專利名稱:振動(dòng)片、振子、振蕩器以及電子設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及振動(dòng)片、具有該振動(dòng)片的振子、振蕩器以及電子設(shè)備。
背景技術(shù):
以往,作為振動(dòng)片,公知有如下的壓電振動(dòng)片(以下稱作振動(dòng)片),該壓電振動(dòng)片包含基部和從基部延伸的臂部、以及被臂部的長度方向的第I區(qū)間支承的激勵(lì)部,激勵(lì)部具有壓電膜和夾著壓電膜的一對電極膜(例如,參照專利文獻(xiàn)I)。專利文獻(xiàn)I日本特開2009-239860號(hào)公報(bào)上述專利文獻(xiàn)I的振動(dòng)片是如下結(jié)構(gòu)激勵(lì)部(以下稱作激勵(lì)電極)的壓電膜進(jìn) 行伸縮,由此使臂部(以下稱作振動(dòng)臂)在厚度方向上彎曲振動(dòng)。相比于振動(dòng)臂單體的狀態(tài),上述那樣的振動(dòng)片的Q值(表現(xiàn)振動(dòng)狀態(tài)的無因次數(shù),且該值越大,表示振動(dòng)越穩(wěn)定)由于設(shè)置激勵(lì)電極而降低。在上述那樣的振動(dòng)片的激勵(lì)電極中,作為夾著壓電膜的一對電極膜,大多使用Ti (鈦)/Au(金)的膜(在基底層中層疊有Ti、在上層中層疊有Au的膜)。但是,根據(jù)發(fā)明人的分析,在激勵(lì)電極的一對電極膜使用Ti/Au的結(jié)構(gòu)中,存在Q值的下降程度較大的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明正是為了解決上述課題中的至少一部分而完成的,可作為以下方式或應(yīng)用例來實(shí)現(xiàn)。[應(yīng)用例I]本應(yīng)用例的振動(dòng)片的特征在于,該振動(dòng)片具有基材,其具有基部、和從所述基部延伸的振動(dòng)臂;第I電極,其設(shè)置在所述振動(dòng)臂上;第2電極,其設(shè)置在所述第I電極的上方;以及壓電體,其配置在所述第I電極和所述第2電極之間,所述第I電極和所述第2電極中的至少一方的材料采用了 ΙΤ0。由此,振動(dòng)片在設(shè)置在振動(dòng)臂上的第I電極和第2電極(相當(dāng)于ー對電極膜)的至少一方中采用了 ITO(Indium Tin Oxide :在氧化銦中添加百分之幾的氧化錫后的化合物),因此能夠利用ITO的特性來抑制Q值的降低,相對于使用Ti/Au的現(xiàn)有技術(shù)能夠提高Q值。這依據(jù)發(fā)明人根據(jù)基于實(shí)驗(yàn)的分析結(jié)果等而得到的見解。[應(yīng)用例2]在上述應(yīng)用例的振動(dòng)片中,優(yōu)選在所述第I電極和所述壓電體之間具有絕緣體。由此,振動(dòng)片在第I電極和壓電體(相當(dāng)于壓電膜)之間具有絕緣體,因此由于絕緣體,例如壓電體的極化時(shí)的取向性得到了提高等,進(jìn)ー步抑制Q值的降低,相對于使用Ti/Au的現(xiàn)有技術(shù)能夠使Q值得到飛躍性提高。另外,絕緣體優(yōu)選為無定形(非晶質(zhì))狀態(tài)。[應(yīng)用例3]在上述應(yīng)用例2的振動(dòng)片中,優(yōu)選所述絕緣體的材料采用Si02。由此,振動(dòng)片在絕緣體中采用SiO2 (ニ氧化硅),因此,利用SiO2,例如使壓電體的極化時(shí)的取向性得到提高等,進(jìn)ー步抑制Q值的降低,相對于使用Ti/Au的現(xiàn)有技術(shù)能夠使Q值得到飛躍性提高。
[應(yīng)用例4]在上述應(yīng)用例的振動(dòng)片中,優(yōu)選所述壓電體的材料采用ZnO。由此,振動(dòng)片在壓電體中采用了 Ζη0(氧化鋅),因此由于其取向性較高而使施加電場時(shí)的伸縮性優(yōu)異,能夠使基材高效地進(jìn)行彎曲振動(dòng)。[應(yīng)用例5]在上述應(yīng)用例的振動(dòng)片中,優(yōu)選所述基材的材料采用石英。由此,振動(dòng)片在基材中采用了石英,因此,由于石英的特性而使加工性優(yōu)異,并且能夠與周圍的溫度變化無關(guān)地進(jìn)行穩(wěn)定的振動(dòng)。[應(yīng)用例6]在上述應(yīng)用例的振動(dòng)片中,優(yōu)選所述基材的材料采用硅。由此,振動(dòng)片在基材中采用了硅,因此由于其特性,能夠使與Q值相關(guān)的潛在性能(例如,基材單體中的Q值)與石英相比得到進(jìn)一步提尚。