本發(fā)明涉及一種將電子零件安裝于基板的安裝裝置、以及對(duì)在安裝裝置中保持電子零件的安裝工具的保持面的狀態(tài)進(jìn)行測(cè)量的測(cè)量方法。
背景技術(shù):
近年來,實(shí)現(xiàn)了如下的方法(approach):伴隨電子裝置的高性能化、高功能化,對(duì)構(gòu)成所述電子裝置的電子零件附加多種功能,從而即便電子零件自身大型化,也可實(shí)現(xiàn)作為電子裝置的小型高功能化。伴隨此,在將電子零件安裝于基板上時(shí),為了獲得凸塊與電極間的優(yōu)選的接合狀態(tài),而尋求使分散地配置于一定程度以上的區(qū)域的所有凸塊均等地與電極接觸,且附加均等的負(fù)載。而且,近年來,也使用有對(duì)電子零件附加光學(xué)功能者,從而期望所述電子零件維持高平行度(parallelism)地接合于附加了光波導(dǎo)等的電路基板。
因此,以前,提出在將電子零件安裝于基板的安裝裝置中,在安裝電子零件之前,對(duì)保持所述電子零件的安裝工具的保持面的平行度進(jìn)行測(cè)量或?qū)π倍冗M(jìn)行調(diào)整。
例如,專利文獻(xiàn)1中揭示了如下技術(shù):將接觸銷埋設(shè)于基板平臺(tái)的表面,使安裝部(安裝工具)下降,使電子零件的吸附面(保持面)的多個(gè)部位與接觸銷前端接觸,求出此時(shí)的安裝部與安裝單元的相對(duì)移動(dòng)量,并根據(jù)所述相對(duì)移動(dòng)量來以數(shù)值形式獲得與基板平臺(tái)吸附面的平行度。根據(jù)所述技術(shù),可相對(duì)簡(jiǎn)單地測(cè)量安裝工具的保持面的平行度。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本專利特開2014-17328號(hào)公報(bào)
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
發(fā)明要解決的課題
然而,專利文獻(xiàn)1的技術(shù)中,根據(jù)使接觸銷僅與安裝工具的保持面的特定部位接觸的結(jié)果,來測(cè)量保持面的平行度。然而,通常在安裝工具的保持面形成著與負(fù)壓發(fā)生源連通的抽吸孔或與所述抽吸孔連通的抽吸槽。專利文獻(xiàn)1的技術(shù)中,在接觸銷與所述抽吸孔或抽吸槽的形成部位接觸的情況下,專利文獻(xiàn)1的技術(shù)無法正常地測(cè)量保持面的平行度。當(dāng)然,為了使接觸銷不與抽吸孔或抽吸槽接觸,可預(yù)先對(duì)安裝工具的移動(dòng)位置進(jìn)行控制。然而,抽吸孔或抽吸槽的位置或形狀根據(jù)安裝裝置的種類或安裝對(duì)象的電子零件種類等的不同而有多種,從而根據(jù)所述抽吸孔或抽吸槽的位置或形狀來變更安裝工具的移動(dòng)程序?qū)?huì)耗費(fèi)功夫。
而且,專利文獻(xiàn)1的技術(shù)中,雖可測(cè)量保持面的平行度,但無法檢測(cè)異物對(duì)保持面的附著。亦即,安裝步驟的過程中,保持面上有時(shí)會(huì)附著粉塵等異物。在附著所述異物的狀態(tài)下利用保持面來對(duì)電子零件進(jìn)行抽吸保持時(shí),電子零件成為相對(duì)于保持面傾斜的狀態(tài)。所述情況下,即便保持了保持面的平行度,也無法保持電子零件的平行度,從而導(dǎo)致安裝精度的降低。
因此,本實(shí)施方式的目的在于提供一種可更準(zhǔn)確地測(cè)量安裝工具的保持面的狀態(tài)的安裝裝置以及測(cè)量方法。
解決問題的技術(shù)手段
本發(fā)明的安裝裝置將電子零件安裝于基板,其特征在于包括:安裝工具,由作為前端面的保持面來保持電子零件;移動(dòng)機(jī)構(gòu),使安裝工具相對(duì)于基板相對(duì)地進(jìn)行移動(dòng);平板狀的測(cè)量夾具,保持于保持面;角度檢測(cè)機(jī)構(gòu),對(duì)測(cè)量夾具的斜度進(jìn)行測(cè)量;以及控制部,對(duì)安裝裝置的驅(qū)動(dòng)進(jìn)行控制,控制部在保持面的檢查時(shí),使安裝工具保持測(cè)量夾具,并且使角度檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)測(cè)量夾具的斜度進(jìn)行測(cè)量。
優(yōu)選的方式中,角度檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括:接觸銷,朝向保持面突出并被固定??;運(yùn)算部,根據(jù)位置信息來運(yùn)算測(cè)量夾具的斜度,所述位置信息是使接觸銷依次與保持在保持面的測(cè)量夾具的表面的多個(gè)部位接觸時(shí)的安裝工具的相對(duì)的位置信息。
