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一種超薄圖像傳感器晶片的磨制方法與流程

文檔序號(hào):12680697閱讀:629來(lái)源:國(guó)知局
一種超薄圖像傳感器晶片的磨制方法與流程

本發(fā)明涉及一種超薄圖像傳感器晶片的磨制方法,屬于晶片制造工藝技術(shù)領(lǐng)域。



背景技術(shù):

目前行業(yè)內(nèi)應(yīng)用于圖像傳感器晶片的磨制方法主要是將待研磨的晶片通過(guò)真空吸附的方式固定在設(shè)備的專用平臺(tái)上進(jìn)行粗磨、精磨、拋光、分片等處理,粗磨是將圖像傳感器晶片從晶片加工完成時(shí)的厚度磨制到300~400um,然后再將粗磨完成后的300~400um晶片進(jìn)行精磨減薄,這個(gè)減薄過(guò)程中由于研磨用的金剛砂輪對(duì)晶片背面的硅基材是一種物理?yè)p傷過(guò)程,這會(huì)在硅基材表面形成微裂紋,晶片的應(yīng)力會(huì)增加、強(qiáng)度會(huì)越來(lái)越弱,很容易導(dǎo)致晶片碎裂問(wèn)題,造成產(chǎn)品報(bào)廢,同時(shí)精磨后的晶片如果磨制的太薄,以當(dāng)前現(xiàn)有的生產(chǎn)工序間的人工轉(zhuǎn)移方式很容易產(chǎn)生變形和扭曲,這樣會(huì)導(dǎo)致圖像傳感器晶片上每個(gè)單體芯片的有效成像區(qū)域的感光像素點(diǎn)不在一個(gè)平面上,會(huì)嚴(yán)重影響圖像傳感器芯片在攝像頭產(chǎn)品上的成像效果。因此,以現(xiàn)有的生產(chǎn)工藝方法,如果要保證晶片在磨制過(guò)程中不易產(chǎn)生損壞,同步要保證轉(zhuǎn)移過(guò)程中不易變形,圖像傳感器晶片厚度目前只能做到150um左右才最有品質(zhì)保障,這滿足不了我們對(duì)圖像傳感器晶片超薄化的要求。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

發(fā)明目的:針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的問(wèn)題,本發(fā)明提供一種超薄圖像傳感器晶片的磨制方法,磨制后的晶片厚度為100um左右,達(dá)到行業(yè)內(nèi)的最薄水準(zhǔn),并且解決超薄晶片在生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)行轉(zhuǎn)移易產(chǎn)生變形和扭曲的問(wèn)題。

技術(shù)方案:為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:

一種超薄圖像傳感器晶片的磨制方法,包括如下步驟:

(1)將待研磨的圖像傳感器晶片正面貼上單面UV膠藍(lán)膜,正面朝下,通過(guò)真空吸氣的方式固定在粗磨工站的可自轉(zhuǎn)多孔承載平臺(tái)上;

(2)利用粗磨金剛砂磨輪從圖像傳感器晶片背面對(duì)硅基材進(jìn)行打磨,同時(shí)多孔承載平臺(tái)帶動(dòng)圖像傳感器晶片轉(zhuǎn)動(dòng),金剛砂磨輪的推進(jìn)系統(tǒng)帶動(dòng)磨輪向下運(yùn)動(dòng),將圖像傳感器晶片厚度磨薄到250~350um;

(3)將粗磨完成后的圖像傳感器晶片移出進(jìn)行UV曝光,去掉單面UV膠藍(lán)膜,再將圖像傳感器晶片正面通過(guò)雙面UV膠藍(lán)膜貼附到支撐件上,形成組合體,將組合體裝在精磨工站的可自轉(zhuǎn)多孔承載平臺(tái)上;

(4)利用精磨金剛砂磨輪從圖像傳感器晶片背面對(duì)硅基材再進(jìn)行精細(xì)打磨,同時(shí)多孔承載平臺(tái)帶動(dòng)圖像傳感器晶片轉(zhuǎn)動(dòng),金剛砂磨輪的推進(jìn)系統(tǒng)帶動(dòng)磨輪的向下運(yùn)動(dòng),在將晶片從130~180um減薄到90~120um過(guò)程中,提高精磨金剛砂磨輪的旋轉(zhuǎn)速度,并降低金剛砂磨輪的推進(jìn)系統(tǒng)速度和多孔承載平臺(tái)的自轉(zhuǎn)速度,最終將圖像傳感器晶片厚度磨薄到90~120um;

