一測試結(jié)果記錄文檔中；e，判斷距離上一次生成測試結(jié)果記錄文檔的時間間隔是否達到一預(yù)設(shè)值，若是，則返回步驟b；若否，繼續(xù)步驟e。本發(fā)明還提供一種用于測試電子產(chǎn)品的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置與測試系統(tǒng)。
【專利說明】網(wǎng)絡(luò)設(shè)備性能測試方法及測試裝置和測試系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及網(wǎng)絡(luò)設(shè)備性能測試領(lǐng)域，尤其涉及一種能自動存儲測試數(shù)據(jù)的網(wǎng)絡(luò)設(shè) 備性能測試方法及測試裝置和測試系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002] 通常伺服器、計算機以及移動終端等電子產(chǎn)品中都設(shè)有網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，例如網(wǎng)卡等。為 了保證網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的性能，具有該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的電子產(chǎn)品在出廠之前都需要進行性能測試，誤 碼率（Bit Error Rate，BER)測試是其中重要的項目。
[0003] 電子產(chǎn)品中傳統(tǒng)的BER測試大致是，向電子產(chǎn)品傳輸預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)，通過電子產(chǎn)品 的網(wǎng)絡(luò)接口讀出其接收到的數(shù)據(jù)，并輸出給BER專用統(tǒng)計設(shè)備如誤碼分析儀等，由BER專用 統(tǒng)計設(shè)備通過比較自身預(yù)先存儲的電子產(chǎn)品應(yīng)該接受的數(shù)據(jù)與從網(wǎng)絡(luò)接口讀出的接收到 的數(shù)據(jù)，來統(tǒng)計該電子產(chǎn)品的的BER。目前這種BER測試需要額外增加特殊的連接和BER統(tǒng) 計設(shè)備。
[0004] 另外，BER測試通常需要在不同的溫度條件下進行長時間的測試，例如在高溫 50°C下，測試6小時；然后在低溫0°C下，測試6小時，而且通常BER測試是在恒溫箱容器中 進行的，長時間的測試時間和隔離的測試空間致使測試人員無法及時的記錄測試數(shù)據(jù)，同 時由于電子產(chǎn)品在BER測試中，經(jīng)常出現(xiàn)中斷和死機的現(xiàn)象，導(dǎo)致測試完成后發(fā)現(xiàn)測試數(shù) 據(jù)已然丟失。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 有鑒于此，本發(fā)明提供一種能自動存儲測試數(shù)據(jù)的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備性能測試方法及測試 裝置和測試系統(tǒng)。
[0006] 一種電子產(chǎn)品的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試方法，包括步驟： a，執(zhí)行誤碼率測試程序，測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的誤碼率； b，獲取當(dāng)前時間； c，獲取BER測試程序的測試數(shù)據(jù)； d，記錄當(dāng)前時間以及測試數(shù)據(jù)于一測試結(jié)果記錄文檔中； e，判斷距離上一次生成測試結(jié)果記錄文檔的時間間隔是否達到一預(yù)設(shè)值，若是，則返 回步驟b;若否，繼續(xù)步驟e。
[0007] -種用于測試電子產(chǎn)品的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，所述測試裝置包括處理器以及在 操作上與處理器連接的存儲器，所述處理器可用來執(zhí)行存儲器中的指令模塊，所述模塊包 括： 測試模塊，用于執(zhí)行誤碼率測試程序，測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的誤碼率； 時間獲取模塊，用于獲取當(dāng)前時間； 測試數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取誤碼率測試程序的測試數(shù)據(jù)； 記錄模塊，用于記錄當(dāng)前時間以及測試數(shù)據(jù)，并生成一測試結(jié)果記錄文檔； 間隔判斷模塊，用于判斷距離上一次生成測試結(jié)果記錄文檔的時間間隔是否達到預(yù)設(shè) 值； 所述記錄模塊還用于在時間判斷模塊判斷當(dāng)前時間距離上一次生成測試結(jié)果記錄文 檔的時間間隔達到預(yù)設(shè)值時，再次記錄當(dāng)前時間以及測試數(shù)據(jù)在測試結(jié)果記錄文檔中。
[0008] -種用于測試電子產(chǎn)品的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試系統(tǒng)，所述電子產(chǎn)品包括處理器以及在 操作上與處理器連接的存儲器，所述測試系統(tǒng)運行于所述電子產(chǎn)品上，該測試系統(tǒng)包括存 儲于存儲器中的指令模塊，處理器用于執(zhí)行存儲器中的指令模塊。該指令模塊包括： 測試模塊，用于執(zhí)行誤碼率測試程序，測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的誤碼率； 時間獲取模塊，用于獲取當(dāng)前時間； 測試數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取誤碼率測試程序的測試數(shù)據(jù)； 記錄模塊，用于記錄當(dāng)前時間以及測試數(shù)據(jù)，并生成一測試結(jié)果記錄文檔； 時間判斷模塊，用于判斷距離上一次生成測試結(jié)果記錄文檔的時間間隔是否達到預(yù)設(shè) 值； 所述記錄模塊還用于在時間判斷模塊判斷當(dāng)前時間距離上一次生成測試結(jié)果記錄文 檔的時間間隔達到預(yù)設(shè)值時，再次記錄當(dāng)前時間以及測試數(shù)據(jù)在測試結(jié)果記錄文檔中。
