專利名稱：光盤裝置、信息記錄方法、光盤裝置的調(diào)整裝置、調(diào)整方法和制造方法、以及相位偏移量調(diào) ...的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光盤裝置、信息記錄方法、光盤裝置的調(diào)整裝置、調(diào)整方法和制造方法、以及相位偏移量調(diào)整方法和調(diào)整裝置。
背景技術(shù)：
在DVD+R，DVD+RW等光盤中，具有以一定周期擺動(蛇行)的信息軌道，該軌道使用以相位調(diào)制方式(PSK方式＝Phase Shift Keying)預(yù)先在光盤的基板上螺旋狀地形成的結(jié)構(gòu)。
在基于對這樣的DVD+R，DVD+RW等光盤的反射光進行光接收的光接收元件，例如，4分割光接收元件的光接收信號檢測/作成擺動信號而提供給作成ADIP(Address In Pre-groove)信息等的擺動信號檢測電路中，使用圖20所示的電路。圖示的擺動信號檢測電路僅示出根據(jù)從4分割光接收元件的各個光接收元件區(qū)域得到的電壓信號VA～VD生成數(shù)字擺動信號和模擬擺動信號為止的前半部分。
首先，通過各個采樣保持電路(S/H)100分別對各電壓信號VA～VD進行采樣保持，通過各個加法器101將VA、VC、VB、VC相加后，通過乘法器102進行0.5倍處理，進行0.5×(VA+VC)，0.5×(VB+VC)的運算。之后，通過平衡AGC電路103取得0.5×(VA+VC)和0.5×(VB+VC)的振幅平衡，通過減法器104進行0.5×(VA+VC)-0.5×(VB+VC)的運算，輸入濾波電路105。該濾波電路105由BPF(帶通濾波器)106的數(shù)字擺動信號用的BPF路徑，以及HPF(高通濾波器)107和LPF(低通濾波器)108的模擬擺動信號用的HPF+LPF路徑構(gòu)成。BPF106的輸出側(cè)例如設(shè)置利用了逆變器的二值化器109。
這里，問題是HPF+LPF路徑的LPF108的截止頻率fc的離散。保證LPF108的截止頻率fc的精度很難，在量產(chǎn)時，電路間的離散很顯著。在該截止頻率fc離散時，如圖21所示，對應(yīng)其高低，模擬擺動信號的相位也從理想的相位(實線)向前后偏離。在對DVD+RW等光盤記錄信息時，由于以模擬擺動信號為基準設(shè)定記錄開始位置，所以如果模擬擺動信號的相位偏離，則如圖22(b)所示，記錄開始位置也從最佳位置偏離。
為了解決該問題，例如，按照專利文獻1(特開2000-173055公報)，提出了以下方法在記錄完成的盤上進行覆寫時，將來自記錄完成部的再現(xiàn)數(shù)據(jù)作為對時鐘生成裝置的基準信號使用。然后，在重新記錄信息的區(qū)域中，預(yù)先切換到記錄完成部中記錄的時鐘生成用信號，從而使時鐘相位匹配，將記錄開始位置設(shè)定為最佳值。
作為專利文獻1以外的方法，有使用在14T搜索幀部設(shè)置了6T的鏡部(不能寫入的反射率高的部分)的盤(以下稱為鏡盤)，調(diào)整到最佳記錄位置的方法。該調(diào)整方法在鏡盤中每次1ECC(DVD的一個記錄塊)進行記錄，在記錄結(jié)束后，讀取該盤而觀測RF信號波形(參照圖23)。然后，根據(jù)RF信號的14T部中心和鏡部中心的相位差求最佳記錄位置(14T中心和鏡部中心一致時記錄開始位置為最佳狀態(tài))。然后，根據(jù)相位差，設(shè)定并調(diào)整記錄開始位置設(shè)定參數(shù)(以下，設(shè)為timeset。參照圖24)P1、P2或者P3。即，即使在擺動信號中產(chǎn)生相位延遲，通過調(diào)整timeset，可以將記錄開始位置設(shè)為最佳。
但是，在專利文獻1的情況下，僅能在已經(jīng)存在記錄部的光盤中應(yīng)用。而且，雖然在以正確的記錄開始位置進行記錄的光盤的情況下良好，但是在具有未能以正確的記錄開始位置進行記錄的記錄部的光盤的情況下，從錯誤的記錄開始位置起開始記錄。
而且，后者的情況下的調(diào)整方法由于必需使用特殊的盤，所以成本上升。而且，由于必需在盤上實際地記錄，實際地再現(xiàn)，確認RF信號的狀態(tài)，所以調(diào)整的時間也大幅度增加。
而且，關(guān)于濾波器電路內(nèi)，例如在由于LPF的截止頻率fc的離散而在模擬擺動信號和數(shù)字擺動信號之間的相位關(guān)系中也產(chǎn)生離散時，因而不能很好地進行乘法處理等，不能得到合適的ADIP信息。其結(jié)果，對地址信息和同步信號也產(chǎn)生惡劣的影響。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的總的目的是提供解決上述現(xiàn)有技術(shù)的問題點的具有擺動信號檢測電路的光盤裝置、信息記錄方法、光盤裝置的調(diào)整裝置、調(diào)整方法和制造方法、以及相位偏移量調(diào)整方法和調(diào)整裝置。
本發(fā)明的詳細的目的是提供不用在事前進行調(diào)整工藝等、可以自動地防止濾波電路中的相位偏移造成的惡劣影響的光盤裝置和信息記錄方法。
本發(fā)明的詳細的目的是提供相對地減少成本和時間，可以防止濾波電路中的相位的偏移造成的惡劣影響的光盤裝置的調(diào)整裝置和調(diào)整方法。
更具體地說，提供可以不受濾波電路中的相位偏移的影響，將記錄開始位置調(diào)整為最佳位置，或者以最佳的狀態(tài)解調(diào)ADIP信息的具有擺動信號檢測電路的光盤裝置、信息記錄方法、光盤裝置的調(diào)整裝置、調(diào)整方法和制造方法、以及相位偏移量調(diào)整方法和調(diào)整裝置。
為了達到這些目的，技術(shù)方案1記載的發(fā)明是一種光盤裝置，通過對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光來進行信息的記錄，包括擺動信號檢測電路，該電路具有濾波電路，檢測基于所述信息軌道的擺動的擺動信號，從而對ADIP信息進行解調(diào)，其特征在于，該光盤裝置還包括相位檢測部件，檢測輸入了所述擺動信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差；以及調(diào)整部件，根據(jù)被檢測到的相位差，對與所述ADIP信息中包含的同步信號同步的記錄開始定時信號的相位進行調(diào)整。
技術(shù)方案2記載的發(fā)明是在技術(shù)方案1所述的光盤裝置中包括振幅比檢測部件，對輸入所述擺動信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的振幅比進行檢測，所述相位差檢測部件根據(jù)被檢測到的所述振幅比來檢測所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案3記載的發(fā)明是在技術(shù)方案1所述的光盤裝置中，所述調(diào)整部件通過根據(jù)被檢測到的相位差使所述同步信號的相位延遲，調(diào)整所述記錄開始定時信號的相位。
技術(shù)方案4記載的發(fā)明是在技術(shù)方案1所述的光盤裝置中，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述相位差檢測部件檢測所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案5記載的發(fā)明是在技術(shù)方案1所述的光盤裝置中，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述相位差檢測部件檢測所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案6記載的發(fā)明是一種光盤裝置，通過對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光來進行信息的記錄，包括擺動信號檢測電路，該電路具有濾波電路，檢測基于所述信息軌道的擺動的擺動信號，從而對ADIP信息進行解調(diào)，其特征在于，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述光盤裝置還包括相位差檢測部件，分別檢測輸入了所述擺動信號的所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差和所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差；以及調(diào)整部件，根據(jù)被檢測到的相位差調(diào)整相位，以使得這些帶通濾波器路徑和高通濾波器+帶通濾波器的路徑的相位一致。
技術(shù)方案7記載的發(fā)明是在技術(shù)方案6所述的光盤裝置中包括振幅比檢測部件，分別檢測輸入了所述擺動信號的所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的振幅比和所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的振幅比，所述相位差檢測部件根據(jù)被檢測到的所述振幅比來檢測各個輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案8記載的發(fā)明是在技術(shù)方案6所述的光盤裝置中，所述相位差檢測部件每隔一定定時執(zhí)行檢測動作。
技術(shù)方案9記載的發(fā)明是在技術(shù)方案6所述的光盤裝置中，所述相位差檢測部件在以CAV方式從再現(xiàn)動作轉(zhuǎn)移到記錄動作時執(zhí)行檢測動作。
技術(shù)方案10記載的發(fā)明是一種信息記錄方法，利用光盤裝置對信息記錄介質(zhì)進行信息的記錄，所述光盤裝置包括擺動信號檢測電路，該電路具有對具有以一定周期擺動的信息軌道的所述信息記錄介質(zhì)照射光，檢測基于所述信息軌道的擺動的擺動信號，從而對ADIP信息進行解調(diào)的濾波電路，其特征在于，所述信息記錄方法包括以下步驟信號輸入步驟，取得基于所述信息記錄介質(zhì)的所述信息軌道的擺動的擺動信號而使其輸入所述濾波電路；相位差檢測步驟，檢測輸入了所述擺動信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差；以及調(diào)整步驟，根據(jù)被檢測到的相位差，對與所述ADIP信息中包含的同步信號同步的記錄開始定時信號的相位進行調(diào)整。
技術(shù)方案11記載的發(fā)明是在技術(shù)方案10所述的信息記錄方法中還包括振幅比檢測步驟，對輸入了所述擺動信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的振幅比進行檢測，在所述相位差檢測步驟中，根據(jù)被檢測到的所述振幅比來檢測所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案12記載的發(fā)明是在技術(shù)方案10所述的信息記錄方法中，所述調(diào)整步驟通過根據(jù)被檢測到的相位差使所述同步信號的相位延遲，調(diào)整所述記錄開始定時信號的相位。
技術(shù)方案13記載的發(fā)明是在技術(shù)方案10所述的信息記錄方法中，利用具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑的所述濾波電路，在所述相位差檢測步驟中，檢測所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案14記載的發(fā)明是在技術(shù)方案10所述的信息記錄方法中，利用具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑的所述濾波電路，在所述相位差檢測步驟中，檢測所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案15記載的發(fā)明是一種信息記錄方法，利用光盤裝置對信息記錄介質(zhì)進行信息的記錄，所述光盤裝置包括擺動信號檢測電路，該電路具有對具有以一定周期擺動的信息軌道的所述信息記錄介質(zhì)照射光，檢測基于擺動的所述信息軌道的擺動的擺動信號，從而對ADIP信息進行解調(diào)的濾波電路，其特征在于，利用具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑的所述濾波電路，所述信息記錄方法包括以下步驟相位差檢測步驟，分別檢測輸入了所述擺動信號的所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差和所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差；以及調(diào)整步驟，根據(jù)被檢測到的相位差調(diào)整相位，以使得這些帶通濾波器路徑和高通濾波器+帶通濾波器的路徑的相位一致。
