專利名稱：無線基站上下行通路的測試方法和測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及無線通信技術(shù)，尤其涉及一種無線基站上下行通路的測試方 法和測試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
目前，第三代(3G)無線通信基站普遍釆用了 "中頻拉遠(yuǎn)技術(shù)"。既 將無線基站中的射頻收發(fā)部分與基帶數(shù)字信號處理部分分開，并將射頻收發(fā) 設(shè)備作為遠(yuǎn)端設(shè)備設(shè)置在室外的天線處，天線接收的信號先在遠(yuǎn)端設(shè)備中轉(zhuǎn) 為中頻信號，再通過中頻傳輸系統(tǒng)傳回到本地基站單元。
基于中頻拉遠(yuǎn)技術(shù)，現(xiàn)有的無線基站系統(tǒng)由一個(gè)本地基帶單元和若干個(gè) 遠(yuǎn)端設(shè)備組成。為了稱述方便，下面簡稱本地基帶單元為BBU(BaseBand Unit)，遠(yuǎn)端設(shè)備簡稱為RE (Remote Equipment)。所述BBU中主要包括 數(shù)字信號處理器(DSP, Digital Signal Processing )等基帶處理器件，遠(yuǎn)端設(shè) 備RE中主要包括現(xiàn)場可編程門陣列器件(FPGA)、用于進(jìn)行中頻處理的 中頻芯片，以及射頻收發(fā)單元。所述RE通過光纖直接或間接連接到本地 BBU。通常情況下，BBU發(fā)送下行數(shù)據(jù)到RE,傳輸下行數(shù)據(jù)的通路為下行 通路；RE接收用戶數(shù)據(jù)并作為上行數(shù)據(jù)傳給BBU,傳輸上行數(shù)據(jù)的通路為 上行通路。
在對無線基站設(shè)備的生產(chǎn)測試中，需要測試整個(gè)上下行通路能否正常工 作。目前通常有兩種測試方法
現(xiàn)有技術(shù)一釆取的一種測試方法是釆用輔助的設(shè)備和測試程序分別對 BBU和RE進(jìn)行單板測試， 一般分為圖1至圖4所述的四種測試方式
圖1為利用輔助測試板測試BBU下行通路的示意圖。參見圖1，利用輔助測試板接收BBU發(fā)送的下行數(shù)據(jù)，測試BBU的下行通路，通過輔助測 試板上的測試程序判斷BBU下行通路是否正常。
圖2為利用輔助測試板測試RE下行通路的示意圖。參見圖2，利用輔 助測試板將數(shù)據(jù)發(fā)送給RE,測試RE的下行通路，通過觀察頻譜儀的輸出 來判斷RE的下行通路是否正常。
圖3為利用輔助測試板測試RE上行通路的示意圖。參見圖3，利用輔 助測試板接收RE發(fā)送的數(shù)據(jù)，測試RE的上行通路，通過輔助測試板上的 測試程序判斷RE的上行通路是否正常。
圖4為利用輔助測試板測試BBU上行通路的示意圖。參見圖4，利用 輔助測試板將數(shù)據(jù)發(fā)送給BBU,測試BBU的上行通路，通過BBU上的測 試程序判斷BBU的上行通路是否正常。
上述現(xiàn)有技術(shù)一的缺點(diǎn)是由于板卡的不一致性，需要將每塊板卡進(jìn)行 單獨(dú)測試，確保每塊板卡的所有器件都能工作正常，無法很快地測試到整個(gè) 鏈路的問題，測試效率低，嚴(yán)重影響生產(chǎn)和測試的進(jìn)度。
現(xiàn)有技術(shù)二利用整機(jī)進(jìn)行校準(zhǔn)測試，利用校準(zhǔn)天線分別進(jìn)行收發(fā)方向 通路的校準(zhǔn)，能夠?qū)⒄麄€(gè)上下行通路的問題測出來，但這種測試需要有校準(zhǔn) 天線以及多天線有校準(zhǔn)條件下才能進(jìn)行測試，單天線或者多天線沒有校準(zhǔn)天 線時(shí)是無法進(jìn)行整個(gè)通路的測試的，即使出來問題也沒法測出來。因此，需 要的必要設(shè)備較多，搡作復(fù)雜，成本高。
