本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種顯示裝置及其goa(gatedriveronarray,陣列基板行驅(qū)動)電路。
背景技術(shù):
目前,goa電路通常采用頂柵結(jié)構(gòu)的薄膜晶體管(topgateigzotft),其中頂柵結(jié)構(gòu)的薄膜晶體管的源極和柵極、漏極和柵極均沒有重疊部分,因此薄膜晶體管的寄生電容很小。
由于薄膜晶體管的半導(dǎo)體層沒有柵極的擋光,因此半導(dǎo)體層受到光照的影響非常嚴重,進而導(dǎo)致半導(dǎo)體層電性失效。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種顯示裝置及其goa電路,能夠避免半導(dǎo)體層電性失效,并且避免金屬遮光層產(chǎn)生耦合效應(yīng)。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的一個技術(shù)方案是:提供一種goa電路,其包括多個薄膜晶體管,所述薄膜晶體管設(shè)置在基板上,所述薄膜晶體管至少包括依次設(shè)置在所述基板上的金屬遮光層和半導(dǎo)體層,所述多個薄膜晶體管的金屬遮光層均輸入地信號。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的另一個技術(shù)方案是:提供一種顯示裝置,其包括用于產(chǎn)生驅(qū)動信號的goa電路,所述goa電路包括多個薄膜晶體管,所述薄膜晶體管設(shè)置在基板上,所述薄膜晶體管至少包括依次設(shè)置在所述基板上的金屬遮光層和半導(dǎo)體層,所述多個薄膜晶體管的金屬遮光層均輸入地信號。
本發(fā)明的有益效果是:區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的情況,本發(fā)明的薄膜晶體管包括依次設(shè)置在基板上的金屬遮光層和半導(dǎo)體層,金屬遮光層用于為半導(dǎo)體層擋光,進而避免半導(dǎo)體層電性失效;多個薄膜晶體管的金屬遮光層均輸入地信號,能夠避免金屬遮光層產(chǎn)生耦合效應(yīng),保證goa電路正常輸出信號。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案,下面將對實施例描述中所需要采用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。其中:
圖1是本發(fā)明一實施例的goa電路的電路示意圖;
圖2是圖1中薄膜晶體管的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是現(xiàn)有技術(shù)中掃描信號的波形示意圖;
圖4是圖1中正常輸出的掃描信號的波形示意圖;
圖5是本發(fā)明一實施例的顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部實施例。基于本發(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性的勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。
請參見圖1-2所示,圖1是本發(fā)明一實施例的goa電路的電路示意圖;圖2是圖1中薄膜晶體管的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示,本實施例的goa電路10包括第一薄膜晶體管t1、第二薄膜晶體管t2、第三薄膜晶體管t3、第四薄膜晶體管t4、第五薄膜晶體管t5、第六薄膜晶體管t6、第七薄膜晶體管t7、第八薄膜晶體管t8、第九薄膜晶體管t9、第十薄膜晶體管t10、第十一薄膜晶體管t11、第十二薄膜晶體管t12、第十三薄膜晶體管t13、第十四薄膜晶體管t14、第十五薄膜晶體管t15以及電容c。
其中,第一薄膜晶體管t1的第一端輸入第一控制信號dch,第一薄膜晶體管t1的第二端輸入第二控制信號st(n-1),第一薄膜晶體管t1的第三端分別與第二薄膜晶體管t2的第一端和第二端、第三薄膜晶體管t3的第二端、第四薄膜晶體管t4的第二端以及電容c的一端連接。第二薄膜晶體管t2的第三端與第五薄膜晶體管t5的第一端連接;第三薄膜晶體管t3的第一端和第四薄膜晶體管t4的第一端輸入第一時鐘信號ck(n),第三薄膜晶體管t3的第三端連接下一級的goa電路,以向下一級的goa電路輸出第三控制信號st(n+1)。
第四薄膜晶體管t4的第三端輸出掃描信號g(n);第五薄膜晶體管t5的第二端輸入第二時鐘信號xck(n),第五薄膜晶體管t5的第三端連接電容c的另一端和第四薄膜晶體管t4的第三端。
第六薄膜晶體管t6的第一端和第二端輸入第一控制信號dch,第六薄膜晶體管t6的第三端連接第七薄膜晶體管t7的第一端、第八薄膜晶體管t8的第二端和第十薄膜晶體管t10的第二端;第七薄膜晶體管t7的第二端和第九薄膜晶體管t9的第二端連接第三薄膜晶體管t3的第二端,第七薄膜晶體管t7的第三端輸入第一參考電壓v1。
第八薄膜晶體管t8的第一端、第十薄膜晶體管t10的第一端和第十二薄膜晶體管t12的第一端與第六薄膜晶體管t6的第一端連接,第八薄膜晶體管t8的第三端與第九薄膜晶體管t9的第一端、第十三薄膜晶體管t13的第二端、第十四薄膜晶體管t14的第二端以及第十五薄膜晶體管t15的第二端連接;第九薄膜晶體管t9的第三端與第十薄膜晶體管t10的第三端和第十一薄膜晶體管t11的第一端連接;第十一薄膜晶體管t11的第二端連接第十二薄膜晶體管t12的第二端和第三薄膜晶體管t3的第二端,第十一薄膜晶體管t11的第三端和第十四薄膜晶體管t14的第三端輸入第二參考電壓v2。
