本發(fā)明特別涉及一種半極性aln模板,屬于材料科學(xué)領(lǐng)域。
背景技術(shù):
六方纖鋅礦結(jié)構(gòu)的aln及其合金的禁帶覆蓋了200~365nm的紫外光譜范圍,是制備深紫外光電器件和高頻大功率器件的理想材料。然而,aln基材料通常是沿著極性軸—c軸方向生長(zhǎng)的,使得aln及其合金在[0001]方向具有很強(qiáng)的自發(fā)極化和壓電極化。這種極化效應(yīng)在氮化物外延層中會(huì)產(chǎn)生較高強(qiáng)度的內(nèi)建電場(chǎng),引起能帶彎曲、傾斜,使電子和空穴在空間上分離,大大降低了aln基光電器件的發(fā)光效率。因此人們嘗試通過(guò)各種手段降低極化電場(chǎng)改善發(fā)光器件性能。其中半極性材料由于其內(nèi)建電場(chǎng)與生長(zhǎng)軸方向并不平行,可以顯著地減少極化效應(yīng),因此得到了廣泛的關(guān)注。
目前質(zhì)量最好的半極性aln材料是由c向aln厚膜中切下來(lái)的。然而,利用這種方法獲得的aln材料的尺寸非常有限,這迫使研究人員開(kāi)始嘗試在藍(lán)寶石、碳化硅等非c面的異質(zhì)襯底上外延半極性aln材料,但是這種技術(shù)困難重重,且aln的結(jié)晶質(zhì)量很差、位錯(cuò)密度很高,嚴(yán)重制約了aln基光電器件的效率。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的主要目的在于提供一種半極性aln模板,以克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足。
為實(shí)現(xiàn)前述發(fā)明目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案包括:
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種半極性aln模板,其具有半極性顯露面,并且包含有
進(jìn)一步的,所述的半極性aln模板包括:形成于aln基材顯露面上的
進(jìn)一步的,所述aln基材形成于襯底上。
進(jìn)一步的,所述襯底包括藍(lán)寶石襯底,例如可優(yōu)選為c面藍(lán)寶石,但不限于此。
進(jìn)一步的,所述襯底包括sic襯底。
進(jìn)一步的,所述
進(jìn)一步的,所述aln基材的截面為等腰三角形,當(dāng)所述三角形的底角為51°~71°時(shí),在三角形的腰部形成aln
進(jìn)一步的,所述aln基材的截面為等腰三角形,當(dāng)所述三角形的底角為22°~42°時(shí),在三角形的腰部形成aln
本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種制備半極性aln模板的方法,其包括:于襯底上生長(zhǎng)aln,并誘導(dǎo)產(chǎn)生aln
在一些實(shí)施方案中,所述制備半極性aln模板的方法包括:
在襯底上生長(zhǎng)形成[0001]取向的aln基材,并使所述aln基材的顯露面為
在所述aln基材上繼續(xù)生長(zhǎng)aln,并形成aln
進(jìn)一步的,所述aln基材的截面為等腰三角形,當(dāng)所述三角形的底角約61°左右時(shí),在三角形的腰部形成aln
進(jìn)一步的,所述aln基材的截面為等腰三角形,當(dāng)所述三角形的底角約32°左右時(shí),在三角形的腰部形成aln
在一些實(shí)施方案中,所述制備半極性aln模板的方法包括:將c面藍(lán)寶石襯底置于氫化物氣相外延設(shè)備中,以hcl和nh3作反應(yīng)氣體、h2和n2為載氣,設(shè)置生長(zhǎng)溫度為1200℃~1600℃,沉積形成厚度為300nm~3μm的[0001]取向的aln基材,并使所述aln基材的顯露面為
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果至少在于:
(1)本發(fā)明的半極性aln模板可直接選用c面藍(lán)寶石或sic等作為襯底形成,而不需要r面藍(lán)寶石,不僅可以減少aln外延層中的層錯(cuò),且成本低廉,并具有較高質(zhì)量。
(2)本發(fā)明的半極性aln模板的制備方法可以減少aln外延層中的層錯(cuò),且通過(guò)在aln生長(zhǎng)初期誘導(dǎo)產(chǎn)生
附圖說(shuō)明
圖1a是本發(fā)明一實(shí)施例中所獲aln厚膜的xrd2θ/ω掃描圖;
圖1b是本發(fā)明一實(shí)施例中所獲aln厚膜的tem截面圖;
圖1c是圖1b所示鋸齒層的選區(qū)電子衍射圖;
圖1d和圖1e分別是晶柱a、b的選區(qū)電子衍射圖;
圖2a是本發(fā)明一實(shí)施例中鋸齒層和柱狀層界面處的放大圖;
圖2b是本發(fā)明一實(shí)施例中鋸齒層和柱狀層左、右側(cè)界面的選區(qū)電子衍射圖;
圖2c是圖2b所示右側(cè)界面的高分辨電子衍射圖;
圖2d是圖2b所示左側(cè)界面的高分辨電子衍射圖;
圖3是本發(fā)明一實(shí)施例中ecs(equilibriumcrystalshape)模型圖;
圖4a是本發(fā)明另一實(shí)施例中sic襯底上側(cè)向外延生長(zhǎng)的aln厚膜的xrd2θ/ω掃描圖;
圖4b是aln厚膜的tem截面像;
圖4c-圖4d分別為左側(cè)界面的選區(qū)電子衍射和高分辨透射電子像;
圖4e-圖4f分別為右側(cè)界面的選區(qū)電子衍射和高分辨電子衍射像;
圖5a是aln厚膜的截面像;
圖5b是aln厚膜的xrd2θ/ω掃描圖;
圖5c-圖5d分別為左、右側(cè)界面的選區(qū)電子衍射圖;
圖5e是三角形和晶柱間界面的高分辨電子衍射像;
圖6a-圖6b是分別通過(guò)