總之，現(xiàn)用的測試方法的測試效率低下，不能滿足測試的進(jìn)度要求，而 且需要相關(guān)的硬件板卡和儀器，成本較高。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于提供一種無線基站上下行通 路的測試方法，以提高對無線基站上下行通路的測試效率，降低測試成本。
本發(fā)明所要解決的另 一技術(shù)問題在于提供一種無線基站上下行通路的 測試系統(tǒng)，以提高對無線基站上下行通路的測試效率，降低測試成本。為了實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明的主要技術(shù)方案為
一種無線基站上下行通路的測試方法，包括
A、在無線基站的本地基帶單元向下行通路發(fā)送測試數(shù)據(jù)；
.B、當(dāng)所述測試數(shù)據(jù)通過下行通路到達(dá)無線基站遠(yuǎn)端設(shè)備的中頻單元后，
將中頻單元下行通路輸出的測試數(shù)據(jù)環(huán)回到中頻單元的上行通路；
C、所述測試數(shù)據(jù)通過上行通路返回到本地基帶單元后，比較本地基帶
單元在上行通路收到的測試數(shù)據(jù)和步驟A所發(fā)送的測試數(shù)據(jù)，按照比較結(jié)
果判斷無線基站的上下行通路是否正常。
優(yōu)選的，所述無線基站為基于時(shí)分的無線基站；步驟A中，利用時(shí)分
無線基站的動態(tài)配置時(shí)隙作為下行時(shí)隙向所述本地基帶單元的下行通路發(fā)
送測試數(shù)據(jù)；步驟B中，利用時(shí)分無線基站的動態(tài)配置時(shí)隙作為上行時(shí)隙環(huán)
回所述測試數(shù)據(jù)。
優(yōu)選的，所述作為上行時(shí)隙和下行時(shí)隙的動態(tài)配置時(shí)隙為同一個(gè)時(shí)隙。 優(yōu)選的，步驟C主要包括將所述發(fā)送的測試數(shù)據(jù)和接收到的測試數(shù)據(jù) 進(jìn)行相關(guān)計(jì)算，得到相關(guān)峰的值和位置，如果相關(guān)峰值在預(yù)設(shè)的正常范圍內(nèi)， 且相關(guān)峰的位置與預(yù)設(shè)的位置相符，則判定所述上下行通路正常；否則判定
所述上下行通路異常。
優(yōu)選的，步驟C中，當(dāng)判定所述上下行通路異常時(shí)，進(jìn)一步包括觸發(fā)
優(yōu)選的，步驟C中，當(dāng)判定所述上下行通路異常時(shí)，進(jìn)一步按照比較結(jié) 果觸發(fā)相應(yīng)級別的告警，具體為
如果相關(guān)峰值為O,觸發(fā)第一級別告警；
如果相關(guān)峰值大于0但低于預(yù)設(shè)的最低門限值，則觸發(fā)第二級別告警； 如果相關(guān)峰值大于預(yù)設(shè)的最高門限值，則觸發(fā)第三級別告警； 如果相關(guān)峰值在預(yù)設(shè)的正常范圍內(nèi)，但相關(guān)峰的位置與預(yù)設(shè)的位置不相 符，則觸發(fā)第四級告警。
優(yōu)選的，步驟C中，當(dāng)判定所述上下行通路異常時(shí)，進(jìn)一步包括保存所述測試數(shù)據(jù)作為故障分析的對象。
一種無線基站通路的測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)包括
測試單元，設(shè)置在無線基站的本地基帶單元，用于向本地基帶單元的下 行通路發(fā)送測試數(shù)據(jù)，并比較發(fā)送的測試數(shù)據(jù)和本地基帶單元上行通路返回
的測試數(shù)據(jù)，按照比較結(jié)果判斷上下行通路是否正常；
環(huán)回單元，設(shè)置在無線基站遠(yuǎn)端設(shè)備的中頻單元，用于將中頻單元下行 通路輸出的測試數(shù)據(jù)環(huán)回輸入到中頻單元的上行通路。
優(yōu)選的，所述環(huán)回單元具體為一微帶線，連接所述中頻單元的下行通路 輸出端和該中頻單元的上行通路輸入端。
