專利名稱：光拾取裝置和光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是涉及光拾取裝置和光盤裝置的發(fā)明。
背景技術(shù)：
作為本技術(shù)領(lǐng)域的背景技術(shù)，有例如日本特開2006-344344號(hào)公報(bào)(專利文獻(xiàn) 1)。在本公報(bào)中，課題為“高精度地從具有多個(gè)記錄層的光盤取得希望的信號(hào)”，解決 方法為“從光源單元51出射的P偏振的光束，在光盤15被反射，成為S偏振并向透鏡 61入射。在1/4波片62、63，從光軸的+X側(cè)入射的光束均被賦予+1/4波長(zhǎng)的光學(xué)相 位差。從光軸的-X側(cè)入射的光束均被賦予-1/4波長(zhǎng)的光學(xué)相位差。由此，通過(guò)1/4 波片63，信號(hào)光成為S偏振光，雜散光成為P偏振光，而僅有信號(hào)光透過(guò)偏振光學(xué)元件 64。，，。另外，例如在非專利文獻(xiàn)1中，課題為“在記錄/再現(xiàn)雙層光盤時(shí)，若包含有從 與目標(biāo)層不同的層反射的光的他層雜散光入射進(jìn)光電探測(cè)器，則TE信號(hào)會(huì)產(chǎn)生偏移。因 此，在沒(méi)有他層雜散光對(duì)策的現(xiàn)有結(jié)構(gòu)中，雙層光盤的TE信號(hào)的偏移比單層的情況大， 穩(wěn)定的控制受到妨礙。”，解決方法為“將跟蹤用光電探測(cè)器配置在沒(méi)有他層雜散光的 區(qū)域?！薄Ａ硗?，該結(jié)構(gòu)在日本特開2004-281026 (專利文獻(xiàn)2)中有記載。專利文獻(xiàn)1 日本特開2006-344344號(hào)公報(bào)(第26頁(yè)、圖3、圖5)專利文獻(xiàn)2:日本特開2004-281026號(hào)公報(bào)(第71頁(yè)、圖22、圖24、圖25)非專利文獻(xiàn)1 電子信息通信學(xué)會(huì)信學(xué)技報(bào)CPM2005-149 (2005-10)(第33頁(yè)、 圖4、圖5)

發(fā)明內(nèi)容
一般地，光拾取裝置為了在光盤內(nèi)某規(guī)定的記錄軌道上照射光斑，除通過(guò)聚焦 誤差的檢測(cè)，使物鏡在聚焦方向上位移而在聚焦方向上進(jìn)行調(diào)整之外，還檢測(cè)跟蹤誤差 信號(hào)，使物鏡向盤狀記錄介質(zhì)的半徑方向位移而進(jìn)行跟蹤調(diào)整。利用這些信號(hào)，進(jìn)行物 鏡的位置控制。在上述伺服信號(hào)中，對(duì)于跟蹤信號(hào)，對(duì)存在2層記錄層的雙層光盤有較大的問(wèn) 題。在雙層光盤中，在目標(biāo)記錄層反射的信號(hào)光和在其它的非目標(biāo)記錄層反射的雜散光 在相同的受光面入射。當(dāng)信號(hào)光和雜散光在受光面入射時(shí)，兩光發(fā)生干涉，該變動(dòng)成分 作為跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)出。對(duì)于該問(wèn)題，在專利文獻(xiàn)1中采用下述結(jié)構(gòu)將光盤反射的光束用聚光透鏡集 中，使其通過(guò)2片1/4波片和偏振光學(xué)元件，將擴(kuò)散的光用聚光透鏡集中而向檢測(cè)器照 射。因此，存在檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)變得復(fù)雜、拾取裝置的尺寸變大的問(wèn)題。 在非專利文獻(xiàn)1(專利文獻(xiàn)2)中，采用下述結(jié)構(gòu)在產(chǎn)生于聚焦用光檢測(cè)器的周 圍的聚焦用光束的來(lái)自他層的雜散光的外側(cè)，配置跟蹤用光檢測(cè)器，進(jìn)一步使在全息元 件的中央部衍射的光在來(lái)自他層的雜散光的外側(cè)前進(jìn)。由此即使對(duì)雙層光盤也能夠進(jìn)行 穩(wěn)定的跟蹤控制。但是，對(duì)應(yīng)存在多個(gè)層的多層光盤有較大的問(wèn)題。若采用像非專利文獻(xiàn)1(專利文獻(xiàn)2)那樣的結(jié)構(gòu)，則為了使信號(hào)光與來(lái)自多層的光分離，衍射光柵的衍射角 必須較大。若衍射角變大，則伴隨著光檢測(cè)器的尺寸變大，產(chǎn)生拾取裝置的尺寸的問(wèn)題 和成本的問(wèn)題。另外，制造引起的衍射效率的降低或光斑的變形的產(chǎn)生成為問(wèn)題。特別 是，衍射效率的降低從多層光盤的S/N的觀點(diǎn)來(lái)看成為很大的問(wèn)題。因此，本發(fā)明的目的是提供對(duì)在上述方式中成為問(wèn)題的具有2層和其以上的 記錄面的光盤，也能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的再現(xiàn)信號(hào)和伺服信號(hào)、并能夠小型化的光拾取裝置 或光盤裝置。本發(fā)明的第一方面的光拾取裝置，其特征在于，包括射出激光的半導(dǎo)體激光 器；將從上述半導(dǎo)體激光器射出的光束向光盤照射的物鏡；將上述光束分支的衍射光 柵；和光檢測(cè)器，其具有接收由上述衍射光柵分支的光束的多個(gè)受光部，在上述物鏡和 光檢測(cè)器間搭載有透過(guò)規(guī)定的偏振光成分的光束的偏振元件。本發(fā)明的另一方面的光盤裝置，其特征在于，搭載有上述的光拾取裝置；驅(qū) 動(dòng)上述光拾取裝置內(nèi)的上述半導(dǎo)體激光器的激光點(diǎn)亮電路；使用從上述光拾取裝置內(nèi)的 上述光檢測(cè)器檢測(cè)出的信號(hào)，生成聚焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)的伺服信號(hào)生成電路； 和對(duì)記錄在光盤的信息信號(hào)進(jìn)行再現(xiàn)的信息信號(hào)再現(xiàn)電路。根據(jù)本發(fā)明能夠提供當(dāng)記錄再現(xiàn)具有多個(gè)信息記錄面的信息記錄介質(zhì)時(shí) ，能 夠得到穩(wěn)定的再現(xiàn)信號(hào)和伺服信號(hào)、并能夠小型化的光拾取裝置和搭載其的光盤裝置。


