專利名稱:鍵盤測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種鍵盤測試裝置,尤其涉及一種自動測試電子設(shè)備鍵盤按鍵壓按及燈號顯示功能之裝置。
鍵盤廣泛使用于各種電子設(shè)備中,以作為電子設(shè)備之控制命令或資料輸入的周邊設(shè)備,例如常見之個人電腦、工業(yè)控制器、收銀機(jī)… …等等具信息輸入功能的電子設(shè)備,因此,鍵盤之品質(zhì)優(yōu)劣及其功能是否可正常操作,將直接影響該電子設(shè)備之操作穩(wěn)定性,又,在鍵盤中最為直接的操作單元件為按鍵,故按鍵的測試對于鍵盤而言,實(shí)為重要的一環(huán)。
傳統(tǒng)上,一般對于上述鍵盤按鍵的測試,是以人工方式來測試,即以人工方式逐一壓按鍵盤中每一個按鍵,但費(fèi)時費(fèi)工,且其測試效率較低;再者,以人工逐一壓按按鍵的測試方式,由于壓按的力度大小不一,或因按鍵鍵帽表面壓按受力不均,極易產(chǎn)生誤判之情況,將使該鍵盤之測試品質(zhì)更加惡壞,況且,在測試更多種不同型態(tài)鍵盤之狀態(tài)下,諸如機(jī)械接點(diǎn)式鍵盤及電容薄膜式鍵盤,其兩者壓按壓力間明顯有差距,以公知的人工一逐一按測試,將使測試者因指尖壓按力度需隨時調(diào)節(jié)變動而倍感艱辛,同時,在測試過程中,亦極易因壓力變化過大,而使誤判的機(jī)率大幅增加,嚴(yán)重影響鍵盤產(chǎn)品的品質(zhì)管理,這乃是目前所極待解的主要課題。
本發(fā)明的目的在于提供一種鍵盤測試裝置,它能節(jié)省鍵盤測試的人力及工時,提高鍵盤的測試效率,并且使各按鍵壓按測試的力度均勻,壓按鍵盤之力量可精確調(diào)整控制,降低誤判機(jī)率,以提高鍵盤之測試品質(zhì)。
為達(dá)上述目的,本發(fā)明一種鍵盤測試裝置,其特征在于,它包含一對夾持元件,它分置于兩端,該兩夾持元件間可供容置待測鍵盤;一定位裝置,它用以夾置固定該置于夾持元件上的待測鍵盤;一燈號測試裝置,設(shè)于兩夾持元件間之適當(dāng)位置,具有若干個光感測器,以由光感測器感測該待測鍵盤的顯示燈是否顯示正常;一壓按測試裝置,它包括有若干系列伸縮壓按元件,每一伸縮壓按元件具有一動作桿,可受該伸縮壓按元件驅(qū)動作伸或縮之動作,該動作桿末端則抵觸于該待測鍵盤之按鍵上,以配合該動作桿之伸或縮之動作來壓按測試該待測鍵盤之按鍵;一位移機(jī)構(gòu),它具有一移動軌道,與該待測鍵盤平行,并得作反復(fù)往、返之動作,并供該壓按測試裝置連結(jié),以使該壓按測試裝置得以沿待測鍵盤逐一平行位移,以使該壓按測試裝置之每一壓按元件之動作桿末端之壓按元件,得以逐一對待測試鍵盤之每一按鍵作壓按測試;一鍵盤信號連結(jié)裝置,它用以連結(jié)上述待測鍵盤之信號線纜,以檢出其按鍵壓按信號;一判斷控制機(jī)構(gòu),它接受該燈號測試裝置之待測鍵盤顯示燈測試信號及鍵盤信號連結(jié)裝置之按鍵壓按測試信號,以判讀該待測鍵盤之顯示燈及按鍵壓按是否動作正常;一警示裝置,它受判讀控制機(jī)構(gòu)之驅(qū)動,以作該待測鍵盤之顯示燈及按鍵動作判讀異常之警示。
由于采用了上述的技術(shù)解決方案,以自動逐一測試每一鍵盤的按鍵壓按及燈號顯示,節(jié)省鍵盤測試的人力及工時,進(jìn)而提高鍵盤的測試效率,并且該測試壓按鍵盤的輸出壓按力量一致,以使各按鍵壓按測試的力度均勻,降低誤判機(jī)率,以提高鍵盤之測試品質(zhì),同時該測試壓按鍵盤之力量可精確調(diào)整控制,以符合不同壓按力度的鍵盤測試,使電子設(shè)備之鍵盤產(chǎn)品,在出廠前的測試效率及品質(zhì)得以進(jìn)一步提高。
下面結(jié)合本發(fā)明的較佳實(shí)施例及附圖對本發(fā)明作詳細(xì)構(gòu)造及實(shí)際操作的說明。