技術(shù)方案16記載的發(fā)明是在技術(shù)方案15所述的信息記錄方法中包括振幅比檢測步驟，分別檢測輸入了所述擺動信號的所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的振幅比和所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的振幅比，在所述相位差檢測步驟中，根據(jù)被檢測到的所述振幅比來檢測各個輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案17記載的發(fā)明是在技術(shù)方案15所述的信息記錄方法中，在所述相位差檢測步驟中，每隔一定定時執(zhí)行檢測動作。
技術(shù)方案18記載的發(fā)明是在技術(shù)方案15所述的信息記錄方法中，所述相位差檢測步驟在以CAV方式從再現(xiàn)動作轉(zhuǎn)移到記錄動作時執(zhí)行檢測動作。
技術(shù)方案19記載的發(fā)明是一種光盤裝置，對信息記錄介質(zhì)進行信息的記錄，包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光，對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；同步檢測器，檢測所述擺動信號中包含的同步信號；編碼器，根據(jù)所述同步信號決定記錄開始定時；以及相位調(diào)整電路，將所述同步信號的相位偏移而使其輸入所述編碼器，其特征在于，該光盤裝置包括比較從所述濾波電路輸出的信號和被輸入所述濾波電路之前的信號的相位的部件；以及根據(jù)該比較結(jié)果，調(diào)整所述相位調(diào)整電路產(chǎn)生的所述同步信號的相位偏移量的部件。
技術(shù)方案20記載的發(fā)明是一種光盤裝置，對信息記錄介質(zhì)進行信息的記錄，包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光，對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；第一濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；第二濾波電路，從所述光接收信號中提取基于所述信息軌道的擺動的擺動信號的基本頻率分量附近的頻率分量；乘法器，將從所述第一濾波電路輸出的信號和從所述第二濾波電路輸出的信號相乘；相位調(diào)整電路，對被輸入所述乘法器的兩個信號的相位差進行調(diào)整；以及信息檢測電路，根據(jù)來自所述乘法器的輸出信號，檢測所述擺動信號中包含的信息，其特征在于，所述光盤裝置還包括相位差取得部件，取得從所述第一濾波電路輸出的信號和從所述第二濾波電路輸出的信號的相位差；以及根據(jù)由該相位差取得部件取得的相位差，調(diào)整所述相位調(diào)整電路產(chǎn)生的被輸入所述乘法器的兩個信號的相位差的部件。
技術(shù)方案21記載的發(fā)明是在技術(shù)方案20所述的光盤裝置中，所述相位差取得部件包括第一相位差取得部件，取得從所述第一濾波電路輸出的信號和被輸入該第一濾波電路之前的信號的相位差；以及第二相位差取得部件，取得從所述第二濾波電路輸出的信號和被輸入該第二濾波電路之前的信號的相位差。
技術(shù)方案22記載的發(fā)明是一種光盤裝置的調(diào)整裝置，所述光盤裝置通過對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光來進行信息的記錄，該光盤裝置包括擺動信號檢測電路，該電路具有濾波電路，檢測基于所述信息軌道的擺動的擺動信號，其特征在于，對于所述光盤裝置，所述調(diào)整裝置包括代替信號輸入部件，使所述濾波電路的輸入側(cè)輸入相當于所述擺動信號的代替信號；相位差檢測部件，檢測被輸入了代替信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差；調(diào)整部件，對應(yīng)于被檢測到的相位差，調(diào)整設(shè)定根據(jù)所述擺動信號規(guī)定的記錄開始定時信號的相位。
技術(shù)方案23記載的發(fā)明是在技術(shù)方案22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置中，所述代替信號輸入部件是使與所述擺動信號相當?shù)恼穹皖l率的正弦波作為代替信號輸入的振蕩器，所述相位差檢測部件是示波器。
技術(shù)方案24記載的發(fā)明是在技術(shù)方案22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置中，所述代替信號輸入部件和所述相位差檢測部件是在與所述擺動信號相當?shù)恼穹恼也ㄖ?，一邊使頻率擺動，一邊作為代替信號輸入，在與所述擺動信號相當?shù)念l率時檢測相位差的增益相位分析器。
技術(shù)方案25記載的發(fā)明是在技術(shù)方案22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置中，包括振幅比檢測部件，檢測被輸入了代替信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的振幅比，所述相位差檢測部件根據(jù)被檢測到的所述振幅比檢測所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案26記載的發(fā)明是在技術(shù)方案22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置中，所述調(diào)整部件通過使根據(jù)所述擺動信號由所述擺動信號檢測電路生成的同步信號的相位對應(yīng)于被檢測到的相位差而延遲，調(diào)整設(shè)定所述記錄開始定時信號的相位。
技術(shù)方案27記載的發(fā)明是在技術(shù)方案22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置中，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述相位差檢測部件檢測所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案28記載的發(fā)明是在技術(shù)方案22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置中，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述相位差檢測部件檢測所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案29記載的發(fā)明是在技術(shù)方案22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置中，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述相位差檢測部件分別檢測所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差和所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差，所述調(diào)整部件調(diào)整設(shè)定相位，以使這些帶通濾波器路徑和高通濾波器+低通濾波器的路徑的相位一致。
技術(shù)方案30記載的發(fā)明是一種光盤裝置的調(diào)整方法，所述光盤裝置通過對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光來進行信息的記錄，該光盤裝置包括擺動信號檢測電路，該電路具有濾波電路，檢測基于所述信息軌道的擺動的擺動信號，其特征在于，對于所述光盤裝置，所述調(diào)整方法包括代替信號輸入步驟，使所述濾波電路的輸入側(cè)輸入相當于所述擺動信號的代替信號；相位差檢測步驟，檢測被輸入了代替信號的所述濾波電路的輸入輸出間的相位差；調(diào)整步驟，對應(yīng)于被檢測到的相位差，調(diào)整設(shè)定根據(jù)所述擺動信號規(guī)定的記錄開始定時信號的相位。
技術(shù)方案31記載的發(fā)明是在技術(shù)方案30所述的光盤裝置的調(diào)整方法中，在所述代替信號輸入步驟中，使與所述擺動信號相當?shù)恼穹皖l率的正弦波作為代替信號輸入的振蕩器，在所述相位差檢測步驟中使用示波器。
技術(shù)方案32記載的發(fā)明是在技術(shù)方案30所述的光盤裝置的調(diào)整方法中，在所述代替信號輸入步驟和所述相位差檢測步驟中，使用在與所述擺動信號相當?shù)恼穹恼也ㄖ?，一邊使頻率擺動，一邊作為代替信號輸入，在與所述擺動信號相當?shù)念l率時檢測相位差的增益相位分析器。
技術(shù)方案33記載的發(fā)明是在技術(shù)方案30所述的光盤裝置的調(diào)整方法中，包括振幅比檢測步驟，檢測被輸入了代替信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的振幅比，在所述相位差檢測步驟中，根據(jù)被檢測到的所述振幅比檢測所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案34記載的發(fā)明是在技術(shù)方案30所述的光盤裝置的調(diào)整方法中，在所述調(diào)整步驟中，通過使根據(jù)所述擺動信號由所述擺動信號檢測電路生成的同步信號的相位對應(yīng)于被檢測到的相位差而延遲，調(diào)整設(shè)定所述記錄開始定時信號的相位。
技術(shù)方案35記載的發(fā)明是在技術(shù)方案30所述的光盤裝置的調(diào)整方法中，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，在所述相位差檢測步驟中，檢測所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案36記載的發(fā)明是在技術(shù)方案30所述的光盤裝置的調(diào)整方法中，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，在所述相位差檢測步驟中，檢測所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差。
技術(shù)方案37記載的發(fā)明是在技術(shù)方案30所述的光盤裝置的調(diào)整方法中，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述相位差檢測步驟分別檢測所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差和所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差，所述調(diào)整步驟調(diào)整設(shè)定相位，以使這些帶通濾波器路徑和高通濾波器+低通濾波器的路徑的相位一致。
技術(shù)方案38記載的發(fā)明是一種光盤裝置的制造方法，該光盤裝置對所述信息記錄介質(zhì)進行信息的記錄，包括光拾取器，通過對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；同步檢測器，檢測所述擺動信號中包含的同步信號；編碼器，根據(jù)所述同步信號決定記錄開始定時；以及相位調(diào)整電路，將所述同步信號的相位偏移而使其輸入所述編碼器，其特征在于，該方法包括以下步驟將與進行信息記錄時提取的所述擺動信號的基本頻率分量相同周期的測試信號輸入到所述濾波電路的步驟；比較從所述濾波電路輸出的測試信號和被輸入到所述濾波電路之前的測試信號的相位差的步驟；以及根據(jù)該比較結(jié)果，調(diào)整所述相位調(diào)整電路產(chǎn)生的所述相位偏移量的步驟。
