一種驗證數(shù)據(jù)保持能力的系統(tǒng)及方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種驗證數(shù)據(jù)保持能力的系統(tǒng)及方法，利用了可變電壓參數(shù)設(shè)置接口，實現(xiàn)對同一測試程序中的測試器件施加不同電壓的設(shè)置，利用等待時間參數(shù)設(shè)置接口，來實現(xiàn)對等待時間的直接設(shè)置，本發(fā)明可以實現(xiàn)工作電壓的直接轉(zhuǎn)換，以及等待時間的直接設(shè)置，而無需再額外增加測試項來改變工作電壓和等待時間，本發(fā)明簡化了工藝程序，節(jié)約了時間和成本，提高了驗證效率。
【專利說明】
一種驗證數(shù)據(jù)保持能力的系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及半導(dǎo)體工藝技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種驗證數(shù)據(jù)保持能力的系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，在芯片功能測試中，驗證數(shù)據(jù)保持能力是測試芯片的一項重要指標(biāo)。數(shù)據(jù)保持能力的測試目的是確保器件能保持存儲單元(memory cel I)里的資料。因此，其測試原理是:在電壓Vcc是芯片正常工作電壓Vnormal時，向存儲單元寫入數(shù)據(jù)，然后逐漸降低工作電壓至最小工作電壓Vmin，等待一段時間，再將電壓逐漸增加至正常工作電壓Vnormal，此時讀取存儲單元的存儲信息，判斷存儲信息是否相同。
[0003]但是，基于常規(guī)測試平臺的標(biāo)準(zhǔn)方法，如果要更改機臺設(shè)定的測試參數(shù)，只能拆分為多個測試程序來分步完成，當(dāng)一個測試程序完成之后，需要停止該測試程序，并且開啟另一個測試程序，例如，驗證數(shù)據(jù)保持能力的測試需要三個測試項來完成，測試時，測試器件在這三個測試程序之間依次進行，也即是，首先開啟測試程序，利用測試器件，正常工作電壓下向測試器件寫入原始數(shù)據(jù);然后開啟測試程序，測試器件在最小工作電壓下且等待一段時間；其次開啟測試程序，將測試器件的工作電壓增加至正常工作電壓;然后，讀取測試器件中的的數(shù)據(jù)并判斷原始數(shù)據(jù)和所讀取的數(shù)據(jù)是否相同。其中，第二個測試程序102是通過執(zhí)行矢量的方式實現(xiàn)等待時間，再加上在三個測試程序之間的轉(zhuǎn)換，大大增加了程序開發(fā)的復(fù)雜性，不利于量產(chǎn)產(chǎn)品的測試程序開發(fā)。鑒于以上諸多問題，需優(yōu)化測試方法，從而簡化程序開發(fā)以及提高測試程序的開發(fā)效率。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004]為了克服以上問題，本發(fā)明旨在提供一種驗證數(shù)據(jù)保持能力的系統(tǒng)及方法，采用一個測試程序來實現(xiàn)對測試參數(shù)更改的要求，還能夠更加靈活的設(shè)定等待時間。
[0005]為了達到上述目的，本發(fā)明提供了一種驗證數(shù)據(jù)保持能力的系統(tǒng)，用于對測試器件進行檢測;其包括:
[0006]可變電壓參數(shù)設(shè)置接口，用于設(shè)置施加于測試器件的工作電壓為正常電壓或最小電壓；
[0007]電壓控制模塊，與可變電壓參數(shù)設(shè)置接口相連接，用于將所設(shè)置的正常電壓或最小電壓施加于所述測試器件上；
[0008]寫入模塊，用于向測試器件中輸入原始數(shù)據(jù)；
[0009]等待時間參數(shù)設(shè)置接口，用于設(shè)置在最小電壓下的測試器件的等待時間；
[0010]讀取模塊，讀取將經(jīng)等待時間后工作電壓增加至正常電壓的測試器件中所存儲的數(shù)據(jù)；
[0011 ]比較模塊，判斷所存儲的數(shù)據(jù)與原始數(shù)據(jù)是否相同；
[0012]判斷模塊，根據(jù)比較模塊的比較結(jié)果來判斷測試器件的數(shù)據(jù)保持能力。
[0013]優(yōu)選地，所述等待時間為100?1000ms。
[0014]優(yōu)選地，所述測試器件為存儲器。