圖1是說(shuō)明實(shí)施例1的光學(xué)系統(tǒng)的圖。圖2是表示實(shí)施例1的衍射光柵的圖。圖3是表示實(shí)施例1的受光面的圖。圖4是表示實(shí)施例1的偏振濾光器的圖。圖5是表示記錄/再現(xiàn)實(shí)施例1的3層光盤時(shí)的雜散光的形狀(檢測(cè)器上)的 圖。圖6是表示實(shí)施例1的其它的衍射光柵的圖。圖7是表示實(shí)施例1的其它的受光面的圖。圖8是表示實(shí)施例2的受光面的圖。圖9是表示實(shí)施例2的偏振濾光器的圖。圖10是表示記錄/再現(xiàn)實(shí)施例2的3層光盤時(shí)的雜散光的形狀(檢測(cè)器上)的 圖。圖11是表示實(shí)施例3的受光面的圖。圖12是表示實(shí)施例3的偏振濾光器的圖。圖13是表示記錄/再現(xiàn)實(shí)施例3的3層光盤時(shí)的雜散光的形狀(檢測(cè)器上)的 圖。圖14是說(shuō)明實(shí)施例4的光學(xué)系統(tǒng)的圖。圖15是表示實(shí)施例4的衍射光柵的圖。圖16是表示實(shí)施例4的受光面的圖。圖17是表示實(shí)施例4的偏振濾光器的圖。
圖18是表示記錄/再現(xiàn)實(shí)施例4的3層光盤時(shí)的雜散光的形狀(檢測(cè)器上)的 圖。圖19是表示實(shí)施例4的其它的衍射光柵的圖。圖20是說(shuō)明實(shí)施例5的光學(xué)再現(xiàn)裝置的圖。圖21是說(shuō)明實(shí)施例6的光學(xué)記錄再現(xiàn)裝置的圖。符號(hào)說(shuō)明2 物鏡5 致動(dòng)器10 檢測(cè)器11 衍射光柵50 半導(dǎo)體激光器51 準(zhǔn)直透鏡52 分束器53 前置監(jiān)視器54 擴(kuò)束器55 立起反射鏡56 1/4 波片57 檢測(cè)透鏡100 光盤101 偏振濾光器171 主軸馬達(dá)電路172:存取控制電路173:致動(dòng)器控制電路174 伺服信號(hào)生成電路175 信息信號(hào)再現(xiàn)電路176:控制電路177 激光點(diǎn)亮電路178 信息記錄電路179 球面像差修正元件驅(qū)動(dòng)電路180 主軸馬達(dá)
具體實(shí)施例方式[實(shí)施例1]圖1表示本發(fā)明的第一實(shí)施例涉及的光學(xué)系統(tǒng)。從半導(dǎo)體激光器50，作為發(fā)散光出射波長(zhǎng)約405nm的光束。從半導(dǎo)體激光器50出射的光束由分束器52反射。還有一部分的光束透過(guò)分束器52，入射到前置監(jiān)視器 53。一般地，在將信息記錄到記錄型的光盤的情況下，為使規(guī)定的光量照射到光盤的記 錄面，需要高精度地控制半導(dǎo)體激光器的光量。因此，在向記錄型的光盤記錄信號(hào)時(shí)， 前置監(jiān)視器53檢測(cè)出半導(dǎo)體激光器50的光量的變化，反饋回半導(dǎo)體激光器50的驅(qū)動(dòng)電路(未圖示)。由此，能夠監(jiān)視光盤上的光量。在分束器52反射的光束被準(zhǔn)直透鏡51變換為大致平行的光束。透過(guò)準(zhǔn)直透過(guò) 51的光束入射到擴(kuò)束器54。擴(kuò)束器54，通過(guò)改變光束的發(fā)散、會(huì)聚狀態(tài)，使用于補(bǔ)償 由光盤100的覆 蓋層的厚度誤差引起的球面像差。從擴(kuò)束器54出射的光束在立起反射鏡 55反射，透過(guò)1/4波片56后，被搭載在致動(dòng)器5的物鏡2聚光到光盤100上。由光盤100反射的光束，通過(guò)物鏡2、1/4波片56、立起反射鏡55、擴(kuò)束器54、 準(zhǔn)直透鏡51和分束器52，入射到偏振衍射光柵11。圖2表示偏振性衍射光柵11。偏振 衍射光柵11的衍射光柵間距和槽方向按區(qū)域而不同，在各區(qū)域出射的光束向不同的方向 衍射。在偏振衍射光柵11衍射的光束，經(jīng)過(guò)檢測(cè)透鏡57、偏振濾光器101，入射到檢測(cè) 器10。這時(shí)，因?yàn)橛蓹z測(cè)透鏡57賦予規(guī)定的像散，所以能夠利用像散方式檢測(cè)聚焦誤差 信號(hào)。此處，最先對(duì)跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)進(jìn)行說(shuō)明。作為一般的跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)方 法，可知有差動(dòng)推挽方式。該差動(dòng)推挽方式(DPP Differential Push Pull方式)，利用衍 射光柵將光束分割為主光束和副光束+1級(jí)、副光束-1級(jí)，對(duì)由半徑方向的主光束得到 的推挽(MPP)信號(hào)與由副光束+1級(jí)和副光束-1級(jí)得到的推挽(SPP)信號(hào)進(jìn)行以下的運(yùn) 算，降低DC偏移。[式1]DPP = MPP-kXSPP另外，k是修正主光束和副光束的光量比的系數(shù)。不過(guò)，DPP方式在再現(xiàn)雙層和其以上的光盤時(shí)會(huì)產(chǎn)生問(wèn)題。對(duì)此以最簡(jiǎn)單的雙 層光盤進(jìn)行說(shuō)明。雙層光盤是記錄面存在2面的光盤，在各個(gè)記錄面產(chǎn)生反射光。因此對(duì)于雙層 光盤，光束被光盤分離為兩個(gè)，沿兩個(gè)光路入射到檢測(cè)器。例如在將焦點(diǎn)會(huì)聚到一層 時(shí)，該光束在檢測(cè)器面上形成光斑(信號(hào)光)，而由另一層反射的光束(雜散光)則以模 糊的狀態(tài)入射到檢測(cè)器。這時(shí)，在檢測(cè)器上，在各個(gè)層反射的信號(hào)光和雜散光在檢測(cè)器 面上重合，產(chǎn)生干涉。本來(lái)，頻率相同的激光器出射的光束在時(shí)間上沒(méi)有變化，但因?yàn)?各個(gè)層的間隔由于光盤的旋轉(zhuǎn)而變化，所以兩個(gè)光的相位關(guān)系隨時(shí)間變化，引起跟蹤誤 差信號(hào)即DPP信號(hào)的變動(dòng)。