技術(shù)方案39記載的發(fā)明是一種光盤裝置的制造方法，該光盤裝置包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光，對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；第一濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；第二濾波電路，從所述光接收信號中提取基于所述信息軌道的擺動的擺動信號的基本頻率分量附近的頻率分量；乘法器，將從所述第一濾波電路輸出的信號和從所述第二濾波電路輸出的信號相乘；相位調(diào)整電路，對被輸入所述乘法器的兩個信號的相位差進行調(diào)整；以及信息檢測電路，根據(jù)來自所述乘法器的輸出信號，檢測所述擺動信號中包含的信息，其特征在于，所述方法包括以下步驟將與進行信息記錄時提取的所述擺動信號的基本頻率分量相同周期的測試信號輸入到所述第一濾波電路和所述第二濾波電路的步驟；取得從所述第一濾波電路輸出的測試信號和從所述第二濾波電路輸出的測試信號的相位差的相位差取得步驟；以及根據(jù)通過該相位差取得步驟取得的相位差，通過所述相位調(diào)整電路調(diào)整被輸入到所述乘法器的兩個信號的相位差的步驟。
技術(shù)方案40記載的發(fā)明是在技術(shù)方案39所述的光盤裝置的制造方法中，所述相位差取得步驟包括第一相位差取得步驟，取得從所述第一濾波電路輸出的測試信號和被輸入該第一濾波電路之前的測試信號的相位差；以及第二相位差取得步驟，取得從所述第二濾波電路輸出的測試信號和被輸入該第二濾波電路之前的測試信號的相位差。
技術(shù)方案41記載的發(fā)明是一種相位偏移量調(diào)整方法，對光盤裝置中的相位偏移量進行調(diào)整，該光盤裝置包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光，對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；同步檢測器，檢測所述擺動信號中包含的同步信號；編碼器，根據(jù)所述同步信號決定記錄開始定時；以及相位調(diào)整電路，將所述同步信號的相位偏移而使其輸入所述編碼器，其特征在于，該方法包括以下步驟將與進行信息記錄時提取的所述擺動信號的基本頻率分量相同周期的測試信號輸入到所述濾波電路的步驟；比較從所述濾波電路輸出的測試信號和被輸入到所述濾波電路之前的測試信號的相位差的步驟；以及根據(jù)該比較結(jié)果，調(diào)整所述相位調(diào)整電路產(chǎn)生的所述同步信號的所述相位偏移量的步驟。
技術(shù)方案42記載的發(fā)明是一種相位偏移量調(diào)整方法，對光盤裝置中的相位偏移量進行調(diào)整，該光盤裝置包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光，對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；第一濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；第二濾波電路，從所述光接收信號中提取基于所述信息軌道的擺動的擺動信號的基本頻率分量附近的頻率分量；乘法器，將從所述第一濾波電路輸出的信號和從所述第二濾波電路輸出的信號相乘；相位調(diào)整電路，對被輸入所述乘法器的兩個信號的相位差進行調(diào)整；以及信息檢測電路，根據(jù)來自所述乘法器的輸出信號，檢測所述擺動信號中包含的信息，其特征在于，所述方法包括以下步驟將與進行信息記錄時提取的所述擺動信號的基本頻率分量相同周期的測試信號輸入到所述第一濾波電路和所述第二濾波電路的步驟；取得從所述第一濾波電路輸出的測試信號和從所述第二濾波電路輸出的測試信號的相位差的相位差取得步驟；以及根據(jù)該相位差取得步驟取得的相位差，通過所述相位調(diào)整電路調(diào)整被輸入到所述乘法器的兩個信號的相位差的步驟。
技術(shù)方案43記載的發(fā)明是在技術(shù)方案42所述的相位偏移量調(diào)整方法中，所述相位差取得步驟包括第一相位差取得步驟，取得從所述第一濾波電路輸出的測試信號和被輸入該第一濾波電路之前的測試信號的相位差；以及第二相位差取得步驟，取得從所述第二濾波電路輸出的測試信號和被輸入該第二濾波電路之前的測試信號的相位差。
技術(shù)方案44記載的發(fā)明是一種相位偏移量調(diào)整裝置，對光盤裝置中的相位偏移量進行調(diào)整，該光盤裝置包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；同步檢測器，檢測所述擺動信號中包含的同步信號；編碼器，根據(jù)所述同步信號決定記錄開始定時；以及相位調(diào)整電路，將所述同步信號的相位偏移而使其輸入所述編碼器，其特征在于，該相位偏移量調(diào)整裝置包括將與進行信息記錄時提取的所述擺動信號的基本頻率分量相同周期的測試信號輸入到所述濾波電路的部件；比較從所述濾波電路輸出的測試信號和被輸入到所述濾波電路之前的測試信號的相位差的部件；以及根據(jù)該比較結(jié)果，調(diào)整所述相位調(diào)整電路產(chǎn)生的所述同步信號的所述相位偏移量的部件。
技術(shù)方案45記載的發(fā)明是一種相位偏移量調(diào)整裝置，對光盤裝置中的相位偏移量進行調(diào)整，該光盤裝置包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光，對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；第一濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；第二濾波電路，從所述光接收信號中提取基于所述信息軌道的擺動的擺動信號的基本頻率分量附近的頻率分量；乘法器，將從所述第一濾波電路輸出的信號和從所述第二濾波電路輸出的信號相乘；相位調(diào)整電路，對被輸入所述乘法器的兩個信號的相位差進行調(diào)整；以及信息檢測電路，根據(jù)來自所述乘法器的輸出信號，檢測所述擺動信號中包含的信息，其特征在于，所述相位偏移量調(diào)整裝置包括將與進行信息記錄時提取的所述擺動信號的基本頻率分量相同周期的測試信號輸入到所述第一濾波電路和所述第二濾波電路的部件；取得從所述第一濾波電路輸出的測試信號和從所述第二濾波電路輸出的測試信號的相位差的相位差取得部件；以及根據(jù)該相位差取得部件取得的相位差，通過所述相位調(diào)整電路調(diào)整被輸入到所述乘法器的兩個信號的相位差的部件。
技術(shù)方案46記載的發(fā)明是在技術(shù)方案45所述的相位偏移量調(diào)整裝置中，所述相位差取得部件包括第一相位差取得部件，取得從所述第一濾波電路輸出的測試信號和被輸入該第一濾波電路之前的測試信號的相位差；以及第二相位差取得部件，取得從所述第二濾波電路輸出的測試信號和被輸入該第二濾波電路之前的測試信號的相位差。
按照本發(fā)明，由于檢測輸入了擺動信號的濾波電路的輸入輸出信號間的相位差，并根據(jù)被檢測到的相位差調(diào)整與同步信號同步的記錄開始定時信號的相位，所以可以不受濾波電路中的相位偏移的影響，從最佳的記錄開始位置進行記錄動作。
而且，按照本發(fā)明，由于分別檢測輸入了擺動信號的帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差和高通濾波器+低通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差，并調(diào)整相位，使這些帶通濾波器路徑和高通濾波器+低通濾波器路徑的相位一致，所以可以以最佳的狀態(tài)對ADIP信息進行解調(diào)。
特別是，通過每隔一定定時進行這些檢測/調(diào)整動作，可以不受電源電壓變動和溫度變化等的影響，始終從最佳的記錄開始位置進行記錄動作，并且在最佳的狀態(tài)下對ADIP信息進行解調(diào)。而且，由于在以CAV(角速度一定)方式下的再現(xiàn)時再現(xiàn)速度變化，所以擺動信號的頻率當然也變化，并且最佳的調(diào)整值也變化，但是通過在從CAV方式下的再現(xiàn)到記錄動作轉(zhuǎn)移時進行這些檢測/調(diào)整動作，可以從最佳的記錄開始位置進行記錄動作，并且在最佳的狀態(tài)下對ADIP信息進行解調(diào)。
按照本發(fā)明，對濾波電路的輸入側(cè)輸入與擺動信號相當?shù)拇嫘盘?，檢測這時的濾波電路的輸入輸出信號間的相位差，并根據(jù)被檢測出的相位差調(diào)整設(shè)定基于擺動信號規(guī)定的記錄開始定時信號的相位，所以每個光盤裝置不需要實際地對光盤進行記錄/再現(xiàn)動作，可以進行用于使記錄開始位置最佳化的調(diào)整。
而且，按照本發(fā)明，由于分別檢測帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差和高通濾波器+低通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差，調(diào)整相位，使這些帶通濾波器路徑和高通濾波器+低通濾波器路徑的相位一致，所以可以以最佳狀態(tài)對ADIP信息進行解調(diào)。
特別是，技術(shù)方案30至37記載的光盤裝置的調(diào)整方法，除了可以在該光盤裝置的制造階段進行，而且，也可以在輸出到市場后的維護時等進行。
本發(fā)明的其它目的，特征和優(yōu)點可以通過一邊參照附圖，一邊讀取以下的詳細的說明來進一步明了。
圖1(a)、圖1(b)是與光盤的信息軌道有關(guān)的示意的說明圖。
圖2是表示光盤裝置的結(jié)構(gòu)例的概要圖。
圖3(a)、圖3(b)是表示光接收器結(jié)構(gòu)的正視圖。
圖4(a)、圖4(b)是表示光接收器結(jié)構(gòu)的側(cè)面圖。
圖5是表示I/V放大器結(jié)構(gòu)的概略電路圖。
圖6是表示擺動信號檢測電路等的結(jié)構(gòu)例的方框圖。
圖7(a)-圖7(o)是表示各部分的動作信號例的波形圖。
圖8是提取并表示擺動信號檢測電路的一部分的概略方框圖。
圖9是表示輸入輸出信號間的相位差和延遲時間的關(guān)系的特性圖。
圖10是表示一部分的動作信號例的波形圖。
圖11是表示與相位差檢測方式有關(guān)的其它實施方式的結(jié)構(gòu)例的概略方框圖。
圖12是提取并顯示本發(fā)明的另一個實施方式的擺動信號檢測電路的一部分的概略方框圖。
圖13(a)～圖13(c)是表示相關(guān)的信號間的相位關(guān)系的波形圖。
圖14是提取并顯示另一個實施方式的擺動信號檢測電路的一部分的概略方框圖。
圖15是提取并表示擺動信號檢測電路的一部分的概略方框圖。
圖16是表示與代替信號輸入部件和相位差檢測部件有關(guān)的另一個實施方式的結(jié)構(gòu)例的概略方框圖。
圖17是提取并顯示本發(fā)明的另一個實施方式的擺動信號檢測電路的一部分的概略方框圖。
圖18是表示光盤裝置的制造方法的概略流程圖。
圖19是表示調(diào)整專用機的結(jié)構(gòu)例的概略方框圖。
圖20是表示以往的擺動信號檢測電路的一部分的結(jié)構(gòu)例的概略方框圖。
圖21是表示對應(yīng)于截止頻率fc的離散的信號特性的波形圖。
圖22(a)、圖22(b)是表示記錄開始位置偏移的樣子的說明圖。
圖23(a)、圖23(b)是表示RF信號波形的樣子的說明圖。
圖24是表示調(diào)整動作例的波形圖。
具體實施例方式
以下，根據(jù)圖1至圖19說明用于實施本發(fā)明的最佳方式。本實施方式表示對將可進行信息的記錄的例如DVD+RW等那樣的光盤(信息記錄介質(zhì))1作為對象，并具有擺動信號檢測電路的光盤裝置的應(yīng)用例。而且，關(guān)于光盤1，如圖1(a)所示，具有以一定周期進行擺動(蛇行)的信息軌道2，作為該信息軌道2，如圖1(b)所示，使用以相位調(diào)制方式(PSK方式＝Phase ShiftKeying)預(yù)先在光盤1的基板上螺旋狀地形成的軌道。在圖1(a)中，用黑色表示的部分是記錄標記3的例子。
圖2是表示具有擺動信號檢測電路的本實施方式的光盤裝置10的結(jié)構(gòu)例的概略圖。該光盤裝置10具有用于旋轉(zhuǎn)驅(qū)動光盤1的主軸電機11、光拾取器裝置12、激光控制電路13、編碼器14、電機驅(qū)動器15、模擬信號處理電路16、解碼器17、伺服控制器18、緩沖RAM19、D/A轉(zhuǎn)換器20、緩沖管理器21、接口22、ROM23、CPU24、RAM25等。而且，圖2所示的箭頭表示代表性的信號和信息的流動，不表示全部各塊的連接關(guān)系。