另一優(yōu)選的方式中,控制部根據(jù)測(cè)量的斜度來調(diào)整保持面的斜度。另一優(yōu)選的方式中,安裝工具還包括將所述安裝工具的姿勢(shì)鎖定或解除鎖定的工具支持機(jī)構(gòu),控制部在工具支持機(jī)構(gòu)解除安裝工具的姿勢(shì)鎖定的狀態(tài)下,經(jīng)由測(cè)量夾具將保持面的一部分按壓至接觸銷,由此來調(diào)整保持面的斜度。另一優(yōu)選的方式中,測(cè)量夾具為覆蓋保持面整體的尺寸。
作為另一本發(fā)明的測(cè)量方法,使用將電子零件安裝于基板的安裝裝置,來測(cè)量保持電子零件的安裝工具的保持面的狀態(tài),所述測(cè)量方法包括下述步驟:準(zhǔn)備安裝裝置,所述安裝裝置包括:利用作為前端面的保持面來保持電子零件的安裝工具、以及測(cè)量保持于保持面的平板狀的測(cè)量夾具的斜度的角度檢測(cè)機(jī)構(gòu);利用安裝工具的保持面來保持平板狀的測(cè)量夾具;使用搭載于安裝裝置的角度測(cè)量機(jī)構(gòu)來對(duì)測(cè)量夾具的斜度進(jìn)行測(cè)量;以及根據(jù)保持的測(cè)量夾具的斜度來判斷保持面是否優(yōu)良。
發(fā)明的效果
根據(jù)本發(fā)明,因使安裝工具保持測(cè)量夾具并對(duì)所述測(cè)量夾具的斜度進(jìn)行測(cè)量,故可不受到形成于安裝工具的保持面的抽吸孔或抽吸槽的影響來測(cè)量保持面的斜度或有無異物。
附圖說明
圖1a是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的安裝裝置的立體圖。
圖1b是安裝裝置的主要部分放大圖。
圖2是安裝裝置的概略構(gòu)成圖。
圖3是安裝工具的正面圖。
圖4是圖3的a-a剖面圖。
圖5是表示工具支持機(jī)構(gòu)的構(gòu)成的圖。
圖6是保持面的底面圖。
圖7是表示保持面的檢查的情況的圖。
圖8是表示保持面的檢查·調(diào)整的流程的流程圖。
圖9是表示保持面的檢查的流程的流程圖。
圖10是表示保持面的調(diào)整的流程的流程圖。
圖11是表示現(xiàn)有的保持面的檢查的情況的圖。
圖12是表示現(xiàn)有的保持面的檢查的情況的圖。
具體實(shí)施方式
以下,參照附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行說明。圖1a是作為本發(fā)明的實(shí)施方式的電子零件的安裝裝置10的立體圖,圖1b是安裝裝置10的主要部分放大圖。而且,圖2是安裝裝置的概略構(gòu)成圖,圖3是安裝頭12的正面圖,圖4是圖3的a-a剖面圖。
安裝裝置10是將作為電子零件的半導(dǎo)體芯片以面朝下(facedown)的狀態(tài)安裝于基板100上的裝置,例如為覆晶(flipchip)安裝裝置。安裝裝置10包括:具備安裝工具14的安裝頭12或?qū)雽?dǎo)體芯片供給至安裝工具14的芯片供給部件(未圖示),載置著基板100的基板平臺(tái)50,以及使基板平臺(tái)50沿xy方向(水平方向)移動(dòng)的xy平臺(tái)52等。
半導(dǎo)體芯片由芯片供給部件而供給至安裝工具14。關(guān)于芯片供給部件的構(gòu)成,考慮有多種,例如,考慮利用中轉(zhuǎn)臂自載置于晶片平臺(tái)的晶片中拾取半導(dǎo)體芯片并移送至中轉(zhuǎn)平臺(tái)的構(gòu)成。所述情況下,xy平臺(tái)52將中轉(zhuǎn)平臺(tái)移送至安裝工具14的正下方,安裝工具14自位于正下方的中轉(zhuǎn)平臺(tái)拾取半導(dǎo)體芯片。
若利用安裝工具14拾取半導(dǎo)體芯片,則繼而利用xy平臺(tái)52將基板100移送至安裝工具14的正下方。若成為所述狀態(tài),則安裝工具14朝向基板100下降,并將抽吸保持于前端的半導(dǎo)體芯片壓接并安裝于基板100。
安裝頭12固接于自安裝裝置10的基底11立足的框架54,其水平位置為固定。在與安裝頭12相向的位置設(shè)置著保持基板100的基板平臺(tái)50。所述基板平臺(tái)50上裝入有對(duì)基板100進(jìn)行加熱的加熱裝置等?;迤脚_(tái)50設(shè)置于xy平臺(tái)52上,根據(jù)來自控制部70的指示,適當(dāng)?shù)匮厮椒较蛞苿?dòng)。
而且,在基板平臺(tái)50的附近,還設(shè)置著接觸銷60或載置有測(cè)量夾具64的夾具平臺(tái)62、相機(jī)單元66等。接觸銷60以及測(cè)量夾具64均用于對(duì)安裝工具14的保持面14a的狀態(tài)進(jìn)行檢查·調(diào)整。
接觸銷60設(shè)置于xy平臺(tái)52中的基板平臺(tái)50的附近,為向上側(cè)(亦即安裝工具14側(cè))突出的銷。所述接觸銷60由熱膨脹系數(shù)低的金屬,例如以瑙比納特(nobinite)(注冊(cè)商標(biāo))的制品名而為人所知的鑄鐵系材料而制作。接觸銷60的前端為圓錐形,能夠以一點(diǎn)而與抽吸保持于安裝工具14的測(cè)量夾具64進(jìn)行接觸。所述接觸銷60與進(jìn)行運(yùn)算處理的安裝裝置10的控制部70作為對(duì)保持于安裝工具14的測(cè)量夾具64的斜度進(jìn)行測(cè)量的角度檢測(cè)機(jī)構(gòu)發(fā)揮功能。