(5)將組合體轉(zhuǎn)移到拋光工站對(duì)硅基材進(jìn)行拋光處理;

(6)將組合體轉(zhuǎn)移到分片工站進(jìn)行切割;

(7)將切割好的圖像傳感器晶片硅基材面貼上單面UV膠藍(lán)膜,并使用UV光照射雙面UV膠藍(lán)膜區(qū)域后,移除支撐件和雙面UV膠藍(lán)膜。

作為優(yōu)選,所述支撐件由高強(qiáng)度鋼化玻璃制成,其厚度為4~6mm,表面強(qiáng)度應(yīng)力為90~120MPa。

作為優(yōu)選,所述步驟(2)粗磨過(guò)程中粗磨金剛砂磨輪的旋轉(zhuǎn)速度控制在1100~1500轉(zhuǎn)/分鐘,金剛砂磨輪的推進(jìn)系統(tǒng)速度控制在5~8um/秒,多孔承載平臺(tái)的自轉(zhuǎn)速度控制在150~250轉(zhuǎn)/分鐘。

作為優(yōu)選,所述步驟(4)精磨過(guò)程采用的磨輪金剛砂粒直徑在0.3um以下。

作為優(yōu)選,所述步驟(4)中,在將晶片從250~350um減薄到130~180um過(guò)程中,精磨金剛砂磨輪的旋轉(zhuǎn)速度控制在1800~2200轉(zhuǎn)/分鐘,金剛砂磨輪的推進(jìn)系統(tǒng)速度控制在2~4um/秒,多孔承載平臺(tái)的自轉(zhuǎn)速度控制在100~150轉(zhuǎn)/分鐘,在將晶片從130~180um減薄到90~120um過(guò)程中,精磨金剛砂磨輪的旋轉(zhuǎn)速度控制在2300~2800轉(zhuǎn)/分鐘,金剛砂磨輪的推進(jìn)系統(tǒng)速度控制在0.2~0.5um/秒,多孔承載平臺(tái)的自轉(zhuǎn)速度控制在50~100轉(zhuǎn)/分鐘。

有益效果:本發(fā)明將困擾業(yè)界無(wú)法將圖像傳感器晶片做薄到100um左右的技術(shù)難題得以攻克,對(duì)高像素?cái)z像頭產(chǎn)品的整體高度減薄起到至關(guān)重要的效果;在超薄圖像傳感器晶片的磨制和轉(zhuǎn)移過(guò)程中使用的高強(qiáng)度鋼化玻璃支撐,同步解決在超薄化磨制過(guò)程中容易導(dǎo)致晶片產(chǎn)生裂紋,造成破碎,保證圖像傳感器晶片在做到最薄的同時(shí)平整度不發(fā)生改變,這樣就能保證圖像傳感器成像清晰度保持均勻,圖像傳感器晶片減薄使產(chǎn)品具備了更好的散熱功能,使圖像傳感器成像時(shí)的熱噪點(diǎn)產(chǎn)生大大降低,提升圖像畫(huà)質(zhì)。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明實(shí)施例的簡(jiǎn)要流程圖。

圖2為本發(fā)明實(shí)施例中粗磨示意圖。

圖3為本發(fā)明實(shí)施例中組合體示意圖。

圖4為本發(fā)明實(shí)施例中精磨示意圖。

圖5為本發(fā)明實(shí)施例中拋光示意圖。

以上圖中:1-粗磨金剛砂磨輪,2-圖像傳感器晶片,3-300um厚度圖像傳感器晶片,4-雙面UV膠藍(lán)膜,5-高強(qiáng)度鋼化玻璃支撐件,6-精磨金剛砂磨輪,7-100um厚度圖像傳感器晶片,8-拋光系統(tǒng),9-100um厚度圖像傳感器晶片+雙面UV膠藍(lán)膜+高強(qiáng)度鋼化玻璃支撐件組成的組合體。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例,進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明。

如圖1所示,本發(fā)明實(shí)施公開(kāi)的一種超薄圖像傳感器晶片的磨制方法,主要包括粗磨、精磨、拋光和分片等工藝,在粗磨前將晶片正面貼單面UV膠藍(lán)膜,以保護(hù)正面,為解決晶片在精磨至超薄時(shí)產(chǎn)生的強(qiáng)度不足和易碎裂問(wèn)題,在精磨前通過(guò)雙面UV膠藍(lán)膜將晶片貼附在高強(qiáng)度透光支撐件上形成組合體,并且在后面的拋光、分片處理過(guò)程中將組合體整體轉(zhuǎn)移,以解決超薄晶片進(jìn)行轉(zhuǎn)移易產(chǎn)生變形和扭曲問(wèn)題。最后通過(guò)UV光照射,移除支撐件和雙面UV膠藍(lán)膜得到超薄圖像傳感器單體芯片。所采用的高強(qiáng)度透光支撐件可以是厚度為4~6mm,表面強(qiáng)度應(yīng)力為90~120MPa的高強(qiáng)度鋼化玻璃支撐件。

