測(cè)試系統(tǒng)及方法
【專利摘要】一種測(cè)試系統(tǒng)，用于測(cè)試電子設(shè)備的性能，該測(cè)試系統(tǒng)包括存儲(chǔ)單元和顯示單元，所述存儲(chǔ)單元用于存儲(chǔ)測(cè)試表格，其中測(cè)試表格記錄至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目以及與每一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目相對(duì)應(yīng)的參考值；所述測(cè)試系統(tǒng)還包括：用于根據(jù)測(cè)試表格記錄的測(cè)試項(xiàng)目獲取電子設(shè)備相應(yīng)的參數(shù)值的參數(shù)值獲取單元；用于判斷獲取的參數(shù)值是否與相應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目的參考值相匹配的判斷單元；以及用于控制所述顯示單元顯示所述電子設(shè)備的測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的參數(shù)值及判斷結(jié)果的控制單元。本發(fā)明還提供一種測(cè)試方法。
【專利說明】測(cè)試系統(tǒng)及方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測(cè)試系統(tǒng)及方法，尤其涉及一種自動(dòng)獲取電子設(shè)備多個(gè)性能參數(shù)的測(cè)試系統(tǒng)及方法。

【背景技術(shù)】
[0002]在目前電子設(shè)備的生產(chǎn)過程中，常常需要獲取電子設(shè)備工作的各項(xiàng)參數(shù)并判斷各項(xiàng)參數(shù)是否合格，以測(cè)試電子設(shè)備的工作是否正常。而目前的測(cè)試過程較為繁瑣，需要由用戶依次輸入相應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目并進(jìn)行參數(shù)判斷。以光碟播放裝置為例，當(dāng)需要測(cè)試光碟播放裝置的讀碟大小時(shí)，則用戶需要先輸入讀碟大小測(cè)試項(xiàng)目以控制測(cè)試裝置獲取碟片大小，再由用戶判斷該獲取的參數(shù)(例如碟片大小)是否處于正常規(guī)格范圍內(nèi)，然后再依次進(jìn)行其他參數(shù)的判斷。如此通過人工輸入的方式來測(cè)試電子設(shè)備，不僅需要消耗人力，而且需要花費(fèi)較長(zhǎng)的時(shí)間，不利于生產(chǎn)效率的提高及生產(chǎn)過程的自動(dòng)化，產(chǎn)品成本難以降低。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]有鑒于此，有必要提供一種自動(dòng)獲取電子設(shè)備多個(gè)性能參數(shù)的測(cè)試系統(tǒng)。
[0004]另外，還有必要提供一種自動(dòng)獲取電子設(shè)備多個(gè)性能參數(shù)的測(cè)試方法。
[0005]一種測(cè)試系統(tǒng)，用于測(cè)試電子設(shè)備的性能，該測(cè)試系統(tǒng)包括存儲(chǔ)單元和顯示單元，所述存儲(chǔ)單元用于存儲(chǔ)測(cè)試表格，其中測(cè)試表格記錄至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目以及與每一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目相對(duì)應(yīng)的參考值；所述測(cè)試系統(tǒng)還包括:
用于根據(jù)測(cè)試表格記錄的測(cè)試項(xiàng)目獲取電子設(shè)備相應(yīng)的參數(shù)值的參數(shù)值獲取單元；用于判斷獲取的參數(shù)值是否與相應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目的參考值相匹配的判斷單元；以及用于控制所述顯示單元顯示所述電子設(shè)備的測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的參數(shù)值及判斷結(jié)果的控制單元。
[0006]一種測(cè)試方法，用于測(cè)試系統(tǒng)以測(cè)試電子設(shè)備的性能，所述測(cè)試方法包括步驟: 提供一個(gè)測(cè)試表格，其中測(cè)試表格記錄至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目以及與每一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目相對(duì)應(yīng)的參考值；
根據(jù)測(cè)試表格記錄的測(cè)試項(xiàng)目獲取電子設(shè)備相應(yīng)的參數(shù)值；
判斷獲取的參數(shù)值是否與相應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目的參考值相匹配；以及顯示所述電子設(shè)備的測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的參數(shù)值及判斷結(jié)果。
[0007]上述測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法，在測(cè)試電子設(shè)備性能的過程中可根據(jù)預(yù)置的測(cè)試表格中記錄的測(cè)試項(xiàng)目自動(dòng)獲取待測(cè)電子設(shè)備的各項(xiàng)性能參數(shù)，從而縮短了測(cè)試時(shí)間，提高了工作效率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1為本發(fā)明一較佳實(shí)施方式的測(cè)試系統(tǒng)的功能模塊圖。