第十二薄膜晶體管t12的第三端與第十三薄膜晶體管t13的第三端和第十四薄膜晶體管t14的第一端連接;第十三薄膜晶體管t13的第一端連接第一薄膜晶體管t1的第三端;第十五薄膜晶體管t15的第一端連接第五薄膜晶體管t5的第三端,第十五薄膜晶體管t15的第三端輸入第一參考電壓v1。
其中,第一薄膜晶體管t1、第二薄膜晶體管t2、第三薄膜晶體管t3、第四薄膜晶體管t4、第五薄膜晶體管t5、第六薄膜晶體管t6、第七薄膜晶體管t7、第八薄膜晶體管t8、第九薄膜晶體管t9、第十薄膜晶體管t10、第十一薄膜晶體管t11、第十二薄膜晶體管t12、第十三薄膜晶體管t13、第十四薄膜晶體管t14以及第十五薄膜晶體管t15均為p型薄膜晶體管,第一端為源極,第二端為柵極,第三端為漏極。在其他實施例中,第一薄膜晶體管t1、第二薄膜晶體管t2、第三薄膜晶體管t3、第四薄膜晶體管t4、第五薄膜晶體管t5、第六薄膜晶體管t6、第七薄膜晶體管t7、第八薄膜晶體管t8、第九薄膜晶體管t9、第十薄膜晶體管t10、第十一薄膜晶體管t11、第十二薄膜晶體管t12、第十三薄膜晶體管t13、第十四薄膜晶體管t14以及第十五薄膜晶體管t15均為n型薄膜晶體管,在此不再贅述。
其中,goa電路10包括多個薄膜晶體管,薄膜晶體管設(shè)置在基板上,薄膜晶體管至少包括依次設(shè)置在基板上的金屬遮光層和半導(dǎo)體層,多個薄膜晶體管的金屬遮光層均輸入地信號ground。
本實施例goa電路10包括15個薄膜晶體管,15個薄膜晶體管的結(jié)構(gòu)相同,如圖2所示,每個薄膜晶體管均包括:
設(shè)置在基板21上的金屬遮光層22;
igzo(indiumgalliumzincoxide,銦鎵鋅氧化物)層23,即半導(dǎo)體層,設(shè)置在金屬遮光層22上;
絕緣層24,設(shè)置在基板21、金屬遮光層22以及igzo層23上;
柵極層25,設(shè)置在絕緣層24上;
層間介質(zhì)層(ild)26,設(shè)置在柵極層25和絕緣層24上;
源極層27和漏極層28設(shè)置在層間介質(zhì)層26上;
在層間介質(zhì)層26和絕緣層24設(shè)置有第一通孔261和第二通孔262,源極層27通過第一通孔261與igzo層23連接,漏極層28通過第二通孔262與igzo層23連接。
其中,金屬遮光層22設(shè)置在igzo層23的入光面,因此金屬遮光層22用于為igzo層23擋光,以避免igzo層23在光照影響導(dǎo)致電性失效。
在現(xiàn)有技術(shù)中,金屬遮光層和柵極層、金屬遮光層和源極層以及金屬遮光層和漏極層均可形成耦合電容,因此現(xiàn)有技術(shù)的goa電路輸出掃描信號的波形會受到耦合效應(yīng)的影響,導(dǎo)致掃描信號的波形變形,如圖3所示。
相對于現(xiàn)有技術(shù)的goa電路,本實施例的多個薄膜晶體管的金屬遮光層均輸入地信號ground,即15個薄膜晶體管的金屬遮光層22均輸入地信號ground,金屬遮光層22不能存儲電荷,因此金屬遮光層22和柵極層25、金屬遮光層22和源極層27以及金屬遮光層22和漏極層28均不能形成耦合電容,進而保證goa電路10正常輸出掃描信號g(n),掃描信號g(n)的波形圖如圖4所示。
本實施例多個薄膜晶體管的金屬遮光層連接在一起,即15個薄膜晶體管的金屬遮光層22連接在一起,并且接地,進而輸入地信號ground,如圖1所示。具體地,第一薄膜晶體管t1、第二薄膜晶體管t2、第三薄膜晶體管t3、第四薄膜晶體管t4、第五薄膜晶體管t5、第六薄膜晶體管t6、第七薄膜晶體管t7、第八薄膜晶體管t8、第九薄膜晶體管t9、第十薄膜晶體管t10、第十一薄膜晶體管t11、第十二薄膜晶體管t12、第十三薄膜晶體管t13、第十四薄膜晶體管t14以及第十五薄膜晶體管t15的金屬遮光層22均接地。
因此,本實施例的薄膜晶體管在基板上的設(shè)置有金屬遮光層22,用于為薄膜晶體管的igzo層23擋光,進而避免igzo層23的電性失效;多個薄膜晶體管的金屬遮光層22均輸入地信號,能夠避免金屬遮光層和柵極層、漏極層或者源極層產(chǎn)生耦合效應(yīng),保證goa電路10正常輸出信號。
本發(fā)明還提供一種顯示裝置,該顯示裝置50包括顯示區(qū)域51和goa電路52,goa電路52用于產(chǎn)生驅(qū)動信號,驅(qū)動信號用于驅(qū)動顯示區(qū)域51顯示,其中g(shù)oa電路52為上述實施例所描述的goa電路10,在此不再贅述。
綜上所述,本發(fā)明的薄膜晶體管在基板上的設(shè)置有金屬遮光層,用于為薄膜晶體管的半導(dǎo)體層擋光,進而避免半導(dǎo)體層電性失效;多個薄膜晶體管的金屬遮光層均輸入地信號,能夠避免金屬遮光層產(chǎn)生耦合效應(yīng),保證goa電路正常輸出信號。
以上所述僅為本發(fā)明的實施方式,并非因此限制本發(fā)明的專利范圍,凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換,或直接或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域,均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。