電子器件的在線設(shè)計驗證的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明的實施例總體涉及設(shè)計并測試電子器件。更具體地，本發(fā)明的示例實施例涉及用于驗證集成電路和其他電子器件的設(shè)計的系統(tǒng)和方法。
【背景技術(shù)】
[0002]自動測試設(shè)備(ATE)包括可操作來在半導(dǎo)體器件(例如，集成電路(IC)芯片)上執(zhí)行高速測試的裝置。該測試被實施以核查存儲器、邏輯和其他IC器件在其開發(fā)、加工、制造和生成過程中以及在其開發(fā)、加工、制造和生成過程之后能正常運轉(zhuǎn)。在其開發(fā)過程中，設(shè)計師、工程師以及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域的其他技術(shù)人員使用電子設(shè)計自動化(EDA)和/或仿真工具來生成在ATE上運行的測試模式。
[0003]測試模式包括具體的數(shù)據(jù)信號序列，ATE 一般將這些具體的數(shù)據(jù)信號序列輸入到多個IC被測器件(DUT)。每個具體的數(shù)據(jù)信號序列被生成以激勵或誘發(fā)來自DUT的特定響應(yīng)輸出，ATE對來自DUT的特定響應(yīng)輸出進行監(jiān)控和評估以表征每個DUT的一個或多個方面或特征。該測試可以包括多個專門生成的測試模式，并且跨多次迭代、重復(fù)和/或生成，基于DUT的設(shè)計，每次迭代、重復(fù)和/或生成具有各種測試重點和測試模式。
[0004]例如，開發(fā)存儲器和其他IC器件可以包括多個EDA階段。初始高級算法和行為合成之后可以是將抽象邏輯語言人工翻譯為邏輯門和/或存儲器單元的離散網(wǎng)表、原理圖捕獲以及布局。然后執(zhí)行以下各項:器件級或“晶體管”、布爾級以及高級架構(gòu)仿真階段，計時，硬件和內(nèi)部電路仿真，計算機輔助設(shè)計(CAD)仿真，之后是分析、功能驗證以及操作評估。
[0005]在開發(fā)存儲器和其他IC器件時，設(shè)計師使用EDA或仿真工具來生成檢查特定器件的特定特征、特點或行為所需要的特定測試模型，并且由設(shè)計組在文件服務(wù)器中存儲與所生成的測試模式相關(guān)聯(lián)的文件。在某些時候，存儲在文件服務(wù)器中的設(shè)計師的測試模式被傳送至測試工程組中的工程師以供驗證，其中，由設(shè)計師提出并存儲的測試模式被轉(zhuǎn)換為格式，這些格式后續(xù)被ATE讀取。
[0006]例如，圖1描繪出通過常規(guī)方法傳送測試模式的典型途徑10。在合成存儲器和其他IC器件的高級行為和算法設(shè)計后，設(shè)計師將與高級設(shè)計相關(guān)聯(lián)的抽象邏輯語言翻譯為離散的門和單元的網(wǎng)表以及相關(guān)的原理圖、布局和/或其他表示方法，并且開發(fā)用于驗證所翻譯的設(shè)計的測試模式。在這些開發(fā)階段期間，由設(shè)計師開發(fā)的與各種EDA相關(guān)的文件通常被存儲在設(shè)計組本地的設(shè)計數(shù)據(jù)庫11中，并且從設(shè)計數(shù)據(jù)庫11中訪問這些與各種EDA相關(guān)的文件。
[0007]這些文件可以包括用于對設(shè)計進行抽象和翻譯的各種格式。隨著持續(xù)進行設(shè)計開發(fā)和求精，存儲在這些文件中的數(shù)據(jù)量增長并且可以演變?yōu)榉种?、序列和版本。為實現(xiàn)對設(shè)計的驗證，與EDA相關(guān)的文件通常被傳送至工程數(shù)據(jù)庫12。于是工程師可能面對從數(shù)據(jù)庫11導(dǎo)出的采用各種格式的大量文件。這些文件格式可以包括以圖形語言(例如，GUGDSII等)、源代碼(例如，W等)、硬件描述性語言(例如，Verilog和相關(guān)聯(lián)的語言(例如，VCD、VHDL或“VHSIC-HDL”、HDL等))以及測試接口語言(例如，STIL)寫入的數(shù)據(jù)。