優(yōu)選的，所述測試系統(tǒng)進(jìn)一步包括告警單元，設(shè)置在無線基站的本地基 帶單元，用于在測試單元判定所述上下行通路異常時(shí)，觸發(fā)相應(yīng)的告警。
優(yōu)選的，所述無線基站為基于時(shí)分的無線基站；所述測試系統(tǒng)進(jìn)一步包 括觸發(fā)單元，設(shè)置在所述無線基站的本地基帶單元，用于在所述無線基站的 動態(tài)配置時(shí)隙作為下行時(shí)隙觸發(fā)所述測試單元向下行通路發(fā)送測試數(shù)據(jù)。
優(yōu)選的，所述環(huán)回單元環(huán)回所述測試數(shù)據(jù)時(shí)所釆用的上行時(shí)隙為時(shí)分無 線基站的動態(tài)配置時(shí)隙。
優(yōu)選的，所述作為上行時(shí)隙和下行時(shí)隙的動態(tài)配置時(shí)隙為同一個(gè)時(shí)隙。
優(yōu)選的，所述測試單元具體設(shè)置在本地基帶單元的數(shù)字信號處理器中。
本發(fā)明通過BBU給下行通路發(fā)送測試數(shù)據(jù)，并在RE的中頻將測試數(shù) 據(jù)環(huán)回到上行通路，通過上行通路將測試數(shù)據(jù)返回到BBU,再通過比較上 行通路返回的測試數(shù)據(jù)和下行通路發(fā)送的測試數(shù)據(jù)判斷所述無線基站的上 下行通路是否正常。相對于現(xiàn)有技術(shù)一，本發(fā)明測試的下行通路依次途徑 BBU的DSP、 BBU與RE之間的數(shù)據(jù)鏈路、RE的FPGA、和RE的中頻芯 片，上行通路依次途徑RE的中頻芯片、RE的FPGA、 RE與BBU之間的數(shù) 據(jù)鏈路、和BBU的DSP;通過發(fā)送一次測試數(shù)據(jù)就可以測試整個(gè)上下通路 能否正常工作，保證BBU和RE板卡以及中頻芯片的質(zhì)量，簡化了測試流 程，提高了測試效率和測試速度，降低了測試成本。相對于現(xiàn)有技術(shù)二，本發(fā)明不需要專用的校準(zhǔn)天線，也不需要多天線有校準(zhǔn)條件，因此實(shí)現(xiàn)更簡單，
提高了測試效率和測試速度，降低了測試成本，特別適用于單天線或者沒有 校準(zhǔn)天線的多天線基站系統(tǒng)。
另外，本發(fā)明還可以充分利用TD系統(tǒng)的動態(tài)配置時(shí)隙這一特點(diǎn)，選擇 一個(gè)動態(tài)配置時(shí)隙作為上行時(shí)隙和下行時(shí)隙，而現(xiàn)有的TD無線基站的各個(gè) 設(shè)備都支持動態(tài)配置時(shí)隙，因此本發(fā)明可以不必占用固定時(shí)隙，不必對現(xiàn)有 無線基站做太大修改即可完成測試，進(jìn)一步地簡化了測試流程。
另外，本發(fā)明還在判定基站上下行通路異常時(shí)，觸發(fā)告警，并存儲測試 數(shù)據(jù)，這樣有助于根據(jù)存儲的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行單獨(dú)分析，從而對故障進(jìn)行定位。 本發(fā)明還可以根據(jù)相關(guān)峰的值和位置進(jìn)行分級別的告警。由于相關(guān)峰值很小 和相關(guān)峰值很大這兩種情況通常是由于中頻芯片的增益不正確造成的，因此 本發(fā)明可以根據(jù)相關(guān)告警重新設(shè)置中頻芯片增益然后再重新進(jìn)行測試，從而 可以更方便地校準(zhǔn)中頻的增益。


圖1為利用輔助測試板測試BBU下行通路的示意圖； 圖2為利用輔助測試板測試RE下行通路的示意圖； 圖3為利用輔助測試板測試RE上行通路的示意圖； 圖4為利用輔助測試板測試BBU上行通路的示意圖； 圖5為本發(fā)明所述方法的一種實(shí)施流程圖； 圖6為本發(fā)明所述測試系統(tǒng)的 一種組成示意圖。
具體實(shí)施例方式
