及行為和/或算法合成。初始或早期的合成設(shè)計(jì)階段可以行進(jìn)至人工翻譯階段，隨后或多或少分別為器件級(jí)架構(gòu)仿真、內(nèi)部電路仿真、CAD階段以及其他階段。實(shí)現(xiàn)各個(gè)設(shè)計(jì)階段中的每個(gè)設(shè)計(jì)階段可以涉及一個(gè)或多個(gè)獨(dú)立的設(shè)計(jì)應(yīng)用。在本發(fā)明的示例實(shí)施例中，EDA工具401可以使用各自適合的應(yīng)用程序接口(API)、在設(shè)計(jì)處理的各個(gè)階段中的每個(gè)階段中、利用設(shè)計(jì)應(yīng)用進(jìn)行操作。因而，EDA工具401可操作來(lái)生成適用于對(duì)各個(gè)設(shè)計(jì)階段中的每個(gè)設(shè)計(jì)階段進(jìn)行驗(yàn)證的測(cè)試模式，并且傳播可以由ATE裝置運(yùn)行的用于測(cè)試最適于每個(gè)設(shè)計(jì)階段的可操作性的命令和指令。
[0055]另一ATE裝置430(這可以表示任意其他數(shù)目的ATE裝置)還可以在(在通信上與第一端相對(duì)的)另一端處被耦合至通信管線。其他ATE裝置430可以包括與ATE裝置420的特征、功能或可操作的屬性相似的、等同的或至少類(lèi)似的一個(gè)或多個(gè)特征、功能或可操作的屬性。
[0056]ATE裝置可以包括測(cè)試控制器部件424?？芍苯舆\(yùn)行的測(cè)試模式422被描繪為呈現(xiàn)在測(cè)試控制器424的監(jiān)控顯示器上的示例。鏈路423提供與測(cè)試器機(jī)架部件425的通信、數(shù)據(jù)交換、供電、控制等，測(cè)試器機(jī)架部件425可以包括集成冷卻和/或其他特征。測(cè)試器機(jī)架425支撐具有多個(gè)DUT499陣列的測(cè)試頭和接口 427。
[0057]測(cè)試頭和接口 427將與可直接運(yùn)行的測(cè)試模式422相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)信號(hào)輸入到多個(gè)電子DUT 499 φο測(cè)試頭和接口 427從多個(gè)電子DUT接收基于所輸入的可直接運(yùn)行的測(cè)試模式422的測(cè)試結(jié)果。ATE裝置420通過(guò)通信管線410將所接收的測(cè)試結(jié)果返回至EDA工具401。EDA工具401然后可以處理所返回的測(cè)試結(jié)果。
[0058]系統(tǒng)400可以執(zhí)行一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的處理方法(例如，(分別在圖2、圖3中的)處理20和/或處理30)。EDA工具401、ΑΤΕ裝置420和/或通信管線410的一個(gè)或多個(gè)部件包括處理器和非易失性數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)(例如，存儲(chǔ)器、驅(qū)動(dòng)器、寄存器、鎖存器、緩沖器、可尋址晶體管存儲(chǔ)器單元等)。非易失性數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)包括被有形存儲(chǔ)和/或通過(guò)其進(jìn)行編碼的指令，當(dāng)這些指令被處理器運(yùn)行時(shí)，使得通過(guò)這些指令來(lái)對(duì)一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的處理方法(例如，處理20和/或處理30)進(jìn)行執(zhí)行和/或控制。
[0059]可以實(shí)現(xiàn)這樣的示例實(shí)施例，其中，通信管線410包括基于計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)通道。該數(shù)據(jù)通道可以包括基于UNIX或腳本語(yǔ)言(例如，TCL-TK, Perl, Python)的通道，該通道包括套接字、叉形指令和/或管道中的一個(gè)或多個(gè)。通信管線還可以是基于網(wǎng)絡(luò)的。