[0009]圖2為本發(fā)明一較佳實(shí)施方式的測(cè)試方法的流程圖。
[0010]主要元件符號(hào)說明

【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)試系統(tǒng)，用于測(cè)試電子設(shè)備的性能，該測(cè)試系統(tǒng)包括存儲(chǔ)單元和顯示單元，其特征在于:所述存儲(chǔ)單元用于存儲(chǔ)測(cè)試表格，其中測(cè)試表格記錄至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目以及與每一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目相對(duì)應(yīng)的參考值；所述測(cè)試系統(tǒng)還包括: 用于根據(jù)測(cè)試表格記錄的測(cè)試項(xiàng)目獲取電子設(shè)備相應(yīng)的參數(shù)值的參數(shù)值獲取單元；用于判斷獲取的參數(shù)值是否與相應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目的參考值相匹配的判斷單元；以及用于控制所述顯示單元顯示所述電子設(shè)備的測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的參數(shù)值及判斷結(jié)果的控制單元。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試系統(tǒng)還包括測(cè)試表格編輯單元，所述測(cè)試表格編輯單元用于響應(yīng)用戶的輸入操作編輯所述測(cè)試表格。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試系統(tǒng)還包括標(biāo)識(shí)號(hào)獲取單元，用于獲取所述電子設(shè)備的標(biāo)識(shí)號(hào)，所述控制單元還用于將所述電子設(shè)備的標(biāo)識(shí)號(hào)與參數(shù)值對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)至所述存儲(chǔ)單元。
4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試系統(tǒng)還包括偵測(cè)單元，所述偵測(cè)單元用于偵測(cè)是否有電子設(shè)備連接至所述測(cè)試系統(tǒng)；當(dāng)偵測(cè)單元偵測(cè)到有電子設(shè)備連接至測(cè)試系統(tǒng)時(shí)，所述標(biāo)識(shí)號(hào)獲取單元還用于獲取連接至測(cè)試系統(tǒng)的電子設(shè)備的標(biāo)識(shí)號(hào)。
5.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述標(biāo)識(shí)號(hào)獲取單元用于響應(yīng)用戶的輸入操作獲取電子設(shè)備的標(biāo)識(shí)號(hào)。
6.一種測(cè)試方法，用于測(cè)試系統(tǒng)以測(cè)試電子設(shè)備的性能，其特征在于，所述測(cè)試方法包括步驟: 提供一個(gè)測(cè)試表格，其中測(cè)試表格記錄至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目以及與每一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目相對(duì)應(yīng)的參考值； 根據(jù)測(cè)試表格記錄的測(cè)試項(xiàng)目獲取電子設(shè)備相應(yīng)的參數(shù)值； 判斷獲取的參數(shù)值是否與相應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目的參考值相匹配；以及 顯示所述電子設(shè)備的測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的參數(shù)值及判斷結(jié)果。
7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試方法還包括步驟: 響應(yīng)用戶的輸入操作編輯所述測(cè)試表格。
8.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試方法還包括步驟: 獲取電子設(shè)備的標(biāo)識(shí)號(hào)；以及， 將所述電子設(shè)備的標(biāo)識(shí)號(hào)與參數(shù)值對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)。
9.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟獲取電子設(shè)備的標(biāo)識(shí)號(hào)包括: 偵測(cè)是否有電子設(shè)備連接至測(cè)試系統(tǒng)； 當(dāng)偵測(cè)到有電子設(shè)備連接至測(cè)試系統(tǒng)時(shí)，獲取連接至測(cè)試系統(tǒng)的電子設(shè)備的標(biāo)識(shí)號(hào)。
10.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟獲取電子設(shè)備的標(biāo)識(shí)號(hào)包括: 響應(yīng)用戶的輸入操作獲取所述電子設(shè)備的標(biāo)識(shí)號(hào)。
【文檔編號(hào)】G06F11/00GK104077192SQ201310096242
【公開日】2014年10月1日 申請(qǐng)日期:2013年3月25日 優(yōu)先權(quán)日:2013年3月25日
【發(fā)明者】李冬焱, 周兵 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司