測(cè)量夾具64是在保持面14a的檢查時(shí)由保持面14a抽吸保持的板(plate)。所述測(cè)量夾具64為厚度均勻、上表面以及底面平坦的平板狀,成為覆蓋安裝工具14的保持面14a整體的尺寸。測(cè)量夾具64由熱膨脹系數(shù)低且容易形成平面的材料,例如玻璃等而制作。測(cè)量夾具64通常載置于xy平臺(tái)52中的配置于基板平臺(tái)50的附近的夾具平臺(tái)62上。在對(duì)保持面14a的狀態(tài)進(jìn)行檢查時(shí),使安裝工具14自所述夾具平臺(tái)62拾取并保持測(cè)量夾具64。然后,在所述狀態(tài)下,使測(cè)量夾具64與接觸銷60接觸,從而根據(jù)接觸時(shí)的安裝工具14的位置信息來檢查保持面14a的狀態(tài)。
而且,在基板平臺(tái)50的側(cè)方搭載著相機(jī)單元66,所述相機(jī)單元66用以自下側(cè)對(duì)安裝工具14以及保持于安裝工具14的半導(dǎo)體芯片進(jìn)行拍攝。所述相機(jī)單元66或接觸銷60、夾具平臺(tái)62均設(shè)置于xy平臺(tái)52上,根據(jù)來自控制部70的指示而適當(dāng)?shù)匮厮椒较蛞苿?dòng)。
安裝頭12上,除具備對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行抽吸保持的安裝工具14外,還具備使所述安裝工具14向下方移動(dòng)而對(duì)半導(dǎo)體芯片賦予負(fù)載的第一加壓機(jī)構(gòu)、第二加壓機(jī)構(gòu),或?qū)Π惭b工具14升降自如地加以支持的支持機(jī)構(gòu),固接于框架54的基底構(gòu)件16等。
基底構(gòu)件16是固接于框架54上且其水平·垂直位置為固定的構(gòu)件。所述基底構(gòu)件16上安裝著構(gòu)成第一加壓機(jī)構(gòu)的z軸馬達(dá)18或?qū)χС謾C(jī)構(gòu)的升降進(jìn)行導(dǎo)引的z軸導(dǎo)軌17等。
支持機(jī)構(gòu)將安裝工具14或第二加壓機(jī)構(gòu)可沿鉛垂方向滑動(dòng)地加以支持。支持機(jī)構(gòu)包括組裝在z軸導(dǎo)軌17的移動(dòng)體24或馬達(dá)保持器26、移動(dòng)區(qū)塊28等。所述移動(dòng)體24或馬達(dá)保持器26、移動(dòng)區(qū)塊28彼此連結(jié),均沿鉛垂方向滑動(dòng)移動(dòng)。馬達(dá)保持器26是對(duì)構(gòu)成第二加壓機(jī)構(gòu)的音圈馬達(dá)(以下稱作“vcm”)30加以保持的構(gòu)件。在所述馬達(dá)保持器26的上側(cè),設(shè)置著螺合著構(gòu)成第一加壓機(jī)構(gòu)的導(dǎo)螺桿22的移動(dòng)區(qū)塊28。伴隨導(dǎo)螺桿22的旋轉(zhuǎn),所述移動(dòng)區(qū)塊28升降,進(jìn)而,連結(jié)于移動(dòng)區(qū)塊28的馬達(dá)保持器26或移動(dòng)體24、vcm30、安裝工具14升降。
第一加壓機(jī)構(gòu)是使安裝工具14連同支持機(jī)構(gòu)沿鉛垂方向移動(dòng)的移動(dòng)機(jī)構(gòu),且是對(duì)半導(dǎo)體芯片賦予相對(duì)較大的第一負(fù)載的機(jī)構(gòu)。利用第一加壓機(jī)構(gòu),安裝工具14朝向基板100下降,抽吸保持于所述安裝工具14的前端的半導(dǎo)體芯片被按壓至基板100上。此時(shí),賦予至半導(dǎo)體芯片的負(fù)載為相對(duì)較大的值,例如為10n~500n。
第一加壓機(jī)構(gòu)包括:連結(jié)于基底構(gòu)件16的z軸馬達(dá)18,以及經(jīng)由聯(lián)軸器(coupling)20而連結(jié)于所述z軸馬達(dá)18的輸出軸的導(dǎo)螺桿22。伴隨z軸馬達(dá)18的驅(qū)動(dòng),導(dǎo)螺桿22旋轉(zhuǎn),由此移動(dòng)區(qū)塊28、進(jìn)而第二加壓機(jī)構(gòu)或安裝工具14升降。另外,此處說明的第一加壓機(jī)構(gòu)的構(gòu)成為一例,第一加壓機(jī)構(gòu)只要可使安裝工具14或第二加壓機(jī)構(gòu)、支持機(jī)構(gòu)均沿鉛垂方向移動(dòng),則其構(gòu)成不作限定。例如,作為加壓機(jī)構(gòu)的驅(qū)動(dòng)源,可不采用馬達(dá),而采用氣缸或油壓缸等。