[0008]工程師和相關(guān)聯(lián)的測試技術(shù)人員訪問存儲于工程數(shù)據(jù)庫12中的文件，并且可以解譯或使用這些數(shù)據(jù)進行編譯或生成任意數(shù)目的自動測試文件或“ATE”文件，這些文件能夠由ATE環(huán)境進行讀取，并且被存儲在測試數(shù)據(jù)庫13中。ATE裝置15可操作來從數(shù)據(jù)庫13訪問所存儲的ATE文件，并且在多個相似的DUT上可編程地控制或運行單個或一系列相關(guān)聯(lián)的測試模式序列或群組。在ATE 15在DUT 14上運行測試后，與測試結(jié)果相關(guān)的數(shù)據(jù)16被返回至設(shè)計數(shù)據(jù)庫11，在設(shè)計數(shù)據(jù)庫11中，數(shù)據(jù)16可以被訪問并被評估來完成一次、單次迭代。
[0009]在如上討論的所生成、所存儲、所傳遞、所轉(zhuǎn)換的每件事物現(xiàn)在平穩(wěn)平穩(wěn)地并且根據(jù)計劃、提案和預(yù)期來運行的情況下，所轉(zhuǎn)換的測試模式然后可以被下載至ATE的測試硬件部件中，隨后被讀取和運行。然后測試結(jié)果數(shù)據(jù)可以被發(fā)送回設(shè)計師以供解譯和評估，于是完成了用于調(diào)試測試模式和/或基于該測試模式的DUT的單次迭代。此時，用于驗證IC設(shè)計的常規(guī)處理循環(huán)返回至起始點。
[0010]在設(shè)計組的起始點處，用于開發(fā)IC器件的處理循環(huán)然后開始后續(xù)的迭代。該常規(guī)方法需要在線處理和離線處理二者，并且該常規(guī)方法的重復(fù)迭代特點向IC器件設(shè)計的開發(fā)過程添加了顯著延時(幾天至幾周)和成本，并且使得常規(guī)處理效率低下并且容易產(chǎn)生誤差。而且，(例如，跨潛在網(wǎng)絡(luò)或?qū)嶓w邊界)在半導(dǎo)體技術(shù)人員的各個工作組之間來回重復(fù)發(fā)送測試模式和測試結(jié)果存在使得設(shè)計安全性和相關(guān)的知識產(chǎn)權(quán)可能大打折扣的多個階段或機會。
[0011]本部分所描述的方法可以但不一定是先前設(shè)想或從事的。除非另有指示，否則所提及的方法(或與其相關(guān)地標(biāo)識的問題)不應(yīng)當(dāng)僅通過被包含在本部分中而被假設(shè)為承認(rèn)或認(rèn)為屬于任何所謂現(xiàn)有技術(shù)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0012]降低用于驗證電子器件設(shè)計實現(xiàn)方式的測試時間、花費和工作量將是有用的。因此，流線化、簡化并且平穩(wěn)設(shè)計實現(xiàn)人員在進行開發(fā)的同時測試其電子器件設(shè)計實現(xiàn)方式的能力也將十分有用。此外，設(shè)計實現(xiàn)人員精制(craft)用于驗證同時期的設(shè)計開發(fā)的測試模式也十分有用，這些測試模式可以在多個電子被測器件(DUT)上基本上即時(on-the-fly)地被運行。
[0013]本發(fā)明的示例實施例降低了用于驗證電子器件設(shè)計實現(xiàn)方式的測試時間、花費和工作量。示例實施例還流線化、簡化并且平穩(wěn)了設(shè)計實現(xiàn)人員在進行開發(fā)的同時測試其電子器件設(shè)計實現(xiàn)方式的能力。此外，示例實施例允許設(shè)計實現(xiàn)人員創(chuàng)建用于驗證同時期的設(shè)計開發(fā)的測試模式，這些測試模式可以在多個電子DUT上基本上即時地被運行。
[0014]本發(fā)明的示例實施例涉及用于測試多個電子DUT的計算機實現(xiàn)的方法。該方法包括利用相關(guān)電子設(shè)計自動化(EDA)工具(例如，采用其本機格式)生成設(shè)計測試模式。因此，命令和/或指令還可以被發(fā)送至ATE，可以在設(shè)計環(huán)境內(nèi)利用這些命令和/或指令控制ATEo所生成的設(shè)計測試模式通過通信管線被直接發(fā)送至相關(guān)自動測試設(shè)備(ATE)裝置。該ATE裝置可操作來測試多個電子DUT。