光拾取器裝置12內(nèi)置以下部件作為光源的半導(dǎo)體激光器；將從該半導(dǎo)體激光器射出的光束導(dǎo)入光盤1的記錄面，同時將由該記錄面反射的返回光束導(dǎo)入至規(guī)定的光接收位置的光學系統(tǒng)；配置在光接收位置而對返回光束進行光接收的光接收器；以及驅(qū)動系統(tǒng)等(聚焦致動器、尋跡致動器、搜索電機等)(任何一個都未圖示)。
作為一例，光拾取器裝置12中的光接收器如圖3(a)所示，包含4分割光接收元件30(第1～第4光接收元件30a～30d)而構(gòu)成。而且，在圖3(a)中，為了方便，將紙面上下方向設(shè)為X軸方向，將紙面左右方向設(shè)為Y軸方向，將紙面垂直方向設(shè)為Z軸。第1、第2光接收元件30a、30b具有分別將圖3(a)中的紙面左右方向(Y軸方向)設(shè)為長邊的相同的長方形形狀，并且在紙面上下方向(X軸方向)相鄰配置。而且，第3、第4的光接收元件30c、30d具有分別將圖3(a)中的紙面左右方向(X軸方向)設(shè)為長邊的相同的長方形形狀，并且在紙面左右方向(Y軸方向)相鄰配置。
如圖3(b)所示，來自光盤1的記錄面的反射光RB通過構(gòu)成光拾取器裝置12的光學系統(tǒng)的棱鏡31向兩個方向分支，透過了棱鏡31的一個反射光RB 1被照射到第1、第2光接收元件30a、30b。而且，通過棱鏡31被分支到-X軸方向的另一個反射光RB2進一步通過反射鏡32將其前進方向向+Z方向彎曲，并被照射到第3、第4光接收元件30c、30d上。
這里，如圖4(a)所示，在反射光RB中，圖4(a)中的紙面上側(cè)一半的反射光RBa被照射到第1光接收元件30a，紙面下側(cè)一半的反射光RBb被照射到第2光接收元件30b。而且，如圖4(b)所示，在反射光RB中，圖4(b)中的紙面右側(cè)一半的反射光RBc被照射到第3光接收元件30c，紙面左側(cè)一半的反射光RBd被照射到第4光接收元件30d。這些第1～第4光接收元件30a～30d的每一個進行光電變換，作為光電變換信號，將對應(yīng)于光接收量的電流(電流信號)輸出到模擬信號處理電路16。
而且，光接收器不限于4分割光接收元件30，例如，也可以是包含第1、第2光接收元件30a、30b的2分割光接收元件結(jié)構(gòu)，或者是包含第3、第4光接收元件30c、30d的2分割光接收元件結(jié)構(gòu)，或者也可以是使第1～第4光接收元件30a～30d并行設(shè)置為1列的結(jié)構(gòu)等，可以任意包含形狀、配置等。
返回圖1，模擬信號處理電路16包括將作為光拾取器裝置12的光接收元件30a～30d的輸出信號的電流信號變換為電壓信號的I/V放大器(電流-電壓變換放大器)26，檢測擺動信號的擺動信號檢測電路27、檢測包含再現(xiàn)信號的RF信號的RF信號檢測電路28、以及檢測聚焦差錯信號或?qū)ほE差錯信號的差錯信號檢測電路29等。
I/V放大器26如圖5所示，具有將來自第1～第4光接收元件30a～30d的電流信號變換為電壓信號(信號Sa～Sd)的I/V放大器26a～26d。
而且，在RF信號檢測電路28中，將這些電壓信號Sa～Sd全部相加，并進一步將其相加結(jié)果二值化，作為RF信號檢測。
在差錯信號檢測電路29中，求電壓信號Ra、Rb的差分，將其結(jié)果二值化，作為聚焦差錯信號檢測，求電壓信號Rc、Rd的差分，將其結(jié)果二值化，作為尋跡差錯信號檢測。這里，被檢測出的這些聚焦差錯信號和尋跡差錯信號從各個差錯信號檢測電路29被輸出到伺服控制器18。
在擺動信號檢測電路27中，基于電壓信號Sc、Sd檢測擺動信號，輸出到解碼器17。而且，對于該擺動信號檢測電路27的結(jié)構(gòu)等在后面敘述。
在解碼器17中，從通過擺動信號檢測電路27檢測到的擺動信號中包含的ADIP信息中提取地址信息、同步信號等。這里，被提取出的地址信息被輸出到CPU24，同步信號被輸出到編碼器14。
在解碼器17中，還對由RF信號檢測電路28檢測到的RF信號進行解調(diào)和差錯校正處理等的再現(xiàn)處理。進而，在解碼器17中，在再現(xiàn)數(shù)據(jù)是音樂數(shù)據(jù)以外(例如，圖像數(shù)據(jù)和文本數(shù)據(jù)等)的情況下，根據(jù)附加在數(shù)據(jù)中的檢查碼進行差錯檢查和差錯校正處理，經(jīng)由緩沖管理器21存儲在緩沖RAM19中。
在伺服控制器18中，根據(jù)由差錯信號檢測電路29檢測到的聚焦差錯信號作成用于控制光拾取器裝置12的聚焦致動器的控制信號，輸出到電機驅(qū)動器15。而且，在伺服控制器18中，根據(jù)由差錯信號檢測電路29檢測到的尋跡差錯信號作成用于控制光拾取器裝置12的尋跡致動器的控制信號，輸出到電機驅(qū)動器15。
在D/A轉(zhuǎn)換器20中，在光盤1中記錄的數(shù)據(jù)是音樂數(shù)據(jù)的情況下，將解碼器17的輸出信號變換為模擬信號，作為音頻信號輸出到音頻設(shè)備等。
在緩沖管理器21中，管理對緩沖RAM19的數(shù)據(jù)的存儲，并在被存儲的數(shù)據(jù)量達到規(guī)定值時通知CPU24。
在電機驅(qū)動器15中，根據(jù)來自伺服控制器18的控制信號，驅(qū)動光拾取器裝置12的聚焦致動器和尋跡致動器。而且，在電機驅(qū)動器15中，根據(jù)CPU24的指示控制主軸電機11，使得光盤1的線速度一定(CLV方式)或者轉(zhuǎn)速一定(CAV方式)。進而，在電機驅(qū)動器15中，根據(jù)CPU24的指示驅(qū)動尋跡電機，控制光拾取器裝置12的垂直方向(光盤1的半徑方向)的位置。
在編碼器14中，對于存儲在緩沖RAM19中的數(shù)據(jù)進行差錯校正碼的附加等，作成對光盤1的寫入數(shù)據(jù)。然后，根據(jù)來自CPU24的指示，使其與來自解碼器17的同步信號同步，將寫入數(shù)據(jù)輸出到激光控制電路13。
在激光控制電路13中，根據(jù)來自編碼器14的寫入數(shù)據(jù)，控制光拾取器裝置12中的半導(dǎo)體激光器的輸出。然后在激光控制電路13中，在記錄中將與標記記錄期間和間隔記錄期間同步的定時信號輸出到擺動信號檢測電路27。
接口22是與主機(例如，個人計算機)進行雙方向的通信的接口，符合ATAPI(At Attachment Packet Interface)、SCSI(Small Computer SystemInterface)等標準接口。
在CPU24中，按照存儲在ROM23中的程序控制如上所述的各部的動作，同時，將控制所需要的數(shù)據(jù)等暫時存儲在RAM25中。
接著，參照圖6對擺動信號檢測電路27和其輸出側(cè)的結(jié)構(gòu)例進行說明。首先，設(shè)置輸入來自I/V放大器26c、26d的電壓信號Sc、Sd的采樣保持電路(S/H)41a、41b，在這些S/H41a、41b的輸出側(cè)設(shè)置對采樣保持后的電壓信號Sc、Sd的振幅取平衡的平衡AGC42。
在平衡AGC42的輸出側(cè)設(shè)置對采樣保持后的電壓信號Sc、Sd的差Sc-Sd進行運算的減法器43。在該減法器43的輸出側(cè)設(shè)置濾波電路44。該濾波電路44由BPF(帶通濾波器)45構(gòu)成的數(shù)字擺動信號用的BPF路徑、以及HPF(高通濾波器)46和LPF(低通濾波器)47構(gòu)成的模擬擺動信號用的HPF+LPF路徑構(gòu)成。
在BPF45的輸出側(cè)例如設(shè)置利用了逆變器的二值化器48。BPF45允許通過的頻帶是擺動信號的載波(擺動信號中的相位調(diào)制部分以外的部分)的頻率，即，擺動信號的基本頻率附近的受限的頻帶。因此，通過BPF45從擺動信號降低相位調(diào)制分量和噪聲，容易作成與擺動信號的載波分量相當?shù)男盘枴?br>
該與載波分量相當?shù)男盘栐谝訡LV方式使光盤1旋轉(zhuǎn)的情況下為一定的頻率。另一方面，通過了HPF46和LPF47的信號為去除了高頻噪聲分量和低頻噪聲分量的擺動信號。而且，在僅用LPF47就可以在用于取得ADIP信息的允許范圍內(nèi)去除噪聲的情況下，也可以省略HPF46。
對于從二值化器48得到的數(shù)字擺動信號，依次設(shè)置用于使其頻率穩(wěn)定的PLL電路49和定時調(diào)整用的延遲電路(delay)50，進而，設(shè)置產(chǎn)生與數(shù)字擺動信號同相位的正弦波(sin波)的sin波發(fā)生電路51。
另一方面，設(shè)置將從LPF47得到的模擬擺動信號變換為數(shù)字數(shù)據(jù)的A/D變換器52。設(shè)置將由該A/D變換器52進行了A/D變換的模擬擺動信號和變換為正弦波的數(shù)字擺動信號相乘的乘法器53。在該乘法器53的輸出側(cè)設(shè)置對相乘結(jié)果進行積分的積分器54。該積分器54被設(shè)定為通過來自產(chǎn)生并輸出與PLL電路49輸出(延遲電路50輸出)同步的定時信號的定時電路55的復(fù)位信號，以擺動的一個周期單位被復(fù)位。
在積分器54的輸出側(cè)經(jīng)由采樣保持電路(S/H)56設(shè)置ADIP信息檢測器57。
在該ADIP信息檢測器57上連接解碼器17。該解碼器17具有根據(jù)ADIP信息檢測同步信號ADIPsync(檢測擺動信號的相位調(diào)制)的同步檢測器61、進行差錯校正處理的差錯校正部62和根據(jù)差錯校正后的ADIP信息提取地址信息的地址信息提取部63。
通過同步檢測器61檢測到的同步信號ADIPsync在通過作為偏移并輸出輸入信號的相位的相位調(diào)整電路的延遲電路64后，被輸入編碼器14，被提供產(chǎn)生寫定時信號(記錄開始定時信號)。在該編碼器14中，還從CPU24以規(guī)定定時輸入寫命令(或者讀命令)，所以，激光控制電路13被設(shè)定為在存在寫命令的狀態(tài)下產(chǎn)生寫定時信號時開始記錄動作。
在這樣的結(jié)構(gòu)中，參照圖7所示的波形圖說明擺動信號檢測電路27附近的信號處理例的概要。首先，作為I/V放大器26c、26d的輸出的電壓信號Sc、Sd通過S/H41a、41b被采樣保持，通過平衡AGC42取采樣保持后的振幅平衡，通過減法器43進行Sc(S/H后)-Sd(S/H后)的運算。
在光盤1上的擺動信號WBL＝S1(參照圖7(a))實際上不能以原本的狀態(tài)把握，所以將振幅平衡、運算處理后的Sc(S/H后)-Sd(S/H后)被設(shè)為介質(zhì)上的擺動信號WBL＝S1。該擺動信號WBL＝S1被輸入濾波電路44，一方面，通過經(jīng)過HPF46和LPF47的路徑，生成如圖7(b)所示的模擬擺動信號S2，另一方面，通過經(jīng)過BPF45的路徑，生成用于生成如圖7(c)所示的基本頻率分量構(gòu)成的信號的擺動信號S3，進而，通過經(jīng)過二值化器48被二值化，生成如圖7(d)所示的數(shù)字擺動信號S4。
該數(shù)字擺動信號S4通過用于產(chǎn)生規(guī)定的周期的穩(wěn)定的信號的PLL電路49，通過作為相位調(diào)整電路的延遲電路50被施加dlyclock的延遲，作為圖7(e)所示的數(shù)字擺動信號S5被輸入到sin波發(fā)生電路51。在sin波發(fā)生電路51中，如圖7(f)所示，生成與數(shù)字擺動信號S5同相位的sin波S6。
然后，將由A/D變換器52進行A/D變換的模擬擺動信號S2和被變換為sin波S6的數(shù)字擺動信號通過乘法器53相乘，如圖7(g)所示的相乘結(jié)果的信號S7通過積分器54被積分，得到如圖7(h)所示的積分結(jié)果信號S8。該積分結(jié)果信號S8通過S/H56被采樣保持，從而作為如圖7(i)所示的信號S9被輸入到ADIP信息檢測器57。
在ADIP信息檢測器57中，根據(jù)該信號S9，檢測包含如圖7(j)所示的地址信息和同步信號的ADIP信息S10。在輸入該ADIP信息S10的解碼器17中，同步檢測器61輸出如圖7(k)所示的ADIP同步信號ADIPsync＝S11。ADIP同步信號ADIPsync＝S11在通過作為偏移并輸出輸入信號的相位的相位調(diào)整電路的延遲電路64后，成為ADIP同步信號ADIPsync＝S12，被輸入編碼器14。在編碼器14中，根據(jù)該ADIP同步信號ADIPsync＝S12作成寫定時信號S13，在取來自CPU24的寫命令S14的“與”條件下，通過激光控制電路13開始記錄。
而且，在同步信號ADIPsync和寫定時信號之間，設(shè)采用一定的時間間隔e(例如，16wbl周期＝32T×15等)。而且，同步信號ADIPsync和寫定時信號每1ADIP時間(＝93wb1周期＝32T×93)一次，為L→H→L，作為1ADIP時間的開頭的相位調(diào)制部為H(圖7中所示的#0)。