[0015]為了達到上述目的，本發(fā)明還提供了一種驗證數(shù)據(jù)保持能力的方法，其包括:
[0016]步驟01:提供一個測試器件；
[0017]步驟02:將施加于測試器件的工作電壓設(shè)置成正常電壓，將正常電壓施加于測試器件上;然后向測試器件中輸入原始數(shù)據(jù)；
[0018]步驟03:將施加于測試器件的工作電壓由正常電壓設(shè)置為最小電壓，將最小電壓施加于測試器件上；
[0019]步驟04:在最小電壓下，執(zhí)行一等待時間；
[0020]步驟05:等待時間結(jié)束后，將施加于測試器件的工作電壓由最小電壓設(shè)置為正常電壓，將正常電壓施加于測試器件上；
[0021]步驟06:讀取測試器件中所存儲的數(shù)據(jù)；
[0022]步驟07:比較所存儲的數(shù)據(jù)與原始數(shù)據(jù)是否相同；
[0023]步驟08:根據(jù)比較結(jié)果來判測試器件的數(shù)據(jù)保持能力。
[0024]優(yōu)選地，所述等待時間為100?1000ms。
[0025]優(yōu)選地，所述測試器件為存儲器。
[0026]本發(fā)明的驗證數(shù)據(jù)保持能力的系統(tǒng)及方法，利用了可變電壓參數(shù)設(shè)置接口，實現(xiàn)對同一測試程序中對測試器件施加不同電壓的設(shè)置，利用等待時間參數(shù)設(shè)置接口，來實現(xiàn)對等待時間的直接設(shè)置，本發(fā)明可以實現(xiàn)工作電壓的直接轉(zhuǎn)換，以及等待時間的直接設(shè)置，而無需再額外增加測試項來改變工作電壓和等待時間，本發(fā)明簡化了工藝程序，節(jié)約了時間和成本，提高了驗證效率。
【附圖說明】
[0027]圖1為本發(fā)明的一個較佳實施例的驗證數(shù)據(jù)保持能力的系統(tǒng)的方塊圖
[0028]圖2為本發(fā)明的一個較佳實施例的驗證數(shù)據(jù)保持能力的方法的流程示意圖
【具體實施方式】
[0029]為使本發(fā)明的內(nèi)容更加清楚易懂，以下結(jié)合說明書附圖，對本發(fā)明的內(nèi)容作進一步說明。當(dāng)然本發(fā)明并不局限于該具體實施例，本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員所熟知的一般替換也涵蓋在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。
[0030]以下結(jié)合附圖1-2和具體實施例對本發(fā)明作進一步詳細說明。需說明的是，附圖均采用非常簡化的形式、使用非精準(zhǔn)的比例，且僅用以方便、清晰地達到輔助說明本實施例的目的。
[0031]本實施例中，請參閱圖1，驗證數(shù)據(jù)保持能力的系統(tǒng)，測試器件可以為任何具有數(shù)據(jù)存儲能力的器件，例如存儲芯片等;具體包括:
[0032]可變電壓參數(shù)設(shè)置接口，用于設(shè)置施加于測試器件的工作電壓為正常電壓或最小電壓;這里，通過可變電壓參數(shù)設(shè)置接口，可以首先設(shè)置施加于測試器件的工作電壓為正常電壓，然后，向測試器件中輸入原始數(shù)據(jù);接著，將施加于測試器件的工作電壓設(shè)置為最小電壓;等待一段時間后，再將施加于測試器件的工作電壓設(shè)置為正常電壓。也就是，可變電壓參數(shù)設(shè)置接口的參數(shù)為一變量，該變量可以任意改變。
[0033]電壓控制模塊，與可變電壓參數(shù)設(shè)置接口相連接，用于將所設(shè)置的正常電壓或最小電壓施加于所述測試器件上；
[0034]寫入模塊，用于向測試器件中輸入原始數(shù)據(jù)；
[0035]等待時間參數(shù)設(shè)置接口，用于設(shè)置在最小電壓下的測試器件的等待時間;這里，等待時間可以為100?1000ms;
[0036]讀取模塊，讀取將經(jīng)等待時間后工作電壓增加至正常電壓的測試器件中所存儲的數(shù)據(jù)；
[0037]比較模塊，判斷所存儲的數(shù)據(jù)與原始數(shù)據(jù)是否相同；
[0038]判斷模塊，根據(jù)比較模塊的比較結(jié)果來判斷測試器件的數(shù)據(jù)保持能力。這里，如果所存儲的數(shù)據(jù)與原始數(shù)據(jù)基本相同或接近，表明該測試器件的數(shù)據(jù)保持能力較好，如果所存儲的數(shù)據(jù)小于原始數(shù)據(jù)的1/2，表明該測試器件的數(shù)據(jù)表示能力較差。