經(jīng)過(guò)粗磨工藝后將圖像傳感器晶片的厚度磨薄到250~350um,再經(jīng)過(guò)精磨工藝磨薄到90~120um,在精磨工藝中,將磨制過(guò)程分為兩個(gè)階段,在厚度由250~350下降到130~180um的過(guò)程中與現(xiàn)有工藝技術(shù)類似,粗磨金剛砂磨輪的旋轉(zhuǎn)速度控制在1100~1500轉(zhuǎn)/分鐘,金剛砂磨輪的推進(jìn)系統(tǒng)速度控制在5~8um/秒,多孔承載平臺(tái)的自轉(zhuǎn)速度控制在150~250轉(zhuǎn)/分鐘;當(dāng)晶片從130~180um磨薄到90~120um的過(guò)程,為防止晶片強(qiáng)度變?nèi)?、變脆而產(chǎn)生較深的微裂紋,則需要多次實(shí)驗(yàn)精心調(diào)整各設(shè)備的參數(shù),將精磨金剛砂磨輪的旋轉(zhuǎn)速度控制在2300~2800轉(zhuǎn)/分鐘,金剛砂磨輪的推進(jìn)系統(tǒng)速度控制在0.2~0.5um/秒,多孔承載平臺(tái)的自轉(zhuǎn)速度控制在50~100轉(zhuǎn)/分鐘,以保證晶片順利磨薄到想要的厚度。

下面結(jié)合圖2-5說(shuō)明采用本發(fā)明實(shí)施例的方法磨制100±3um的超薄晶片的詳細(xì)磨制步驟:

1)將待研磨的圖像傳感器晶片正面貼上單面UV膠藍(lán)膜,保證圖像傳感器晶片正面的感光區(qū)域和微電路區(qū)域在磨制過(guò)程中不被摩擦和刮傷。

2)將圖像傳感器晶片正面朝下和單面UV膠藍(lán)膜一起,通過(guò)真空吸氣的方式固定在粗磨工站的可自轉(zhuǎn)多孔陶瓷承載平臺(tái)上;圖2為粗磨工站簡(jiǎn)要示意圖,在粗磨工位時(shí),設(shè)備機(jī)構(gòu)帶動(dòng)粗磨金剛砂磨輪1進(jìn)行勻速轉(zhuǎn)動(dòng),粗磨工位的此設(shè)備機(jī)構(gòu)還具備垂直向下的推進(jìn)系統(tǒng),推動(dòng)粗磨金剛砂磨輪1勻速向下移動(dòng),圖像傳感器晶片2通過(guò)真空吸氣的方式固定在多孔陶瓷承載平臺(tái)上后,多孔陶瓷承載平臺(tái)可帶動(dòng)圖像傳感器晶片2勻速轉(zhuǎn)動(dòng)。

3)利用高速旋轉(zhuǎn)的粗磨金剛砂磨輪1從圖像傳感器晶片2背面對(duì)硅基材進(jìn)行打磨,同時(shí)多孔承載平臺(tái)帶動(dòng)圖像傳感器晶片轉(zhuǎn)動(dòng),金剛砂磨輪的推進(jìn)系統(tǒng)帶動(dòng)磨輪勻速緩慢的向下運(yùn)動(dòng),此過(guò)程中粗磨金剛砂磨輪1的旋轉(zhuǎn)速度需要控制在1200轉(zhuǎn)/分鐘,金剛砂磨輪的推進(jìn)系統(tǒng)速度控制在5um/秒,多孔承載平臺(tái)的自轉(zhuǎn)速度控制在200轉(zhuǎn)/分鐘,粗磨制程需要將圖像傳感器晶片厚度磨薄到300um。

4)將粗磨完成后的300um厚度圖像傳感器晶片3從粗磨工站移出進(jìn)行UV曝光,將單面UV膠藍(lán)膜去掉,接著在圖像傳感器晶片3正面再貼上雙面UV膠藍(lán)膜4,然后將貼上雙面UV膠藍(lán)膜圖像傳感器晶片貼附到光滑、平整的高強(qiáng)度鋼化玻璃支撐件5上,這個(gè)高強(qiáng)度鋼化玻璃支撐件5在超薄化磨制過(guò)程中起著至關(guān)重要的作用。