在這樣的動作中，在濾波電路44的濾波處理前，即，在信號S1的時刻中，沒有對相位解調(diào)等產(chǎn)生影響的程度的相位偏移。但是，在濾波電路44的濾波處理后，例如由于LPF47部的截止頻率fc的離散，在模擬擺動信號的相位中產(chǎn)生偏移，在寫定時信號S13的產(chǎn)生定時中產(chǎn)生偏移，記錄開始位置有可能從最佳位置偏移。在圖7(b)中的a表示LPF47引起的相位延遲。
因此，在本實施方式中，附加將濾波電路44中的相位偏移引起的記錄開始位置的偏移調(diào)整到最佳位置的調(diào)整功能。如果參照提出并顯示擺動信號檢測電路27的一部分的圖8，則在本實施方式中，輸入來自光盤1的擺動信號S1的濾波電路44在這里被構(gòu)成為，設(shè)置作為檢測HPF46和LPF47的路徑的輸入輸出前后的信號的相位差的相位差檢測部件的相位比較器65，例如，檢測與圖7(b)所示的相位延遲a相當?shù)南辔徊睢?br>
另一方面，在光盤裝置10中構(gòu)成為，作為用于適當調(diào)整影響寫定時信號S13的定時的同步信號ADIPsync＝S11的相位的調(diào)整部件的延遲電路(delay)64被設(shè)置在同步檢測器61和編碼器14之間，通過延遲電路64的延遲時間timeset(記錄開始位置設(shè)定參數(shù))的設(shè)定可以任意地進行相位調(diào)整。
這里，HPF46和LPF47的路徑的輸入輸出前后的信號的相位差和延遲時間timeset之間為圖9所示的比例關(guān)系。而且，圖9所示的比例關(guān)系，例如是可通過將鏡盤每次1ECC一邊改變timeset一邊記錄，并進行再現(xiàn)該部分等的測量來簡單地作成的關(guān)系，通過預(yù)先求這樣的比例關(guān)系，根據(jù)由相位比較器65檢測出的相位差來調(diào)整設(shè)定延遲電路64的延遲時間timeset，可以使寫定時信號S13的定時最佳化。
這里，對于基于由相位比較器65檢測出的相位差的記錄定時的調(diào)整設(shè)定的細節(jié)，以實際記錄時的動作例，參照提取圖7的一部分顯示的圖10來進行說明。圖10是表示濾波電路44中的HPF46和LPF47中的路徑中的相位延遲a、延遲電路64產(chǎn)生的延遲量d和寫定時信號S13的關(guān)系的波形圖。
首先，在HPF46和LPF47的路徑中，模擬擺動信號S2的相位延遲部分僅＝相位延遲a，同步檢測器61產(chǎn)生的同步信號ADIPsync＝S11的相位也被延遲。然后，延遲電路64產(chǎn)生的延遲處理后的同步信號ADIPsync＝S12的相位僅被延遲以timeset的延遲量d。而且，作為該同步信號ADIPsync＝S12和寫定時信號S13的相位關(guān)系，設(shè)為具有一定間隔e的差。
而且，在標準中規(guī)定，擺動信號wbl以93周期為1塊，將寫開始定時移到wbl#14+24T(wbl#14是從相位調(diào)制部wbl#0開始數(shù)第15周期的信號，擺動1周期＝32T)的位置。
這里，24T為RF信號的1T×24，例如，盤轉(zhuǎn)速相當于1倍時，1T≈38.5ns，相當于2倍時，1T≈19.2ns，相當于4倍時，1T≈9.6ns，…。而且，如圖7所示，由于被檢測到的擺動信號相當于光盤1上的實際的擺動信號約延遲1周期，所以，在光盤1上大致從wbl#15+24T的位置起開始記錄(圖15等的#15為該意思)。
這時，如果a+d+e＝wbl16周期+24bit＝16×32T+24T成立，則寫定時信號符合標準。因此，設(shè)定調(diào)整延遲時間timeset，使得d＝16×32T+24T-a-e就可以。
這樣，按照本實施方式，在光盤裝置10中，使從光盤1的信息軌道2得到的擺動信號S1輸入到濾波電路44的輸入側(cè)，通過相位比較器65檢測這時的HPF46和LPF47的路徑的輸入輸出前后的信號的相位差，根據(jù)被檢測到的相位差調(diào)整延遲電路64的延遲時間timeset，可以使寫定時信號的定時為最佳，所以可以不受濾波電路44中的相位偏移的影響，從最佳的記錄開始位置進行記錄動作。
特別是，通過每隔一定定時進行這些檢測/調(diào)整動作，可以不受劇烈的電源電壓變動和溫度變化等的影響，始終從最佳記錄開始位置進行記錄動作。而且，在以CAV(角速度一定)方式進行再現(xiàn)時，由于再現(xiàn)速度變化，所以擺動信號的頻率當然也變化，最佳的調(diào)整值也變化，但是通過在從CAV方式下的再現(xiàn)轉(zhuǎn)移到記錄動作時進行這些檢測/調(diào)整動作，可以從最佳記錄開始位置進行記錄動作。
而且，在本實施方式中，通過相位比較器65檢測HPF46+LPF47路徑的輸入輸出前后的信號的相位差，但是作為另一個實施方式，也可以檢測BPF45的輸入輸出前后的信號的相位差，并根據(jù)檢測出的相位差調(diào)整設(shè)定延遲電路64的延遲量timeset。這時，與數(shù)字擺動信號的相位一致來調(diào)整模擬擺動信號的相位。
而且，在本實施方式中，通過相位比較器65直接地檢測濾波電路44的輸入輸出前后的信號的相位差，但是作為另一個實施方式，例如可以如圖11所示，通過振幅比較器(振幅比檢測部件)66檢測輸入了基于信息軌道2的擺動信號S1時的HPF46+LPF47路徑的輸入輸出前后的信號的振幅比a’(＝HPF46+LPF47路徑的輸出振幅/HPF46+LPF47路徑的輸入振幅)，根據(jù)該振幅比a’通過相位差檢測器(相位差檢測部件)67檢測相位差(相位延遲)a，調(diào)整延遲電路64的延遲時間timeset。
這時，預(yù)先測量LPF47的濾波特性，在控制程序中寫入對應(yīng)于該濾波特性的振幅比和相位延遲的關(guān)系，在相位差檢測器67中利用該關(guān)系來由振幅比a’求相位差a就可以。
根據(jù)圖12和圖13說明本發(fā)明的另一個實施方式。在本實施方式中，在光盤裝置10中，附加了用于消除濾波電路44的相位偏移引起的ADIP信息的解調(diào)特性的惡化的調(diào)整功能。在圖12中，表示僅提取擺動信號檢測電路27中的關(guān)系部分。
在本實施方式中，在使基于信息軌道2的擺動取得的擺動信號S1輸入濾波電路44的情況下，設(shè)置檢測這時的HPF46+LPF47路徑的輸入輸出前后的信號的相位差a的相位差檢測器(相位差檢測部件)65a，同時設(shè)置檢測BPF45路徑的輸入輸出前后的信號的相位差b的相位差檢測器(相位差檢測部件)65b，根據(jù)這些相位差比較器65a、65b的檢測結(jié)果調(diào)整作為被設(shè)置在PLL電路49的后級的調(diào)整部件的延遲電路50的延遲時間dlyclock，使得兩個路徑的相位一致。
圖13是表示濾波處理前的擺動信號S1的相位、經(jīng)過了LPF47等的模擬擺動信號S2的相位和經(jīng)過了BPF45的數(shù)字擺動信號S3(在二值化器48的數(shù)字化之前)的相位的關(guān)系的波形圖。在HPF46+LPF47路徑中，模擬擺動信號S2的相位僅延遲a，在BPF45路徑中數(shù)字擺動信號S3的相位僅延遲b。
于是，在通過sin波發(fā)生電路51作成sin波狀的數(shù)字擺動信號之前，可以通過延遲電路50中設(shè)定的延遲時間dlyclock具有相當于c的相位延遲(參照圖7)。這里，在ADIP解調(diào)時，由于通過乘法器53將sin波＝S6和模擬擺動信號S2相乘，所以相乘后的振幅越高，ADIP信息越可以解調(diào)。因此，需要使sin波和模擬擺動信號的相位關(guān)系為同相位。
因此，在a＝b+c成立時，模擬擺動信號和數(shù)字擺動信號的相位關(guān)系最同相位，可以進行最正確的ADIP解調(diào)。因此，根據(jù)相位比較器65a、65b的檢測結(jié)果，使c＝a-b那樣調(diào)整延遲電路50的延遲時間dlyclock就可以。
這樣，按照本實施方式，在光盤裝置10中，由于通過各個相位比較器65a、65b檢測對濾波電路44輸入了基于光盤1的信息軌道2的擺動取得的擺動信號S1時的HPF46和LPF47的路徑的輸入輸出前后的信號的相位差、BPF45的路徑的相位差，并根據(jù)被檢測到的相位差調(diào)整延遲電路50的延遲時間dlyclock，使得兩個路徑的相位為同相位，從而進行最佳的ADIP解調(diào)，所以可以以最佳的狀態(tài)使ADIP信息解調(diào)。
特別是，通過每隔一定的定時進行這些檢測/調(diào)整動作，所以可以不受劇烈的電源電壓變動和溫度變化等的影響，始終以最佳的狀態(tài)使ADIP信息解調(diào)。而且，在以CAV(角速度一定)方式進行再現(xiàn)時，由于再現(xiàn)速度變化，所以擺動信號的頻率當然也變化，最佳的調(diào)整值也變化，但是通過在從CAV方式下的再現(xiàn)轉(zhuǎn)移到記錄動作時進行這些檢測/調(diào)整動作，可以以最佳的狀態(tài)使ADIP信息解調(diào)。
而且，在本實施方式中，通過相位比較器65a、65b直接地檢測濾波電路44的各個路徑的輸入輸出前后的信號的相位差，但是作為另一個實施方式，例如也可以如圖14所示，通過振幅比較器(振幅比檢測部件)66a檢測輸入了基于信息軌道2的擺動信號S1時的HPF46+LPF47路徑的輸入輸出前后的信號的振幅比a’(＝HPF46+LPF47路徑的輸出振幅/HPF46+LPF47路徑的輸入振幅)，根據(jù)該振幅a’通過相位差檢測器(相位差檢測部件)67a檢測相位差(相位延遲)a，另一方面，通過振幅比較器(振幅比檢測部件)66b檢測BPF45路徑的輸入輸出信號間的振幅比b’(＝BPF45路徑的輸出振幅/BPF45路徑的輸入振幅)，根據(jù)該振幅比b’通過相位差檢測器(相位差檢測部件)67b檢測相位差(相位延遲)b，根據(jù)這些相位差a、b調(diào)整延遲電路64的延遲時間timeset，使得a＝b+c。
這時，預(yù)先測量LPF47、BPF45的濾波特性，在控制程序中寫入對應(yīng)于該濾波特性的振幅比和相位延遲的關(guān)系，在相位差檢測器67a、67b中利用該關(guān)系來由振幅比a’、b’求相位差a、b就可以。
而且，在將BPF45的相位延遲設(shè)為b時，在圖7等中，表示了LPF47側(cè)的相位延遲a比相位延遲b大的情況的例子，但是不限于此，也可以按照BPF45、HPF46、LPF47的特性而相反，即，也可以是相位延遲b比相位延遲a大的情況。在這樣的情況下，僅使數(shù)字擺動信號S4的相位偏移c＝b-a的相位延遲(即，這時相位超前)就可以。
而且，在本實施方式中，由延遲電路50使BPF45的輸出信號延遲，但也可以取代這樣的結(jié)構(gòu)，或者與這樣的結(jié)構(gòu)一起，使LPF47的輸出信號輸入到相位調(diào)整電路，調(diào)整該相位。而且，也可以直接求LPF47的輸出信號和BPF45的輸出信號的相位差，僅將延遲電路50的延遲時間dlyclock調(diào)整該相位差部分。
進而，在本實施方式中，也可以附加在該光盤裝置的制造階段或者維護時將該記錄開始位置調(diào)整到最佳的調(diào)整功能。如果參照提取并顯示擺動信號檢測電路27的一部分的圖15，則在本實施方式中，對于濾波電路44的輸入側(cè)，取代擺動信號S1，例如從振蕩器(代替信號輸入部件)71輸入sin波S21來作為振幅、頻率與信息記錄時對應(yīng)的相當于該擺動信號S1的代替信號(測試信號)，這時的濾波電路44，這里為HPF46和LPF47的路徑的輸入輸出前后的信號的相位差例如可以通過示波器(相位差檢測部件)72的觀測來測量。這里被檢測的相位差相當于圖7(b)所示的相位延遲a。
另一方面，在光盤裝置10中可以構(gòu)成為，在同步檢測器61和編碼器14之間設(shè)置用于適當調(diào)整影響寫定時信號S13的定時的同步信號ADIPsync＝S11的相位的延遲電路(delay)64，通過延遲電路64的延遲時間timeset(記錄開始位置設(shè)定參數(shù))的設(shè)定可任意地進行相位調(diào)整。這里，在HPF46和LPF47的路徑的輸入輸出信號間的相位差和延遲時間timeset之間存在如圖9所示的比例關(guān)系。
而且，圖9所示的比例關(guān)系，例如是使鏡盤每次1ECC，一邊改變timeset一邊記錄，可通過進行再現(xiàn)這部分等的測量而簡單地作成的關(guān)系，預(yù)先求這樣的比例關(guān)系，通過根據(jù)示波器(相位差檢測部件)72檢測到的相位差設(shè)定調(diào)整延遲電路64的延遲時間timeset，可以使寫定時信號S13的定時最佳化。
這里，對于基于被檢測到的相位差的記錄定時的調(diào)整設(shè)定的細節(jié)，以實際記錄時的動作例，參照提取并顯示圖7的一部分的圖10來進行說明。圖10是表示濾波電路44中的HPF46和LPF47中的路徑中的相位延遲a、延遲電路64產(chǎn)生的延遲量d和寫定時信號S13的關(guān)系的波形圖。