第二加壓機(jī)構(gòu)是插入于支持機(jī)構(gòu)與安裝工具14之間,使安裝工具14相對(duì)于支持機(jī)構(gòu)移動(dòng)的移動(dòng)機(jī)構(gòu)。第二加壓機(jī)構(gòu)比起第一加壓機(jī)構(gòu),將相對(duì)較小的第二負(fù)載賦予至半導(dǎo)體芯片。利用第二加壓機(jī)構(gòu)而安裝工具14朝向基板100下降,抽吸保持于所述安裝工具14的前端的半導(dǎo)體芯片被按壓至基板100上。此時(shí),賦予至半導(dǎo)體芯片的負(fù)載為相對(duì)較小的值,例如為0.1n~50n。
第二加壓機(jī)構(gòu)以vcm30為驅(qū)動(dòng)源。vcm30包含如下而構(gòu)成:內(nèi)周面配置著永久磁鐵的大致圓筒形的定子32,以及與所述定子32同心地配置于所述定子32的內(nèi)側(cè)的轉(zhuǎn)子34。定子32保持于馬達(dá)保持器26。轉(zhuǎn)子34是在其周圍卷繞著線圈而成的大致圓筒形構(gòu)件,通過對(duì)線圈通電而相對(duì)于定子32在軸方向上進(jìn)退。另外,此處說明的第二加壓機(jī)構(gòu)的構(gòu)成為一例,第二加壓機(jī)構(gòu)只要可使安裝工具14相對(duì)于支持機(jī)構(gòu)沿鉛垂方向移動(dòng),則其構(gòu)成不作限定。
vcm30的轉(zhuǎn)子34上連結(jié)著滑動(dòng)軸36。所述滑動(dòng)軸36是插入于轉(zhuǎn)子34與安裝工具14之間的構(gòu)件,隨轉(zhuǎn)子34一并沿鉛垂方向移動(dòng)。支持機(jī)構(gòu)上固接著覆蓋所述滑動(dòng)軸36的周圍的保護(hù)構(gòu)件44。保護(hù)構(gòu)件44上形成直徑稍大于滑動(dòng)軸36的貫通孔,滑動(dòng)軸36在所述貫通孔內(nèi)進(jìn)退。在滑動(dòng)軸36的前端安裝著將安裝工具14姿勢(shì)可變地加以保持的工具支持機(jī)構(gòu)45。
在vcm30的轉(zhuǎn)子34與馬達(dá)保持器26之間設(shè)置著測(cè)力器(loadcell)38。測(cè)力器38是用以對(duì)經(jīng)由安裝工具14而賦予至半導(dǎo)體芯片的負(fù)載進(jìn)行檢測(cè)的壓力檢測(cè)器。在使用第一加壓機(jī)構(gòu)來賦予相對(duì)較高的負(fù)載時(shí),使vcm30的轉(zhuǎn)子34上升,而使測(cè)力器38與馬達(dá)保持器26接觸,從而使測(cè)力器38產(chǎn)生預(yù)負(fù)載(preload)。
支持機(jī)構(gòu)上進(jìn)而還固接著線性標(biāo)尺42。所述線性標(biāo)尺42測(cè)量滑動(dòng)軸36、進(jìn)而安裝工具14的相對(duì)于支持機(jī)構(gòu)的位移量。然后,根據(jù)所述位移量來檢測(cè)安裝工具14的z軸方向位置。
工具支持機(jī)構(gòu)45是保持安裝工具14的機(jī)構(gòu),且可將安裝工具14的姿勢(shì)鎖定或解除鎖定。圖5是表示工具支持機(jī)構(gòu)45的構(gòu)成的概略圖。工具支持機(jī)構(gòu)45大致分為:固接于滑動(dòng)軸36的固定部46,以及相對(duì)于所述固定部46可動(dòng)的可動(dòng)部47。固定部46的底面為凹狀的球面形狀。而且,所述固定部46的內(nèi)部形成著與所述凹狀球面連通的空腔部46a,所述空腔部46a進(jìn)而與設(shè)置于外部的泵49連通。通過所述泵49的驅(qū)動(dòng),對(duì)所述空腔部46a供給壓縮空氣,或?qū)涨徊窟M(jìn)行真空抽吸。進(jìn)而,空腔部46a內(nèi)還設(shè)置著對(duì)可動(dòng)部47進(jìn)行吸引保持的磁鐵48。
可動(dòng)部47的上表面為與凹狀球面對(duì)應(yīng)的凸?fàn)畹那蛎?,且其底面上安裝著安裝工具14。所述可動(dòng)部47、進(jìn)而安裝工具14的姿勢(shì)通過對(duì)空腔部46a進(jìn)行真空抽吸而被鎖定,且通過對(duì)空腔部46a供給壓縮空氣而解除鎖定。亦即,若對(duì)空腔部46a進(jìn)行真空抽吸,則可動(dòng)部47利用所述真空抽吸力以及磁鐵48的磁吸引力而密接并固定于固定部46的凹狀球面,因而可動(dòng)部47的姿勢(shì)幾乎無法變更。另一方面,若對(duì)空腔部46a供給壓縮空氣,則可動(dòng)部47抵抗磁鐵48的磁吸引力而向下方移動(dòng)。此時(shí),以磁鐵48的磁吸引力與壓縮空氣的斥力對(duì)抗的方式來調(diào)整壓縮空氣的供給量,由此在可動(dòng)部47與凹狀球面之間形成微小的間隙,從而可動(dòng)部47與固定部46之間的滑動(dòng)阻力大幅降低。結(jié)果,可動(dòng)部47可相對(duì)于固定部46自由地移動(dòng),且可自由地變更其姿勢(shì)。
