專利名稱：一種快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性判定方法
一種快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性判定方法技術領域
本發(fā)明屬于存儲器設計技術領域，尤其涉及一種快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性判定方法。
背景技術：
快閃存儲器有著廣泛的應用，比如照相機、MP3等便攜式電子設備。衡量快閃存儲器好壞的一個重要設計指標是數(shù)據(jù)保持特性(Retention)，即要求所存儲的數(shù)據(jù)能夠保存 10年以上?？扉W存儲器基于電荷存儲原理實現(xiàn)數(shù)據(jù)的存儲，所存儲的電荷經(jīng)過較長的時間后會逐漸丟失，從而導致數(shù)據(jù)出錯，在特定情況下導致數(shù)據(jù)不能保存10年以上。測量快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性一般是通過高溫加速試驗來加速所存儲電荷的丟失速度，當電荷的丟失量超過一定的范圍后，所存儲的數(shù)據(jù)就會發(fā)生1到0的轉變，通過檢測所存儲的數(shù)據(jù)是否發(fā)生改變，進而推導出數(shù)據(jù)是否能夠保存10年以上。判斷數(shù)據(jù)是否發(fā)生改變的電路就是如圖1所示的快閃存儲器的常用讀取電路，對存儲單元MO施加一定的讀取電壓Vwl，通過靈敏放大器判斷存儲單元MO的電流和參考電流Iref大小，進而在輸出端Do輸出數(shù)據(jù)0或者 1。通過對整個存儲陣列中的所有存儲單元進行測試，就能得到整個存儲器芯片的數(shù)據(jù)保持特性。這種方法能夠得到經(jīng)過多長時間的加速試驗后所保存的數(shù)據(jù)會發(fā)生改變，但不能直觀且不能精確測量電荷的丟失量和時間的關系。而在軍事、銀行等對可靠性要求非常高的應用中，需要嚴格測定快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性，精確測量電荷的丟失量和時間的關系。發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于，提供一種快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性判定方法，用以精確測量快閃存儲器存儲單元的電荷丟失量和時間的關系。
為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的技術方案是，一種快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性判定方法，在高溫加速過程中檢測快閃存儲器存儲單元的電荷丟失量和時間的關系，其特征是所述方法包括
步驟1 對快閃存儲器的存儲單元施加讀取電壓，獲得讀取電流；
步驟2 通過積分器電路對所述讀取電流進行積分，從而獲得與所述讀取電流大小成正比的輸出電壓；
步驟3 監(jiān)控所述輸出電壓，確定輸出電壓和時間的關系；
步驟4:根據(jù)輸出電壓與存儲單元電荷丟失量的關系，推算出存儲單元電荷丟失量和時間的關系。
所述積分器電路采用電容反饋互導放大器。
本發(fā)明能夠測量快閃存儲器存儲單元的電荷丟失量和時間的關系，提高了快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性的判定準確性。


圖1是快閃存儲器常用的讀取電路示意圖2是本發(fā)明提供的快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性判定方法流程圖3是本發(fā)明提出的快閃存儲器讀取電路示意圖。
具體實施方式
下面結合附圖，對優(yōu)選實施例作詳細說明。應該強調的是，下述說明僅僅是示例性的，而不是為了限制本發(fā)明的范圍及其應用。
圖2是快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性判定方法流程圖。本發(fā)明提供的快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性判定方法是在高溫加速試驗的整個過程中，通過對存儲單元施加一定的讀取電壓，利用積分器電路對存儲單元的讀取電流進行積分，輸出和讀取電流大小成正比的電壓值，實時對該電壓值進行監(jiān)控，進而推算出存儲單元電荷丟失量和時間的關系。圖2中， 快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性判定方法包括
步驟1 對快閃存儲器的存儲單元MO施加讀取電壓Vwl，獲得讀取電流。
由于各廠家研制的存儲器不同，因此施加的讀取電壓也不盡相同。可以根據(jù)各廠家存儲器的特點施加相應的讀取電壓。
步驟2 通過積分器電路對所述讀取電流進行積分，從而獲得與所述讀取電流大小成正比的輸出電壓V。。
積分器電路采用電容反饋互導放大器(Capacitor feedback TransImpedance Amplifier, CTIA)結構。積分器電路是一個通用的電路模塊，具備使輸出電壓和讀取電流大小成正比的特點。讀取電流和輸出電壓之間關系可以通過公式V。= IXt/C表示，其中 V0為輸出電壓，I為讀取電流，C為積分電容，t為積分時間，積分時間一般是微秒或者毫秒量級的。
步驟3:監(jiān)控所述輸出電壓V。，確定輸出電壓V。和時間t'的關系。
隨著時間t'的推移，如果存儲單元有電荷丟失，那么輸出電壓V。就會發(fā)生變化， 由此可以確定輸出電壓V。和時間t'的關系。
步驟4 根據(jù)輸出電壓V。與存儲單元電荷丟失量的關系，推算出存儲單元電荷丟失量和時間的關系。
由于存儲單元電荷丟失會導致存儲單元閾值電壓降低，進一步使讀取電流增大， 最終會導致輸出電壓增大，這就使得輸出電壓V。和電荷丟失量之間的存在一定的關系。根據(jù)輸出電壓V。與存儲單元電荷丟失量之間的關系，結合上一步確定的輸出電壓V。和時間 t ‘的關系，可以推算出存儲單元電荷丟失量和時間的關系。
依照該方法，通過對整個存儲陣列中的所有存儲單元進行同樣的測試，就能得到整個存儲器芯片的直觀的精確的數(shù)據(jù)保持特性。
以上所述，僅為本發(fā)明較佳的具體實施方式
，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此， 任何熟悉本技術領域的技術人員在本發(fā)明揭露的技術范圍內，可輕易想到的變化或替換， 都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內。因此，本發(fā)明的保護范圍應該以權利要求的保護范圍為準。
權利要求
1.一種快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性判定方法，在高溫加速過程中檢測快閃存儲器存儲單元的電荷丟失量和時間的關系，其特征是所述方法包括步驟1 對快閃存儲器的存儲單元施加讀取電壓，獲得讀取電流； 步驟2 通過積分器電路對所述讀取電流進行積分，從而獲得與所述讀取電流大小成正比的輸出電壓；步驟3 監(jiān)控所述輸出電壓，確定輸出電壓和時間的關系；步驟4:根據(jù)輸出電壓與存儲單元電荷丟失量的關系，推算出存儲單元電荷丟失量和時間的關系。
2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征是所述積分器電路采用電容反饋互導放大器。
全文摘要
本發(fā)明公開了存儲器設計技術領域中的一種快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性判定方法。該方法包括對快閃存儲器的存儲單元施加讀取電壓，獲得讀取電流；通過積分器電路對所述讀取電流進行積分，從而獲得與所述讀取電流大小成正比的輸出電壓；監(jiān)控所述輸出電壓，確定輸出電壓和時間的關系；根據(jù)輸出電壓與存儲單元電荷丟失量的關系，推算出存儲單元電荷丟失量和時間的關系。本發(fā)明能夠測量快閃存儲器存儲單元的電荷丟失量和時間的關系，提高了快閃存儲器的數(shù)據(jù)保持特性的判定準確性。
文檔編號G11C29/00GK102568599SQ20121002786
公開日2012年7月11日 申請日期2012年2月9日 優(yōu)先權日2012年2月9日
發(fā)明者伍冬, 潘立陽 申請人:清華大學