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測試裝置的制造方法

文檔序號:8360034閱讀:311來源:國知局
測試裝置的制造方法
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明是有關(guān)于一種測試裝置,且特別是有關(guān)于一種用以測試電源模塊的測試裝置。
【【背景技術(shù)】】
[0002]隨著照明技術(shù)的發(fā)展,發(fā)光二極管(light emitting d1de, LED)具有較高的發(fā)光效率、低輻射、低耗電、壽命長、低驅(qū)動電壓、啟動快速、環(huán)保、抗震抗壓、燈具可小型化等傳統(tǒng)光源無法與之比較的優(yōu)點。再者,因應(yīng)世界各國都鼓勵節(jié)能減碳,因此近年來運用LED制成的燈具已廣泛于室內(nèi)、外照明上,并逐漸取代傳統(tǒng)燈具而形成主流趨勢。
[0003]目前其中一種LED燈具的發(fā)展型態(tài),是直接將LED發(fā)光組件制成燈泡或燈管型態(tài),亦即將配置有多個LED的LED光源基板與用以驅(qū)動LED的電源模塊一同組裝于燈管中而用來取代傳統(tǒng)鎢絲燈泡、省電燈泡或日光燈管,其優(yōu)點的是不必更換傳統(tǒng)燈具,只要將LED發(fā)光組件替換傳統(tǒng)燈泡或燈管即可。
[0004]惟,因應(yīng)各種型式的燈泡或燈管,配置在LED燈具內(nèi)的電源模塊亦產(chǎn)生多種不同外型,而在燈具的制作過程中,這些具有不同外型的電源模塊均需在組裝前進行相關(guān)電性測試。為此,生產(chǎn)線必需因應(yīng)這些電源模塊的外型而設(shè)計對應(yīng)的各種測試裝置,以利將不同外型的電源模塊放置其上而進行測試。舉例來說,不同型式的電源模塊,其用以傳輸電力的接腳外型、尺寸、間距等亦會隨的改變。換言之,在進行電性測試時,裝置上的對位治具與測試探針的外型與尺寸亦需與其對應(yīng),因而在更換測試不同形式的電源模塊之前,操作者必需先行更換或調(diào)整上述測試裝置的治具或探針。如此,不但造成時間與生產(chǎn)成本的增加,更容易在測試的過程中產(chǎn)生錯誤。
[0005]據(jù)此,如何設(shè)計可供共享的測試裝置,以讓不同外型的電源模塊皆能適用,便成為制作LED燈具的相關(guān)人員所需思考及解決的課題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明提供一種測試裝置,其能適用于不同外型的電源模塊而有效提高制程效率。
[0007]本發(fā)明的測試治具,用以測試至少一電源模塊。電源模塊具有本體與從本體對向延伸的第一端子與第二端子。測試裝置包括基座與探針組。基座具有第一接墊組與第二接墊組。電源模塊配置于基座,且使第一端子接觸第一接墊組,第二端子接觸第二接墊組。探針組具有多個探針。在測試電源模塊時,多個探針用以電性連接第一接墊組與第二接墊組。第一接墊組具有至少兩個第一電耦極接墊,第一端子具有至少兩個第一電耦極端子,分別用以對應(yīng)地電性接觸該至少兩個第一電耦極接墊。第二接墊組具有至少兩個第二電耦極接墊,第二端子具有至少兩個第二電耦極端子,分別用以對應(yīng)地電性接觸該至少兩個第二電耦極接墊。
[0008]在本發(fā)明的一實施例中,在測試上述電源模塊時,上述探針組的多個探針位于第一接墊組與第二接墊組的范圍內(nèi)。
[0009]在本發(fā)明的一實施例中,上述的基座具有開口。第一接墊組與第二接墊組位在開口的相對兩側(cè)。
[0010]在本發(fā)明的一實施例中,上述的基座還具有至少一第一擋墻,立設(shè)在第一接墊組的至少兩個第一電耦極接墊之間以電性隔離該至少兩個第一電耦極接墊。上述的基座還具有至少一第二擋墻,立設(shè)在第二接墊組的至少兩個第二電耦極接墊之間以電性隔離該至少兩個第二電耦極接墊。
[0011]在本發(fā)明的一實施例中,上述的第一擋墻的寬度不同于第二擋墻的寬度。第一電耦極端子之間的距離不同于第二電耦極端子之間的距離。
[0012]在本發(fā)明的一實施例中,上述的第一擋墻的寬度大于第二擋墻的寬度。第一電耦極端子之間的距離大于第二電耦極端子之間的距離。第一擋墻的寬度小于第一電耦極端子之間的距離但大于第二電耦極端子之間的距離。