[應(yīng)用例7]本應(yīng)用例的振子的特征在干,該振子具有上述任意ー個(gè)應(yīng)用例所述的振動(dòng)片;以及收納所述振動(dòng)片的封裝。由此,振子具有上述任意ー個(gè)應(yīng)用例所述的振動(dòng)片;以及收納所述振動(dòng)片的封裝,因此能夠提供起到上述任意ー個(gè)應(yīng)用例所述的效果的振子。[應(yīng)用例8]本應(yīng)用例的振蕩器的特征在干,該振蕩器具有上述任意ー個(gè)應(yīng)用例所述的振動(dòng)片;以及使所述振動(dòng)片振湯的振湯電路。由此,振蕩器具有上述任意ー個(gè)應(yīng)用例所述的振動(dòng)片;以及使所述振動(dòng)片振蕩的振蕩電路,因此能夠提供起到上述任意ー個(gè)應(yīng)用例所述的效果的振蕩器。[應(yīng)用例9]本應(yīng)用例的電子設(shè)備的特征在于,該電子設(shè)備具有上述任意一個(gè)應(yīng)用例所述的振動(dòng)片。由此,電子設(shè)備具有上述任意ー個(gè)應(yīng)用例所述的振動(dòng)片,因此能夠提供起到上述任意ー個(gè)應(yīng)用例所述的效果的電子設(shè)備。
圖I是示出第I實(shí)施方式的石英振動(dòng)片的概略結(jié)構(gòu)的示意圖,(a)是平面圖,(b)是(a)的A-A線處的剖視圖。圖2是圖I (a)的B-B線處的剖視圖以及各激勵(lì)電極的布線圖。圖3是示出了石英振動(dòng)片中的激勵(lì)電極的各結(jié)構(gòu)要素的材料與Q值之間的關(guān)系的圖。圖4是示出第2實(shí)施方式的石英振子的概略結(jié)構(gòu)的示意圖,(a)是從蓋(蓋體)側(cè)俯視到的平面圖,(b)是(a)的C-C線處的剖視圖。圖5是示出第3實(shí)施方式的石英振蕩器的概略結(jié)構(gòu)的示意圖,(a)是從蓋側(cè)俯視到的平面圖,(b)是(a)的C-C線處的剖視圖。圖6是示出第4實(shí)施方式的移動(dòng)電話的示意立體圖。標(biāo)號(hào)說明I :作為振動(dòng)片的石英振動(dòng)片;5 :作為振子的石英振子;6 :作為振蕩器的石英振蕩器;10 :基部;IOaUOb :主面;10c、10d :固定部;lla、llb、llc :振動(dòng)臂;12a、12b、12c :激勵(lì)電極;12al、12bl、12cl :第I電極;12a2、12b2、12c2 :第2電極;13 :壓電體;14 :絕緣體;18a、18b :連接電極;20 :封裝;21 :封裝底座;22 :蓋;23 :內(nèi)底面;23a :內(nèi)部連接端子;24、25 :內(nèi)部端子;26 :外底面;27、28 :外部端子;29 :接合部件;30 :粘接劑;31 :金屬線;40 :作為振蕩電路的IC芯片;41 :金屬線;700 :作為電子設(shè)備的移動(dòng)電話;701 :液晶顯不裝置;702 :操作按鈕;703 :受話器;704 :送話器。
具體實(shí)施例方式以下,參照附圖來說明使本發(fā)明具體 化的實(shí)施方式。(第I實(shí)施方式)此處,作為振動(dòng)片的一例,對使用石英作為基材的石英振動(dòng)片進(jìn)行說明。圖I是示出第I實(shí)施方式的石英振動(dòng)片的概略結(jié)構(gòu)的示意圖。圖I (a)是平面圖,圖1(b)是圖1(a)的A-A線處的剖視圖。另外,省略各布線,各結(jié)構(gòu)要素的尺寸比率與實(shí)際不同。圖2是圖1(a)的B-B線處的剖視圖以及各激勵(lì)電極的布線圖。如圖I所示,石英振動(dòng)片I作為基材具有基部10、和從基部10起在石英晶軸的Y軸方向上延伸的3個(gè)振動(dòng)臂lla、llb、llc。在本實(shí)施方式中,在3個(gè)振動(dòng)臂lla、llb、llc和基部10中使用了 Z板的石英基板。振動(dòng)臂11a、lib、Ilc形成為大致棱柱狀,在平面視圖中,排列在與Y軸方向垂直的石英晶軸的X軸方向上,并且在沿著由Y軸方向和X軸方向確定的平面(XY平面)的主面IOaUOb中的至少一方上(此處是在主面IOa上),設(shè)置有激勵(lì)電極12a、12b、12c。振動(dòng)臂11a、lib、Ilc通過激勵(lì)電極12a、12b、12c,在與主面IOa垂直的石英晶軸的Z軸方向(圖1(b)的箭頭方向)上進(jìn)行彎曲振動(dòng)(面外振動(dòng)在不沿著主面IOa的方向上的振動(dòng))。