[0060]因而，可以實(shí)現(xiàn)這樣的示例實(shí)施例，其中，通信管線410包括一個(gè)或多個(gè)分組交換網(wǎng)絡(luò)。該分組交換網(wǎng)絡(luò)可以包括服務(wù)器程序，該服務(wù)器程序可操作來(lái)將一個(gè)或多個(gè)相關(guān)聯(lián)的客戶端指向ATE裝置。該分組交換網(wǎng)絡(luò)還可以包括客戶端程序(例如，EDA工具401)，該客戶端程序可操作來(lái)與服務(wù)器交換數(shù)據(jù)信號(hào)。
[0061]服務(wù)器程序包括多個(gè)接口，這些接口可操作來(lái)與客戶端程序交換數(shù)據(jù)信號(hào)。舉例來(lái)說(shuō)，ATE裝置420可操作來(lái)將所發(fā)送的設(shè)計(jì)測(cè)試模式轉(zhuǎn)換為測(cè)試模式的可運(yùn)行的實(shí)例或格式，并且通過(guò)該可運(yùn)行的實(shí)例或格式對(duì)多個(gè)電子DUT 499進(jìn)行測(cè)試。在從多個(gè)電子DUT499接收到測(cè)試結(jié)果后，服務(wù)器程序可操作來(lái)將所接收到的測(cè)試結(jié)果返回至客戶端程序(例如，EDA工具401)。
[0062]應(yīng)當(dāng)理解，服務(wù)器程序的操作或客戶端程序的操作是相對(duì)的并且是可互換的。因此，可以實(shí)現(xiàn)這樣的示例實(shí)施例，其中，服務(wù)器程序和客戶端程序能夠選擇性地、可選地或自由地切換角色。
[0063]創(chuàng)建可直接運(yùn)行的測(cè)試模式可以涉及:基于分組化的數(shù)據(jù)信號(hào)的交換，即時(shí)生成參數(shù)化或非參數(shù)化測(cè)試模式中的一個(gè)或多個(gè)，其中，這些測(cè)試模式包括利用客戶端EDA工具401的設(shè)計(jì)測(cè)試模式402。
[0064]對(duì)于傳輸效率和帶寬消耗，EDA工具401可以在將設(shè)計(jì)測(cè)試模式發(fā)送至ATE裝置420之前對(duì)所生成的設(shè)計(jì)測(cè)試模式進(jìn)行壓縮。所發(fā)送的設(shè)計(jì)測(cè)試模式可以在被接收之后或在被即時(shí)轉(zhuǎn)換為可由ATE裝置直接運(yùn)行的測(cè)試模式的格式或?qū)嵗氨粔嚎s。
[0065]因此，本發(fā)明的示例實(shí)施例降低了用于驗(yàn)證電子器件設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)方式的測(cè)試時(shí)間、花費(fèi)和工作量。示例實(shí)施例還流線化、簡(jiǎn)化并且平穩(wěn)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)人員在進(jìn)行開(kāi)發(fā)的同時(shí)測(cè)試其電子器件設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)方式的能力。此外，示例實(shí)施例允許設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)人員創(chuàng)建用于驗(yàn)證同時(shí)期的設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的測(cè)試模式，這些測(cè)試模式可以在多個(gè)電子DUT上基本上即時(shí)地被運(yùn)行。
[0066]因而，針對(duì)用于測(cè)試多個(gè)電子DUT的計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)方法描述了本發(fā)明的示例實(shí)施例。該方法包括利用相關(guān)電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)工具(例如，采用其本機(jī)格式)生成設(shè)計(jì)測(cè)試模式。所生成的設(shè)計(jì)測(cè)試模式通過(guò)通信管線被直接發(fā)送至相關(guān)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)裝置。該ATE裝置可操作來(lái)測(cè)試多個(gè)電子DUT。