這是因?yàn)椋鞴馐?0級(jí)衍射光)和副光束+1級(jí)衍射光及副 光束-1級(jí)衍射光的光量比一般為10 1 1 20 1 1，副光束的光量相對(duì)主光束較 小，對(duì)于信號(hào)光，副光束的信號(hào)光與主光束的雜散光的干涉產(chǎn)生得較大。因?yàn)楦缮媸枪?知的所以省略說(shuō)明。由此，SPP信號(hào)較大地變動(dòng)，結(jié)果是，跟蹤誤差信號(hào)即DPP信號(hào)較 大地變動(dòng)。當(dāng)產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)的變動(dòng)時(shí)，光盤上的光斑不能夠沿著軌道追蹤，主要產(chǎn) 生記錄、再現(xiàn)信號(hào)惡化的問(wèn)題。對(duì)于該問(wèn)題，在非專利文獻(xiàn)1(專利文獻(xiàn)2)中，在光盤上形成一個(gè)光斑，通過(guò)將 其反射光分為多個(gè)區(qū)域而分離并檢測(cè)出信號(hào)光和雜散光。由此，雜散光不入射到檢測(cè)跟 蹤誤差信號(hào)的受光部，所以能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的跟蹤誤差信號(hào)。不過(guò)，在多層光盤的情況 下產(chǎn)生以下問(wèn)題。對(duì)于多層光盤，離表面最近一側(cè)的層與最遠(yuǎn)一側(cè)的層的間隔必然變得比雙層光 盤的層的間隔大。因此，受光部上的雜散光的大小變得比雙層光盤的雜散光大。此處，像非專利文獻(xiàn)1(專利文獻(xiàn)2)那樣，雖然能夠按照在雜散光的外側(cè)檢測(cè)出信號(hào)光的方式擴(kuò) 大受光部間隔，但若采用這樣的結(jié)構(gòu)，則為了使信號(hào)光和來(lái)自多層的光分離，必須使衍 射光柵的衍射角變大。伴隨著光檢測(cè)器的尺寸變大，產(chǎn)生拾取裝置的尺寸的問(wèn)題和成本 的問(wèn)題。另外，制造引起的衍射效率的降低或光斑的變形的產(chǎn)生成為問(wèn)題。特別是，衍 射效率的降低從多層光盤的S/N的觀點(diǎn)來(lái)看成為很大的問(wèn)題。對(duì)此，在本實(shí) 施例中，通過(guò)搭載偏振衍射光柵11和偏振濾光器101能夠使衍射 角變小，所以能夠不降低衍射效率地對(duì)應(yīng)多層光盤。另外也能夠比非專利文獻(xiàn)1(專利文 獻(xiàn)2)的檢測(cè)器更小型化。首先對(duì)本實(shí)施例以單層光盤進(jìn)行說(shuō)明。圖2所示的衍射光柵11，是偏振衍射光 柵，例如，對(duì)垂直方向的偏振光使+1級(jí)衍射光0級(jí)衍射光-1級(jí)衍射光=1 0 0， 對(duì)水平方向的偏振光使+1級(jí)衍射光0級(jí)衍射光-1級(jí)衍射光=0 1 0。這時(shí)， 偏振衍射光柵11的垂直方向、水平方向的軸的取法如圖2所示，相對(duì)入射偏振光稍微傾 斜。因此，盡管0級(jí)衍射光和+1級(jí)衍射光的偏振狀態(tài)按照偏振衍射光柵的軸的取法而不 同，也能夠改變0級(jí)衍射光和+1級(jí)衍射光的光量比。此處，在偏振衍射光柵衍射的光束 的O級(jí)衍射光+1級(jí)衍射光的光量比為7 3。另外，偏振衍射光柵11如圖2所示由 區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、Deh> Dfg> Di構(gòu)成，各區(qū)域的槽周期、槽方向不同。經(jīng)偏振衍射光柵11衍射的信號(hào)光透過(guò)偏振濾光器101，入射到檢測(cè)器10。檢測(cè) 器10如圖3所示，具有10個(gè)受光部。在衍射光柵區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、Deh、Dfg、 Di衍射的0級(jí)衍射光，入射到受光部aO、b0、C0、d0。另外，在衍射光柵區(qū)域Da、Db、 Dc、Dd、Deh、Dfg、Di衍射的+1級(jí)衍射光，分別入射到受光部al、bl、cl、dl、ehl、 fglo 將從受光部 a0、b0、c0、dO 和 al、bl、cl、dl、ehl、fgl 得到的 AO、B0、CO、 DO、Al、Bi、Cl、Dl、EHU FGl的信號(hào)通過(guò)以下的運(yùn)算生成聚焦誤差信號(hào)(FES)、 跟蹤誤差信號(hào)(TES)、RF信號(hào)。[式2]FES = (A0+C0) - (B0+D0)TES = { (A1+D1) - (Bl+Cl) }-ktl X { (EHl) - (FGl) }RF = A0+B0+C0+D0另外，ktl是在物鏡移位時(shí)在跟蹤誤差信號(hào)中不產(chǎn)生DC成分的系數(shù)。利用以上 的運(yùn)算，能夠檢測(cè)出良好的RF信號(hào)、伺服信號(hào)。接著，對(duì)多層光盤進(jìn)行說(shuō)明。此處以在離3層光盤(以下，從離光盤表面較近側(cè) 依次稱為L(zhǎng)ayer2、LayerU LayerO)的表面較近側(cè)的層(Layer2)上進(jìn)行聚焦控制的情況為 例進(jìn)行說(shuō)明。由3層光盤反射的信號(hào)光、雜散光，經(jīng)過(guò)物鏡2、1/4波片56、立起反射鏡 55、擴(kuò)束器54、準(zhǔn)直透鏡51、分束器52，入射到偏振性衍射光柵11。在偏振性衍射光 柵11衍射的信號(hào)光和雜散光，一部分透過(guò)偏振濾光器101而入射到檢測(cè)器。偏振濾光器 101為像圖4那樣的形狀，區(qū)域1具有僅透過(guò)垂直方向的偏振光成分(+1級(jí)衍射光成分) 的特性，區(qū)域2具有僅透過(guò)水平方向的偏振光成分(0級(jí)衍射光成分)的特性。另外，區(qū) 域1配置在相當(dāng)于受光部al、bl、cl、dl、ehl、fgl的區(qū)域，區(qū)域2配置在相當(dāng)于受光 部a0、b0、C0、d0的區(qū)域。這樣的偏振濾光器例如能夠用光子晶體(photonic crystal)實(shí) 現(xiàn)。