激勵(lì)電極12a、12b、12c是具有以下部件的層疊結(jié)構(gòu)設(shè)置在主面IOa側(cè)的第I電極 12al、12bl、12cl ;設(shè)置在第 I 電極 12al、12bl、12cl 的上方的第 2 電極 12a2、12b2、12c2 ;配置在第I電極12al、12bl、12cl和第2電極12a2、12b2、12c2之間的壓電體13 ;以及配置在第I電極12al、12bl、12cl和壓電體13之間的絕緣體14。在激勵(lì)電極12a、12b、12c 的第 I 電極 12al、12bl、12cl 和第 2 電極 12a2、12b2、12c2中,采用了包含ITO的膜,在壓電體13中,采用了包含ZnO的壓電性較高(取向性高)的壓電材料的膜。此外,在絕緣體14中,采用了包含無定形(amorphous)狀態(tài)的SiO2的膜。另外,第I電極12al、12bl、12cl和第2電極12a2、12b2、12c2也可以在任意一方中采用包含ITO的膜,在另一方中采用包含其它材料(例如Ti/Au、Cr (鉻)/Au等)的膜。此外,也可以在壓電體13中,采用包含結(jié)晶構(gòu)造與ZnO相同的AlN(氮化鋁)的壓電材料。另外,激勵(lì)電極12a、12b、12c優(yōu)選從振動(dòng)臂11a、lib、Ilc的根部(與基部10的邊界部分)起向前端部延伸,并以振動(dòng)臂I la、I lb、I Ic的整個(gè)長度(從Y軸方向的根部到前端的長度)的一半左右的長度進(jìn)行設(shè)置。另外,如圖1(b)所示,基部10的Z軸方向的厚度形成得比振動(dòng)臂lla、llb、llc的
Z軸方向的厚度厚。此外,在圖1(a)中,如雙點(diǎn)劃線所示,在基部10的X軸方向的兩端部的主面IOb偵牝設(shè)置有固定部10c、10d,該固定部10c、10d是用于固定于封裝等外部部件上的固定區(qū)域。另外,優(yōu)選的是,固定部10c、IOd在Y軸方向上設(shè)置在基部10的與振動(dòng)臂11a、lib、Ilc側(cè)相反一側(cè)的端部上。另外,石英振動(dòng)片I的各結(jié)構(gòu)要素通過使用了光刻技術(shù)的蝕刻來形成。此處,在激勵(lì)電極12a、12b、12c的第I電極12al、12bl、12cl中,采用了包含ITO的膜(以下稱作ITO膜具有透光性)。因此,關(guān)于石英振動(dòng)片1,用于對抗蝕劑進(jìn)行構(gòu)圖的曝光時(shí)的從振動(dòng)臂lla、llb、llc的主面IOa側(cè)照射的照射光透過在主面IOa側(cè)通過濺射等形成的ITO膜。所透過的照射光在與ITO膜同樣具有透光性的振動(dòng)臂11a、lib、Ilc的主面IOb側(cè)的未圖示的傾斜面上進(jìn)行反射,有可能從主面IOb側(cè)照射到抗蝕劑的非曝光部分(在形成第I電極12al、12bl、12cl時(shí)不能被曝光的部分)。針對該問題,石英振動(dòng)片I被設(shè)計(jì)成,在制造過程中通過在作為第I電極12al、12bl、12cl的ITO膜的設(shè)置有絕緣體14的ー側(cè),重疊形成Mo (鑰)膜或Au膜,由此截?cái)嗾丈涔獾耐干?,從而抗蝕劑被正常構(gòu)圖,第I電極12al、12bl、12cl形成為預(yù)定形狀。另外,石英振動(dòng)片I通過使用Mo膜或Au膜作為截?cái)嗾丈涔獾耐干涞哪?以下稱作遮光膜),由此在進(jìn)行使用了堿性的顯影液的顯影時(shí),避免了在使用Al (鋁)膜作為遮光膜時(shí)顯著產(chǎn)生的ITO膜的電蝕。此處,對石英振動(dòng)片I的動(dòng)作進(jìn)行說明。如圖2所示,石英振動(dòng)片I的激勵(lì)電極12a、12b、12c的第I電極12al、12bl、12cl及第2電極12a2、12b2、12c2通過交叉布線與交流電源連接,被施加作為驅(qū)動(dòng)電壓的交變電壓。具體而言,振動(dòng)臂Ila的第I電極12al、振動(dòng)臂Ilb的第2電極12b2、振動(dòng)臂Ilc的第I電極12cl被連接成相同電位,振動(dòng)臂Ila的第2電極12a2、振動(dòng)臂Ilb的第I電極12bl、振動(dòng)臂Ilc的第2電極12c2被連接成相同電位。在該狀態(tài)下,對第I電極12al、12bl、12cl和第2電極12a2、12b2、12c2之間施加交變電壓時(shí),在第I電極12al、12bl、12cl和第2電極12a2、12b2、12c2之間產(chǎn)生電場,由于逆壓電效應(yīng),在壓電體13中產(chǎn)生變形,壓電體13在Y軸方向上伸縮。