安裝工具14是對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行抽吸保持的部位。所述安裝工具14的前端面為對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行抽吸保持的保持面14a。圖6是表示所述保持面14a的一例的圖。保持面14a上通常形成著用以對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行抽吸的1個(gè)以上的抽吸孔14b。抽吸孔14b與設(shè)置于安裝工具14的外部的抽真空泵(未圖示)連通。而且,保持面14a上還形成著與所述抽吸孔14b連通的抽吸槽14c。另外,圖6中,抽吸槽14c形成為大致h字狀,但抽吸槽14c的形狀根據(jù)安裝裝置10的種類的不同而適當(dāng)?shù)夭煌?/p>
控制部70包括進(jìn)行各種運(yùn)算處理的中央處理器(centralprocessingunit,cpu)72、或記憶各種數(shù)據(jù)或程序的存儲(chǔ)器74、以及管理數(shù)據(jù)的輸入輸出的數(shù)據(jù)界面76等。存儲(chǔ)器74記錄著用以進(jìn)行安裝控制的程序或各種數(shù)據(jù)。而且,cpu72根據(jù)由測(cè)力器38或線性標(biāo)尺42等傳感器檢測(cè)出的值來執(zhí)行各種運(yùn)算,并且依據(jù)記憶于存儲(chǔ)器74的程序,將控制信號(hào)經(jīng)由數(shù)據(jù)界面76而輸出,所述控制信號(hào)用以對(duì)加壓機(jī)構(gòu)或xy平臺(tái)52、基板平臺(tái)50上搭載的加熱器等進(jìn)行驅(qū)動(dòng)。
在利用以上的安裝裝置10將半導(dǎo)體芯片安裝于基板100時(shí),當(dāng)然,是在安裝工具14的前端抽吸保持半導(dǎo)體芯片,所述狀態(tài)下,將半導(dǎo)體芯片按壓至基板100上。此時(shí),若保持于安裝工具14的半導(dǎo)體芯片的表面與基板100不平行,則無法對(duì)半導(dǎo)體芯片的整個(gè)面均等地施加負(fù)載,從而導(dǎo)致安裝精度的下降。
因此,以前提出對(duì)保持面14a的斜度進(jìn)行測(cè)量并檢查的技術(shù)。例如,考慮在xy平臺(tái)52上設(shè)置斜度測(cè)量用的傳感器,例如位移傳感器等,利用所述斜度測(cè)量用傳感器來測(cè)量保持面14a的斜度。然而,此種斜度測(cè)量用傳感器的追加設(shè)置會(huì)導(dǎo)致電氣配線的增加,從而使電氣配線復(fù)雜化。而且,通常,在安裝半導(dǎo)體芯片時(shí),因?qū)⒒?00或安裝工具14加熱至高溫,故斜度測(cè)量用傳感器的設(shè)置部位周邊也容易成為高溫。所述高溫環(huán)境下,難以保持傳感器的精度,而耐熱溫度高的傳感器的價(jià)格非常高。
因此,提出如下技術(shù),即,在部分與保持面14a的相向面上固定設(shè)置接觸銷,通過使保持面14a與所述接觸銷接觸而測(cè)量保持面14a的斜度。亦即,提出如下技術(shù):使接觸銷接觸于保持面14a的多個(gè)部位,根據(jù)所述接觸時(shí)的安裝工具14的高度位置來測(cè)量保持面14a的斜度。根據(jù)所述技術(shù),無需為了進(jìn)行斜度測(cè)量而另外追加新的傳感器,因而可使電氣配線簡(jiǎn)化,而且可降低成本。
然而,現(xiàn)有的技術(shù)中,使接觸銷與保持面14a直接接觸。所述情況下,有無法正確地探測(cè)保持面14a的斜度的擔(dān)憂。亦即,如所述般,保持面14a上通常形成著抽吸孔14b或抽吸槽14c。在斜度測(cè)量時(shí),接觸銷60的前端如圖11所示,若與所述抽吸孔14b或抽吸槽14c接觸,則存在無法正確地檢測(cè)保持面14a的高度的問題。
而且,現(xiàn)有的技術(shù)中,因使接觸銷60僅與保持面14a的一部分接觸,故即便保持面14a上附著有污物等異物,也無法檢測(cè)。亦即,在重復(fù)進(jìn)行半導(dǎo)體芯片的安裝的過程中,有時(shí)會(huì)在保持面14a上附著污物等異物。如圖12所示,在附著有所述污物102的狀態(tài)下,若利用保持面14a抽吸半導(dǎo)體芯片104,則即便保持面14a相對(duì)于基板100平行,半導(dǎo)體芯片104也會(huì)傾斜。所述狀態(tài)下,即便將半導(dǎo)體芯片壓接至基板100,負(fù)載也不會(huì)均等地施加至半導(dǎo)體芯片104的整個(gè)面,從而導(dǎo)致安裝的精度劣化。
因此,本實(shí)施方式中,與所述現(xiàn)有技術(shù)不同,為了不追加傳感器等而確實(shí)地探測(cè)保持面14a的狀態(tài),而使用測(cè)量夾具64。關(guān)于此,參照?qǐng)D7來進(jìn)行說明。圖7是表示檢查的情況的示意圖。如已述般,在對(duì)保持面14a進(jìn)行檢查時(shí),將測(cè)量夾具64抽吸保持于保持面14a。此處,測(cè)量夾具64為厚度均勻、上表面以及下表面平坦的平板狀。因此,若保持面14a上無異物等,則抽吸保持于保持面14a的測(cè)量夾具64的下表面與保持面14a平行。因此,通過對(duì)所述測(cè)量夾具64的下表面的斜度進(jìn)行測(cè)量,而可推測(cè)出保持面14a的斜度。