首先，在HPF46和LPF47的路徑中，模擬擺動信號S2的相位延遲部分僅＝相位延遲a，同步檢測器61產(chǎn)生的同步信號ADIPsync＝S11的相位也被延遲。然后，延遲電路64產(chǎn)生的延遲處理后的同步信號ADIPsync＝S12的相位僅被延遲timeset下的延遲量d。而且，作為該同步信號ADIPsync＝S12和寫定時信號S13的相位關(guān)系，設(shè)為具有一定間隔e的差。而且，在標準中規(guī)定，擺動信號wbl以93周期為1塊，將寫開始定時移到wbl#14+24T(wbl#14是從相位調(diào)制部wbl#0開始數(shù)第15周期的信號，擺動1周期＝32T)的位置。
這里，24T為RF信號的1T×24，例如，盤轉(zhuǎn)速相當于1倍時，1T≈38.5ns，相當于2倍時，1T≈19.2ns，相當于4倍時，1T≈9.6ns，…。而且，如圖7所示，由于被檢測到的擺動信號相當于光盤1上的實際的擺動信號約延遲1周期，所以，在光盤1上大致從wbl#15+24T的位置起開始記錄(圖15等的#15為該意思)。
這時，如果a+d+e＝wbl16周期+24bit＝16×32T+24T成立，則寫定時信號符合標準。因此，設(shè)定調(diào)整延遲時間timeset，使得d＝16×32T+24T-a-e就可以。
這樣，按照本實施方式，對于光盤裝置10，對濾波電路44的輸入側(cè)通過振蕩器71輸入振幅、頻率與擺動信號相當?shù)膕in波S21，通過示波器72檢測這時的HPF46和LPF47的路徑的輸入輸出前后的信號的相位差，根據(jù)被檢測到的相位差調(diào)整設(shè)定延遲電路64的延遲時間timeset，從而寫定時信號的定時為最佳，所以每個光盤裝置10不需要實際地進行記錄/再現(xiàn)動作，可以簡單并且合適地進行記錄開始位置的最佳化。因此，也可以僅通過利用振蕩器71和示波器72簡單地實現(xiàn)。
而且，作為另一個實施方式，取代振蕩器71和示波器72，雖然沒有特別圖示，但也可以使用增益相位分析器作為代替信號輸入部件和相位差檢測部件。即，從增益相位分析器對濾波電路44的輸入側(cè)將振幅與擺動信號相當?shù)膕in波作為代替信號，一邊使其頻率擺動一邊輸入，測量相對于HPF46+LPF47的輸入的輸出的頻率特性。這時的頻率特性是“橫軸；頻率、縱軸；增益和相位”。然后，求頻率與擺動信號相當時的相位延遲，將該相位延遲設(shè)為前述的a就可以。
在這樣利用增益相位分析器的情況下，除了可以容易地實施，而且還可以檢查HPF46+LPF47的特性。
而且，在本實施方式中，通過示波器72和相位增益分析器檢測HPF46+LPF47的路徑輸入輸出前后的信號的相位差，但是作為另一個實施方式，也可以檢測BPF45的輸入輸出前后的信號的相位差，并根據(jù)檢測到的相位差調(diào)整設(shè)定延遲電路64的延遲量timeset。這時，與數(shù)字擺動信號的相位一致而調(diào)整模擬信號的相位。
而且，在本實施方式中，直接檢測濾波電路44的輸入輸出前后的信號的相位差，但是作為另一個實施方式，例如可以如圖16所示，通過振幅比較器(振幅比檢測部件)74檢測輸入了sin波S21等代替信號時的HPF46+LPF47路徑的輸入輸出前后的信號的振幅比a’(＝HPF46+LPF47路徑的輸出振幅/HPF46+LPF47路徑的輸入振幅)，根據(jù)該振幅比a’通過相位差檢測器(相位差檢測部件)75檢測相位差(相位延遲)a，調(diào)整設(shè)定延遲電路64的延遲時間timeset。
這時，預(yù)先測量LPF47的濾波特性，在控制程序中寫入對應(yīng)于該濾波特性的振幅比和相位延遲的關(guān)系，在相位差檢測器75中利用該關(guān)系來由振幅比a’求相位差a就可以。
根據(jù)圖13和圖17說明本發(fā)明的另一個實施方式。在本實施方式中，對于光盤裝置10附加在該光盤裝置的制造階段或者維護時等消除相位偏移引起的ADIP信息的解調(diào)特性的惡化的調(diào)整功能。在圖17中，僅提取并表示擺動信號檢測電路27的相關(guān)部分。
在本實施方式中，對于濾波電路44的輸入側(cè)，取代擺動信號S1，例如從振蕩器(代替信號輸入部件)71輸入sin波S21來作為振幅、頻率與信息記錄時對應(yīng)的相當于該擺動信號S1的代替信號(測試信號)，這時的HPF46+LPF47的路徑的前后的信號的相位差例如可以通過示波器(相位差檢測部件)72的觀測來測量，同時，BPF45路徑的輸入輸出前后的信號的相位差b例如通過示波器(相位差檢測部件)72的觀測來測量，根據(jù)這些測量結(jié)果調(diào)整設(shè)定作為被設(shè)定在PLL電路49的后級的調(diào)整部件的延遲電路50的延遲時間dlyclock，使得兩個路徑的相位一致。
圖13是表示濾波處理前的擺動信號S1的相位、經(jīng)過了LPF47等的模擬擺動信號S2的相位和經(jīng)過了BPF45的數(shù)字擺動信號S3(在二值化電路48的數(shù)字化之前)的相位的關(guān)系的波形圖。
在HPF46+LPF47路徑中，模擬擺動信號S2的相位僅延遲a，在BPF45路徑中數(shù)字擺動信號S3的相位僅延遲b。于是，在通過sin波發(fā)生電路51作成sin波狀的數(shù)字擺動信號之前，可以通過延遲電路50中設(shè)定的延遲時間dlyclock具有相當于c的相位延遲(參照圖7等)。這里，在ADIP解調(diào)時，由于通過乘法器53將sin波＝S6和模擬擺動信號S2相乘，所以相乘后的振幅越高，ADIP信息越可以解調(diào)。因此，需要使sin波和模擬擺動信號的相位關(guān)系為同相位。
因此，在a＝b+c成立時，模擬擺動信號和數(shù)字擺動信號的相位關(guān)系最同相位，可以進行最正確的ADIP解調(diào)。因此，根據(jù)檢測結(jié)果，使c＝a-b那樣調(diào)整設(shè)定延遲電路50的延遲時間dlyclock就可以。
這樣，按照本實施方式，對于光盤裝置10，對濾波電路44的輸入側(cè)通過振蕩器71輸入振幅、頻率與擺動信號相當?shù)膕in波S21，通過示波器72分別檢測這時的HPF46和LPF47的路徑的輸入輸出前后的信號的相位差，以及BPF45的路徑的相位差，根據(jù)被檢測到的相位差調(diào)整設(shè)定延遲電路50的延遲時間dlyclock，以便使兩個路徑的相位為同相位，所以每個光盤裝置10不需要實際地進行記錄/再現(xiàn)動作，可以始終以最佳的延遲時間dlyclock進行ADIP解調(diào)。因此，也可以僅通過利用振蕩器71和示波器72簡單地實現(xiàn)。
這時，也可以利用增益相位分析器取代振蕩器71和示波器72。而且，也可以依照圖16所示的例子，在各個路徑檢測濾波電路44的輸入輸出前后的信號的振幅比，并根據(jù)被檢測出的振幅比檢測各個相位差，根據(jù)該相位差如上所述那樣調(diào)整設(shè)定延遲電路50的延遲時間dlyclock。
在本實施方式中，通過延遲電路50使BPF45的輸出信號延遲，但是也可以取代這樣的結(jié)構(gòu)，或者與這樣的結(jié)構(gòu)一起，使LPF47的輸出信號輸入相位調(diào)整電路，調(diào)整其相位。
圖18表示關(guān)于包含調(diào)整這樣的延遲電路50和延遲電路64的延遲時間的步驟的光盤裝置10的制造方法的流程圖。在該制造步驟中，作為組裝步驟，首先將濾波電路44和乘法器53、延遲電路50、64、ADIP信息檢測器57、同步檢測器61、編碼器4等部件組裝到框體(未圖示)內(nèi)(S101)。
一系列的組裝結(jié)束時，接著，轉(zhuǎn)移到進行組裝部件間的調(diào)整的調(diào)整步驟。這里，以本發(fā)明的延遲時間的調(diào)整步驟為中心進行說明。將如上所述的測試信號輸入作為濾波電路44的BPF45、HPF46中(S102)。
在輸入了測試信號的狀態(tài)下，測量并檢測輸入HPF46的測試信號和從BPF45輸出的測試信號的相位差a(S103)。進而，測量并檢測輸入BPF45的測試信號和從BPF45輸出的測試信號的相位差b(S104)。這些相位差的測量/檢測方法如上所述。
然后，僅將延遲電路64調(diào)整對應(yīng)于相位差a(或者相位差b)的延遲時間timeset(S105)。由此，可以調(diào)整記錄定時的偏移。而且，調(diào)整延遲電路50的延遲時間dlyclock，以便產(chǎn)生相對于(相位差a-相位差b)的相位差(S106)。由此，可以正確地取得ADIP信息。
而且，還在調(diào)整步驟中進行半導(dǎo)體激光器的發(fā)光功率的調(diào)整(增益調(diào)整)等其它調(diào)整。
在調(diào)整步驟結(jié)束時，為檢查步驟，對光盤裝置10是否正確地動作進行各種公知的檢查。由于該檢查步驟的結(jié)束，光盤裝置10的制造也完成。
而且，在不調(diào)整延遲電路50的延遲時間的情況下，可以省略步驟S106和步驟S103、S104的任何一個處理。而且，在不進行延遲電路64的延遲電路的調(diào)整的情況下，可以省略步驟S105的處理。進而，取代步驟S106的處理，可以求LPF47的輸出信號和BPF45的輸出信號的相位差，將延遲電路50的延遲時間dlyclock僅調(diào)整該相位差部分。
而且，在將BPF45的相位延遲設(shè)為b時，在圖7等中，表示LPF47側(cè)的相位延遲a比相位延遲b大的情況的例子，但是不限于此，也可以按照BPF45、HPF46、LPF47的特性而相反，即，也可以是相位延遲b比相位延遲a大的情況。在這樣的情況下，僅使數(shù)字擺動信號S4的相位偏移c＝b-a的相位延遲(即，這時相位超前)就可以。
而且，在上述的說明中，說明了通過使用示波器72和增益相位分析器以手動操作進行延遲時間的調(diào)整的例子，但是不限于這樣的方法。
即，也可以如圖19所示，構(gòu)成由輸出測試信號的振蕩器81、具有作為示波器72等的一個功能的相位差檢測功能的相位差檢測裝置82以及控制它們的CPU83和存儲了使CPU83執(zhí)行規(guī)定的控制處理的程序的ROM84組合的調(diào)整專用機80，根據(jù)檢測到的相位差自動地調(diào)整延遲電路50或者延遲電路64的延遲時間。
或者，也可以構(gòu)成由輸出測試信號的振蕩器81、振幅比較器74和相位差檢測器75構(gòu)成的相位差檢測裝置82、以及控制它們的CPU83和存儲了使CPU83執(zhí)行規(guī)定的控制處理的程序的ROM84組合的調(diào)整專用機80，根據(jù)檢測到的相位差自動地調(diào)整延遲電路50或者延遲電路64的延遲時間。
在這些情況下，CPU83按照該裝置具有的ROM84中存儲的程序執(zhí)行對于與用手動進行的各處理(圖18所示的步驟S102～S106)對應(yīng)的各結(jié)構(gòu)的命令等。即，CPU83對振蕩器81發(fā)出指令，以輸出規(guī)定的測試信號(S102)。
與此對應(yīng)，振蕩器81對濾波電路44輸出測試信號。接著，CPU83發(fā)出指令，使相位差檢測裝置82檢測HPF46的輸入側(cè)和LPF47的輸出側(cè)的測試信號的相位差a和BPF45的輸入輸出間的測試信號的相位差b(S103、S104)。相位差檢測裝置82根據(jù)該指令進行相位差a、b的檢測。
CPU83將對應(yīng)于相位差a(或者相位差b)的延遲時間timeset提供給延遲電路64(S105)。進而，CPU83僅將對應(yīng)于(相位差a-相位差b)的相位差部分的延遲時間dlyclock提供給延遲電路50(S107)。通過進行這樣的處理，可以降低濾波電路44的擺動信號的相位偏移的影響。
而且，在不調(diào)整延遲電路50的延遲時間的情況下，CPU83可以省略步驟S106和步驟S103、S104的任何一個處理。而且，在不進行延遲電路64的延遲時間的調(diào)整的情況下，CPU83可以省略步驟S105的處理。而且，CPU83也可以取代步驟S106的處理，求LPF47的輸出信號和BPF45的輸出信號的相位差，僅將延遲電路50的延遲時間dlyclock調(diào)整該相位差部分。
本發(fā)明不限于具體公開的本實施方式，在不超出權(quán)利要求的范圍內(nèi)，可以進行各種變形和變更。
權(quán)利要求