石英振動(dòng)片I構(gòu)成為,通過上述交叉布線將在激勵(lì)電極12a、12c中產(chǎn)生的電場的方向與在激勵(lì)電極12b中產(chǎn)生的電場的方向相互設(shè)為相反方向,在振動(dòng)臂IlaUlc與振動(dòng)臂Ilb之間,壓電體13的伸縮是相反的。具體而言,在振動(dòng)臂IlaUlc的壓電體13拉伸時(shí),振動(dòng)臂Ilb的壓電體13收縮,在振動(dòng)臂IlaUlc的壓電體13收縮時(shí),振動(dòng)臂Ilb的壓電體13拉伸。通過壓電體13的這種伸縮,在石英振動(dòng)片I中,在交變電壓為ー個(gè)電位時(shí)振動(dòng)臂lla、llb、llc在實(shí)線箭頭的方向上彎曲,在交變電壓為另ー個(gè)電位時(shí)振動(dòng)臂lla、llb、llc在虛線箭頭的方向上彎曲。通過重復(fù)該過程,石英振動(dòng)片I的振動(dòng)臂11a、lib、Ilc在Z軸方向上進(jìn)行彎曲振動(dòng)(面外振動(dòng))。此時(shí),相鄰的振動(dòng)臂(此處為Ila和IlbUlb和lie)相互在相反方向上(以反相)進(jìn)行彎曲振動(dòng)。 如上所述,本實(shí)施方式的石英振動(dòng)片I在設(shè)置在振動(dòng)臂I la、I lb、I Ic上的激勵(lì)電極 12a、12b、12c 的第 I 電極 12al、12bl、12cl 和第 2 電極 12a2、12b2、12c2 中采用了 ITO,因此能夠通過ITO的特性來抑制Q值的降低,相對于使用Ti/Au的現(xiàn)有技術(shù),能夠提高Q值。這依據(jù)發(fā)明人根據(jù)實(shí)驗(yàn)的分析結(jié)果等而得到的見解(具體將后述)。此外,在石英振動(dòng)片I中,激勵(lì)電極12a、12b、12c在第I電極12al、12bl、12cl和壓電體13之間具有絕緣體14,因此通過絕緣體14,例如壓電體13的極化時(shí)的取向性得到提高等,進(jìn)ー步抑制了 Q值的降低,相對于使用Ti/Au的現(xiàn)有技術(shù),能夠使Q值飛躍性地提聞。此外,石英振動(dòng)片I在絕緣體14中采用了 SiO2,通過SiO2的特性,例如壓電體13的極化時(shí)的取向性得到提高等,進(jìn)ー步抑制了 Q值的降低,相對于使用Ti/Au的現(xiàn)有技木,能夠使Q值飛躍性地提高。此外,石英振動(dòng)片I在絕緣體14中采用了 SiO2,例如SiO2具有的溫度特性、和采用了 ITO的第I電極12al、12bl、12cl和第2電極12a2、12b2、12c2具有的溫度特性相互抵消,由此能夠抑制溫度變化弓I起的頻率的變動(dòng)。此外,石英振動(dòng)片I在壓電體13中采用了 ZnO,因此,由于其取向性較高,所以施加電場時(shí)的伸縮性優(yōu)異,能夠使振動(dòng)臂11a、lib、Ilc高效地進(jìn)行彎曲振動(dòng)。 使用附圖來說明上述情況。圖3是示出石英振動(dòng)片中的激勵(lì)電極的各結(jié)構(gòu)要素的材料與Q值之間的關(guān)系的圖。另外,圖3是對發(fā)明人基于采用了樣品的實(shí)驗(yàn)的分析結(jié)果進(jìn)行總結(jié)而得的圖。圖3的各樣品是外形尺寸共同、僅激勵(lì)電極的各結(jié)構(gòu)要素的材料不同的結(jié)構(gòu)。此夕卜,所記載的Q值例如使用了如下數(shù)據(jù),該數(shù)據(jù)是根據(jù)激光多普勒振動(dòng)計(jì)等頻率測量器對各樣品的頻率測量值而導(dǎo)出的。另外,在圖3中,為了方便起見,將絕緣體14設(shè)為絕緣體A,將設(shè)置在壓電體13與第2電極12a2、12b2、12c2之間的絕緣體(在本實(shí)施方式的樣品中沒有采用)設(shè)為絕緣體B0此外,在圖3中,用〇(良)、 (優(yōu)良)這兩個(gè)等級(jí)表示各樣品的相對于以往構(gòu)造品(No. I)的Q值提高程度的比較判定結(jié)果。如圖3所示,基于No. I的現(xiàn)有技術(shù)的以往構(gòu)造品的Q值為2500。另ー方面,No. 2的本實(shí)施方式樣品的Q值為9000,因此可知相對于在第I電極12al、12bl、12cl和第2電極12a2、12b2、12c2中采用了 Ti/Au的以往構(gòu)造品,Q值得到了飛