[0067]在接收后，ATE將所發(fā)送的設(shè)計(jì)測(cè)試模式轉(zhuǎn)換為可由ATE裝置直接運(yùn)行的測(cè)試模式的格式或?qū)嵗?。ATE裝置基于可運(yùn)行的測(cè)試模式將測(cè)試信號(hào)輸入至多個(gè)電子DUT中的每個(gè)電子DUT。ATE裝置然后從多個(gè)電子DUT中的每個(gè)電子DUT接收基于所輸入的測(cè)試信號(hào)的測(cè)試結(jié)果，并且將所接收的測(cè)試結(jié)果返回至EDA工具，該EDA工具然后可以計(jì)算或處理對(duì)這些測(cè)試結(jié)果的評(píng)估。
[0068]可以實(shí)現(xiàn)這樣的示例實(shí)施例，其中，通信管線包括基于UNIX或腳本語(yǔ)言(例如，TCL-TK,Perl,Python)的通道或者OS。基于UNIX或腳本語(yǔ)言的通道可以包括套接字、叉形指令和/或管道。附加地或可替代地，通信管線包括分組交換網(wǎng)絡(luò)。該分組交換網(wǎng)絡(luò)可以包括服務(wù)器程序和客戶端程序，該服務(wù)器程序可操作來(lái)將一個(gè)或多個(gè)相關(guān)聯(lián)的客戶端指向ATE裝置，該客戶端程序包括EDA工具并且可操作來(lái)與服務(wù)器交換數(shù)據(jù)信號(hào)。
[0069]服務(wù)器程序可以包括多個(gè)接口，這些接口可操作來(lái)與客戶端程序交換數(shù)據(jù)信號(hào)，其中，ATE裝置可操作來(lái)將所發(fā)送的設(shè)計(jì)測(cè)試模式轉(zhuǎn)換為測(cè)試模式的可運(yùn)行實(shí)例。在從多個(gè)電子DUT接收到相應(yīng)的測(cè)試結(jié)果后，服務(wù)器程序可操作來(lái)將所接收到的測(cè)試結(jié)果返回至客戶端程序。
[0070]服務(wù)器程序和客戶端程序可以選擇性地、可選地和/或自由地切換角色。
[0071]創(chuàng)建可直接運(yùn)行的測(cè)試模式可以包括:基于與客戶端交換數(shù)據(jù)信號(hào)，即時(shí)生成參數(shù)化或非參數(shù)化測(cè)試模式中的一個(gè)或多個(gè)。
[0072]計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的處理方法還可以包括定義規(guī)則集(例如，UNIX語(yǔ)法和/或聯(lián)網(wǎng)協(xié)議(例如，TCP/IP))以用于發(fā)送所生成的設(shè)計(jì)測(cè)試模式并且返回所接收的測(cè)試結(jié)果。通信管線被開(kāi)啟，在該通信管線中，根據(jù)所定義的規(guī)則集來(lái)執(zhí)行發(fā)送和接收。
[0073]為傳輸效率或速率并且為節(jié)約帶寬，發(fā)送所生成的設(shè)計(jì)測(cè)試模式可以包括對(duì)所生成的設(shè)計(jì)測(cè)試模式進(jìn)行壓縮。因而，將所發(fā)送的設(shè)計(jì)測(cè)試模式轉(zhuǎn)換為可由ATE裝置直接運(yùn)行的測(cè)試模式的格式或?qū)嵗▽?duì)經(jīng)壓縮的設(shè)計(jì)測(cè)試模式進(jìn)行解壓縮。
[0074]示例實(shí)施例還涉及基于計(jì)算機(jī)的通信或測(cè)試系統(tǒng)，該基于計(jì)算機(jī)的通信或測(cè)試系統(tǒng)包括處理器和非易失性數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)(例如，存儲(chǔ)器、驅(qū)動(dòng)器、寄存器、緩沖器等)。其他示例實(shí)施例也涉及非易失性數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)。非易失性數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)包括被有形存儲(chǔ)于其中的指令，當(dāng)這些指令被一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)處理器運(yùn)行時(shí)，使得這一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行或控制用于測(cè)試多個(gè)電子DUT的處理方法。
