專利名稱：一種非接觸式ic卡參數(shù)確定裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及集成電路測(cè)試領(lǐng)域，特別是涉及一種非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置及方法。
背景技術(shù)：
隨著CMOS工藝水平的進(jìn)步和發(fā)展，近年來(lái)射頻識(shí)別(Radio Frequency Identification, RFID)技術(shù)已經(jīng)成為一個(gè)研究熱點(diǎn)。IS0/IEC 14443A《識(shí)別卡-無(wú)觸點(diǎn)的集成電路卡-接近式卡》系列標(biāo)準(zhǔn)是非接觸式IC卡的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。它采用的載波頻率是 13. 56MHz，主要應(yīng)用在短距離、中等速率讀取少量數(shù)據(jù)的領(lǐng)域，如門禁控制、電子門票、電子證照等領(lǐng)域。由于非接觸式IC卡的應(yīng)用越來(lái)越普及，所以更多的領(lǐng)域都希望應(yīng)用非接觸式IC 卡。但是，現(xiàn)有技術(shù)中，非接觸式IC卡內(nèi)部電路的電容電感等參數(shù)無(wú)法直接確定，所以，如何保證設(shè)計(jì)出的非接觸式IC卡內(nèi)部電路符合IS0/IEC 14443A的標(biāo)準(zhǔn)，也越來(lái)越成為人們?nèi)找骊P(guān)心的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置及方法，能夠利用符合 IS0/IEC 14443A標(biāo)準(zhǔn)的讀卡器，確定非接觸式IC卡的參數(shù)。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了如下方案一種非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置，包括諧振電路、時(shí)鐘電路、調(diào)制電路和解調(diào)電路；所述諧振電路分別與所述時(shí)鐘電路和所述調(diào)制電路相連；所述解調(diào)電路與所述調(diào)制電路相連；所述諧振電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述時(shí)鐘電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述調(diào)制電路的電阻參數(shù)可調(diào)；所述解調(diào)電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)。優(yōu)選的，其特征在于，所述諧振電路包括諧振可調(diào)電阻，諧振可調(diào)電容，以及印制電路板內(nèi)置天線；所述印制電路板內(nèi)置天線的一端與所述諧振可調(diào)電阻連接，另外一端與地連接；所述諧振可調(diào)電阻的一端與所述印制電路板內(nèi)置天線連接，另外一端接所述諧振可調(diào)電容的正極；所述諧振可調(diào)電容的負(fù)極接地。優(yōu)選的，所述印制電路板內(nèi)置天線為四圈金屬導(dǎo)線圍成的矩形線圈。優(yōu)選的，所述時(shí)鐘電路包括高頻可調(diào)電容，高頻可調(diào)電阻，以及第一電壓比較器； 所述高頻可調(diào)電容的正極接所述高頻可調(diào)電容的正極，所述高頻可調(diào)電容的負(fù)極與所述高頻可調(diào)電阻的第一端連接；所述高頻可調(diào)電阻的第一端與所述第一電壓比較器相連，第二端接地。優(yōu)選的，所述電壓比較器為74HC14芯片；所述芯片的第一引腳接所述高頻可調(diào)電容的負(fù)極，所述芯片的第二引腳與第三引腳相連，所述芯片第四引腳與現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片的時(shí)鐘信號(hào)輸出引腳相連。優(yōu)選的，所述調(diào)制電路包括NM0S管，第一可調(diào)電阻、第二可調(diào)電阻，以及穩(wěn)壓二極管；所述NMOS管的G端連接現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片的信號(hào)發(fā)送端，S端接地，D端接所述第一可調(diào)電阻；所述第一可調(diào)電阻另外一端接所述諧振電路輸出端；所述第二可調(diào)電阻的一端接所述諧振電路輸出端，另外一端接地。優(yōu)選的，所述解調(diào)電路包括整流二極管，第三可調(diào)電阻，可調(diào)電容，和第二電壓比較器；所述整流二極管的正極接所述諧振電路輸出端，負(fù)極接所述可調(diào)電容的正極；所述第三可調(diào)電阻一端接所述整流二極管負(fù)極，另外一端接地；所述可調(diào)電容的正極接所述整流二極管的負(fù)極，另外一端接地。優(yōu)選的，所述第二電壓比較器為74HC14芯片；所述芯片的第一引腳接所述整流二極管的負(fù)極；所述芯片的第二引腳和第三引腳相連；所述芯片的第四引腳與現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片的數(shù)據(jù)接收端相連。