躍性提尚。此外,No. 3的在本實(shí)施方式樣品中增加絕緣體B后的變形例I的樣品的Q值為9000,因此可知即使在壓電體13與第2電極12a2、12b2、12c2之間增加絕緣體B,相對于本實(shí)施方式樣品,也不能期待Q值的進(jìn)一步提尚。此外,No. 4的將本實(shí)施方式樣品的第2電極12a2、12b2、12c2變?yōu)镃r/Au膜(在基底層中層疊有Cr、在上層中層疊有Au的膜)的變形例2的樣品的Q值為9000,因此可知本實(shí)施方式樣品的第2電極12a2、12b2、12c2也可以不是ITO膜。此外,No. 5的從本實(shí)施方式樣品去除絕緣體14(絕緣體A)后的變形例3的樣品的Q值為3500,因此可知雖然Q值相對于以往構(gòu)造品得到了提高,但是為了 Q值的進(jìn)ー步提高,不可缺少絕緣體14。
此外,No. 6的從本實(shí)施方式樣品去除絕緣體14(絕緣體A)、并增加絕緣體B后的變形例4的樣品的Q值為3500,因此可知雖然Q值相對于以往構(gòu)造品得到了提高,但是即使從本實(shí)施方式樣品去除絕緣體14、并在壓電體13與第2電極12a2、12b2、12c2之間增加絕緣體B,也不能期待Q值的進(jìn)一步提尚。即,可以說重新證實(shí)了為了 Q值的進(jìn)ー步提高,在第I電極12al、12bl、12cl與壓電體13之間不可缺少絕緣體14。此外,No. 7的將本實(shí)施方式樣品的第I電極12al、12bl、12cl改變?yōu)楝F(xiàn)有技術(shù)的Ti/Au膜、去除絕緣體14 (絕緣體A)、并增加絕緣體B后的變形例5的樣品的Q值為3500,因此可知通過僅將以往構(gòu)造品的第2電極12a2、12b2、12c2變更為ITO膜,Q值相比于以往構(gòu)造品得到了提聞。根據(jù)No. 4、No. 7的結(jié)果,可以說證實(shí)了以下情況石英振動(dòng)片通過將第I電極 12al、12bl、12cl和第2電極12a2、12b2、12c2中的至少一方設(shè)為ITO膜,Q值相比于以往構(gòu)造品得到了提聞。如上所述,根據(jù)發(fā)明人基于采用了樣品的實(shí)驗(yàn)的分析結(jié)果,可以證實(shí)本實(shí)施方式的石英振動(dòng)片I和各變形例的石英振動(dòng)片的Q值相對于以往構(gòu)造的石英振動(dòng)片均實(shí)現(xiàn)了提聞。此外,石英振動(dòng)片I在基部10的X軸方向的兩端部設(shè)置有固定部10c、10d,因此,與固定部10c、10d設(shè)置在其它部分的情況相比,能夠增長從振動(dòng)臂lla、llb、llc到基部10的固定部10c、10d的路徑。其結(jié)果,與固定部10c、10d設(shè)置在其它部分的情況(例如固定部10c、10d設(shè)置在振動(dòng)臂lla、llb、llc的附近的情況)相比,石英振動(dòng)片I的將基部10的固定部10c、10d固定到外部部件時(shí)的經(jīng)由固定部10c、10d泄漏到外部部件的振動(dòng)能量減少,因此能夠抑制Q值的降低。此外,石英振動(dòng)片I在基材中采用了石英,因此由于石英的特性而使加工性優(yōu)異,并且能夠與周圍的溫度變化無關(guān)地進(jìn)行穩(wěn)定的振動(dòng)。(其它變形例)此處,對第I實(shí)施方式的其它變形例進(jìn)行說明。在第I實(shí)施方式中,針對在基材中采用了石英的石英振動(dòng)片進(jìn)行了說明,但是振動(dòng)片也可以是在基材中采用了硅的硅振動(dòng)片。硅振動(dòng)片的結(jié)構(gòu)與圖I、圖2所示的石英振動(dòng)片I的結(jié)構(gòu)基本相同,與石英振動(dòng)片I相比,基材的材質(zhì)(材料)不同。硅振動(dòng)片與石英振動(dòng)片I同樣,能夠組合圖3所示的激勵(lì)電極的各結(jié)構(gòu)要素。另外,優(yōu)選的是,在硅是例如摻入了磷、硼等雜質(zhì)的單晶硅、多晶硅等低阻抗硅的情況下,硅振動(dòng)片在圖I、圖2所示的振動(dòng)臂I la、I lb、I Ic的主面10a、與第I電極12al、12bl、12cl之間設(shè)置采用了 SiO2的絕緣膜(絕緣體)。由此,硅振動(dòng)片能夠可靠進(jìn)行振動(dòng)臂11a、lib、Ilc與第I電極12al、12bl、12cl之間的絕緣分離。如上所述,硅振動(dòng)片在基材中采用了硅,因此由于硅的特性,能夠使與Q值相關(guān)的潛在性能與石英振動(dòng)片I相比得到進(jìn)ー步提高(例如,能夠使基材單體中的Q值成為石英的10倍左右)。并且,發(fā)明人確認(rèn)到硅振動(dòng)片中的Q值劣化的抑制效果與石英振動(dòng)片I相同。另外,硅振動(dòng)片在基材中采用了硅(非透光性材料),因此不需要在石英振動(dòng)片I中不可缺少的、用于避免在形成第I電極12al、12bl、12cl時(shí)的不必要曝光的遮光膜。