專利名稱：測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試裝置，特別是涉及一種用來進(jìn)行一主機(jī)板的周邊輸入輸出檢測(cè)的測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
一般而言，在主機(jī)板的測(cè)試過程中，測(cè)試人員均需要實(shí)際安裝中央處理器(Center Processing Unit, CPU)于主機(jī)板上并啟動(dòng)計(jì)算機(jī)主機(jī)執(zhí)行完整開機(jī)程序后，如此方能獲取主機(jī)板的周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)，從而判斷主機(jī)板的周邊元件運(yùn)作是否正常，如根據(jù)元件電壓數(shù)值判斷是否有供電異常問題、根據(jù)風(fēng)扇轉(zhuǎn)速判斷風(fēng)扇控制器的運(yùn)作是否正常、根據(jù)檢測(cè)代碼判斷輸入輸出端口(如通用輸入輸出端口、周邊組件互連端口等)的運(yùn)作是否正常等。然而，若是在測(cè)試過程中發(fā)生錯(cuò)誤操作或電性異常，或是在經(jīng)過重復(fù)多次的插拔后，則往往會(huì)導(dǎo)致中央處理器燒毀，從而造成檢測(cè)成本的增加。

實(shí)用新型內(nèi)容因此，本實(shí)用新型提供一種進(jìn)行一主機(jī)板的周邊輸入輸出檢測(cè)的測(cè)試裝置，藉以解決上述的問題。本實(shí)用新型提供一種用來進(jìn)行一主機(jī)板的周邊輸入輸出檢測(cè)的測(cè)試裝置，其安裝于該主機(jī)板的一總線上，該測(cè)試裝置包含一可編程芯片、一控制接口，以及一數(shù)據(jù)傳輸接口。該可編程芯片以描述語言模擬的方式產(chǎn)生一周邊檢測(cè)訊號(hào)。該控制接口電連接于該可編程芯片，該控制接口控制該可編程芯片通過該總線傳送該周邊檢測(cè)訊號(hào)至該主機(jī)板的至少一周邊控制芯片，藉以使該周邊控制芯片輸出相對(duì)應(yīng)的一周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)傳輸接口電連接于該可編程芯片，該數(shù)據(jù)傳輸接口輸出該周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)。綜上所述，本實(shí)用新型所提供的測(cè)試裝置使用可編程芯片以描述語言模擬的方式模擬中央處理器進(jìn)行主機(jī)板檢測(cè)時(shí)所發(fā)出的檢測(cè)訊號(hào)，藉以針對(duì)主機(jī)板進(jìn)行周邊輸入輸出檢測(cè)，如此一來，由于本實(shí)用新型的測(cè)試裝置可在不需安裝中央處理器以及不需實(shí)際開機(jī)的情況下進(jìn)行主機(jī)板的相關(guān)檢測(cè)，因此不僅可解決以往在實(shí)際安裝中央處理器以測(cè)試主機(jī)板的過程中發(fā)生錯(cuò)誤操作或電性異?；蚴窃诮?jīng)過重復(fù)多次的插拔后所導(dǎo)致的中央處理器燒毀問題，從而降低檢測(cè)成本，同時(shí)亦可提升整體檢測(cè)效率，藉以達(dá)到最快速檢測(cè)的目的。

圖1為本實(shí)用新型一較佳實(shí)施例的測(cè)試裝置的示意圖。圖2為圖1的測(cè)試裝置電連接于主機(jī)板的功能方塊示意圖。附圖符號(hào)說明10 測(cè)試裝置11 連接端口12 主機(jī)板14 總線16 可編程芯片 18 控制接口[0012]20 數(shù)據(jù)傳輸接口 22 發(fā)光單元24 周邊控制芯片沈 燒錄接口28 輸入輸出接口
具體實(shí)施方式
請(qǐng)參閱圖1以及圖2，圖1為本實(shí)用新型一較佳實(shí)施例的一測(cè)試裝置10的示意圖， 圖2為圖1的測(cè)試裝置10電連接于一主機(jī)板12的功能方塊示意圖。測(cè)試裝置10利用本身的一連接端口 11安裝于主機(jī)板12的一總線14上以進(jìn)行主機(jī)板12的周邊輸入輸出檢測(cè)， 其中總線14可為一般主機(jī)板上常見的數(shù)據(jù)傳輸接口，如系統(tǒng)管理總線(System Management Bus, SMBUS)、低腳位(Low Pin Count, LPC)總線等，測(cè)試裝置10包含一可編程芯片16、一控制接口 18、一數(shù)據(jù)傳輸接口 20以及一發(fā)光單元22?？删幊绦酒?6以描述語言模擬的方式產(chǎn)生可用來使主機(jī)板12輸出相對(duì)應(yīng)的周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)的周邊檢測(cè)訊號(hào)，可編程芯片16較佳為一復(fù)雜可編程邏輯芯片(Complex Programmable Logic Device, CPLD)，其是利用硬件描述語言來模擬中央處理器進(jìn)行主機(jī)板12檢測(cè)時(shí)所發(fā)出的檢測(cè)訊號(hào)，而其所使用的硬件描述語言較佳為高速集成電路硬件描述語 g (Very High Speed Integrated Circuit Hardware Description Language，VHDL)。