下面通過具體實(shí)施例和附圖對本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)說明。 本發(fā)明的核心思想為在無線基站的本地基帶單元向下行通路發(fā)送測試 數(shù)據(jù)；當(dāng)所述測試數(shù)據(jù)到達(dá)無線基站遠(yuǎn)端設(shè)備的中頻單元后，將中頻單元下 行通路輸出的測試數(shù)據(jù)環(huán)回到中頻單元的上行通路；所述測試數(shù)據(jù)返回到本地基帶單元后，比較本地基帶單元上行通路收到的測試數(shù)據(jù)和所發(fā)送的測試 數(shù)據(jù)，按照比較結(jié)果判斷無線基站的上下行通路是否正常。從而測試基站系 統(tǒng)中除射頻板卡以外的整個(gè)上下行通路。
對于TD系統(tǒng)，本發(fā)明還可以充分利用TD系統(tǒng)的動態(tài)配置時(shí)隙這一特 點(diǎn)，利用時(shí)分無線基站的動態(tài)配置時(shí)隙作為下行時(shí)隙向所述本地基帶單元的 下行通路發(fā)送測試數(shù)據(jù)；同時(shí)，利用時(shí)分無線基站的動態(tài)配置時(shí)隙作為上行 時(shí)隙環(huán)回所述測試數(shù)據(jù)。
在TD系統(tǒng)中，所述動態(tài)配置時(shí)隙可以是時(shí)隙(TS) 2、 TS3、 TS4、 TS5
等。在一種優(yōu)選實(shí)施方式中可以選擇一個(gè)動態(tài)配置時(shí)隙同時(shí)作為上行時(shí)隙和 下行時(shí)隙，例如可以將TS4同時(shí)作為上行時(shí)隙和下行時(shí)隙，利用中頻環(huán)回模 式去測試整個(gè)上下行通路，而環(huán)回的時(shí)延是非常短的，因此測試數(shù)據(jù)完全可 以在一個(gè)時(shí)隙內(nèi)完整通過上下行通路。
圖5為本發(fā)明所述方法的一種實(shí)施流程圖。本實(shí)施例中，將TS4作為上 行時(shí)隙和下行時(shí)隙，測試基站系統(tǒng)中除射頻板卡以外的整個(gè)通路。參見圖5, 該流程包括
步驟501、在TS4，通過BBU上的DSP發(fā)送測試數(shù)據(jù)給BBU的下行通 路。所述測試數(shù)據(jù)為一個(gè)特殊的數(shù)據(jù)序列。
步驟502、經(jīng)過BBU的下行通路，所述測試數(shù)據(jù)通過BBU和RE之間 的鏈路(例如光纖)傳輸?shù)絉E的FPGA上。
步驟503、 RE的FPGA的下行通路將所述測試數(shù)據(jù)發(fā)送給RE的中頻芯片。
步驟504、將所述測試數(shù)據(jù)從中頻芯片的下行通路環(huán)回到中頻芯片的上 行通路。具體方法為通過一根微帶線將中頻芯片的下行輸出數(shù)據(jù)直接發(fā)送到 中頻芯片的上行輸入端。由于環(huán)回操作的時(shí)延非常短，因此傳輸測試數(shù)據(jù)的 上行時(shí)隙也是TS4。
步驟505、 RE通過上行通路將所述測試數(shù)據(jù)傳輸?shù)紹BU的DSP。 步驟506、 BBU的DSP比較BBU上行通路收到的測試數(shù)據(jù)和步驟501所發(fā)送的測試數(shù)據(jù)，判斷接收到的數(shù)據(jù)是否正確。如果是，判定整個(gè)上下行
通路正常，測試通過，否則，判定所述上下行通路異常。具體的判斷過程為 將所述發(fā)送的測試數(shù)據(jù)和接收到的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行相關(guān)計(jì)算，得到相關(guān)峰 的值和位置，如果相關(guān)峰值在預(yù)設(shè)的正常范圍內(nèi)，且相關(guān)峰的位置與預(yù)設(shè)的
位置相符，則判定所述上下行通路正常；否則判定所述上下行通路異常。
當(dāng)判定所述上下行通路異常時(shí)，還可以進(jìn)一步觸發(fā)告警。還可以按照比