本實(shí)施方式中,在利用保持面14a來對(duì)測(cè)量夾具64進(jìn)行抽吸保持的狀態(tài)下,使xy平臺(tái)52驅(qū)動(dòng),并如圖7(a)所示,使測(cè)量夾具64上的規(guī)定的測(cè)量點(diǎn)與接觸銷60的前端在z軸方向上相向、排列。繼而,使vcm30動(dòng)作,使安裝工具14沿z軸下降。然后,若測(cè)量夾具64與接觸銷的前端接觸,則安裝工具14的下降停止。若利用線性標(biāo)尺42探測(cè)到所述下降停止,則控制部70判斷已產(chǎn)生測(cè)量夾具64與接觸銷60的接觸,從而停止vcm30的驅(qū)動(dòng)。然后,控制部70將直至與接觸銷60接觸為止的安裝工具14的下降量作為測(cè)量點(diǎn)的高度位置信息而加以記憶。若探測(cè)到一個(gè)測(cè)量點(diǎn)與接觸銷的接觸,則驅(qū)動(dòng)vcm30,使安裝工具14上升,從而使測(cè)量夾具64與接觸銷60隔開。接著,以后對(duì)其他測(cè)量點(diǎn)也進(jìn)行同樣的接觸·測(cè)量。另外,此處所測(cè)量的測(cè)量點(diǎn)只要為不在同一直線上排列的3點(diǎn)以上,則其位置或個(gè)數(shù)不作限定。然而,為了減少測(cè)量誤差,理想的是多個(gè)測(cè)量點(diǎn)隔開。本實(shí)施方式中,在矩形的測(cè)量夾具64的四角附近,分別逐個(gè)地設(shè)定共計(jì)四點(diǎn)的測(cè)量點(diǎn)。
若關(guān)于所有測(cè)量點(diǎn)獲得高度位置信息,則根據(jù)他們的相對(duì)關(guān)系來算出測(cè)量夾具64的斜度。例如,以由一個(gè)測(cè)量點(diǎn)獲得的高度位置信息為基準(zhǔn),求出所述基準(zhǔn)的高度位置信息(安裝工具14的下降量)與其他測(cè)量點(diǎn)的高度位置信息(安裝工具14的下降量)的差分值。在所獲得的各個(gè)差分值為預(yù)先規(guī)定的閾值以上的情況下,判定測(cè)量夾具64的平行度未達(dá)到所需值。
此處,關(guān)于測(cè)量夾具64的平行度未達(dá)到所需值的原因,認(rèn)為有如下兩種情況:安裝工具14的姿勢(shì)不恰當(dāng),安裝工具14的保持面14a附著異物。關(guān)于確認(rèn)測(cè)量夾具64是因兩種情況下的哪個(gè)而傾斜的方法,考慮多種方法。例如,也可使用設(shè)置于xy平臺(tái)52的相機(jī)單元66對(duì)安裝工具14的保持面14a進(jìn)行拍攝,根據(jù)所獲得的圖像,來確認(rèn)有無附著異物。而且,作為另一方法,也可在經(jīng)由測(cè)量夾具64測(cè)量平行度后,在卸除測(cè)量夾具64的狀態(tài)下,再次測(cè)量平行度。亦即,使接觸銷60與保持面14a直接接觸,根據(jù)此時(shí)的安裝工具14的下降量(高度位置信息)等來測(cè)量保持面14a的平行度。結(jié)果,在保持面14a的平行度與測(cè)量夾具64的平行度一致的情況下,可判斷為安裝工具14的姿勢(shì)不良。相反,在保持面14a的平行度與測(cè)量夾具64的平行度大幅背離的情況下,認(rèn)為安裝工具14的保持面14a上附著有某些異物。另外,在使接觸銷60與安裝工具14的保持面14a直接接觸的情況下,考慮以接觸銷60不與抽吸孔14b或抽吸槽14c接觸的方式來設(shè)定測(cè)量點(diǎn)。
在判斷為保持面14a上附著有異物的情況下,在將所述異物去除后,再次對(duì)保持于保持面14a的測(cè)量夾具64的斜度進(jìn)行測(cè)量。而且,在判斷為安裝工具14的姿勢(shì)不良的情況下,調(diào)整安裝工具14的姿勢(shì)。作為調(diào)整安裝工具14的姿勢(shì)的方法,考慮有幾種方法。例如,預(yù)先準(zhǔn)備與基板平臺(tái)50平行的基準(zhǔn)面,在調(diào)整安裝工具14的姿勢(shì)時(shí),也可在解除安裝工具14的姿勢(shì)鎖定的狀態(tài)下,將所述安裝工具14的保持面14a抵壓至基準(zhǔn)面。