通過(guò)插入這樣的偏振濾光器101，受光部上的信號(hào)光的雜散光的關(guān)系變得如圖5 所示。此處，實(shí)線表示在Layer2反射的信號(hào)光，虛線表示由Layerl反射的雜散光，點(diǎn)劃 線表示由LayerO反射的雜散光，斜線部表示影響最大的雜散光(光量大的0級(jí)衍射光的雜 散光)。另外，圖5 (a)表示搭載有偏振濾光器的情況，圖5(b)表示沒(méi)有偏振濾光器的情 況。像這樣，若沒(méi)有偏振濾光器，則0級(jí)衍射光的雜散光成分會(huì)入射到受光部al、bl、 fgl、ehl。因此，產(chǎn)生從這些受光部得到的信號(hào)會(huì)變動(dòng)的問(wèn)題。與其相對(duì)的，通過(guò)插入 偏振濾光器，能夠使受光部上的信號(hào)光和雜散光分離(圖5箭頭)。此處，雖然雜散光入 射到受光部a0、b0、C0、d0,但因?yàn)樾盘?hào)光的光量較大，在實(shí)用上不成為問(wèn)題。在像非專利文獻(xiàn)1(專利文獻(xiàn)2)那樣的結(jié)構(gòu)中，不擴(kuò)大受光部間隔就不能夠分離 雜散光。另外，若擴(kuò)大受光部的間隔，則衍射光柵的衍射角會(huì)如上所述地變大，衍射效 率的問(wèn)題成為課題。與其相對(duì)的，通過(guò)搭載像本實(shí)施例這樣的偏振濾光器，能夠以比現(xiàn) 有情況小的衍射角僅檢測(cè)出信號(hào)成分，能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的伺服信號(hào)。另外，因?yàn)椴捎媚?夠使衍射角較小的結(jié)構(gòu)，所以能夠使檢測(cè)器小型化。在本實(shí)施例中，以3層光盤進(jìn)行說(shuō)明，但當(dāng)然對(duì)雙層或3層以上也有效。另外， 偏振衍射光柵的偏振特性當(dāng)然不限定于此，即使與本實(shí)施例不同，通過(guò)使用偏振衍射光 柵也能夠得到相同的效果。另外，偏振濾光器貼在受光部、遠(yuǎn)離受光部當(dāng)然都能夠得到 同樣的效果。而且，偏振濾光器的形狀當(dāng)然不限定于本實(shí)施例的形狀，只要是能夠分離 信號(hào)光和雜散光的圖案就能夠得到同樣的效果。另外，偏振濾光器的圖案當(dāng)然不限定于 本實(shí)施例，即使是像圖6那樣的圖案也能夠得到同樣的效果。再者，檢測(cè)器的圖案也當(dāng) 然不限定于此，例如即使是像圖7那樣的檢測(cè)器圖案，通過(guò)使用偏振濾光器分離入射到 受光部的信號(hào)光和雜散光，能夠得到同樣的效果。另外，偏振濾光器作為偏振特性在區(qū) 域1、區(qū)域2不同的偏振衍射光柵，當(dāng)然也能夠得到相同的效果。[實(shí)施例2]圖8是表示本發(fā)明的第二實(shí)施例涉及的光拾取器的檢測(cè)器的一例的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu) 圖。光學(xué)系統(tǒng)為與圖1相同的結(jié)構(gòu)，衍射光柵和檢測(cè)器與實(shí)施例1不同。首先對(duì)本實(shí)施例以單層光盤進(jìn)行說(shuō)明。圖2所示的衍射光柵11，是偏振衍射光 柵，例如，對(duì)垂直方向的偏振光使+1級(jí)衍射光0級(jí)衍射光-1級(jí)衍射光=1 0 1， 對(duì)水平方向的偏振光使+1級(jí)衍射光0級(jí)衍射光-1級(jí)衍射光=0 1 0。這時(shí)，偏 振衍射光柵的垂直方向、水平方向的軸的取法如圖2所示，相對(duì)入射偏振光稍微傾斜。 因此，盡管0級(jí)衍射光和+1級(jí)衍射光(-1級(jí)衍射光)的偏振狀態(tài)按照偏振衍射光柵的軸 的取法而不同，也能夠改變0級(jí)衍射光和+1級(jí)衍射光(-1級(jí)衍射光)的光量比。此處， 經(jīng)偏振衍射光柵衍射的光束，+1級(jí)衍射光0級(jí)衍射光-1級(jí)衍射光=1 10 1。 另外，偏振衍射光柵11如圖2所示由區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、Deh> Dfg> Di構(gòu)成。經(jīng)偏振衍射光柵11衍射的信號(hào)光透過(guò)偏振濾光器101，入射到檢測(cè)器10。檢測(cè) 器10如圖8所示，具有12個(gè)受光部。在衍射光柵區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、Deh、Dfg、 Di衍射的0級(jí)衍射光，入射到受光部a、b、c、d。另外，在衍射光柵區(qū)域Da、Db、 Dc、Dd衍射的+1級(jí)衍射光入射到受光部el、fl、gl、hi, _1級(jí)衍射光入射到受光部 e2、β、g2、h2。將從受光部 a、b、c、d 和受光部 el、fl、gl、hi、e2、β、g2、h2 得到的A、B、C、D和El、Fl、Gl、HI、E2、F2、G2、H2的信號(hào)通過(guò)以下的運(yùn)算生成聚焦誤差信號(hào)(FES)、跟蹤誤差信號(hào)(TES)、RF信號(hào)。[式3]
FES = (A+C) - (B+D)
TES = { (A+D) - (B+C) }-kt2 X [{E1+E2+H1+H2}-{F1+F2+G1+G2}]RF = A+B+C+D其中，kt2是在物鏡移位時(shí)不使DC成分在跟蹤誤差信號(hào)中產(chǎn)生的系數(shù)。利用以 上的運(yùn)算，能夠檢測(cè)出良好的RF信號(hào)、伺服信號(hào)。接著，對(duì)多層光盤進(jìn)行說(shuō)明。此處以在離3層光盤的表面較近側(cè)的層(Layer2) 上進(jìn)行聚焦控制的情況為例進(jìn)行說(shuō)明。在3層光盤反射的信號(hào)光、雜散光，經(jīng)過(guò)物鏡2、 1/4波片56、立起反射鏡55、擴(kuò)束器54、準(zhǔn)直透鏡51、分束器52，入射到偏振性衍射光 柵11。由偏振性衍射光柵11衍射的信號(hào)光和雜散光，一部分透過(guò)偏振濾光器101而入 射到檢測(cè)器。