1.一種光盤裝置，通過對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光來進行信息的記錄，包括擺動信號檢測電路，該電路具有濾波電路，檢測基于所述信息軌道的擺動的擺動信號，從而對ADIP信息進行解調(diào)，其特征在于，該光盤裝置還包括相位檢測部件，檢測輸入了所述擺動信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差；以及調(diào)整部件，根據(jù)被檢測到的相位差，對與所述ADIP信息中包含的同步信號同步的記錄開始定時信號的相位進行調(diào)整。
2.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于，包括振幅比檢測部件，對輸入所述擺動信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的振幅比進行檢測，所述相位差檢測部件根據(jù)被檢測到的所述振幅比來檢測所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差。
3.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于，所述調(diào)整部件通過根據(jù)被檢測到的相位差使所述同步信號的相位延遲，調(diào)整所述記錄開始定時信號的相位。
4.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述相位差檢測部件檢測所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差。
5.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述相位差檢測部件檢測所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差。
6.一種光盤裝置，通過對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光來進行信息的記錄，包括擺動信號檢測電路，該電路具有濾波電路，檢測基于所述信息軌道的擺動的擺動信號，從而對ADIP信息進行解調(diào)，其特征在于，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述光盤裝置還包括相位差檢測部件，分別檢測輸入了所述擺動信號的所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差和所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差；以及調(diào)整部件，根據(jù)被檢測到的相位差調(diào)整相位，以使得這些帶通濾波器路徑和高通濾波器+帶通濾波器的路徑的相位一致。
7.如權(quán)利要求6所述的光盤裝置，其特征在于，包括振幅比檢測部件，分別檢測輸入了所述擺動信號的所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的振幅比和所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的振幅比，所述相位差檢測部件根據(jù)被檢測到的所述振幅比來檢測各個輸入輸出信號間的相位差。
8.如權(quán)利要求6所述的光盤裝置，其特征在于，所述相位差檢測部件每隔一定定時執(zhí)行檢測動作。
9.如權(quán)利要求6所述的光盤裝置，其特征在于，所述相位差檢測部件在以CAV方式從再現(xiàn)動作轉(zhuǎn)移到記錄動作時執(zhí)行檢測動作。
10.一種信息記錄方法，利用光盤裝置對信息記錄介質(zhì)進行信息的記錄，所述光盤裝置包括擺動信號檢測電路，該電路具有對具有以一定周期擺動的信息軌道的所述信息記錄介質(zhì)照射光，檢測基于所述信息軌道的擺動的擺動信號，從而對ADIP信息進行解調(diào)的濾波電路，其特征在于，所述信息記錄方法包括以下步驟信號輸入步驟，取得基于所述信息記錄介質(zhì)的所述信息軌道的擺動的擺動信號而使其輸入所述濾波電路；相位差檢測步驟，檢測輸入了所述擺動信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差；以及調(diào)整步驟，根據(jù)被檢測到的相位差，對與所述ADIP信息中包含的同步信號同步的記錄開始定時信號的相位進行調(diào)整。
11.如權(quán)利要求10所述的信息記錄方法，其特征在于，還包括振幅比檢測步驟，對輸入了所述擺動信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的振幅比進行檢測，在所述相位差檢測步驟中，根據(jù)被檢測到的所述振幅比來檢測所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差。
12.如權(quán)利要求10所述的信息記錄方法，其特征在于，所述調(diào)整步驟通過根據(jù)被檢測到的相位差使所述同步信號的相位延遲，調(diào)整所述記錄開始定時信號的相位。
13.如權(quán)利要求10所述的信息記錄方法，其特征在于，利用具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑的所述濾波電路，在所述相位差檢測步驟中，檢測所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差。
14.如權(quán)利要求10所述的信息記錄方法，其特征在于，利用具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑的所述濾波電路，在所述相位差檢測步驟中，檢測所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差。
15.一種信息記錄方法，利用光盤裝置對信息記錄介質(zhì)進行信息的記錄，所述光盤裝置包括擺動信號檢測電路，該電路具有對具有以一定周期擺動的信息軌道的所述信息記錄介質(zhì)照射光，檢測基于擺動的所述信息軌道的擺動的擺動信號，從而對ADIP信息進行解調(diào)的濾波電路，其特征在于，利用具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑的所述濾波電路，所述信息記錄方法包括以下步驟相位差檢測步驟，分別檢測輸入了所述擺動信號的所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差和所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差；以及調(diào)整步驟，根據(jù)被檢測到的相位差調(diào)整相位，以使得這些帶通濾波器路徑和高通濾波器+帶通濾波器的路徑的相位一致。
16.如權(quán)利要求15所述的信息記錄方法，其特征在于，包括振幅比檢測步驟，分別檢測輸入了所述擺動信號的所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的振幅比和所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的振幅比，在所述相位差檢測步驟中，根據(jù)被檢測到的所述振幅比來檢測各個輸入輸出信號間的相位差。
17.如權(quán)利要求15所述的信息記錄方法，其特征在于，在所述相位差檢測步驟中，每隔一定定時執(zhí)行檢測動作。
18.如權(quán)利要求15所述的信息記錄方法，其特征在于，所述相位差檢測步驟在以CAV方式從再現(xiàn)動作轉(zhuǎn)移到記錄動作時執(zhí)行檢測動作。
19.一種光盤裝置，對信息記錄介質(zhì)進行信息的記錄，包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的所述信息記錄介質(zhì)照射光，對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；同步檢測器，檢測所述擺動信號中包含的同步信號；編碼器，根據(jù)所述同步信號決定記錄開始定時；以及相位調(diào)整電路，將所述同步信號的相位偏移而使其輸入所述編碼器，其特征在于，該光盤裝置包括比較從所述濾波電路輸出的信號和被輸入所述濾波電路之前的信號的相位的部件；以及根據(jù)該比較結(jié)果，調(diào)整所述相位調(diào)整電路產(chǎn)生的所述同步信號的相位偏移量的部件。
20.一種光盤裝置，對信息記錄介質(zhì)進行信息的記錄，包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的所述信息記錄介質(zhì)照射光，對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；第一濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；第二濾波電路，從所述光接收信號中提取基于所述信息軌道的擺動的擺動信號的基本頻率分量附近的頻率分量；乘法器，將從所述第一濾波電路輸出的信號和從所述第二濾波電路輸出的信號相乘；相位調(diào)整電路，對被輸入所述乘法器的兩個信號的相位差進行調(diào)整；以及信息檢測電路，根據(jù)來自所述乘法器的輸出信號，檢測所述擺動信號中包含的信息，其特征在于，所述光盤裝置還包括相位差取得部件，取得從所述第一濾波電路輸出的信號和從所述第二濾波電路輸出的信號的相位差；以及根據(jù)由該相位差取得部件取得的相位差，調(diào)整所述相位調(diào)整電路產(chǎn)生的被輸入所述乘法器的兩個信號的相位差的部件。
21.如權(quán)利要求20所述的光盤裝置，其特征在于，所述相位差取得部件包括第一相位差取得部件，取得從所述第一濾波電路輸出的信號和被輸入該第一濾波電路之前的信號的相位差；以及第二相位差取得部件，取得從所述第二濾波電路輸出的信號和被輸入該第二濾波電路之前的信號的相位差。
22.一種光盤裝置的調(diào)整裝置，所述光盤裝置通過對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光來進行信息的記錄，該光盤裝置包括擺動信號檢測電路，該電路具有濾波電路，檢測基于所述信息軌道的擺動的擺動信號，其特征在于，對于所述光盤裝置，所述調(diào)整裝置包括代替信號輸入部件，使所述濾波電路的輸入側(cè)輸入相當于所述擺動信號的代替信號；相位差檢測部件，檢測被輸入了代替信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差；調(diào)整部件，對應(yīng)于被檢測到的相位差，調(diào)整設(shè)定根據(jù)所述擺動信號規(guī)定的記錄開始定時信號的相位。
23.如權(quán)利要求22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置，其特征在于，所述代替信號輸入部件是使與所述擺動信號相當?shù)恼穹皖l率的正弦波作為代替信號輸入的振蕩器，所述相位差檢測部件是示波器。
24.如權(quán)利要求22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置，其特征在于，所述代替信號輸入部件和所述相位差檢測部件是在與所述擺動信號相當?shù)恼穹恼也ㄖ?，一邊使頻率擺動，一邊作為代替信號輸入，在與所述擺動信號相當?shù)念l率時檢測相位差的增益相位分析器。
25.如權(quán)利要求22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置，其特征在于，包括振幅比檢測部件，檢測被輸入了代替信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的振幅比，所述相位差檢測部件根據(jù)被檢測到的所述振幅比檢測所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差。
26.如權(quán)利要求22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置，其特征在于，所述調(diào)整部件通過使根據(jù)所述擺動信號由所述擺動信號檢測電路生成的同步信號的相位對應(yīng)于被檢測到的相位差而延遲，調(diào)整設(shè)定所述記錄開始定時信號的相位。
27.如權(quán)利要求22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置，其特征在于，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述相位差檢測部件檢測所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差。