[0015]在接收后，ATE運行設(shè)計相關(guān)的命令、實現(xiàn)設(shè)計相關(guān)的指令和/或?qū)⑺l(fā)送的設(shè)計測試模式轉(zhuǎn)換為可由ATE裝置直接運行的測試模式的格式或?qū)嵗?。ATE裝置基于可運行的測試模式將測試信號輸入至多個電子DUT中的每個電子DUT。ATE裝置然后從多個電子DUT中的每個電子DUT接收基于所輸入的測試信號的測試結(jié)果，并且將所接收的測試結(jié)果返回至EDA工具，該EDA工具然后可以計算或處理對這些測試結(jié)果的評估。
[0016]可以實現(xiàn)這樣的示例實施例，其中，通信管線包括基于UNIX的通道或支持計算機之間進行數(shù)據(jù)交換的操作系統(tǒng)(包括諸如TCL-TK、Perl, Python等之類的腳本語言)。基于UNIX的通道可以包括套接字、叉形指令(fork)和/或管道(pipe)。通信管線可以包括分組交換網(wǎng)絡(luò)。分組交換網(wǎng)絡(luò)可以包括服務(wù)器程序和客戶端程序，該服務(wù)器程序可操作來將一個或多個相關(guān)聯(lián)的客戶端指向ATE裝置，客戶端程序包括EDA工具并且可操作來與服務(wù)器交換數(shù)據(jù)信號。
[0017]服務(wù)器程序可以包括多個接口，這些接口可操作來與客戶端程序交換數(shù)據(jù)信號，其中，ATE裝置可操作來將所發(fā)送的設(shè)計測試模式轉(zhuǎn)換為測試模式的可運行實例。在從多個電子DUT接收到相應(yīng)的測試結(jié)果后，服務(wù)器程序可操作來將所接收的測試結(jié)果返回至客戶端程序。
[0018]服務(wù)器程序的操作或客戶端程序的操作是相對的并且是可互換的。因此，服務(wù)器程序和客戶端程序可以選擇性地、可選地和/或自由地切換角色。
[0019]創(chuàng)建可直接運行的測試模式可以包括:基于與客戶端交換數(shù)據(jù)信號，即時生成參數(shù)化測試模式或非參數(shù)化測試模式中的一個或多個。
[0020]計算機實現(xiàn)的處理還可以包括針對操作系統(tǒng)(OS)定義規(guī)則集(例如，UNIX語法、與(例如，TCL-TK、Perl、Python的)腳本語言相關(guān)聯(lián)的語法和/或聯(lián)網(wǎng)協(xié)議(例如，TCP/IP))以用于發(fā)送所生成的設(shè)計測試模式并且返回所接收的測試結(jié)果。通信管線被開啟，在該通信管線中、根據(jù)所定義的規(guī)則集來執(zhí)行發(fā)送和接收。
[0021]為傳輸效率或速率并且為節(jié)約帶寬，發(fā)送所生成的設(shè)計測試模式可以包括對所生成的設(shè)計測試模式進行壓縮。因而，將所發(fā)送的設(shè)計測試模式轉(zhuǎn)換為可由ATE裝置直接運行的測試模式的格式或?qū)嵗婕皩?jīng)壓縮的設(shè)計測試模式進行解壓縮。
[0022]示例實施例還涉及基于計算機的通信或測試系統(tǒng)，基于計算機的通信或測試系統(tǒng)包括處理器和非易失性數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)(例如，存儲器、驅(qū)動器、寄存器、緩沖器等)。其他示例實施例也涉及非易失性數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)。非易失性數(shù)據(jù)存儲介質(zhì)包括被有形地存儲于其中的指令，當(dāng)這些指令被一個或多個計算機系統(tǒng)處理器運行時，使得這一個或多個處理器執(zhí)行或控制用于測試多個電子DUT的處理方法。
[0023]因此，本發(fā)明的示例實施例降低了用于驗證電子器件設(shè)計實現(xiàn)方式的測試時間、花費和工作量。示例實施例還流線化、簡化并且平穩(wěn)了設(shè)計實現(xiàn)人員在進行開發(fā)的同時測試其電子器件設(shè)計實現(xiàn)方式的能力。此外，示例實施例允許設(shè)計實現(xiàn)人員創(chuàng)建用于驗證同時期的設(shè)計開發(fā)的測試模式，這些測試模式可以在多個電子DUT上基本上即時地被運行。
【附圖說明】