圖1是本發(fā)明鍵盤測試裝置的立體圖;圖2是本發(fā)明之鍵盤測試裝置的立體分解結(jié)構(gòu)圖;圖3是主視圖,顯示本發(fā)明鍵盤測試裝置中,該鍵盤置于一對夾持元件間,及受定位裝置下壓定位的狀態(tài);圖4是一局部分解圖,顯示本創(chuàng)作中的壓按測試機(jī)構(gòu)之結(jié)構(gòu);圖5是本發(fā)明鍵盤測試裝置的較佳應(yīng)用例圖;圖6是圖5應(yīng)用例中待測鍵盤的實(shí)施例圖;圖7是一局部側(cè)視圖,顯示圖5之應(yīng)用例中,該壓按測試裝置壓按測試鍵盤按鍵之狀態(tài);圖8為一局部正視圖,顯示本發(fā)明中壓按測試機(jī)構(gòu)經(jīng)一測壓器測壓調(diào)整其壓按力度之狀態(tài)。
請參圖1~圖3所示,本發(fā)明鍵盤測試裝置100,包含一機(jī)殼10,用以圍覆整個裝置,其型態(tài)不拘,于前端具有一開口11,且前端之底部,至少設(shè)有一固定軌道12,以供一對夾持元件20及21分別通過螺釘A固定于兩側(cè),該夾持元件20及21之?dāng)嗝嫘螤畈幌?,它配合待測鍵盤B(參閱圖3及圖6所示)斷面形狀而定,且其兩者間之距離亦配合該待測鍵盤B之長度而定,故可經(jīng)由調(diào)整該夾持元件20及21,及其兩者間之距離,而使本發(fā)明之鍵盤測試裝置100應(yīng)用于各種型態(tài)大小之待測鍵盤B中。
至少一定位裝置30,其型態(tài)不拘,在本發(fā)明所列舉之實(shí)施例為氣壓缸元件型態(tài)所構(gòu)成,設(shè)于機(jī)殼10之上方,在本發(fā)明中所列舉之實(shí)施例,連結(jié)固定于一L狀之固定軌道30′上,該固定軌道30′連結(jié)固定于上述機(jī)殼10上,且該定位裝置30之固定位置,亦可隨上述待測鍵盤B之型態(tài)不同,而略作水平位置之固定位置調(diào)整,并且,于該定位裝置30上,設(shè)有一下壓桿31及壓盤32,以于該待測鍵盤B夾置于上述之夾持元件20及21間時,由上而下動作壓置固定該待測鍵盤B,其詳細(xì)之感測及動作狀態(tài),在以下文中會有詳盡之說明,容后陳述。
一燈號測試裝置40,它連結(jié)于該上述兩夾持元件20及21間之適當(dāng)位置處,其型態(tài)及大小不拘,在本發(fā)明所列舉的實(shí)施例為多燈號測試之型態(tài),即沒有若干個光感測器41,以供測試上述待測鍵盤B中之各顯示燈B1(請參閱圖3-圖6)是否正常顯示,而該光感測器41之排列型態(tài)及位置亦不加設(shè)限,可隨該待測鍵盤B之型態(tài)變化而定,且該燈號測試裝置40整體之固定位置,亦可隨該待測鍵盤B之顯示燈B1型態(tài)不同而可加以調(diào)整。該燈號測試裝置40上,還設(shè)有一感測器42,其型態(tài)不拘,可為光電開關(guān)、近接開關(guān)、微動開關(guān)等具位置感測之元件構(gòu)成,以感測上述待測鍵盤B是否置放于該夾持元件20及21間,以避免外界光源照射使該光感測器41形成誤動作,同時亦可控制該定位裝置30于該待測B確實(shí)置放于該兩夾持元件20及21后,再動作夾固該待測鍵盤B。
請再配合圖4所示,一壓按測試裝置50,它包括若干系列之伸縮壓按元件51,其型態(tài)不拘,在本發(fā)明所列舉的實(shí)施例為氣壓缸型態(tài),并具有一動作桿511,可受控作伸或縮之運(yùn)動,其末端并套置有一彈性元件512及壓按元件513,以該彈性元件512于壓按元件513隨動作桿511于伸、縮運(yùn)動時,具有彈性阻尼之效果,即是由調(diào)整彈性元件512來改變該壓按元件513之壓按力度大小,且該伸縮壓按元件51上還結(jié)合有一固定座514,于一側(cè)設(shè)有一嵌槽515,嵌槽515內(nèi)設(shè)有一鎖合孔516。
該壓按測試裝置50并包括一定位座52,其形狀不拘,在本發(fā)明所列舉之狀為“L”狀,并且有一垂直部521,設(shè)有一長孔522,以使上述各種縮壓元件51之固定座514內(nèi)之鎖合孔516可通過螺釘A及墊圈C分別依序穿鎖固定于該垂直部521上,使其成為上、下一系列排序固定之狀態(tài)(如圖3所示),而該定應(yīng)座52并另具有一水平部523,設(shè)有若干固定長孔524。一滑動座53,于前、后端各設(shè)有一連結(jié)部531,內(nèi)設(shè)有一凹槽532,以該前端之凹槽532供上述之定位座52之水平部523之固定長孔524吻對后,分別通過一螺釘A及墊圈C加以鎖合,使該定位座52可固定于該滑動座53上,且該定位座52亦可隨待測鍵盤B之型態(tài)不同,而作前后固定位置之微調(diào)。