28.如權(quán)利要求22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置，其特征在于，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述相位差檢測部件檢測所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差。
29.如權(quán)利要求22所述的光盤裝置的調(diào)整裝置，其特征在于，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述相位差檢測部件分別檢測所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差和所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差，所述調(diào)整部件調(diào)整設(shè)定相位，以使這些帶通濾波器路徑和高通濾波器+低通濾波器的路徑的相位一致。
30.一種光盤裝置的調(diào)整方法，所述光盤裝置通過對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光來進行信息的記錄，該光盤裝置包括擺動信號檢測電路，該電路具有濾波電路，檢測基于所述信息軌道的擺動的擺動信號，其特征在于，對于所述光盤裝置，所述調(diào)整方法包括代替信號輸入步驟，使所述濾波電路的輸入側(cè)輸入相當于所述擺動信號的代替信號；相位差檢測步驟，檢測被輸入了代替信號的所述濾波電路的輸入輸出間的相位差；調(diào)整步驟，對應(yīng)于被檢測到的相位差，調(diào)整設(shè)定根據(jù)所述擺動信號規(guī)定的記錄開始定時信號的相位。
31.如權(quán)利要求30所述的光盤裝置的調(diào)整方法，其特征在于，在所述代替信號輸入步驟中，使與所述擺動信號相當?shù)恼穹皖l率的正弦波作為代替信號輸入的振蕩器，在所述相位差檢測步驟中使用示波器。
32.如權(quán)利要求30所述的光盤裝置的調(diào)整方法，其特征在于，在所述代替信號輸入步驟和所述相位差檢測步驟中，使用在與所述擺動信號相當?shù)恼穹恼也ㄖ校贿吺诡l率擺動，一邊作為代替信號輸入，在與所述擺動信號相當?shù)念l率時檢測相位差的增益相位分析器。
33.如權(quán)利要求30所述的光盤裝置的調(diào)整方法，其特征在于，包括振幅比檢測步驟，檢測被輸入了代替信號的所述濾波電路的輸入輸出信號間的振幅比，在所述相位差檢測步驟中，根據(jù)被檢測到的所述振幅比檢測所述濾波電路的輸入輸出信號間的相位差。
34.如權(quán)利要求30所述的光盤裝置的調(diào)整方法，其特征在于，在所述調(diào)整步驟中，通過使根據(jù)所述擺動信號由所述擺動信號檢測電路生成的同步信號的相位對應(yīng)于被檢測到的相位差而延遲，調(diào)整設(shè)定所述記錄開始定時信號的相位。
35.如權(quán)利要求30所述的光盤裝置的調(diào)整方法，其特征在于，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，在所述相位差檢測步驟中，檢測所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差。
36.如權(quán)利要求30所述的光盤裝置的調(diào)整方法，其特征在于，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，在所述相位差檢測步驟中，檢測所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差。
37.如權(quán)利要求30所述的光盤裝置的調(diào)整方法，其特征在于，所述濾波電路具有生成數(shù)字擺動信號用的帶通濾波器路徑，以及生成模擬擺動信號用的高通濾波器+低通濾波器的路徑，所述相位差檢測步驟分別檢測所述帶通濾波器路徑的輸入輸出信號間的相位差和所述高通濾波器+低通濾波器的路徑的輸入輸出信號間的相位差，所述調(diào)整步驟調(diào)整設(shè)定相位，以使這些帶通濾波器路徑和高通濾波器+低通濾波器的路徑的相位一致。
38.一種光盤裝置的制造方法，該光盤裝置對所述信息記錄介質(zhì)進行信息的記錄，包括光拾取器，通過對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光，對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；同步檢測器，檢測所述擺動信號中包含的同步信號；編碼器，根據(jù)所述同步信號決定記錄開始定時；以及相位調(diào)整電路，將所述同步信號的相位偏移而使其輸入所述編碼器，其特征在于，該方法包括以下步驟將與進行信息記錄時提取的所述擺動信號的基本頻率分量相同周期的測試信號輸入到所述濾波電路的步驟；比較從所述濾波電路輸出的測試信號和被輸入到所述濾波電路之前的測試信號的相位差的步驟；以及根據(jù)該比較結(jié)果，調(diào)整所述相位調(diào)整電路產(chǎn)生的所述相位偏移量的步驟。
39.一種光盤裝置的制造方法，該光盤裝置包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光，對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；第一濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；第二濾波電路，從所述光接收信號中提取基于所述信息軌道的擺動的擺動信號的基本頻率分量附近的頻率分量；乘法器，將從所述第一濾波電路輸出的信號和從所述第二濾波電路輸出的信號相乘；相位調(diào)整電路，對被輸入所述乘法器的兩個信號的相位差進行調(diào)整；以及信息檢測電路，根據(jù)來自所述乘法器的輸出信號，檢測所述擺動信號中包含的信息，其特征在于，所述方法包括以下步驟將與進行信息記錄時提取的所述擺動信號的基本頻率分量相同周期的測試信號輸入到所述第一濾波電路和所述第二濾波電路的步驟；取得從所述第一濾波電路輸出的測試信號和從所述第二濾波電路輸出的測試信號的相位差的相位差取得步驟；以及根據(jù)通過該相位差取得步驟取得的相位差，通過所述相位調(diào)整電路調(diào)整被輸入到所述乘法器的兩個信號的相位差的步驟。
40.如權(quán)利要求39所述的光盤裝置的制造方法，其特征在于，所述相位差取得步驟包括第一相位差取得步驟，取得從所述第一濾波電路輸出的測試信號和被輸入該第一濾波電路之前的測試信號的相位差；以及第二相位差取得步驟，取得從所述第二濾波電路輸出的測試信號和被輸入該第二濾波電路之前的測試信號的相位差。
41.一種相位偏移量調(diào)整方法，對光盤裝置中的相位偏移量進行調(diào)整，該光盤裝置包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光，對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；同步檢測器，檢測所述擺動信號中包含的同步信號；編碼器，根據(jù)所述同步信號決定記錄開始定時；以及相位調(diào)整電路，將所述同步信號的相位偏移而使其輸入所述編碼器，其特征在于，該方法包括以下步驟將與進行信息記錄時提取的所述擺動信號的基本頻率分量相同周期的測試信號輸入到所述濾波電路的步驟；比較從所述濾波電路輸出的測試信號和被輸入到所述濾波電路之前的測試信號的相位差的步驟；以及根據(jù)該比較結(jié)果，調(diào)整所述相位調(diào)整電路產(chǎn)生的所述同步信號的所述相位偏移量的步驟。
42.一種相位偏移量調(diào)整方法，對光盤裝置中的相位偏移量進行調(diào)整，該光盤裝置包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光，對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；第一濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；第二濾波電路，從所述光接收信號中提取基于所述信息軌道的擺動的擺動信號的基本頻率分量附近的頻率分量；乘法器，將從所述第一濾波電路輸出的信號和從所述第二濾波電路輸出的信號相乘；相位調(diào)整電路，對被輸入所述乘法器的兩個信號的相位差進行調(diào)整；以及信息檢測電路，根據(jù)來自所述乘法器的輸出信號，檢測所述擺動信號中包含的信息，其特征在于，所述方法包括以下步驟將與進行信息記錄時提取的所述擺動信號的基本頻率分量相同周期的測試信號輸入到所述第一濾波電路和所述第二濾波電路的步驟；取得從所述第一濾波電路輸出的測試信號和從所述第二濾波電路輸出的測試信號的相位差的相位差取得步驟；以及根據(jù)該相位差取得步驟取得的相位差，通過所述相位調(diào)整電路調(diào)整被輸入到所述乘法器的兩個信號的相位差的步驟。
43.如權(quán)利要求42所述的相位偏移量調(diào)整方法，其特征在于，所述相位差取得步驟包括第一相位差取得步驟，取得從所述第一濾波電路輸出的測試信號和被輸入該第一濾波電路之前的測試信號的相位差；以及第二相位差取得步驟，取得從所述第二濾波電路輸出的測試信號和被輸入該第二濾波電路之前的測試信號的相位差。
44.一種相位偏移量調(diào)整裝置，對光盤裝置中的相位偏移量進行調(diào)整，該光盤裝置包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；同步檢測器，檢測所述擺動信號中包含的同步信號；編碼器，根據(jù)所述同步信號決定記錄開始定時；以及相位調(diào)整電路，將所述同步信號的相位偏移而使其輸入所述編碼器，其特征在于，該相位偏移量調(diào)整裝置包括將與進行信息記錄時提取的所述擺動信號的基本頻率分量相同周期的測試信號輸入到所述濾波電路的部件；比較從所述濾波電路輸出的測試信號和被輸入到所述濾波電路之前的測試信號的相位差的部件；以及根據(jù)該比較結(jié)果，調(diào)整所述相位調(diào)整電路產(chǎn)生的所述同步信號的所述相位偏移量的部件。
45.一種相位偏移量調(diào)整裝置，對光盤裝置中的相位偏移量進行調(diào)整，該光盤裝置包括光拾取器，對具有以一定周期擺動的信息軌道的信息記錄介質(zhì)照射光，對該信息記錄介質(zhì)反射的光進行光接收并輸出與其光接收量對應(yīng)的光接收信號；第一濾波電路，從所述光接收信號中除去基于所述信息軌道的擺動的擺動信號中的噪聲；第二濾波電路，從所述光接收信號中提取基于所述信息軌道的擺動的擺動信號的基本頻率分量附近的頻率分量；乘法器，將從所述第一濾波電路輸出的信號和從所述第二濾波電路輸出的信號相乘；相位調(diào)整電路，對被輸入所述乘法器的兩個信號的相位差進行調(diào)整；以及信息檢測電路，根據(jù)來自所述乘法器的輸出信號，檢測所述擺動信號中包含的信息，其特征在于，所述相位偏移量調(diào)整裝置包括將與進行信息記錄時提取的所述擺動信號的基本頻率分量相同周期的測試信號輸入到所述第一濾波電路和所述第二濾波電路的部件；取得從所述第一濾波電路輸出的測試信號和從所述第二濾波電路輸出的測試信號的相位差的相位差取得部件；以及根據(jù)該相位差取得部件取得的相位差，通過所述相位調(diào)整電路調(diào)整被輸入到所述乘法器的兩個信號的相位差的部件。
46.如權(quán)利要求45所述的相位偏移量調(diào)整裝置，其特征在于，所述相位差取得部件包括第一相位差取得部件，取得從所述第一濾波電路輸出的測試信號和被輸入該第一濾波電路之前的測試信號的相位差；以及第二相位差取得部件，取得從所述第二濾波電路輸出的測試信號和被輸入該第二濾波電路之前的測試信號的相位差。
全文摘要
本發(fā)明涉及具有擺動信號檢測電路的光盤裝置、信息記錄方法、光盤裝置的調(diào)整裝置、調(diào)整方法以及制造方法、以及相位偏移量調(diào)整方法和調(diào)整裝置，對濾波電路的輸入側(cè)輸入基于信息軌道的擺動的擺動信號，檢測這時的HPF+LPF路徑的輸入輸出信號間的相位差，根據(jù)被檢測到的相位差調(diào)整記錄開始定時信號的相位，從而可以防止濾波電路中的相位偏移的惡劣影響。
文檔編號G11B20/14GK1856825SQ200480027519
公開日2006年11月1日 申請日期2004年3月10日 優(yōu)先權(quán)日2003年8月28日
發(fā)明者荒井邦彰 申請人:株式會社理光