偏振濾光器101為像圖9那樣的形狀，區(qū)域1具有僅透過(guò)垂直方向的偏振 光成分(士 1級(jí)衍射光成分)的特性，區(qū)域2具有僅透過(guò)水平方向的偏振光成分(0級(jí)衍射 光成分)的特性。另外，區(qū)域1配置在相當(dāng)于受光部el、fl、gl、hi、e2、f2、g2、h2 的區(qū)域，區(qū)域2配置在相當(dāng)于受光部a、b、C、d的區(qū)域。通過(guò)插入這樣的偏振濾光器101，受光部上的信號(hào)光的雜散光的關(guān)系變得如圖 10所示。此處，實(shí)線表示在Layer2反射的信號(hào)光，虛線表示在Layerl反射的雜散光， 點(diǎn)劃線表示在LayerO反射的雜散光，斜線部表示影響最大的雜散光(光量大的0級(jí)衍射 光的雜散光)。另外，圖10(a)表示搭載有偏振濾光器的情況，圖10(b)表示沒(méi)有偏振濾 光器的情況。像這樣，若沒(méi)有偏振濾光器，則0級(jí)衍射光的雜散光成分會(huì)入射到受光部 el、fl、gl、hi、e2、β、g2、h2。與其相對(duì)的，通過(guò)插入偏振濾光器，能夠使受光部 上的信號(hào)光和雜散光分離(圖10箭頭)。此處，雖然雜散光入射到受光部a、b、c、d， 但因?yàn)樾盘?hào)光的光量較大，在實(shí)用上不成為問(wèn)題。由此，能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的伺服信號(hào)。 另外，因?yàn)椴捎媚軌蚴寡苌浣禽^小的結(jié)構(gòu)，所以能夠使檢測(cè)器小型化。在本實(shí)施例中，以3層光盤進(jìn)行說(shuō)明，但當(dāng)然對(duì)雙層或3層以上也有效。另外， 偏振衍射光柵的偏振特性當(dāng)然不限定于此，即使與本實(shí)施例不同，通過(guò)使用偏振衍射光 柵也能夠得到相同的效果。另外，偏振濾光器貼在受光部、遠(yuǎn)離受光部當(dāng)然都能夠得到 同樣的效果。而且，偏振濾光器的形狀當(dāng)然不限定于本實(shí)施例的形狀，只要是能夠分離 信號(hào)光和雜散光的圖案就能夠得到同樣的效果。另外，偏振濾光器的圖案當(dāng)然不限定于 本實(shí)施例，即使是像圖6那樣的圖案也能夠得到同樣的效果。再者，檢測(cè)器的圖案也當(dāng) 然不限定于此，通過(guò)使用偏振濾光器分離入射到受光部的信號(hào)光和雜散光，能夠得到同 樣的效果。另外，偏振濾光器作為偏振特性在區(qū)域1、區(qū)域2不同的偏振衍射光柵，當(dāng)然 也能夠得到相同的效果。[實(shí)施例3]圖11是表示本發(fā)明的第三實(shí)施例涉及的光拾取器的檢測(cè)器的一例的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu) 圖。光學(xué)系統(tǒng)為與圖1相同的結(jié)構(gòu)，衍射光柵和檢測(cè)器與實(shí)施例1不同。首先對(duì)本實(shí)施例以單層光盤進(jìn)行說(shuō)明。圖2所示的衍射光柵11，是偏振衍射光 柵，例如，對(duì)垂直方向的偏振光使+1級(jí)衍射光0級(jí)衍射光-1級(jí)衍射光=1 0 1，對(duì)水平方向的偏振光使+1級(jí)衍射光O級(jí)衍射光-1級(jí)衍射光=O 1 0。這時(shí)，偏 振衍射光柵的垂直方向、水平方向的軸的取法如圖2所示，相對(duì)入射偏振光稍微傾斜。 因此，盡管0級(jí)衍射光和+1級(jí)衍射光(-1級(jí)衍射光)的偏振狀態(tài)按照偏振衍射光柵的軸 的取法而不同，也能夠改變0級(jí)衍射光和+1級(jí)衍射光的光量比。此處，在偏振衍射光柵 衍射的光束，+1級(jí)衍射光0級(jí)衍射光-1級(jí)衍射光=1 10 1。另外，偏振衍射 光柵11如圖2所示由區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、Deh> Dfg> Di構(gòu)成。 在偏振衍射光柵11衍射的信號(hào)光透過(guò)偏振濾光器101，入射到檢測(cè)器10。檢 測(cè)器10如圖11所示，具有12個(gè)受光部。在衍射光柵區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、Deh、 Dfg、Di衍射的0級(jí)衍射光，入射到受光部a、b、c、do另外，在衍射光柵區(qū)域Deh、 Dfg衍射的+1級(jí)衍射光入射到受光部el、fl、gl、hi, -1級(jí)衍射光入射到受光部e2、 β、g2、h2。將從受光部 a、b、c、d 和受光部 el、fl、gl、hi、e2、β、g2、h2 得到 的A、B、C、D、El、Fl、Gl、HI、E2、F2、G2、H2的信號(hào)通過(guò)以下的運(yùn)算生成聚 焦誤差信號(hào)(FES)、跟蹤誤差信號(hào)(TES)、RF信號(hào)。[式4]FES = (A+C) - (B+D)TES = { (A+D) - (B+C) }-kt3 X [{E1+E2+H1+H2}-{F1+F2+G1+G2}]RF = A+B+C+D其中，kt3是在物鏡移位時(shí)不使DC成分在跟蹤誤差信號(hào)中產(chǎn)生的系數(shù)。利用以 上的運(yùn)算，能夠檢測(cè)出良好的RF信號(hào)、伺服信號(hào)。接著，對(duì)多層光盤進(jìn)行說(shuō)明。此處以在離3層光盤的表面較近側(cè)的層(Layer2) 上進(jìn)行聚焦控制的情況為例進(jìn)行說(shuō)明。在3層光盤反射的信號(hào)光、雜散光，經(jīng)過(guò)物鏡2、 1/4波片56、立起反射鏡55、擴(kuò)束器54、準(zhǔn)直透鏡51、分束器52，入射到偏振性衍射光 柵11。在偏振性衍射光柵11衍射的信號(hào)光和雜散光，一部分透過(guò)偏振濾光器101而入 射到檢測(cè)器。偏振濾光器101為像圖12那樣的形狀，區(qū)域1具有僅透過(guò)垂直方向的偏振 光成分(+1級(jí)衍射光成分)的特性，區(qū)域2具有僅透過(guò)水平方向的偏振光成分(0級(jí)衍射 光成分)的特性。另外，區(qū)域1配置在相當(dāng)于受光部el、fl、gl、hi、e2、β、g2、h2 的區(qū)域，區(qū)域2配置在相當(dāng)于受光部a、b、C、d的區(qū)域。