而且,作為另一方法,也可經(jīng)由測(cè)量夾具64,利用接觸銷60上推保持面14a而調(diào)整安裝工具14的姿勢(shì)。亦即,根據(jù)測(cè)量夾具64的四個(gè)測(cè)量點(diǎn)的高度位置信息,來算出測(cè)量夾具64的中心點(diǎn)的高度并作為基準(zhǔn)高度。然后,工具支持機(jī)構(gòu)45中,解除對(duì)空腔部46a的真空抽吸,另一方面,開始供給壓縮空氣,并解除安裝工具14的姿勢(shì)鎖定。所述狀態(tài)下,使接觸銷60位于四個(gè)測(cè)量點(diǎn)中的比所述中心點(diǎn)低的測(cè)量點(diǎn)的正下方。所述狀態(tài)下,使安裝工具14下降,而將接觸銷60抵壓至測(cè)量點(diǎn)。此時(shí),安裝工具14的姿勢(shì)被解除鎖定,因而安裝工具14受到經(jīng)由測(cè)量夾具64傳遞的來自接觸銷60的抵壓力,且姿勢(shì)逐漸變化。然后,若最終接觸點(diǎn)的高度達(dá)到基準(zhǔn)高度(中心點(diǎn)的高度),則停止下降,使安裝工具14上升以與接觸銷60隔開。而且,對(duì)低于基準(zhǔn)高度的所有測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行相同的處理。
另外,即便接觸銷60的水平位置相同,測(cè)量夾具64根據(jù)斜度不同,而測(cè)量夾具64上的與接觸銷60的接觸點(diǎn)也不同。換句話說,在測(cè)量夾具64傾斜的情況下,預(yù)先設(shè)定的測(cè)量點(diǎn)與實(shí)際的接觸點(diǎn)之間產(chǎn)生偏移。此種偏移成為斜度的測(cè)量結(jié)果或所述斜度的調(diào)整結(jié)果的誤差的原因。然而,通過重復(fù)進(jìn)行利用了接觸銷60的測(cè)量夾具64的斜度的測(cè)量與調(diào)整,而可逐漸減少此種誤差,從而最終可將測(cè)量夾具64(進(jìn)而保持面14a)調(diào)整為與基板平臺(tái)50平行。
其次,參照?qǐng)D8~圖10對(duì)本實(shí)施方式中的安裝工具14的保持面14a的狀態(tài)的檢查與調(diào)整的流程進(jìn)行說明。圖8~圖10是表示安裝工具14的保持面14a的狀態(tài)的檢查與調(diào)整的流程的流程圖。
在對(duì)實(shí)測(cè)工具14的保持面14a的狀態(tài)進(jìn)行檢查·調(diào)整時(shí),首先,將測(cè)量夾具64抽吸保持于安裝工具14的保持面14a(s10)。然后,在所述狀態(tài)下,對(duì)預(yù)先規(guī)定的四點(diǎn)的測(cè)量點(diǎn)的高度進(jìn)行測(cè)量(s12)。具體而言,首先,驅(qū)動(dòng)xy平臺(tái)52,使接觸銷60移動(dòng)至測(cè)量夾具64的第1個(gè)測(cè)量點(diǎn)的正下方(s40、s42)。然后,使安裝工具14下降直至測(cè)量夾具64與接觸銷60接觸為止(s44、s46)。例如可通過對(duì)線性標(biāo)尺42的值進(jìn)行監(jiān)控而探測(cè)到所述接觸。若測(cè)量夾具64與接觸銷60接觸,則在所述時(shí)間點(diǎn)記憶安裝工具14的高度位置,并且為了使安裝工具14與接觸銷60隔開而使其上升(s48、s50)對(duì)剩余三點(diǎn)的測(cè)量點(diǎn)也進(jìn)行相同的程序,如果可檢測(cè)出所有測(cè)量點(diǎn)的高度位置,則進(jìn)入至步驟s14。
步驟s14中,算出所獲得的四個(gè)測(cè)量點(diǎn)的高度位置的差分值。然后,對(duì)所獲得的差分值與預(yù)先規(guī)定的閾值進(jìn)行比較(s16)。在比較的結(jié)果為差分值低于閾值的情況下,判斷為測(cè)量夾具64進(jìn)而保持面14a與基板平臺(tái)50大致平行。所述情況下解除安裝工具14對(duì)測(cè)量夾具64的保持(s18)。
另一方面,在差分值為閾值以上的情況下,判斷保持面14a的狀態(tài)有問題。所述情況下,首先,檢查保持面14a有無附著異物(s20~s24)。圖8的例中,根據(jù)由相機(jī)單元66所獲得的攝像圖像來判斷有無異物。檢查的結(jié)果為在保持面14a上附著有異物的情況下,將所述異物去除(s30),并再次保持測(cè)量夾具64,然后回到步驟s12中,再次檢查保持面的狀態(tài)。
在保持面14a上未附著有異物的情況下,判斷為安裝工具14的姿勢(shì)不良。所述情況下,利用安裝工具14來保持測(cè)量夾具64(s26),然后調(diào)整安裝工具14的姿勢(shì)(s28)。具體而言,首先,根據(jù)所測(cè)量的四個(gè)測(cè)量點(diǎn)的高度位置,來算出測(cè)量夾具64的中心點(diǎn)的高度并作為基準(zhǔn)高度(s60)。然后,判斷第一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的高度位置是否低于所述基準(zhǔn)高度(s62、s64)。在判斷的結(jié)果為高于基準(zhǔn)高度的情況下,對(duì)下一個(gè)測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行相同的判斷。