控制接口 18、數(shù)據(jù)傳輸接口 20以及發(fā)光單元22均電連接于可編程芯片16。控制接口 18控制可編程芯片16通過總線14傳送周邊檢測(cè)訊號(hào)至主機(jī)板12的至少一周邊控制芯片M (于圖2中顯示二個(gè))，在此實(shí)施例中，控制接口 18較佳為一機(jī)械式按鈕，以供使用者進(jìn)行開關(guān)按壓的操作，而如圖2所示的二周邊控制芯片M較佳地分別為一超級(jí)輸入輸出 (Super 1/0)控制芯片以及一南橋控制芯片。數(shù)據(jù)傳輸接口 20輸出主機(jī)板12所傳來的該周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)，其較佳為一 RS-232接口。發(fā)光單元22根據(jù)控制接口 18的操作決定發(fā)光與否，其較佳為一發(fā)光二極管。除此之外，測(cè)試裝置10還包含一燒錄接口沈及一輸入輸出接口觀，其均電連接于可編程芯片16。燒錄接口沈可傳輸相對(duì)應(yīng)的描述語言數(shù)據(jù)至可編程芯片16以作為芯片更新或修正之用，其較佳為一聯(lián)合測(cè)試工作組(Joint Test Action Group, JTAG)接口，而輸入輸出接口觀則是可電連接于一外接式裝置，從而增加測(cè)試裝置10的裝置擴(kuò)增性。于此針對(duì)測(cè)試裝置10的操作進(jìn)行詳細(xì)的說明，請(qǐng)參閱圖2，首先，若是欲使用測(cè)試裝置10檢測(cè)主機(jī)板12上的周邊輸入輸出是否正常運(yùn)作，則可在將測(cè)試裝置10安裝于總線 14上后，按壓控制接口 18以啟動(dòng)測(cè)試裝置10并傳送一控制訊號(hào)至可編程芯片16，藉以控制可編程芯片16傳送相對(duì)應(yīng)的周邊檢測(cè)訊號(hào)至主機(jī)板12上的周邊控制芯片24，于此同時(shí)， 可編程芯片16也會(huì)控制發(fā)光單元22發(fā)光，從而讓測(cè)試人員可據(jù)以得知目前正在處于測(cè)試啟動(dòng)狀態(tài)。接著，周邊控制芯片M就會(huì)根據(jù)可編程芯片16通過總線14所傳來的周邊檢測(cè)訊號(hào)，回傳相對(duì)應(yīng)的周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)，其中在此實(shí)施例中，當(dāng)周邊控制芯片M為一超級(jí)輸入輸出控制芯片時(shí)，其可分別與軟盤機(jī)端口、并行連接端口(Parallel Port)、通用異步收發(fā)傳輸端口(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，UART)、通用輸入輸出端口 (General Purpose Input Output，GPI0)、電壓監(jiān)測(cè)、風(fēng)扇控制器、鍵盤端口，以及串接式周邊接口只讀存儲(chǔ)器(Serial Peripheral Interface Read-Only Memory, SPI ROM)電性連接(如圖2所示)，而當(dāng)周邊控制芯片M為一南橋控制芯片時(shí)，其分別與周邊組件互連端口(Peripheral Component hterconnect，PCI)、序列式先進(jìn)附加技術(shù)排線端口 Gerial Advanced Technology Attachment, SATA)、通用串列總線端口(Universal Serial Bus, USB)、高速周邊組件互連端口(Peripheral Component hterconnect，PCI-E)，以及通用輸入輸出端口電性連接(如圖2所示)，如此一來，在周邊控制芯片M接收到可編程芯片16 所傳來的周邊檢測(cè)訊號(hào)后，周邊控制芯片M就會(huì)與上述元件進(jìn)行檢測(cè)溝通，藉以獲取其相關(guān)運(yùn)作狀況，進(jìn)而產(chǎn)生相對(duì)應(yīng)的周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)，換句話說，此處所提及的周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)可包含對(duì)應(yīng)上述元件的檢測(cè)數(shù)據(jù)，如主機(jī)板12上的周邊元件的相關(guān)運(yùn)作電壓數(shù)值、風(fēng)扇轉(zhuǎn)速， 以及上述輸入輸出端口的運(yùn)作狀況等數(shù)據(jù)。最后，在可編程芯片16接收到周邊控制芯片M通過總線14所回傳的周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)后，即可利用數(shù)據(jù)傳輸接口 20傳輸至一終端機(jī)(如VT100等)或一計(jì)算機(jī)主機(jī)以顯示之， 藉以讓測(cè)試人員可觀看其所顯示的周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)，從而判斷上述主機(jī)板周邊元件(如圖2 所示)的運(yùn)作是否正常。