[0075]本發(fā)明的示例實(shí)施例明顯地、無(wú)縫地且直接地流線化、簡(jiǎn)化并且平穩(wěn)了設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)人員在進(jìn)行開(kāi)發(fā)的同時(shí)測(cè)試其電子器件設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)方式的能力。設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了對(duì)DUT進(jìn)行的設(shè)計(jì)驗(yàn)證，以及在無(wú)需在重復(fù)的連續(xù)內(nèi)部通信和迭代期間暴露器件特點(diǎn)以做出讓步的情況下對(duì)相應(yīng)的測(cè)試結(jié)進(jìn)行報(bào)告和處理，這可以保護(hù)有價(jià)值的、相關(guān)聯(lián)的知識(shí)產(chǎn)權(quán)。
[0076]而且，測(cè)試用例可以被更快且更容易地提出和更改，因?yàn)橛糜跍y(cè)試的設(shè)計(jì)(DFT)工程可以直接在ATE裝置平臺(tái)上創(chuàng)建并驅(qū)動(dòng)測(cè)試模式，并且可以使用批處理自動(dòng)地對(duì)這些測(cè)試模式進(jìn)行迭代式微調(diào)。因而，消除了基于計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)DFT的用于傳送至ATE裝置的測(cè)試模式創(chuàng)建的延時(shí)和復(fù)雜度。
[0077]本發(fā)明的實(shí)施例可應(yīng)用于利用數(shù)字、混合信號(hào)、射頻(RF)、高速、直流(DC)以及其他測(cè)試用例進(jìn)行的設(shè)計(jì)驗(yàn)證。本文所描述的示例處理方法、系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)介質(zhì)允許對(duì)設(shè)計(jì)理念快速并且低成本地進(jìn)行頻繁驗(yàn)證。因此，可以在電子器件的設(shè)計(jì)流程早期進(jìn)行與DFT工程有關(guān)的對(duì)設(shè)計(jì)缺陷的檢測(cè)或?qū)υO(shè)計(jì)改進(jìn)的提議。改善了對(duì)充足的測(cè)試覆蓋的配設(shè)，并且可以針對(duì)測(cè)試工程高效且迅速地發(fā)布高性能測(cè)試模式，從而可以創(chuàng)建高質(zhì)量、強(qiáng)大的測(cè)試程序。
[0078]這些特征提高了效率，利用這些特征，測(cè)試工程和設(shè)計(jì)工程可以在開(kāi)發(fā)電子器件上進(jìn)行合作，這提高了工程資源管理效率和整體生產(chǎn)力。本發(fā)明的示例實(shí)施例在增加故障覆蓋并降低發(fā)布可能具有未被檢測(cè)到的設(shè)計(jì)缺陷的器件的風(fēng)險(xiǎn)(這可能另外導(dǎo)致后續(xù)的器件可靠性問(wèn)題)的同時(shí)還降低了測(cè)試時(shí)間和開(kāi)銷(xiāo)以及投入市場(chǎng)的時(shí)間。
[0079]因此，本發(fā)明的示例實(shí)施例降低了用于驗(yàn)證電子器件設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)方式的測(cè)試時(shí)間、花費(fèi)和工作量。因而，示例實(shí)施例還流線化、簡(jiǎn)化并且平穩(wěn)了設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)人員在進(jìn)行開(kāi)發(fā)的同時(shí)測(cè)試其電子器件設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)方式的能力。此外，示例實(shí)施例允許設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)人員創(chuàng)建用于驗(yàn)證同時(shí)期的設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的測(cè)試模式，這些測(cè)試模式可以在多個(gè)電子DUT上基本上即時(shí)地被運(yùn)行。
[0080]因此