一位移機(jī)構(gòu)60,它設(shè)于夾持元件20及21后方之適當(dāng)位置處,并具有一驅(qū)動馬達(dá)61,連結(jié)以一移動軌道62,以驅(qū)動控制該移動軌道62作來回之往返運(yùn)動,且該移動軌道62之型態(tài)不拘,可為皮帶型態(tài)構(gòu)成,與該待測鍵盤B呈平行狀態(tài),以供與上述滑動座53之連結(jié)部531相為連結(jié),以帶動該滑動座53于該移動軌道62上作來回往、返之運(yùn)動。
一鍵盤信號連結(jié)裝置70,固定連結(jié)于上述固定軌道12上,并具有若干連結(jié)插孔71、72及73,以分別供不同型態(tài)之待測鍵盤B之信號線纜接頭(圖未顯示)來連接,例如ISA型態(tài)鍵盤或USB型態(tài)鍵盤,以將待測鍵盤B之按鍵B2(請參閱圖6所示)壓按信號引接至一判讀控制機(jī)構(gòu)80上作判讀。
上述之判讀控制機(jī)構(gòu)80,其型態(tài)不拘,可為PLC可程式控制器或PC個人電腦型態(tài)構(gòu)成,分別接受來自上述燈號測試裝置40所送出之燈號測試信號及鍵盤信號連結(jié)裝置70所送出之按鍵壓按測試信號,以判讀該待測鍵盤B之各顯示燈B1是否正常點(diǎn)亮,及各按鍵B2是否皆可正常壓按操作,并送出正確之字碼,并于異常時送出一驅(qū)動信號給一警示裝置90發(fā)出警訊。上述之判讀控制機(jī)構(gòu)80系具有控制上述壓按測試裝置50及位移機(jī)構(gòu)60之動作。
上述警示裝置90,其型態(tài)不拘,在本發(fā)明中所列舉之實(shí)施例為蜂鳴器型態(tài)所構(gòu)成,以接受該判讀控制器80之控制,而作待測鍵盤B測試結(jié)果異常之警示。
請再配合圖5及圖6所示,本發(fā)明鍵盤測試裝置100,于實(shí)際應(yīng)用上之操作狀態(tài),該待測鍵盤B之型態(tài)不拘,即電子設(shè)備之鍵盤,并非以圖6所示之待測鍵盤B型態(tài)為限,于操作上,即將如圖6所示之待測鍵盤B置于該夾持元件20及21間,使該燈號測試裝置40之感測器42感測到待測鍵盤B已置放于定位,則使該定位裝置30動作,將待測鍵盤30夾持固定,并使該燈號測試裝置40先執(zhí)行測試動作,即針對該待測鍵盤B中之顯示燈B1先作點(diǎn)亮顯示之測試,若此時發(fā)生異?,F(xiàn)象,則不再繼續(xù)執(zhí)行下一步驟之按鍵B2之測試動作,由該判讀控制機(jī)構(gòu)80直接發(fā)出警示信號驅(qū)動警示裝置90動作,產(chǎn)生警報聲響,通知人員作故障篩除,并可配合一對狀態(tài)顯示燈D1及D2顯示其故障或正常狀態(tài)。
請再參閱圖7所示,它為本發(fā)明鍵盤測試裝置100進(jìn)行待測鍵盤B之各按鍵B2測試狀態(tài),即當(dāng)上述圖5所示之操作狀態(tài)中,該燈號測試裝置40完成待測鍵盤B之顯示燈B1之測試正常無異狀后,上述之壓按測試裝置50中之各伸縮壓按元件51開始動作執(zhí)行該待測鍵盤B之按鍵B2之壓按測試,使該動作桿511未端之壓按元件513逐一碰觸壓按該待測鍵盤B上之按鍵B2,并由該位移機(jī)構(gòu)60帶動該壓按測試裝置50沿該移動軌道62橫移,以逐步針對該待測鍵盤B中之所有按鍵B2加以壓按測試,并將測試信號送至該判讀控制機(jī)構(gòu)80,若有任何一按鍵B2異?;虿徽V畨喊葱盘枺瑒t驅(qū)動該警示裝置90發(fā)出警示聲響,并立即停止測試動作,而該動作異?;驂喊床僮鞑涣贾存IB2資料將被立刻記錄于該判讀控制機(jī)構(gòu)80中,為可被讀取之狀態(tài),以利后續(xù)之檢修作業(yè),可達(dá)到本發(fā)明自動測試鍵盤之功效。