較結(jié)果分級別進(jìn)行觸發(fā)告警，例如告警嚴(yán)重級別分可為以下四種
如果相關(guān)峰值為0，表示通路故障，未收到有效的測試數(shù)據(jù)，觸發(fā)的告
警嚴(yán)重級別為1,表示故障最嚴(yán)重。
如果相關(guān)峰值很小，低于預(yù)設(shè)的門限值，則觸發(fā)的告警嚴(yán)重級別為2。 如果相關(guān)峰值很大，高于預(yù)設(shè)的門限值，則觸發(fā)的告警嚴(yán)重級別為3。 如果相關(guān)峰值在預(yù)設(shè)的正常范圍內(nèi)，但相關(guān)峰的位置與預(yù)設(shè)位置不相
符，嚴(yán)重級別為4。
當(dāng)出現(xiàn)告警時(shí)可進(jìn)一步將DSP接收到的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲，作為故障
分析的對象，這樣可以通過分析測試數(shù)據(jù)確定具體的故障位置，對于有故障 的板卡再單獨(dú)進(jìn)行對應(yīng)的分析處理。
另外，相關(guān)峰值很小和相關(guān)峰值很大這兩種情況通常是由于中頻芯片的 增益不正確造成的，因此當(dāng)告警級別為2和3時(shí)，可以重新設(shè)置中頻芯片的 增益然后再返回步驟501進(jìn)行重新測試，如果增益不正確則再調(diào)整設(shè)置并重 新測試，直到中頻芯片的增益正確為止。
圖6為本發(fā)明所述測試系統(tǒng)的一種組成示意圖。參見圖6，所述測試系 統(tǒng)主要包括
測試單元601,設(shè)置在無線基站的BBU 61中，具體是設(shè)置在BBU的 DSP62中，用于向BBU61的下行通路發(fā)送測試數(shù)據(jù)，并比較發(fā)送的測試數(shù) 據(jù)和BBU61上行通路返回的測試數(shù)據(jù)，按照比較結(jié)果判斷上下行通路是否 正常。本發(fā)明中，所測試的下行通路(圖中從左向右的帶箭頭虛線)依次主 要途徑BBU的DSP 62、 BBU與RE之間的數(shù)據(jù)鏈路63、 RE 66的FPGA 64、直到穿過RE66的中頻芯片65，
環(huán)回單元602，設(shè)置在無線基站RE的中頻芯片65，用于將中頻芯片65 下行通路輸出的測試數(shù)據(jù)環(huán)回輸入到中頻單元的上行通路。所述環(huán)回單元具 體為一微帶線，連接所述中頻芯片65的下行通路輸出端51和該中頻芯片 65的上行通路輸入端52。本發(fā)明中，所測試的上行通路(圖中從右向左的 帶箭頭虛線)依次主要途徑RE的中頻芯片65、 RE的FPGA64、 RE與BBU 之間的數(shù)據(jù)鏈路63、直到BBU的DSP62。
作為一種優(yōu)選方式，所述測試系統(tǒng)進(jìn)一步包括告警單元603，設(shè)置在無 線基站的BBU61中，具體也是設(shè)置在BBU61的DSP 62中，用于在測試單 元601判定所述上下行通路異常時(shí)，觸發(fā)相應(yīng)的告警。
作為一種優(yōu)選方式，所述無線基站為基于TD的無線基站；所述測試系 統(tǒng)進(jìn)一步包括觸發(fā)單元604，設(shè)置在所述無線基站的BBU 61，具體可以設(shè) 置在BBU 61的DSP 62中，用于在所述無線基站的動態(tài)配置時(shí)隙觸發(fā)所述 測試單元601向下行通路發(fā)送測試數(shù)據(jù)。例如可以在TS4時(shí)觸發(fā)測試單元 601向下行通路發(fā)送測試數(shù)據(jù)，該TS4為下行時(shí)隙；所述環(huán)回單元環(huán)回所述 測試數(shù)據(jù)時(shí)所釆用的上行時(shí)隙也是時(shí)分無線基站的動態(tài)配置時(shí)隙，并且由于 環(huán)回的時(shí)延非常短，可以忽略不計(jì)，因此測試數(shù)據(jù)正常環(huán)回到上下通路時(shí)還 是在同一個(gè)TS4時(shí)隙上，因此TS4又可以作為上行時(shí)隙進(jìn)行測試數(shù)據(jù)的傳 輸，這樣就可以利用同一個(gè)動態(tài)配置時(shí)隙對上下行通路進(jìn)行同時(shí)測試，進(jìn)一 步提高測試進(jìn)度。