5)將300um厚度圖像傳感器晶片3+雙面UV膠藍(lán)膜4+高強(qiáng)度鋼化玻璃支撐件5的組合體裝在精磨工站的可自轉(zhuǎn)多孔承載平臺(tái)上;精磨工站與粗磨工站的設(shè)備機(jī)構(gòu)類似。

6)利用高速旋轉(zhuǎn)的精磨金剛砂磨輪6從圖像傳感器晶片背面對(duì)硅基材再進(jìn)行精細(xì)打磨,同樣多孔承載平臺(tái)帶動(dòng)圖像傳感器晶片轉(zhuǎn)動(dòng),金剛砂磨輪的推進(jìn)系統(tǒng)帶動(dòng)磨輪勻速緩慢的向下運(yùn)動(dòng),這個(gè)過(guò)程由于圖像傳感器晶片背面的硅基材被打磨的越來(lái)越薄,晶片強(qiáng)度會(huì)變?nèi)酢⒆兇?,為了保證這個(gè)過(guò)程晶片的硅基材不會(huì)產(chǎn)生較深的微裂紋,將磨輪金剛砂粒直徑減小到0.3um以下,在將晶片從300um減薄到150um過(guò)程中,精磨金剛砂磨輪的旋轉(zhuǎn)速度需要控制在2000轉(zhuǎn)/分鐘,金剛砂磨輪的推進(jìn)系統(tǒng)速度控制在2um/秒,多孔承載平臺(tái)的自轉(zhuǎn)速度控制在100轉(zhuǎn)/分鐘,在將晶片從150um減薄到100um過(guò)程中,精磨金剛砂磨輪的旋轉(zhuǎn)速度需要控制在2500轉(zhuǎn)/分鐘,金剛砂磨輪的推進(jìn)系統(tǒng)速度控制在0.2um/秒,多孔承載平臺(tái)的自轉(zhuǎn)速度控制在50轉(zhuǎn)/分鐘,最終得到我們需要的100um厚度圖像傳感器晶片7(圖4中雙面UV膠藍(lán)膜和高強(qiáng)度鋼化玻璃支撐件未示出)。

7)由于精磨過(guò)程中硅基材還會(huì)產(chǎn)生一些較淺的微裂紋,同時(shí)晶片的應(yīng)力會(huì)增加,為了保證不會(huì)有碎片風(fēng)險(xiǎn),需要將厚度磨薄至100um的圖像傳感器晶片+雙面UV膠藍(lán)膜+高強(qiáng)度鋼化玻璃支撐件的組合體9轉(zhuǎn)移到拋光工站,使用精細(xì)拋光系統(tǒng)8對(duì)100um厚度圖像傳感器晶片7背部的硅基材進(jìn)行拋光處理,消除硅基材的輕微裂紋和減小圖像傳感器晶片的應(yīng)力,以提升圖像傳感器晶片強(qiáng)度,確保圖像傳感器晶片不易破碎。

8)將拋光后的100um厚度圖像傳感器晶片+雙面UV膠藍(lán)膜+高強(qiáng)度鋼化玻璃支撐件的組合體9轉(zhuǎn)移到分片工站進(jìn)行切割。

9)將切割好的100um厚度圖像傳感器晶片+雙面UV膠藍(lán)膜+高強(qiáng)度鋼化玻璃支撐件的組合體9轉(zhuǎn)移到貼有單面UV膠藍(lán)膜的不銹鋼環(huán)上,讓圖像傳感器晶片硅基材面與單面UV膠藍(lán)膜充分粘貼好,然后使用UV光透過(guò)高強(qiáng)度鋼化玻璃支撐件對(duì)雙面UV膠藍(lán)膜區(qū)域進(jìn)行照射,使其膠粘性減弱后,將高強(qiáng)度鋼化玻璃支撐件和雙面UV膠藍(lán)膜移除,最終得到我們想要的超薄圖像傳感器單體芯片。

上述實(shí)施例僅是為清楚地說(shuō)明本發(fā)明所作的舉例,而并非是對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式的限定。對(duì)于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在上述說(shuō)明的基礎(chǔ)上還可以做出其它不同形式的變化或變動(dòng)。這里無(wú)需也無(wú)法對(duì)所有的實(shí)施方式予以窮舉。而這些屬于本發(fā)明的精神所引伸出的顯而易見(jiàn)的變化或變動(dòng)仍處于本發(fā)明的保護(hù)范圍之中。

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