請再配合圖8所示,本發(fā)明鍵盤測試裝置100中,該壓按測試裝置50中之各伸縮壓按元件51,該動作桿511末端之壓按元件513之壓按壓力測試狀態(tài),即以一壓力計200之觸針210逐一壓觸每一壓按元件513,使其壓力值被顯示于該壓力計200上,以供隨時調(diào)校各伸縮壓按元件51之壓按元件513之伸縮壓按力度為一致均勻,使該按鍵B2壓按測試時,不致形成誤判;另外,在于對不同型態(tài)性質(zhì)之鍵盤,如機(jī)械接點(diǎn)式按鍵之鍵盤或電容薄膜式按鍵之鍵盤作測試時,可針對該待測鍵盤B之按鍵B2不同之壓按力度需求,予以調(diào)整或更換該伸縮壓按元件51之動作桿511上之彈性元件512,使該壓按元件513壓按于該待測鍵盤B之按鍵B2之壓按力度可為適當(dāng),使該按鍵B2之壓按測試結(jié)果更為精確,以降低誤判之機(jī)率。
由以上圖1~圖8所示本發(fā)明測試裝置100之整體結(jié)構(gòu)及操作說明,它顯示出其創(chuàng)作精神乃是在于創(chuàng)作一個自動測試鍵盤及取代人工手指壓按測試鍵盤之裝置,使電子設(shè)備之鍵盤產(chǎn)品,在出廠前的測試效率及品質(zhì)得以進(jìn)一步提升。
權(quán)利要求
1.一種鍵盤測試裝置,其特征在于,它包含一對夾持元件,它分置于兩端,該兩夾持元件間可供容置待測鍵盤;一定位裝置,它用以夾置固定該置于夾持元件上的待測鍵盤;一燈號測試裝置,設(shè)于兩夾持元件間之適當(dāng)位置,具有若干個光感測器,以由光感測器感測該待測鍵盤的顯示燈是否顯示正常;一壓按測試裝置,它包括有若干系列伸縮壓按元件,每一伸縮壓按元件具有一動作桿,可受該伸縮壓按元件驅(qū)動作伸或縮之動作,該動作桿末端則抵觸于該待測鍵盤之按鍵上,以配合該動作桿之伸或縮之動作來壓按測試該待測鍵盤之按鍵;一位移機(jī)構(gòu),它具有一移動軌道,與該待測鍵盤平行,并得作反復(fù)往、返之動作,并供該壓按測試裝置連結(jié),以使該壓按測試裝置得以沿待測鍵盤逐一平行位移,以使該壓按測試裝置之每一壓按元件之動作桿末端之壓按元件,得以逐一對待測試鍵盤之每一按鍵作壓按測試;一鍵盤信號連結(jié)裝置,它用以連結(jié)上述待測鍵盤之信號線纜,以檢出其按鍵壓按信號;一判斷控制機(jī)構(gòu),它接受該燈號測試裝置之待測鍵盤顯示燈測試信號及鍵盤信號連結(jié)裝置之按鍵壓按測試信號,以判讀該待測鍵盤之顯示燈及按鍵壓按是否動作正常;一警示裝置,它受判讀控制機(jī)構(gòu)之驅(qū)動,以作該待測鍵盤之顯示燈及按鍵動作判讀異常之警示。
2.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該夾持元件、定位裝置、燈號測試裝置、壓按測試裝置、位移機(jī)構(gòu)、鍵盤信號連結(jié)裝置、判讀控制機(jī)構(gòu)及警示裝置,受一機(jī)殼圍覆于內(nèi)。
3.如權(quán)利要求2所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該機(jī)殼前端具有一開口。
4.如權(quán)利要求2所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該機(jī)殼前端底部設(shè)有一固定軌道。
5.如權(quán)利要求1、4所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該一對夾持元件及燈號測試裝置鎖固于該固定軌道中。
6.如權(quán)利要求2所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該機(jī)殼內(nèi)設(shè)有一L形的固定軌道。
7.如權(quán)利要求1、6所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該定位裝置連結(jié)于該L形的固定軌道上。
8.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該定位裝置具有一下壓桿及壓盤,以由上而下壓置固定該待測鍵盤。