[0009] 使用測試系統(tǒng)對電子產(chǎn)品進行誤碼率測試，即使在測試過程中出現(xiàn)中斷和死機的 現(xiàn)象，測試數(shù)據(jù)仍然留有記錄。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010] 圖1為本發(fā)明一實施方式中的電子產(chǎn)品的模塊結(jié)構(gòu)示意圖。
[0011] 圖2為本發(fā)明一實施方式中的用于測試圖1中電子產(chǎn)品的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試方法流 程圖。
[0012] 圖3為為本發(fā)明一實施方式中的用于測試圖1中電子產(chǎn)品的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試系統(tǒng) 模塊結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013] 主要元件符號說明

【權(quán)利要求】
1. 一種電子產(chǎn)品的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試方法，其特征在于，包括步驟： a，執(zhí)行誤碼率測試程序，測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的誤碼率； b，獲取當(dāng)前時間； c，獲取BER測試程序的測試數(shù)據(jù)； d，記錄當(dāng)前時間以及測試數(shù)據(jù)于一測試結(jié)果記錄文檔中； e，判斷距離上一次生成測試結(jié)果記錄文檔的時間間隔是否達到一預(yù)設(shè)值，若是，則返 回步驟b;若否，繼續(xù)步驟e。
2. 如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述方法還包括步驟：判斷所述誤碼率 測試程序是否結(jié)束，若是，則結(jié)束；若否，則進入步驟e。
3. -種用于測試電子產(chǎn)品的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試裝置，所述測試裝置包括處理器以及在操 作上與處理器連接的存儲器，其特征在于，所述處理器可用來執(zhí)行存儲器中的指令模塊，所 述模塊包括： 測試模塊，用于執(zhí)行誤碼率測試程序，測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的誤碼率； 時間獲取模塊，用于獲取當(dāng)前時間； 測試數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取誤碼率測試程序的測試數(shù)據(jù)； 記錄模塊，用于記錄當(dāng)前時間以及測試數(shù)據(jù)，并生成一測試結(jié)果記錄文檔； 間隔判斷模塊，用于判斷距離上一次生成測試結(jié)果記錄文檔的時間間隔是否達到預(yù)設(shè) 值； 所述記錄模塊還用于在時間判斷模塊判斷當(dāng)前時間距離上一次生成測試結(jié)果記錄文 檔的時間間隔達到預(yù)設(shè)值時，再次記錄當(dāng)前時間以及測試數(shù)據(jù)在測試結(jié)果記錄文檔中。
4. 如權(quán)利要求3所述的測試裝置，其特征在于，所述指令模塊還包括測試判斷模塊，用 于判斷誤碼率測試程序是否已經(jīng)測試完成，若是測試已經(jīng)完成則該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的誤碼率測試 流程結(jié)束；若誤碼率測試程序尚未測試完成，時間判斷模塊進一步判斷當(dāng)前時間距離上一 次生成測試結(jié)果記錄文檔的時間間隔是否達到預(yù)設(shè)值。
5. -種用于測試電子產(chǎn)品的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的測試系統(tǒng)，所述電子產(chǎn)品包括處理器以及在操 作上與處理器連接的存儲器，其特征在于，所述測試系統(tǒng)運行于所述電子產(chǎn)品上，該測試系 統(tǒng)包括存儲于存儲器中的指令模塊，處理器用于執(zhí)行存儲器中的指令模塊，該指令模塊包 括： 測試模塊，用于執(zhí)行誤碼率測試程序，測試網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的誤碼率； 時間獲取模塊，用于獲取當(dāng)前時間； 測試數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取誤碼率測試程序的測試數(shù)據(jù)； 記錄模塊，用于記錄當(dāng)前時間以及測試數(shù)據(jù)，并生成一測試結(jié)果記錄文檔； 時間判斷模塊，用于判斷距離上一次生成測試結(jié)果記錄文檔的時間間隔是否達到預(yù)設(shè) 值； 所述記錄模塊還用于在時間判斷模塊判斷當(dāng)前時間距離上一次生成測試結(jié)果記錄文 檔的時間間隔達到預(yù)設(shè)值時，再次記錄當(dāng)前時間以及測試數(shù)據(jù)在測試結(jié)果記錄文檔中。
6. 如權(quán)利要求5所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述指令模塊還包括測試判斷模塊，用 于判斷誤碼率測試程序是否已經(jīng)測試完成，若是測試已經(jīng)完成則該網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的誤碼率測試 流程結(jié)束；若誤碼率測試程序尚未測試完成，時間判斷模塊進一步判斷當(dāng)前時間距離上一 次生成測試結(jié)果記錄文檔的時間間隔是否達到預(yù)設(shè)值。
【文檔編號】H04L12/26GK104243222SQ201310222066
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2013年6月6日 優(yōu)先權(quán)日:2013年6月6日
【發(fā)明者】鄭盛村, 呂和棟, 黃紅蓮 申請人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司