硬盤測試系統(tǒng)及方法
【專利摘要】一種硬盤測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：獲取模塊，用于獲取待測硬盤的數(shù)量，其中每個硬盤包括發(fā)光單元；生成模塊，用于生成與所述硬盤數(shù)量相同的測試程序，其中，每個生成的測試程序?qū)σ粋€硬盤進(jìn)行測試；中斷模塊，用于當(dāng)任意一個硬盤被測出有問題時，中斷所有硬盤的測試；控制模塊，用于控制問題硬盤的發(fā)光單元與其他硬盤的發(fā)光單元交替發(fā)出閃爍燈光。本發(fā)明還提供一種硬盤測試方法。本發(fā)明方便測試人員找到問題硬盤的位置。
【專利說明】硬盤測試系統(tǒng)及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測試系統(tǒng)及方法，特別是關(guān)于一種硬盤測試系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)在的計算機(jī)設(shè)備，例如服務(wù)器，一般需要非常多的存儲設(shè)備。一個服務(wù)器往往會帶有幾十甚至幾百個硬盤。為保證服務(wù)器出廠時該硬盤的容量、轉(zhuǎn)速等性能參數(shù)滿足客戶的要求，需要對硬盤進(jìn)行測試。然而，在現(xiàn)有的測試方法中，測試軟體在測試時發(fā)現(xiàn)其中一個硬盤不符合要求時，測試軟件知道該硬盤有問題，但測試人員卻沒有辦法找到問題硬盤具體是哪個，只能分區(qū)域去測試找該區(qū)域的硬盤有沒有問題，找到有問題的硬盤區(qū)域再具體到每個硬盤進(jìn)行測試，這樣的方法非常浪費(fèi)時間，效率低下，而且也經(jīng)常造成大量的硬盤要進(jìn)行插拔動作，增加了人為損壞的可能。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種硬盤測試系統(tǒng)，方便測試人員找到問題硬盤的位置。
[0004]此外，還有必要提供一種硬盤測試方法，方便測試人員找到問題硬盤的位置。
[0005]一種硬盤測試系統(tǒng)，運(yùn)行于計算機(jī)中，該系統(tǒng)包括，獲取模塊，用于獲取待測硬盤的數(shù)量，其中每個硬盤包括發(fā)光單元；生成模塊，用于生成與所述硬盤數(shù)量相同的測試程序，其中，每個生成的測試程序?qū)σ粋€硬盤進(jìn)行測試；中斷模塊，用于當(dāng)任意一個硬盤被測出有問題時，中斷所有硬盤的測試；控制模塊，用于控制問題硬盤的發(fā)光單元與其他硬盤的發(fā)光單元交替發(fā)出閃爍燈光。
[0006]一種硬盤測試方法，應(yīng)用于計算機(jī)，該方法包括，獲取步驟，獲取待測硬盤的數(shù)量，其中每個硬盤包括發(fā)光單元；生成步驟，生成與所述硬盤數(shù)量相同的測試程序，其中，每個生成的測試程序?qū)σ粋€硬盤進(jìn)行測試；中斷步驟，當(dāng)任意一個硬盤被測出有問題時，中斷所有硬盤的測試；控制步驟，控制問題硬盤的發(fā)光單元與其他硬盤的發(fā)光單元交替發(fā)出閃爍燈光。
[0007]相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述硬盤測試系統(tǒng)及方法，當(dāng)硬盤被測出有問題時，通過控制問題硬盤的發(fā)光單元和其他硬盤的發(fā)光單元交替發(fā)出閃爍燈光，使得用戶可以通過發(fā)光單元的交替來找到問題硬盤的位置，提高了測試效率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1是本發(fā)明硬盤測試系統(tǒng)較佳實(shí)施例的應(yīng)用環(huán)境圖。
[0009]圖2是本發(fā)明硬盤測試系統(tǒng)的功能模塊圖。
[0010]圖3是本發(fā)明硬盤測試方法較佳實(shí)施例的流程圖。
[0011]主要元件符號說明
[0012]
【權(quán)利要求】
1.一種硬盤測試系統(tǒng)，運(yùn)行于計算機(jī)中，其特征在于，該系統(tǒng)包括， 獲取模塊，用于獲取待測硬盤的數(shù)量，其中每個硬盤包括發(fā)光單元； 生成模塊，用于生成與所述硬盤數(shù)量相同的測試程序，其中，每個生成的測試程序?qū)σ粋€硬盤進(jìn)行測試； 中斷模塊，用于當(dāng)任意一個硬盤被測出有問題時，中斷所有硬盤的測試； 控制模塊，用于控制問題硬盤的發(fā)光單元與其他硬盤的發(fā)光單元交替發(fā)出閃爍燈光。
2.如權(quán)利要求1所述的硬盤測試系統(tǒng)，其特征在于，所述獲取模塊通過讀取待測硬盤的設(shè)備文件來識別待測硬盤的數(shù)量。
3.如權(quán)利要求1所述的硬盤測試系統(tǒng)，其特征在于，所述控制模塊通過I2C總線或GPIO線來控制發(fā)光單元發(fā)出閃爍燈光。
4.如權(quán)利要求1所述的硬盤測試系統(tǒng)，其特征在于，所述發(fā)光單元為指示硬盤與計算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交互的指示燈。
5.如權(quán)利要求1所述的硬盤測試系統(tǒng)，其特征在于，所述發(fā)光單元為硬盤的電源指示燈或指示該硬盤與硬盤背板連接的指示燈。
6.一種硬盤測試方法，應(yīng)用于計算機(jī)，其特征在于，該方法包括， 獲取步驟，獲取待測硬盤的數(shù)量，其中每個硬盤包括發(fā)光單元； 生成步驟，生成與所述硬盤數(shù)量相同的測試程序，其中，每個生成的測試程序?qū)σ粋€硬盤進(jìn)行測試； 中斷步驟，當(dāng)任意一個硬盤被測出有問題時，中斷所有硬盤的測試； 控制步驟，控制問題硬盤的發(fā)光單元與其他硬盤的發(fā)光單元交替發(fā)出閃爍燈光。
7.如權(quán)利要求6所述的硬盤測試方法，其特征在于，所述獲取步驟通過讀取待測硬盤的設(shè)備文件來識別待測硬盤的數(shù)量。
8.如權(quán)利要求6所述的硬盤測試方法，其特征在于，所述控制步驟通過I2C總線或GPIO線來控制發(fā)光單元發(fā)出閃爍燈光。
9.如權(quán)利要求6所述的硬盤測試方法，其特征在于，所述發(fā)光單元為指示硬盤與計算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交互的指示燈。
10.如權(quán)利要求6所述的硬盤測試方法，其特征在于，所述發(fā)光單元為硬盤的電源指示燈或指示該硬盤與硬盤背板連接的指示燈。
【文檔編號】G06F11/22GK103902415SQ201210574281
【公開日】2014年7月2日 申請日期:2012年12月26日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月26日
【發(fā)明者】林玉龍, 張俊, 董華 申請人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司