另一方面,在測(cè)量點(diǎn)的高度低于基準(zhǔn)高度的情況下,使接觸銷60移動(dòng)至所述測(cè)量點(diǎn)的正下方(s66)。然后,若成為所述狀態(tài),則開始安裝工具14的下降,并且解除安裝工具14的姿勢(shì)鎖定(s68)。亦即,工具支持機(jī)構(gòu)45中,對(duì)空腔部46a供給壓縮空氣,在可動(dòng)部47與可動(dòng)部47之間形成微小間隙。若伴隨安裝工具14的下降,而測(cè)量夾具64抵接于接觸銷60,則安裝工具14進(jìn)而保持安裝工具14的可動(dòng)部47接收到力矩。在解除了姿勢(shì)鎖定的狀態(tài)下,接收到所述力矩,為了測(cè)量點(diǎn)向上方向移動(dòng),而可動(dòng)部47沿著凹狀球面滑動(dòng)。然后,若最終測(cè)量點(diǎn)的高度位置達(dá)到基準(zhǔn)高度,則停止安裝工具14的下降并且鎖定安裝工具14的姿勢(shì)(s70、s72)。而且,為了使安裝工具14與接觸銷60隔開,而使安裝工具14上升(s74)。
若對(duì)所有測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行以上的步驟s64~步驟s74的處理,則回到步驟s12,再次進(jìn)行保持面14a的檢查。而且,重復(fù)所述步驟直至最終測(cè)量點(diǎn)的高度位置的差分值小于閾值為止(步驟s16中至否(no)為止)。
如以上的說明可知,本實(shí)施方式中,為了檢查保持面14a的狀態(tài),使由安裝工具14抽吸保持的測(cè)量夾具64與接觸銷60接觸。通過設(shè)為所述構(gòu)成,即便在保持面14a上形成抽吸孔14b或抽吸槽14c,也可容易地測(cè)量保持面14a的斜度。而且,通過在接觸銷60與保持面14a之間插入測(cè)量夾具64,也可檢測(cè)保持面14a上附著的異物。
另外,至此說明的構(gòu)成或流程為一例,只要對(duì)保持于安裝工具14的保持面14a的測(cè)量夾具64的斜度進(jìn)行測(cè)量,并根據(jù)所述測(cè)量結(jié)果來判斷保持面14a的狀態(tài),則其他構(gòu)成也可適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行變更。
例如,在圖8的例中,在探測(cè)到測(cè)量夾具64的斜度的情況下,對(duì)保持面14a有無附著異物進(jìn)行檢查(s20~s24)。然而,在安裝裝置起動(dòng)后等異物立即附著于保持面14a的可能性低的情況下等,也可省略檢查有無異物附著的檢查步驟。而且,關(guān)于有無附著異物,不限于使用相機(jī)的情況,也可利用其它方法來探測(cè)。例如,也可將測(cè)量夾具64自保持面14a卸下,對(duì)所述保持面14a的斜度直接進(jìn)行探測(cè),在與插入測(cè)量夾具64的情況下的斜度的差異大的情況下,可判斷為附著有異物。
而且,本實(shí)施方式中,以安裝工具14的保持面14a基板平臺(tái)50平行的方式進(jìn)行檢查·調(diào)整,但也可視情況,而以保持面14a相對(duì)于基板平臺(tái)50具有特定的角度的方式進(jìn)行檢查·調(diào)整。而且,本實(shí)施方式中,根據(jù)使接觸銷60與測(cè)量夾具64接觸時(shí)的安裝工具14的下降量,來對(duì)測(cè)量點(diǎn)的高度位置進(jìn)行測(cè)量,但只要可對(duì)測(cè)量夾具64的多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的相對(duì)高度位置進(jìn)行測(cè)量,則也可利用其它方法來測(cè)量。例如,也可使用接觸式或非接觸式(光學(xué)式或超聲波式)的距離傳感器等,來對(duì)測(cè)量夾具64的多個(gè)測(cè)量點(diǎn)的相對(duì)高度位置進(jìn)行測(cè)量。
本發(fā)明并不限定于以上所說明的實(shí)施方式,而包含不脫離由權(quán)利要求所規(guī)定的本發(fā)明的技術(shù)范圍或本質(zhì)的所有變更及修正。
符號(hào)的說明
10:安裝裝置
11:基底
12:安裝頭
14:安裝工具
14a:保持面
16:基底構(gòu)件
17:z軸導(dǎo)軌
18:z軸馬達(dá)
20:聯(lián)軸器
22:導(dǎo)螺桿
24:移動(dòng)體
26:馬達(dá)保持器
28:移動(dòng)區(qū)塊
32:定子
34:轉(zhuǎn)子
36:滑動(dòng)軸
38:測(cè)力器
42:線性標(biāo)尺
44:保護(hù)構(gòu)件
45:工具支持機(jī)構(gòu)
46:固定部
47:可動(dòng)部
48:磁鐵
49:泵
50:基板平臺(tái)
52:xy平臺(tái)
54:框架
60:接觸銷
62:夾具平臺(tái)
64:測(cè)量夾具
66:相機(jī)單元
70:控制部
72:cpu
74:存儲(chǔ)器
76:數(shù)據(jù)界面
100:基板
102:污物
104:半導(dǎo)體芯片