9.如權(quán)利要求1、8項(xiàng)所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該定位裝置為氣壓缸構(gòu)成。
10.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該燈號測試裝置包括有一感測器,以感測該待測鍵盤是否置于兩夾持元件間。
11.如權(quán)利要求1、10所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該感測器依感測待鍵盤是否置放,以控制該定位裝置對待測鍵盤作定位固定。
12.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該壓按測試裝置的伸縮壓按元件的動作桿上套置有一彈性元件。
13.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該壓按測試裝置的伸縮壓按元件上連結(jié)有一固定座。
14.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該壓按測試裝置具有一L狀的定位座。
15.如權(quán)利要求14所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該定位座具有一垂直部,設(shè)有一長孔。
16.如權(quán)利要求13、15所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該伸縮壓按元件的固定座鎖固于該定位座之垂直部的長孔。
17.如權(quán)利要求14所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該定位座具有一水平部。
18.如權(quán)利要求17所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該定位座的水平部,它與一滑動座鎖合。
19.如權(quán)利要求1、17所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該滑動座與該位移機(jī)構(gòu)的移動軌道相連結(jié)。
20.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該位移機(jī)構(gòu)具有一驅(qū)動馬達(dá),以帶動該移動軌道移動。
21.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該鍵盤信號連結(jié)裝置包括有若干個連結(jié)插孔,以連結(jié)不同型態(tài)的待測鍵盤插頭。
22.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該判讀控制機(jī)構(gòu)為PLC可程式控制器構(gòu)成。
23.如權(quán)利要求1所述之鍵盤測試裝置,其特征在于,該判讀控制機(jī)構(gòu)為PC個人電腦。
24.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試裝置,其特征在于,該警示裝置為蜂鳴器。
全文摘要
一種鍵盤測試裝置,它包括一對夾持元件及至少一定位裝置;一燈號測試裝置,用以測試該鍵盤中之燈號顯示狀態(tài);一壓按測試裝置,具有系列伸縮壓按元件,以該動作桿末端接觸于待測鍵盤之按鍵,以伸縮動作壓按按鍵,并以一位移機(jī)構(gòu)來帶動該壓按測試裝置平移,以依序移動壓按所有的按鍵,再由一鍵盤信號連結(jié)裝置,連結(jié)該按鍵壓按信號至一判讀控制機(jī)構(gòu),以判讀燈號及按鍵壓按信號是否正確,并由一警示裝置于異常時發(fā)出警訊,以構(gòu)成一自動測試鍵盤之裝置。
文檔編號G06F3/023GK1258034SQ98125389
公開日2000年6月28日 申請日期1998年12月18日 優(yōu)先權(quán)日1998年12月18日
發(fā)明者范成青 申請人:英群企業(yè)股份有限公司