[0013]在本發(fā)明的一實施例中,還包括第一壓條與第二壓條。第一壓條可拆卸地組裝至基座以抵壓第一端子。第二壓條可拆卸地組裝至基座以抵壓第二端子?;€具有至少一磁性組件,用以對應(yīng)磁吸第一壓條及/或第二壓條。
[0014]在本發(fā)明的一實施例中,上述的至少一磁性組件包含第一磁性組件、第二磁性組件、第三磁性組件與第四磁性組件。第一壓條具有第一磁性組件,第二壓條具有第二磁性組件?;哂械谌判越M件與第四磁性組件。第三磁性組件用以磁吸第一磁性組件,第四磁性組件用以磁吸第二磁性組件,且第一磁性組件的磁極相反于第二磁性組件的磁極。
[0015]在本發(fā)明的一實施例中,上述的第一壓條與第二壓條分別具有多個開孔。這些開孔在基座上的正投影座落于第一接墊組與第二接墊組的范圍內(nèi)。上述多個探針穿過開孔而接觸第一接墊組與第二接墊組。
[0016]在本發(fā)明的一實施例中,上述的第一壓條還具有第一開槽,第二壓條還具有第二開槽,且第一開槽的寬度符合第一擋墻的寬度,第二開槽的寬度符合第二擋墻的寬度。
[0017]在本發(fā)明的一實施例中,基座包括一第一部件與兩個第二部件,第一部件具有一開口,該兩個第二部件分別配置在開口的相對兩側(cè),第一接墊組配置于該兩個第二部件的其中之一,該第二接墊組配置在該兩個第二部件的其中之另一,各第二部件具有至少一擴孔,而測試裝置還包括多個鎖附件,該些鎖附件穿過該些擴孔而鎖入第一部件,以將該兩個第二部件固定于第一部件上,且借由該些擴孔調(diào)整該兩個第二部件之間的相對距離。
[0018]在本發(fā)明的一實施例中,上述的第一端子的延伸方向與第二端子的延伸方向平行于同一軸向,而各擴孔的延伸方向平行于該軸向。
[0019]在本發(fā)明的一實施例中,上述的第一壓條與第二壓條分別具有至少一第三開槽,而基座還具有多個定位柱。借由定位柱對應(yīng)地卡置于第三開槽,而使第一壓條與第二壓條分別定位于基座上。
[0020]相較于現(xiàn)有技術(shù),在本發(fā)明的上述實施例中,借由配置在基座上的接墊組,用以讓電源模塊的端子對應(yīng)地接觸接墊組,且在進行測試時,亦讓探針組的多個探針能對應(yīng)的電性連接接墊組。據(jù)此,借由接墊組作為探針與端子之間的電性連接媒介,而讓使用者在進行電源模塊的電性測試時,無須另行更換對應(yīng)的承載基座以讓端子于探針進行對位,同時亦無需對電源模塊的外型設(shè)計不同的基座以達到定位的效果。換句話說,此舉有效地簡化電源模塊于進行電性測試時的相關(guān)流程,進而提高產(chǎn)線流程的效率與降低制造成本。
[0021]為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂,下文特舉實施例,并配合所附圖式作詳細說明如下。
【【附圖說明】】
[0022]圖1是依據(jù)本發(fā)明一實施例的一種測試裝置的示意圖。
[0023]圖2是圖1的測試裝置于基座處的部分構(gòu)件爆炸圖。
【【具體實施方式】】
[0024]圖1是依據(jù)本發(fā)明一實施例的一種測試裝置的示意圖。圖2是圖1的測試裝置于基座處的部分構(gòu)件組裝示意圖。請同時參考圖1與圖2。在本實施例中,測試裝置100用以測試LED燈具(未繪示)內(nèi)的電源模塊200以確保其電氣特性。電源模塊200作為LED燈具內(nèi)的電子驅(qū)動組件,其電性連接于LED燈具內(nèi)的LED組件(未繪示)。電源模塊200具有本體210與從本體210對向延伸的第一端子220與第二端子230,其中第一端子220用以電性連接至電源(未繪示),經(jīng)由本體210的電子組件予以轉(zhuǎn)換調(diào)整后,再經(jīng)由第二端子230將電力傳送至LED組件而使其發(fā)光。據(jù)此,當生產(chǎn)線完成電源模塊200的制作后,需對其進行相關(guān)電性測試,以確保其能于之后組裝成為LED燈具時順利地進行電性連接的動作并達到上述的驅(qū)動效果。
[0025]基于上述,本實施例的測試裝置100包括基座110、探針組120、平臺130與控制模塊140,其中控制模塊140電性連接平臺130與探針組120,基座110可拆卸地配置在平臺130上,且在一實施例中,平臺130可以是移動平臺,以承載基座110并驅(qū)使其沿平面移動或相對于平面升降。當電源模塊200配置于基座110上時,控制模塊140驅(qū)動平臺130與探針組120相對運動,并由探針組120
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