通過(guò)插入這樣的偏振濾光器101，受光部上的信號(hào)光的雜散光的關(guān)系變得如圖 13所示。此處，實(shí)線表示在Layer2反射的信號(hào)光，虛線表示在Layerl反射的雜散光， 點(diǎn)劃線表示在LayerO反射的雜散光，斜線部表示影響最大的雜散光(光量大的0級(jí)衍射 光的雜散光)。另外，圖13(a)表示搭載有偏振濾光器的情況，圖13(b)表示沒(méi)有偏振濾 光器的情況。像這樣，若沒(méi)有偏振濾光器，則0級(jí)衍射光的雜散光成分會(huì)入射到受光部 el、fl、gl、hi、e2、f2、g2、h2。與其相對(duì)的，通過(guò)插入偏振濾光器，能夠使受光部 上的信號(hào)光和雜散光分離(圖13箭頭)。此處，雖然雜散光入射到受光部a、b、c、d， 但因?yàn)樾盘?hào)光的光量較大，在實(shí)用上不成為問(wèn)題。由此，能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的伺服信號(hào)。 另外，因?yàn)椴捎媚軌蚴寡苌浣禽^小的結(jié)構(gòu)，所以能夠使檢測(cè)器小型化。在本實(shí)施例中，以3層光盤進(jìn)行說(shuō)明，但當(dāng)然對(duì)雙層或3層以上也有效。另外， 偏振衍射光柵的偏振特性當(dāng)然不限定于此，即使與本實(shí)施例不同，通過(guò)使用偏振衍射光柵也能夠得到相同的效果。另外，偏振濾光器貼在受光部、遠(yuǎn)離受光部當(dāng)然都能夠得到 同樣的效果。而且，偏振濾光器的形狀當(dāng)然不限定于本實(shí)施例的形狀，只要是能夠分離 信號(hào)光和雜散光的圖案就能夠得到同樣的效果。另外，偏振濾光器的圖案當(dāng)然不限定于 本實(shí)施例，即使是像圖6那樣的圖案也能夠得到同樣的效果。再者，檢測(cè)器的圖案也當(dāng) 然不限定于此，通過(guò)使用偏振濾光器分離入射到受光部的信號(hào)光和雜散光，能夠得到同 樣的效果。另外，偏振濾光器作為偏振特性在區(qū)域1、區(qū)域2不同的偏振衍射光柵，當(dāng)然 也能夠得到相同的效果。[實(shí)施例4]圖14表示本發(fā)明的實(shí) 施例4涉及的光拾取器的光學(xué)系統(tǒng)。從半導(dǎo)體激光器50，波長(zhǎng)約405nm的光束作為發(fā)散光出射。從半導(dǎo)體激光器 50出射的光束在分束器52反射。還有一部分的光束透過(guò)分束器52，入射到前置監(jiān)視器 53。一般地，在將信息記錄到記錄型的光盤的情況下，為使規(guī)定的光量照射到光盤的記 錄面，需要高精度地控制半導(dǎo)體激光器的光量。因此，在向記錄型的光盤記錄信號(hào)時(shí)， 前置監(jiān)視器53檢測(cè)出半導(dǎo)體激光器50的光量的變化，反饋回半導(dǎo)體激光器50的驅(qū)動(dòng)電 路(未圖示)。由此，能夠監(jiān)視光盤上的光量。經(jīng)分束器52反射的光束被準(zhǔn)直透鏡51變換為大致平行的光束。透過(guò)準(zhǔn)直透過(guò) 51的光束入射到擴(kuò)束器54。擴(kuò)束器54，通過(guò)改變光束的發(fā)散、會(huì)聚狀態(tài)，使用于補(bǔ)償 由光盤100的覆蓋層的厚度誤差引起的球面像差。從擴(kuò)束器54出射的光束在立起反射鏡 55反射，透過(guò)1/4波片56后，被搭載在致動(dòng)器5的物鏡2聚光到光盤100上。由光盤100反射的光束，通過(guò)物鏡2、1/4波片56、立起反射鏡55、擴(kuò)束器54、 準(zhǔn)直透鏡51和分束器52，入射到偏振衍射光柵11。圖15表示偏振性衍射光柵11。偏 振衍射光柵11的衍射光柵間距和槽方向按區(qū)域而不同，在各區(qū)域出射的光束向不同的方 向衍射。在偏振衍射光柵11衍射的光束，經(jīng)過(guò)偏振濾光器101入射到檢測(cè)器10。首先對(duì)本實(shí)施例以單層光盤進(jìn)行說(shuō)明。圖15所示的衍射光柵11，是偏振衍射光 柵，例如，對(duì)垂直方向的偏振光使+1級(jí)衍射光0級(jí)衍射光-1級(jí)衍射光=1 0 1， 對(duì)水平方向的偏振光使+1級(jí)衍射光0級(jí)衍射光-1級(jí)衍射光=0 1 0。這時(shí)，偏 振衍射光柵的垂直方向、水平方向的軸的取法如圖15所示，相對(duì)入射偏振光稍微傾斜。 因此，盡管0級(jí)衍射光和+1級(jí)衍射光(-1級(jí)衍射光)的偏振狀態(tài)按照偏振衍射光柵的軸 的取法而不同，也能夠改變0級(jí)衍射光和+1級(jí)衍射光的光量比。此處，在偏振衍射光柵 衍射的光束的+1級(jí)衍射光0級(jí)衍射光-1級(jí)衍射光=1 10 1。另外，偏振衍射 光柵11由區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh、Di構(gòu)成，各區(qū)域的槽周期、槽 方向不同。在偏振衍射光柵11衍射的信號(hào)光透過(guò)偏振濾光器101，入射到檢測(cè)器10。檢測(cè) 器10如圖16所示，具有18個(gè)受光部。在衍射光柵區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、 Dg、Dh、Di衍射的0級(jí)衍射光，入射到受光部O。另外，在衍射光柵Da、Db、Dc、 Dd、De、Df、Dg、Dh、衍射的+1級(jí)衍射光入射到受光部al、bl、cl、dl、el、fl、 gl、hi, -1級(jí)衍射光入射到受光部a2、b2、c2、d2、r、s、t、u、v。將從受光面al、bl、cl、dl、el、fl、gl、hi、il、r、s、t、u、v、e2、β、 g2、h2 得到的 Al、Bi、Cl、Dl、El、Fl、Gl、HI、II、A2、B2、C2、D2、R、S、Τ、U、V的信號(hào)通過(guò)以下的運(yùn)算生成聚焦誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)、RF信號(hào)。[數(shù)5]
