專利名稱：光學校準機自動測量方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明是有關(guān)一種光學校準機自動測量方法，尤指一種可于該光學校準機由程序自行判斷是否測量待測物的方法，而不用由使用者自行判斷是否測量，然后下指令告訴程序。
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圖1，該圖是傳統(tǒng)光學校準機測量持測物方法的流程圖。包含下列步驟(a1).激活軟件，發(fā)送命令至電荷耦合組件模塊；(b1).該電荷耦合組件模塊拍攝待測物畫面；(c1).判別使用者是否按下執(zhí)行指令開關(guān)；(d1).若是，執(zhí)行測量動作，之后，回至步驟(b1)，否則，直接回至步驟(b1)。
由上述程序可知，該光學校準機在測量待測物時要由使用者自行按壓執(zhí)行指令開關(guān)來進行測量，因此，常常發(fā)生使用者忽略該步驟的操作或因操作不當而耗費不少時間。
為達成此目的，本發(fā)明是在使用者將待測物安裝在光學校準機上，接著，激活軟件，發(fā)送命令至電荷耦合組件模塊，供該電荷耦合組件模塊拍攝待測物畫面，同時進行畫面影像處理檢測，當檢測到電荷耦合組件模塊所拍攝的畫面有明顯的反射亮點后，程序即因為判斷出有亮點而自動進行測量，由此可知，它可取代由使用者自行判斷測量，不僅可節(jié)省測量程序，亦可避免使用者操作不當或忽略步驟操作。
本發(fā)明的一個目的在于提供可使現(xiàn)有的光學校準機在測量待測物的程序中直接由程序判斷有亮點后而自行進行測量的方法，因此，不用擔心使用者是否忘了要按執(zhí)行指令開關(guān)，該使用者所需的動作只有裝上或取下待測物兩個動作而已，即可達到簡潔便利的自動化測量。
本發(fā)明的又一個目的在于提供可應用在光驅(qū)或類似的光學系統(tǒng)裝置的自動測量方法。
為了能更進一步了解本發(fā)明的特征及技術(shù)內(nèi)容，請參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細說明與附圖，然而附圖標記僅供參考與說明用，并非用來對本發(fā)明加以限定。
上述步驟(b)的電荷耦合組件模塊拍攝到的反射光點可利用影像處理的方法，以計算出圖面是否有白色區(qū)域。該影像處理的方法有很多，其中可以是選取適當?shù)拈撝?，再做二元化處理等；該程序即可輕易計算出有無灰階值為255的白色亮點像素。
綜上所述，透過本發(fā)明的方法，具有如下的諸多特點(1)直接由程序自行判斷是否測量待測物，非由使用者自行判斷。
(2)可節(jié)省測量程序。
(3)可避免使用者操作不當或忽略步驟操作。
(4)不用擔心使用者是否忘了按執(zhí)行指令開關(guān)。
以上所述的僅為本發(fā)明最佳的具體實施例，本發(fā)明的特征并不局限于此，本領域的技術(shù)人員在本發(fā)明的領域內(nèi)可容易想到的任何變化或修改都可包含在本申請的權(quán)利要求的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種光學校準機自動測量方法，在該光學校準機測量待測物程序中由程序自行判斷是否測量，包含下列步驟(a)激活軟件；(b)電荷耦合組件模塊進行拍攝待測物畫面；(c)程序自行判斷該電荷耦合組件模塊所拍攝的畫面是否有反射亮點；以及(d)若是，自動進行測量，并在測量后回至步驟(b)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學校準機自動測量方法，其特征在于所述的步驟(b)的該電荷耦合組件模塊所拍攝的畫面反射亮點可利用影像處理方法計算出圖面是否有白色區(qū)域。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學校準機自動測量方法，其特征在于所述的步驟(c)的程序判斷該電荷耦合組件所拍攝的畫面沒有反射亮點時，即回至步驟(b)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學校準機自動測量方法，其特征在于所述的光學校準機是具有光學測量的機器，該機器可應用在光驅(qū)或類似的光學裝置的測量及組裝。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學校準機自動測量方法，其特征在于所述的待測物為具有鏡面的對象。
全文摘要
本發(fā)明是有關(guān)一種光學校準機自動測量方法，是使該光學校準機在測量待測物程序中，可由程序自行判斷是否測量的方法，它是在電荷耦合組件模塊拍攝待測物的畫面后，該程序即會自行判斷該電荷耦合組件模塊所拍攝的畫面是否有反射亮點，而自動進行測量，由于可由該程序判斷有亮點后即自行進行測量，因此不用擔心使用者是否忘了要按執(zhí)行指令開關(guān)，并可節(jié)省測量程序，避免該使用者操作不當或忽略步驟操作。
文檔編號H04N1/387GK1467478SQ0214118
公開日2004年1月14日 申請日期2002年7月9日 優(yōu)先權(quán)日2002年7月9日
發(fā)明者陳漢釗, 陳徵君, 陳伯睿 申請人:建興電子科技股份有限公司