以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實(shí)施方式
，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不 局限于此，任何熟悉該技術(shù)的人在本發(fā)明所揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到 的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1、一種無線基站上下行通路的測試方法，其特征在于，包括A、在無線基站的本地基帶單元向下行通路發(fā)送測試數(shù)據(jù)；B、當(dāng)所述測試數(shù)據(jù)通過下行通路到達(dá)無線基站遠(yuǎn)端設(shè)備的中頻單元后，將中頻單元下行通路輸出的測試數(shù)據(jù)環(huán)回到中頻單元的上行通路；C、所述測試數(shù)據(jù)通過上行通路返回到本地基帶單元后，比較本地基帶單元在上行通路收到的測試數(shù)據(jù)和步驟A所發(fā)送的測試數(shù)據(jù)，按照比較結(jié)果判斷無線基站的上下行通路是否正常。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述無線基站為基于時(shí) 分的無線基站；步驟A中，利用時(shí)分無線基站的動態(tài)配置時(shí)隙作為下行時(shí) 隙向所述本地基帶單元的下行通路發(fā)送測試數(shù)據(jù)；步驟B中，利用時(shí)分無線基站的動態(tài)配置時(shí)隙作為上行時(shí)隙環(huán)回所述測試數(shù)據(jù)。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述作為上行時(shí)隙和下行時(shí)隙的動態(tài)配置時(shí)隙為同一個(gè)時(shí)隙。
4、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，步驟C主要包括將所 述發(fā)送的測試數(shù)據(jù)和接收到的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行相關(guān)計(jì)算，得到相關(guān)峰的值和位 置，如果相關(guān)峰值在預(yù)設(shè)的正常范圍內(nèi)，且相關(guān)峰的位置與預(yù)設(shè)的位置相符，則判定所述上下行通路正常；否則判定所述上下行通路異常。
5、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，步驟C中，當(dāng)判定所述 上下行通路異常時(shí)，進(jìn)一步包括觸發(fā)告警。
6、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，步驟C中，當(dāng)判定所述 上下行通路異常時(shí)，進(jìn)一步按照比較結(jié)果觸發(fā)相應(yīng)級別的告警，具體為如果相關(guān)峰值為O,觸發(fā)第一級別告警；如果相關(guān)峰值大于O但低于預(yù)設(shè)的最低門限值，則觸發(fā)第二級別告警；如果相關(guān)峰值大于預(yù)設(shè)的最高門限值，則觸發(fā)第三級別告警；如果相關(guān)峰值在預(yù)設(shè)的正常范圍內(nèi)，但相關(guān)峰的位置與預(yù)設(shè)的位置不相符，則觸發(fā)第四級告警。
7、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，步驟C中，當(dāng)判定所述 上下行通路異常時(shí)，進(jìn)一步包括保存所述測試數(shù)據(jù)作為故障分析的對象。