由此,與石央振動(dòng)片I相比,娃振動(dòng)片能夠提聞制造時(shí)的生廣性。另外,在振動(dòng)片的基材中,也可以使用這樣的材料該材料是石英、硅以外的材料,且Q值與石英、硅為相同程度。(第2實(shí)施方式)接著,對作為具有在上述第I實(shí)施方式中敘述的石英振動(dòng)片的振子的石英振子進(jìn)行說明。圖4是示出第2實(shí)施方式的石英振子的概略結(jié)構(gòu)的示意圖。圖4(a)是從蓋(蓋體)側(cè)俯視到的平面圖,圖4(b)是圖4(a)的C-C線處的剖視圖。另外,在平面圖中省略了蓋。此外,省略了各布線。另外,對于與上述第I實(shí)施方式相同的部分,標(biāo)注相同標(biāo)號(hào)并省略詳細(xì)說明,以與上述第I實(shí)施方式不同的部分為中心進(jìn)行說明。如圖4所示,石英振子5具有在上述第I實(shí)施方式中敘述的石英振動(dòng)片I或各變形例的石英振動(dòng)片中的任意ー個(gè)(此處為石英振動(dòng)片I)、和收納石英振動(dòng)片I的封裝20。封裝20形成為大致長方體形狀,并具有封裝底座21,其平面形狀為大致矩形且具有凹部;以及平面形狀為大致矩形且平板狀的蓋22,其覆蓋封裝底座21的凹部。在封裝底座21中,采用了對陶瓷生片進(jìn)行成型、層疊并燒制成的氧化鋁質(zhì)燒結(jié)體、石英、玻璃、硅等。在蓋22中,采用了與封裝底座21相同的材料,或者可伐合金(kovar)、42合金(42alloy)、不銹鋼等金屬。在封裝底座21中,在內(nèi)底面(凹部的內(nèi)側(cè)底面)23上設(shè)置有內(nèi)部端子24、25。內(nèi)部端子24、25在設(shè)置于石英振動(dòng)片I的基部10上的連接電極18a、18b附近的位置處形成為大致矩形形狀。連接電極18a、18b通過未圖示的布線,與石英振動(dòng)片I的各激勵(lì)電極(12b等)的第I電極(12bl等)以及第2電極(12b2等)連接。例如,在圖2的布線中,交流電源的一方側(cè)的布線與連接電極18a連接,另一方側(cè)的布線與連接電極18b連接。在封裝底座21的外底面(內(nèi)底面23的相反側(cè)的面、外側(cè)的底面)26上形成有在安裝到電子設(shè)備等的外部部件時(shí)使用的ー對外部端子27、28。外部端子27、28通過未圖示的內(nèi)部布線與內(nèi)部端子24、25連接。例如,外部端子27與內(nèi)部端子24連接,外部端子28與內(nèi)部端子25連接。內(nèi)部端子24、25和外部端子27、28由金屬膜構(gòu)成,該金屬膜是利用電鍍等方法在W(鎢)、Mo等的金屬化的層上層疊了 Ni (鎳)、Au等的各覆膜而成的。在石英振子5中,石英振動(dòng)片I的基部10的固定部10c、IOd經(jīng)由環(huán)氧類(ヱポキシ系)、硅酮類(シリコーン系)、聚酰亞胺類(ポリィミド系)等的粘接劑30,被固定在封裝底座21的內(nèi)底面23上。并且,在石英振子5中,石英振動(dòng)片I的連接電極18a、18b通過Au、Al等的金屬線、31與內(nèi)部端子24、25連接。在石英振子5中,在石英振動(dòng)片I與封裝底座21的內(nèi)部端子24、25連接的狀態(tài)下,封裝底座21的凹部由蓋22覆蓋,封裝底座21和蓋22用密封環(huán)、低熔點(diǎn)玻璃、粘接劑等接合部件29接合,由此對封裝20的內(nèi)部進(jìn)行氣密密封。另外,封裝20的內(nèi)部成為減壓狀態(tài)(真空度高的狀態(tài)),或填充有氮、氦、氬等惰性氣體的狀態(tài)。 另外,封裝也可以由平板狀的封裝底座和具有凹部的蓋等構(gòu)成。此外,封裝也可以在封裝底座和蓋的兩方中都具有凹部。此外,也可以在固定部10c、10d以外的部分,例如包含連接固定部IOc與固定部IOd的直線的中心的部分的I個(gè)部位固定石英振動(dòng)片I的基部10,來替代固定部10c、10d。由此,石英振動(dòng)片I在I個(gè)部位進(jìn)行固定,由此能夠抑制由于在固定部上產(chǎn)生的熱應(yīng)カ引起的基部10的變形。在石英振子5中,石英振動(dòng)片I的各振動(dòng)臂(Ilb等)利用經(jīng)由外部端子27、28、內(nèi)部端子24、25、金屬線31、連接電極18a、18b而施加給激勵(lì)電極(12b等)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)(交變電壓),以預(yù)定頻率(例如大約32KHz)在厚度方向(圖4(b)的箭頭方向)上振蕩(共振)。