FES = (R+T+V) - (S+U)TES = { (A1+D1+E1+H1) -(B1+C1+F1+G1) }-kt4 X { (A2+D2) - (B2+C2) }RF = A1+B1+C1+D1+E1+F1+G1+H1+0另外，kt4是在物鏡移位時(shí)不使DC成分在跟蹤誤差信號(hào)中產(chǎn)生的系數(shù)。利用以 上的運(yùn)算，能夠檢測(cè)出良好的RF信號(hào)、伺服信號(hào)。接著，對(duì)多層光盤進(jìn)行說(shuō)明。此處以在離3層光盤的表面較近側(cè)的層(Layer2) 上進(jìn)行聚焦控制的情況為例進(jìn)行說(shuō)明。在3層光盤反射的信號(hào)光、雜散光，經(jīng)過(guò)物鏡2、 1/4波片56、立起反射鏡55、擴(kuò)束器54、準(zhǔn)直透鏡51、分束器52，入射到偏振性衍射光 柵11。在偏振性衍射光柵11衍射的信號(hào)光和雜散光，一部分透過(guò)偏振濾光器101而入射 到檢測(cè)器。偏振濾光器101為像圖17那樣的形狀，區(qū)域1具有僅透過(guò)垂直方向的偏振光 成分(+1級(jí)衍射光成分)的特性，區(qū)域2具有僅透過(guò)水平方向的偏振光成分(0級(jí)衍射光 成分)的特性。另外，區(qū)域1配置在相當(dāng)于受光部al、bl、cl、dl、el、fl、gl、hi、 a2、b2、c2、d2、r、s、t、u、ν的區(qū)域，區(qū)域2配置在相當(dāng)于受光部O的區(qū)域。通過(guò)插入這樣的偏振濾光器101，受光部上的信號(hào)光的雜散光的關(guān)系變得如圖 18所示。此處，實(shí)線表示在Layer2反射的信號(hào)光，虛線表示在Layerl反射的雜散光， 點(diǎn)劃線表示在LayerO反射的雜散光，斜線部表示影響最大的雜散光(光量大的0級(jí)衍射 光的雜散光)。另外，圖18(a)表示搭載有偏振濾光器的情況，圖18(b)表示沒(méi)有偏振濾 光器的情況。像這樣，若沒(méi)有偏振濾光器，則0級(jí)衍射光的雜散光成分會(huì)入射到受光部 al、bl、cl、dl、el、fl、gl、hi、a2、b2、c2、d2、r、s、t、u、v。與其相對(duì)的， 通過(guò)插入偏振濾光器，能夠使受光部上的信號(hào)光和雜散光分離(圖18箭頭)。由此，能 夠檢測(cè)出穩(wěn)定的伺服信號(hào)。另外，因?yàn)椴捎媚軌蚴寡苌浣禽^小的結(jié)構(gòu)，所以能夠使檢測(cè) 器小型化。在本實(shí)施例中，以3層光盤進(jìn)行說(shuō)明，但當(dāng)然對(duì)雙層或3層以上也有效。另外， 偏振衍射光柵的偏振特性當(dāng)然不限定于此，即使與本實(shí)施例不同，通過(guò)使用偏振衍射光 柵也能夠得到相同的效果。另外，偏振濾光器貼在受光部、遠(yuǎn)離受光部當(dāng)然都能夠得到 同樣的效果。而且，偏振濾光器的形狀當(dāng)然不限定于本實(shí)施例的形狀，只要是能夠分離 信號(hào)光和雜散光的圖案就能夠得到同樣的效果。另外，偏振濾光器的圖案當(dāng)然不限定于 本實(shí)施例，即使是像圖19那樣的圖案也能夠得到同樣的效果。再者，檢測(cè)器的圖案也當(dāng) 然不限定于此，通過(guò)使用偏振濾光器分離入射到受光部的信號(hào)光和雜散光，當(dāng)然能夠得 到同樣的效果。另外，偏振濾光器作為偏振特性在區(qū)域1、區(qū)域2不同的偏振衍射光柵， 當(dāng)然也能夠得到相同的效果。[實(shí)施例5]在實(shí)施例5，對(duì)搭載有光拾取裝置1的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置進(jìn)行說(shuō)明。圖20是光 學(xué)信息再現(xiàn)裝置的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)。光拾取裝置1，設(shè)置有能夠沿著光盤100的半徑方向驅(qū)動(dòng)的 機(jī)構(gòu)，其位置根據(jù)來(lái)自存取控制電路173的存取控制信號(hào)而控制。規(guī)定的激光器驅(qū)動(dòng)電流從激光器點(diǎn)燈電路177向光拾取裝置1內(nèi)的半導(dǎo)體激光器供給，與再現(xiàn)相應(yīng)地從半導(dǎo)體激光器以規(guī)定的光量出射激光。另外，激光點(diǎn)亮電路177 也能夠組裝在光拾取裝置1內(nèi)。從光拾取裝置1內(nèi)的光檢測(cè)器輸出的信號(hào)，被發(fā)送到伺服信號(hào)生成電路174和信 息信號(hào)再現(xiàn)電路175。在伺服信號(hào)生成電路174，根據(jù)來(lái)自上述光檢測(cè)器的信號(hào)生成聚焦 誤差信號(hào)、跟蹤誤差信號(hào)和傾斜控制信號(hào)，根據(jù)其通過(guò)致動(dòng)器驅(qū)動(dòng)電路173驅(qū)動(dòng)光拾取 裝置1內(nèi)的致動(dòng)器，控制物鏡的位置。在上述信息信號(hào)再現(xiàn)電路175，根據(jù)來(lái)自上述光檢測(cè)器的信號(hào)，記錄在光盤100 的信息信號(hào)被再現(xiàn)。在上述伺服信號(hào)生成電路174和信息信號(hào)再現(xiàn)電路175得到的信號(hào)的一部分， 被發(fā)送到控制電路176。該控制電路176，連接有主軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電路171、存取控制電路 173、伺服信號(hào)生成電路174、激光點(diǎn)亮電路177、球面像差修正元件驅(qū)動(dòng)電路179等，進(jìn) 行下述控制使光盤100旋轉(zhuǎn)的主軸馬達(dá)180的旋轉(zhuǎn)控制、存取方向的存取位置的控制、 物鏡的伺服控制、光拾取裝置1內(nèi)的半導(dǎo)體激光器發(fā)光光量的控制、和由光盤基板厚度 的不同引起的球面像差的補(bǔ)償。[實(shí)施例6]在實(shí)施例6，對(duì)搭載有光拾取裝置1的光學(xué)信息再現(xiàn)裝置進(jìn)行說(shuō)明。