8、 一種無線基站通路的測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試系統(tǒng)包括 測試單元，設(shè)置在無線基站的本地基帶單元，用于向本地基帶單元的下行通路發(fā)送測試數(shù)據(jù)，并比較發(fā)送的測試數(shù)據(jù)和本地基帶單元上行通路返回 的測試數(shù)據(jù)，按照比較結(jié)果判斷上下行通路是否正常；環(huán)回單元，設(shè)置在無線基站遠(yuǎn)端設(shè)備的中頻單元，用于將中頻單元下行 通路輸出的測試數(shù)據(jù)環(huán)回輸入到中頻單元的上行通路。
9、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述環(huán)回單元具體 為一微帶線，連接所述中頻單元的下行通路輸出端和該中頻單元的上行通路 輸入端。
10、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試系統(tǒng)進(jìn)一步 包括告警單元，設(shè)置在無線基站的本地基帶單元，用于在測試單元判定所述 上下行通路異常時(shí)，觸發(fā)相應(yīng)的告警。
11、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述無線基站為基 于時(shí)分的無線基站；所述測試系統(tǒng)進(jìn)一步包括觸發(fā)單元，設(shè)置在所述無線基 站的本地基帶單元，用于在所述無線基站的動態(tài)配置時(shí)隙作為下行時(shí)隙觸發(fā) 所述測試單元向下行通路發(fā)送測試數(shù)據(jù)。
12、 根據(jù)權(quán)利要求11所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述環(huán)回單元環(huán) 回所述測試數(shù)據(jù)時(shí)所釆用的上行時(shí)隙為時(shí)分無線基站的動態(tài)配置時(shí)隙。
13、 根據(jù)權(quán)利要求12所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述作為上行時(shí) 隙和下行時(shí)隙的動態(tài)配置時(shí)隙為同一個(gè)時(shí)隙。
14、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試單元具體 設(shè)置在本地基帶單元的數(shù)字信號處理器中。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種無線基站上下行通路的測試方法和測試系統(tǒng)，包括測試單元和環(huán)回單元，測試單元在無線基站的本地基帶單元向下行通路發(fā)送測試數(shù)據(jù)；當(dāng)所述測試數(shù)據(jù)通過下行通路到達(dá)無線基站遠(yuǎn)端設(shè)備的中頻單元后，由環(huán)回單元將中頻單元下行通路輸出的測試數(shù)據(jù)環(huán)回到中頻單元的上行通路；所述測試數(shù)據(jù)通過上行通路返回到本地基帶單元后，測試單元比較本地基帶單元在上行通路收到的測試數(shù)據(jù)和所發(fā)送的測試數(shù)據(jù)，按照比較結(jié)果判斷無線基站的上下行通路是否正常。利用本發(fā)明，可以提高對無線基站上下行通路的測試效率，降低測試成本。
文檔編號H04W24/04GK101466114SQ200710303788
公開日2009年6月24日 申請日期2007年12月21日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月21日
發(fā)明者湯國東, 鄧舒勇 申請人:大唐移動通信設(shè)備有限公司