如上所述,第2實(shí)施方式的石英振子5具有石英振動(dòng)片1,因此能夠提供起到上述第I實(shí)施方式所記載的效果的振子(例如能夠抑制Q值降低,相對于現(xiàn)有技術(shù)提高Q值的振子)。另外,石英振子5在具有各變形例的石英振動(dòng)片來替代石英振動(dòng)片I的情況下,也能夠提供起到與上述同樣的效果的振子。此外,石英振子5在具有其它變形例的硅振動(dòng)片來替代石英振動(dòng)片I的情況(此時(shí),石英振子5為硅振子)下,也能夠提供起到與上述同樣的效果的振子。(第3實(shí)施方式)接著,對作為具有在上述弟I實(shí)施方式中敘述的石央振動(dòng)片的振湯器的石央振湯器進(jìn)行說明。圖5是示出第3實(shí)施方式的石英振蕩器的概略結(jié)構(gòu)的示意圖。圖5(a)是從蓋側(cè)俯視到的平面圖,圖5(b)是圖5(a)的C-C線處的剖視圖。另外,在平面圖中省略了蓋以及一部分結(jié)構(gòu)要素。此外,省略了各布線。另外,對于與上述第I實(shí)施方式及第2實(shí)施方式相同的部分,標(biāo)注相同標(biāo)號(hào)并省略詳細(xì)說明,以與上述第I實(shí)施方式及第2實(shí)施方式不同的部分為中心進(jìn)行說明。如圖5所示,石英振蕩器6具有在上述第I實(shí)施方式中敘述的石英振動(dòng)片I或各變形例的石英振動(dòng)片中的任意ー個(gè)(此處為石英振動(dòng)片I)、作為使石英振動(dòng)片I振蕩的振蕩電路的IC芯片40、和收納石英振動(dòng)片I及IC芯片40的封裝20。在封裝底座21的內(nèi)底面23上設(shè)置有內(nèi)部連接端子23a。內(nèi)置振蕩電路的IC芯片40使用未圖不的粘接劑等固定在封裝底座21的內(nèi)底面23上。IC芯片40的未圖示的連接焊盤通過Au、Al等的金屬線41與內(nèi)部連接端子23a連接。
內(nèi)部連接端子23a由金屬膜構(gòu)成,該金屬膜是利用電鍍等在W、Mo等的金屬化的層上層疊了 Ni、Au等的各覆膜而成的,內(nèi)部連接端子23a經(jīng)由未圖示的內(nèi)部布線,與封裝20的外部端子27、28及內(nèi)部端子24、25等連接。另外,在IC芯片40的連接焊盤與內(nèi)部連接端子23a的連接中,除了基于使用了金屬線41的線接合(wire bonding)的連接 方法以外,也可以使用基于使IC芯片40反轉(zhuǎn)的倒裝安裝的連接方法等。在石英振蕩器6中,石英振動(dòng)片I的各振動(dòng)臂(Ilb等)通過從IC芯片40經(jīng)由內(nèi)部連接端子23a、內(nèi)部端子24、25、金屬線31、連接電極18a、18b施加到激勵(lì)電極(12b等)的驅(qū)動(dòng)信號(hào),以預(yù)定頻率(例如大約32KHz)振蕩(共振)。并且,石英振蕩器6經(jīng)由IC芯片40、內(nèi)部連接端子23a、外部端子27、28等將伴隨該振蕩而產(chǎn)生的振蕩信號(hào)輸出到外部。如上所述,第3實(shí)施方式的石英振蕩器6具有石英振動(dòng)片1,因此能夠提供起到上述第I實(shí)施方式所記載的效果的振蕩器(例如能夠抑制Q值降低,相對于現(xiàn)有技術(shù)提高Q值的振蕩器)。另外,石英振蕩器6在具有各變形例的石英振動(dòng)片來替代石英振動(dòng)片I的情況下,也能夠提供起到與上述同樣的效果的振蕩器。另外,石英振蕩器6在具有其它變形例的硅振動(dòng)片來替代石英振動(dòng)片I的情況(此時(shí),石英振蕩器6為硅振蕩器)下,也能夠提供起到與上述同樣的效果的振蕩器。另外,石英振蕩器6 (硅振蕩器)也可以設(shè)為不將IC芯片40內(nèi)置在封裝20中、而采用外置的結(jié)構(gòu)的模塊構(gòu)造(例如在ー個(gè)基板上獨(dú)立安裝有石英振子(硅振子)和IC芯片的構(gòu)造)。(第4實(shí)施方式)接著,對作為具有在上述第I實(shí)施方式中敘述的石英振動(dòng)片的電子設(shè)備的移動(dòng)電話進(jìn)行說明。圖6是示出第4實(shí)施方式的移動(dòng)電話的示意立體圖。圖6所示的移動(dòng)電話700具有在上述第I實(shí)施方式中敘述的石英振動(dòng)片I作為基準(zhǔn)時(shí)鐘振蕩源等,還構(gòu)成為具有液晶顯示裝置701、多個(gè)操作按鈕702、受話器703和送話器704。另外,移動(dòng)電話700也可以具有各變形例的石英振動(dòng)片或其它變形例的硅振動(dòng)片來替代石英振動(dòng)片I。