圖21是光 學(xué)信息再現(xiàn)裝置的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)。該裝置與上述圖20所說(shuō)明的光學(xué)信息記錄再現(xiàn)裝置的不同 點(diǎn)是，附加有下述功能在控制電路176和激光點(diǎn)亮電路177之間設(shè)置信息信號(hào)記錄電 路178，根據(jù)來(lái)自信息信號(hào)記錄電路178的記錄控制信號(hào)進(jìn)行激光點(diǎn)亮電路177的點(diǎn)亮控 制，向光盤100寫入希望的信息。 另外，本發(fā)明并不限定于上述實(shí)施例，包含各種變形例。例如，上述實(shí)施例是 為容易理解地說(shuō)明本發(fā)明而進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明的方式，本發(fā)明并不限定于必須具有所說(shuō) 明的全部結(jié)構(gòu)的方式。另外，某實(shí)施例的結(jié)構(gòu)的一部分，能夠置換為其它的實(shí)施例的結(jié) 構(gòu)，并且也能夠在某實(shí)施例的結(jié)構(gòu)中加上其它的實(shí)施例的結(jié)構(gòu)。另外，對(duì)于各實(shí)施例的 結(jié)構(gòu)的一部分，能夠追加、刪除、置換其它的結(jié)構(gòu)。
權(quán)利要求
1.一種光拾取裝置，其特征在于，包括 射出激光的半導(dǎo)體激光器；將從所述半導(dǎo)體激光器射出的光束向光盤照射的物鏡； 將所述光束分支的衍射光柵；和光檢測(cè)器，其具有接收由所述衍射光柵分支的光束的多個(gè)受光部， 在所述物鏡和光檢測(cè)器間搭載有透過(guò)規(guī)定的偏振光成分的光束的偏振元件。
2.如權(quán)利要求1所述的光拾取裝置，其特征在于所述偏振元件，將與所述規(guī)定的偏振光成分大致正交的偏振光成分的光束反射、吸 收或衍射。
3.如權(quán)利要求1或2所述的光拾取裝置，其特征在于 所述偏振元件配置在所述衍射元件和所述光檢測(cè)器之間。
4.如權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置，其特征在于 所述偏振元件是檢偏振器。
5.如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置，其特征在于 所述偏振元件是偏振光濾光器。
6.如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置，其特征在于透過(guò)所述衍射光柵的透射光或0級(jí)衍射光，與在所述衍射光柵被衍射的上1級(jí)衍射光 的偏振大致正交。
7.如權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置，其特征在于 所述偏振元件具有至少兩個(gè)以上的偏振特性不同的區(qū)域。
8.如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置，其特征在于對(duì)入射到所述衍射光柵所衍射的士 1級(jí)衍射光或+1級(jí)衍射光或-1級(jí)衍射光進(jìn)行檢測(cè) 的受光部的、所述衍射光柵的0級(jí)衍射光或透過(guò)所述衍射光柵的透射光，被所述偏振元 件減光。
9.如權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置，其特征在于對(duì)入射到所述衍射光柵的0級(jí)衍射光或透過(guò)所述衍射光柵的透射光進(jìn)行檢測(cè)的受光 部的、所述衍射光柵所衍射的士 1級(jí)衍射光或+1級(jí)衍射光或-1級(jí)衍射光，被所述偏振元 件減光。
10.如權(quán)利要求1至9中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置，其特征在于 所述偏振元件是光子晶體。
11.如權(quán)利要求1至10中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置，其特征在于 所述偏振元件是偏振衍射光柵。
12.如權(quán)利要求1至11中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置，其特征在于 所述衍射光柵是偏振衍射光柵。
13.如權(quán)利要求1至12中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置，其特征在于 將在所述衍射光柵衍射的0級(jí)衍射光用于再現(xiàn)信號(hào)。
14.一種光盤裝置，其特征在于，搭載有如權(quán)利要求1至13中任一項(xiàng)所述的光拾取裝置； 驅(qū)動(dòng)所述光拾取裝置內(nèi)的所述半導(dǎo)體激光器的激光點(diǎn)亮電路；使用從所述光拾取裝置內(nèi)的所述光檢測(cè)器檢測(cè)出的信號(hào)，生成聚焦誤差信號(hào)和跟蹤 誤差信號(hào)的伺服信號(hào)生成電路；和對(duì)記錄在光盤的信息信號(hào)進(jìn)行再現(xiàn)的信息信號(hào)再現(xiàn)電路。
全文摘要
本發(fā)明提供光拾取裝置和光盤裝置，其目的在于，對(duì)BD的雙層光盤或其以上的層數(shù)的光盤，提供能夠檢測(cè)出穩(wěn)定的聚焦誤差信號(hào)和跟蹤誤差信號(hào)的光拾取器、光盤裝置。該光拾取裝置具備將從光盤反射的光束分支的偏振衍射光柵，和接收被偏振衍射光柵分支的光束的光檢測(cè)器，在衍射光柵和光檢測(cè)器之間搭載具有多個(gè)區(qū)域的偏振濾光器，使在偏振衍射光柵衍射的衍射光柵0級(jí)衍射光和衍射光柵+1級(jí)衍射光的偏振大致正交。
文檔編號(hào)G11B7/12GK102024474SQ201010171140
公開日2011年4月20日 申請(qǐng)日期2010年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月16日
發(fā)明者山崎和良 申請(qǐng)人:日立視聽媒介電子股份有限公司