[0039]本實施例中，采用上述系統(tǒng)進行驗證數(shù)據(jù)保持能力的方法，請參閱圖2，包括:
[0040]步驟01:提供一個測試器件;這里測試器件可以為任何具有存儲能力的器件。
[0041]步驟02:將施加于測試器件的工作電壓設(shè)置成正常電壓，將正常電壓施加于測試器件上；向測試器件中輸入原始數(shù)據(jù)；
[0042]步驟03:將施加于測試器件的工作電壓由正常電壓設(shè)置為最小電壓，將最小電壓施加于測試器件上；
[0043]步驟04:在最小電壓下，執(zhí)行一等待時間；這里，等待時間可以為100?100ms;
[0044]步驟05:等待時間結(jié)束后，將施加于測試器件的工作電壓由最小電壓設(shè)置為正常電壓，將正常電壓設(shè)置于測試器件上；
[0045]步驟06:讀取測試器件中所存儲的數(shù)據(jù)；
[0046]步驟07:比較所存儲的數(shù)據(jù)與原始數(shù)據(jù)是否相同；
[0047]步驟08:根據(jù)比較結(jié)果來判測試器件的數(shù)據(jù)保持能力。這里，如果所存儲的數(shù)據(jù)與原始數(shù)據(jù)基本相同或接近，表明該測試器件的數(shù)據(jù)保持能力較好，如果所存儲的數(shù)據(jù)小于原始數(shù)據(jù)的1/2，表明該測試器件的數(shù)據(jù)表示能力較差。
[0048]雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭示如上，然所述實施例僅為了便于說明而舉例而已，并非用以限定本發(fā)明，本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明精神和范圍的前提下可作若干的更動與潤飾，本發(fā)明所主張的保護范圍應(yīng)以權(quán)利要求書所述為準(zhǔn)。
【主權(quán)項】
1.一種驗證數(shù)據(jù)保持能力的系統(tǒng)，用于對測試器件進行檢測;其特征在于，包括: 可變電壓參數(shù)設(shè)置接口，用于設(shè)置施加于測試器件的工作電壓為正常電壓或最小電壓； 電壓控制模塊，與可變電壓參數(shù)設(shè)置接口相連接，用于將所設(shè)置的正常電壓或最小電壓施加于所述測試器件上； 寫入模塊，用于向測試器件中輸入原始數(shù)據(jù)； 等待時間參數(shù)設(shè)置接口，用于設(shè)置在最小電壓下的測試器件的等待時間； 讀取模塊，讀取將經(jīng)等待時間后工作電壓增加至正常電壓的測試器件中所存儲的數(shù)據(jù)； 比較模塊，判斷所存儲的數(shù)據(jù)與原始數(shù)據(jù)是否相同； 判斷模塊，根據(jù)比較模塊的比較結(jié)果來判斷測試器件的數(shù)據(jù)保持能力。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述等待時間為10?100ms。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述測試器件為存儲器。4.一種驗證數(shù)據(jù)保持能力的方法，其特征在于，包括: 步驟O 1:提供一個測試器件； 步驟02:將施加于測試器件的工作電壓設(shè)置成正常電壓，將正常電壓施加于測試器件上;然后向測試器件中輸入原始數(shù)據(jù)； 步驟03:將施加于測試器件的工作電壓由正常電壓設(shè)置為最小電壓，將最小電壓施加于測試器件上； 步驟04:在最小電壓下，執(zhí)彳丁一等待時間； 步驟05:等待時間結(jié)束后，將施加于測試器件的工作電壓由最小電壓設(shè)置為正常電壓，將正常電壓施加于測試器件上； 步驟06:讀取測試器件中所存儲的數(shù)據(jù)； 步驟07:比較所存儲的數(shù)據(jù)與原始數(shù)據(jù)是否相同； 步驟08:根據(jù)比較結(jié)果來判測試器件的數(shù)據(jù)保持能力。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述等待時間為100?100ms。6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述測試器件為存儲器。
【文檔編號】G11C29/12GK106057248SQ201610370044
【公開日】2016年10月26日
【申請日】2016年5月30日
【發(fā)明人】代瑞娟, 席與凌, 李強
【申請人】上海華力微電子有限公司