具體實(shí)施方式
為了便于理解本發(fā)明,下面將參照相關(guān)附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更全面的描述。附圖中給出了本發(fā)明的較佳實(shí)施方式。但是,本發(fā)明可以通過(guò)許多不同的形式來(lái)實(shí)現(xiàn),并不限于下面所描述的實(shí)施方式。相反地,提供這些實(shí)施方式的目的是使對(duì)本發(fā)明的公開(kāi)內(nèi)容理解的更加透徹全面。
除非另有定義,本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語(yǔ)與屬于本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本發(fā)明的說(shuō)明書(shū)中所使用的術(shù)語(yǔ)只是為了描述具體的實(shí)施方式的目的,不是旨在于限制本發(fā)明。本文所使用的術(shù)語(yǔ)“和/或”包括一個(gè)或多個(gè)相關(guān)的所列項(xiàng)目的任意的和所有的組合。
本發(fā)明的一典型實(shí)施例提供的一種半極性aln模板的制備方法,包括:
(1)將2英寸的c面藍(lán)寶石襯底放置于hvpe(氫化物氣相外延)設(shè)備中,以hcl和nh3作反應(yīng)氣體、h2和n2為載氣。
(2)設(shè)置生長(zhǎng)溫度為1200℃~1600℃,首先沉積300nm~3μm的[0001]取向的aln基材,該aln基材的顯露面為
(3)若上述aln基材的截面為等腰三角形,若三角形的底角為61°左右,在三角形的腰部形成aln
(4)基于孿晶能夠改變晶體生長(zhǎng)取向的特性,根據(jù)幾何關(guān)系,無(wú)論形成哪一種孿晶,aln的生長(zhǎng)取向均可以轉(zhuǎn)變?yōu)?imgfile="bda0000939248910000036.gif"wi="189"he="85"img-content="drawing"img-format="gif"orientation="portrait"inline="no"/>在此基礎(chǔ)上繼續(xù)生長(zhǎng)就可以獲得半極性aln模板。
請(qǐng)參閱圖1a-圖1d,本發(fā)明實(shí)施例中,在c向藍(lán)寶石上生長(zhǎng)的aln厚膜, 通過(guò)
再請(qǐng)參閱圖2a是本實(shí)施例中鋸齒層和柱狀層界面處的放大圖。圖2b是本實(shí)施例中鋸齒層和柱狀層左、右側(cè)界面的選區(qū)電子衍射圖,這兩個(gè)界面均為
在本發(fā)明中,導(dǎo)致晶體生長(zhǎng)取向轉(zhuǎn)變的關(guān)鍵點(diǎn)是
其中γ(m,t)是單位面積的表面自由能,它是溫度t和晶體取向m的函數(shù)。
請(qǐng)參閱圖3示出了晶體生長(zhǎng)隨溫度變化的演化過(guò)程。其中,對(duì)于在c面藍(lán)寶石上生長(zhǎng)的aln,當(dāng)生長(zhǎng)溫度足夠高時(shí),(0001)晶面的表面自由能最低,因此成為顯露面。當(dāng)溫度下降的時(shí)候,晶面的表面自由能會(huì)下降。若生長(zhǎng)溫度降低到一定程度,
進(jìn)而,若aln繼續(xù)在
在本發(fā)明的另一實(shí)施例中,前述藍(lán)寶石襯底亦可替換為sic襯底。請(qǐng)參閱圖4a是本實(shí)施例中在sic襯底上側(cè)向外延生長(zhǎng)的aln厚膜的xrd2θ/ω掃描圖,表明該樣品同時(shí)包含(0001)和
本發(fā)明提供的方法通過(guò)使aln產(chǎn)生孿晶結(jié)構(gòu),利用孿晶結(jié)構(gòu)具有改變晶體生長(zhǎng)取向的特性,參閱圖6a-圖6b所示分別是通過(guò)
為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂,上面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式做詳細(xì)的說(shuō)明。在上面的描述中闡述了很多具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明。但是本發(fā)明能夠以很多不同于上面描述的其它方式來(lái)實(shí)施,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本發(fā)明內(nèi)涵的情況下做類似改進(jìn),因此本發(fā)明不受上面公開(kāi)的具體實(shí)施例的限制。并且,以上所述實(shí)施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合,為使描述簡(jiǎn)潔,未對(duì)上述實(shí)施例中的各個(gè)技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述,然而,只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾,都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說(shuō)明書(shū)記載的范圍。綜上所述,應(yīng)當(dāng)理解,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下,還可以做出復(fù)數(shù)個(gè)變形和改進(jìn),這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此,本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。