值得一提的是，可編程芯片16的類型可不限于上述實(shí)施例，舉例來說，可編程芯片16亦可改為一嵌入式控制芯片(Embedded Controller, EC)，其是利用軟件描述語言來模擬中央處理器進(jìn)行主機(jī)板12檢測(cè)時(shí)所發(fā)出的檢測(cè)訊號(hào)，而其所使用的軟件描述語言較佳為C語言。除此之外，與周邊控制芯片M電性連接的周邊元件可不限于圖2所示的元件，其亦可包含其他常見配置于主機(jī)板上的周邊元件，如鼠標(biāo)端口、序列連接端口 Gerial Port)等。綜上所述，相較于現(xiàn)有技術(shù)需采用直接安裝中央處理器于主機(jī)板上的方式才能進(jìn)行主機(jī)板的周邊輸入輸出檢測(cè)，本實(shí)用新型所提供的測(cè)試裝置是使用可編程芯片以描述語言模擬的方式模擬中央處理器進(jìn)行主機(jī)板檢測(cè)時(shí)所發(fā)出的檢測(cè)訊號(hào)，藉以針對(duì)主機(jī)板進(jìn)行周邊輸入輸出檢測(cè)，如此一來，由于本實(shí)用新型的測(cè)試裝置可在不需實(shí)際開機(jī)以及不需安裝中央處理器的情況下進(jìn)行主機(jī)板的相關(guān)檢測(cè)，因此不僅可解決以往在實(shí)際安裝中央處理器以測(cè)試主機(jī)板的過程中發(fā)生錯(cuò)誤操作或電性異?；蚴窃诮?jīng)過重復(fù)多次的插拔后所導(dǎo)致的中央處理器燒毀問題，從而降低檢測(cè)成本，同時(shí)亦可提升整體檢測(cè)效率，藉以達(dá)到最快速檢測(cè)的目的。以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，凡依本實(shí)用新型的權(quán)利要求所做的均等變化與修飾，皆應(yīng)屬本實(shí)用新型的涵蓋范圍。
權(quán)利要求1.一種測(cè)試裝置，其安裝于該主機(jī)板的一總線上，其特征是，該測(cè)試裝置包含 一可編程芯片，其以描述語言模擬的方式產(chǎn)生一周邊檢測(cè)訊號(hào)；一控制接口，其電連接于該可編程芯片，該控制接口控制該可編程芯片通過該總線傳送該周邊檢測(cè)訊號(hào)至該主機(jī)板的至少一周邊控制芯片，藉以使該周邊控制芯片輸出相對(duì)應(yīng)的一周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)；以及一數(shù)據(jù)傳輸接口，其電連接于該可編程芯片，該數(shù)據(jù)傳輸接口輸出該周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征是，其中該可編程芯片為一復(fù)雜可編程邏輯-H-· I I心片。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征是，其中該可編程芯片為一嵌入式控制芯片。
4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征是，還包含有一發(fā)光單元，其電連接于該可編程芯片以及該控制接口，該發(fā)光單元根據(jù)該控制接口的操作決定發(fā)光與否。
5.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征是，其中該控制接口為一機(jī)械式按鈕。
6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征是，還包含一燒錄接口，其電連接于該可編程芯片，該燒錄接口可傳輸描述語言數(shù)據(jù)至該可編程-H-· I I心片。
7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置，其特征是，其中該燒錄接口為一聯(lián)合測(cè)試工作組接
8.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征是，還包含一輸入輸出接口，其電連接于該可編程芯片，該輸入輸出接口可電連接于一外接式裝
專利摘要一種測(cè)試裝置，安裝于一主機(jī)板的一總線上，該測(cè)試裝置包含一可編程芯片、一控制接口，以及一數(shù)據(jù)傳輸接口。該可編程芯片以描述語言模擬的方式產(chǎn)生一周邊檢測(cè)訊號(hào)。該控制接口電連接于該可編程芯片，該控制接口控制該可編程芯片通過該總線傳送該周邊檢測(cè)訊號(hào)至該主機(jī)板的至少一周邊控制芯片，藉以使該周邊控制芯片輸出相對(duì)應(yīng)的一周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)傳輸接口電連接于該可編程芯片，該數(shù)據(jù)傳輸接口輸出該周邊檢測(cè)數(shù)據(jù)。
文檔編號(hào)G06F11/22GK202110530SQ20112000262
公開日2012年1月11日 申請(qǐng)日期2011年1月6日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月6日
發(fā)明者謝政霖 申請(qǐng)人:精英電腦股份有限公司