一種非接觸式IC卡參數(shù)確定方法，采用非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置，所述裝置包括諧振電路、時(shí)鐘電路、調(diào)制電路和解調(diào)電路；所述諧振電路分別與所述時(shí)鐘電路和所述調(diào)制電路相連；所述解調(diào)電路與所述調(diào)制電路相連；所述諧振電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述時(shí)鐘電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述調(diào)制電路的電阻參數(shù)可調(diào)；所述解調(diào)電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述方法包括將所述非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的各個(gè)電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)調(diào)整為預(yù)設(shè)初始值；利用符合IS0/IEC 14443A標(biāo)準(zhǔn)的非接觸式IC卡讀卡器檢測(cè)所述非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置是否能夠正確接收讀卡器發(fā)送的命令以及回傳命令給讀卡器；如果能，則將所述非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的各個(gè)電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)確定為非接觸式IC卡的實(shí)際工作參數(shù)；否則，調(diào)整所述非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的至少一個(gè)電路的至少一個(gè)電容參數(shù)或電阻參數(shù)，重新進(jìn)行檢測(cè)。根據(jù)本發(fā)明提供的具體實(shí)施例，本發(fā)明公開(kāi)了以下技術(shù)效果本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置，構(gòu)建出非接觸式IC卡的電路結(jié)構(gòu)，并且非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的各個(gè)電路的電阻參數(shù)及電容參數(shù)可調(diào)。使用本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置，可以利用現(xiàn)有技術(shù)中的符合IS0/IEC 14443A標(biāo)準(zhǔn)的非接觸式IC卡讀卡器，檢測(cè)預(yù)先設(shè)計(jì)的非接觸式IC卡參數(shù)是否能夠?qū)嶋H使用，如果不能使用，可以對(duì)電容參數(shù)及電阻參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)，直至能夠被讀卡器檢測(cè)到，就可以將此時(shí)非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的參數(shù)作為待生產(chǎn)的非接觸式IC卡的實(shí)際工作參數(shù)。因此，使用本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置，能夠利用符合IS0/IEC 14443A標(biāo)準(zhǔn)的讀卡器，確定非接觸式IC卡的參數(shù)。


為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置結(jié)構(gòu)圖2為本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的諧振電路3為本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的時(shí)鐘電路4為本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的調(diào)制電路5為本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的解調(diào)電路6為本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定方法流程圖。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。圖1為本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置結(jié)構(gòu)圖。如圖1所示，該裝置包括 諧振電路101、時(shí)鐘電路102、調(diào)制電路103和解調(diào)電路104 ；所述諧振電路101分別與所述時(shí)鐘電路102和所述調(diào)制電路103相連；所述解調(diào)電路104與所述調(diào)制電路103相連；所述諧振電路101的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述時(shí)鐘電路102的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述調(diào)制電路103的電阻參數(shù)可調(diào)；所述解調(diào)電路104的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)。下面對(duì)本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的原理進(jìn)行說(shuō)明。