上述石英振動(dòng)片I、各變形例的石英振動(dòng)片、和其它變形例的硅振動(dòng)片中的任意ー個(gè)不限于上述移動(dòng)電話,還適于用作以下設(shè)備等的基準(zhǔn)時(shí)鐘振蕩源等電子書、個(gè)人計(jì)算機(jī)、電視、數(shù)字靜態(tài)照相機(jī)、攝像機(jī)、錄像機(jī)、車載導(dǎo)航裝置、尋呼機(jī)、電子記事本、計(jì)算器、文字處理器、工作站、視頻電話、POS終端、具有觸摸面板的設(shè)備,在任意一種情況下,都能夠提供起到在上述實(shí)施方式和變形例中說明的效果的電子設(shè)備。另外,在作為石英振動(dòng)片I基材的石英中,能夠采用從石英的原礦石等以預(yù)定角度切割出的例如Z切板、X切板等。另外,在采用了 Z切板的情況下,蝕刻加工由于其特性變得容易,在采用了 X切板的情況下,溫度-頻率特性由于其特性變得良好。此外,振動(dòng)片的振動(dòng)方向不限于Z軸方向(厚度方向),例如也可以通過在振動(dòng)臂的側(cè)面(連接主面彼此的面)設(shè)置激勵(lì)電極,而設(shè)為X軸方向(沿著主面的方向)(該方向的彎曲振動(dòng)被稱作面內(nèi)振動(dòng))。此外,振動(dòng)片的振動(dòng)臂的數(shù)量不限于3個(gè),也可以是I個(gè)、2個(gè)、4個(gè)、5個(gè)、η個(gè)(η 為6以上的自然數(shù))。另外,振動(dòng)片的基部厚度也可以與振動(dòng)臂設(shè)為相同厚度。由此,振動(dòng)片為平板狀,因此制造各易。
權(quán)利要求
1.一種振動(dòng)片,其特征在于,該振動(dòng)片具有 基材,其具有基部、和從所述基部延伸的振動(dòng)臂; 第I電極,其設(shè)置在所述振動(dòng)臂上; 第2電極,其設(shè)置在所述第I電極的上方;以及 壓電體,其配置在所述第I電極和所述第2電極之間, 所述第I電極和所述第2電極中的至少一方的材料采用了 ITO。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的振動(dòng)片,其特征在于, 在所述第I電極和所述壓電體之間具有絕緣體。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的振動(dòng)片,其特征在于, 所述絕緣體的材料采用了 Si02。
4.根據(jù)權(quán)利要求I至3中任意一項(xiàng)所述的振動(dòng)片,其特征在于, 所述壓電體的材料采用了 ZnO。
5.根據(jù)權(quán)利要求I至3中的任意一項(xiàng)所述的振動(dòng)片,其特征在于, 所述基材的材料采用了石英。
6.根據(jù)權(quán)利要求I至3中的任意一項(xiàng)所述的振動(dòng)片,其特征在于, 所述基材的材料采用了硅。
7.—種振子,其特征在于,該振子具有 權(quán)利要求I至6中任意一項(xiàng)所述的振動(dòng)片;以及 收納所述振動(dòng)片的封裝。
8.一種振蕩器,其特征在于,該振蕩器具有 權(quán)利要求I至6中任意一項(xiàng)所述的振動(dòng)片;以及 使所述振動(dòng)片振蕩的振蕩電路。
9.一種電子設(shè)備,其特征在于,該電子設(shè)備具有權(quán)利要求I至6中任意一項(xiàng)所述的振動(dòng)片。
全文摘要
本發(fā)明提供振動(dòng)片、振子、振蕩器以及電子設(shè)備。課題在于抑制振動(dòng)片的Q值降低。作為解決手段,石英振動(dòng)片(1)的特征在于,具有基部(10);振動(dòng)臂(11a、11b、11c);以及設(shè)置在振動(dòng)臂(11a、11b、11c)上的激勵(lì)電極(12a、12b、12c),激勵(lì)電極(12a、12b、12c)具有設(shè)置在振動(dòng)臂(11a、11b、11c)的主面(10a)側(cè)的第1電極(12a1、12b1、12c1);與第1電極(12a1、12b1、12c1)相對設(shè)置的第2電極(12a2、12b2、12c2);以及在第1電極(12a1、12b1、12c1)和第2電極(12a2、12b2、12c2)之間延伸的壓電體(13),第1電極(12a1、12b1、12c1)和第2電極(12a2、12b2、12c2)的至少一方采用了ITO。
文檔編號(hào)H03H9/02GK102629861SQ201210022419
公開日2012年8月8日 申請日期2012年2月1日 優(yōu)先權(quán)日2011年2月2日
發(fā)明者山崎隆, 舟川剛夫 申請人:精工愛普生株式會(huì)社