本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置，構(gòu)建出非接觸式IC卡的電路結(jié)構(gòu)，并且非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的各個(gè)電路的電阻參數(shù)及電容參數(shù)可調(diào)。使用本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置，可以利用現(xiàn)有技術(shù)中的符合IS0/IEC 14443A標(biāo)準(zhǔn)的非接觸式IC卡讀卡器，檢測(cè)預(yù)先設(shè)計(jì)的非接觸式IC卡參數(shù)是否能夠?qū)嶋H使用，如果不能使用，可以對(duì)電容參數(shù)及電阻參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)，直至能夠被讀卡器檢測(cè)到，就可以將此時(shí)非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的參數(shù)作為待生產(chǎn)的非接觸式IC卡的實(shí)際工作參數(shù)。因此，使用本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置，能夠利用符合IS0/IEC 14443A 標(biāo)準(zhǔn)的讀卡器，確定非接觸式IC卡的參數(shù)。下面對(duì)本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置進(jìn)行更加詳細(xì)的說(shuō)明。圖2為本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的諧振電路圖。如圖2所示，該諧振電路包括諧振可調(diào)電阻R1，諧振可調(diào)電容Cl，以及PCB天線Li。PCB天線Ll由四圈金屬導(dǎo)線圍成矩形線圈，該天線的一端與諧振可調(diào)電阻Rl連接，另外一端與地連接。諧振可調(diào)電阻Rl的一端與PCB天線Ll連接，諧振可調(diào)電阻Rl另外一端接諧振可調(diào)電容Cl的正極， 諧振可調(diào)電容Cl的負(fù)極接地。圖3為本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的時(shí)鐘電路圖。如圖3所示，該電路包括高頻可調(diào)電容C2，高頻可調(diào)電阻R2，以及第一電壓比較器Ul組成。本例中，所述電壓比較器Ul為74HC14芯片。高頻可調(diào)電容C2的正極接所述高頻可調(diào)電容C2的正極，所述高頻可調(diào)電容C2的負(fù)極與高頻可調(diào)電阻R2的第一端連接。高頻可調(diào)電阻R2的第一端與所述第一電壓比較器Ul的1腳連接，第二端接地。第一電壓比較器Ul的2腳連接3腳，4 腳接現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)芯片的時(shí)鐘腳。
圖4為本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的調(diào)制電路圖。如圖4所示，該電路包括NM0S管JFETN，第一可調(diào)電阻R6、第二可調(diào)電阻R7，以及穩(wěn)壓二極管DZl ；所述NMOS管JFETN的G端連接FPGA芯片的信號(hào)發(fā)送端，S端接地，D端接所述第一可調(diào)電阻R6 ；所述第一可調(diào)電阻R6另外一端接所述諧振電路101的輸出端；所述第二可調(diào)電阻R7的一端接所述諧振電路101的輸出端，另外一端接地。圖5為本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的解調(diào)電路圖。如圖5所示，該電路包括整流二極管D2，第三可調(diào)電阻R4，可調(diào)電容C5，和第二電壓比較器U2 ；所述整流二極管D2的正極接所述諧振電路101的輸出端，負(fù)極接所述可調(diào)電容C5的正極；所述第三可調(diào)電阻R4 —端接所述整流二極管D2負(fù)極，另外一端接地；所述可調(diào)電容C5的正極接所述整流二極管D2的負(fù)極，另外一端接地。本例中，所述第二電壓比較器U2為74HC14芯片；所述第二電壓比較器U2的1腳接所述整流二極管D2的負(fù)極；所述第二電壓比較器U2的2腳和3腳相連；所述第二電壓比較器U2的4腳與FPGA芯片的數(shù)據(jù)接收端相連。下面對(duì)本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的工作原理進(jìn)行說(shuō)明。諧振電路101通過(guò)天線耦合接收讀卡器發(fā)送過(guò)來(lái)的調(diào)制好的幅移鍵控(Amplitude Shift Keying, ASK)信號(hào)，PCB天線Ll等效為電感，諧振部分實(shí)際上就是LC正弦波振蕩電路。當(dāng)諧振頻率等于發(fā)送頻率時(shí)，放大電路的放大倍數(shù)最大，而其余信號(hào)都衰減，諧振可調(diào)電阻Rl可以調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，為后面電路提供匹配，諧振電路輸出信號(hào)為L(zhǎng)A。LA信號(hào)首先通過(guò)高頻可調(diào)電容C2和高頻可調(diào)電阻R2組成的高通濾波器，然后通過(guò)電壓比較器U1，得到FPGA需要的時(shí)鐘信號(hào)。改變高通濾波器中C2和R2的數(shù)值，使其截止頻率小于13. 56MHz，就可以去除低頻的干擾信號(hào)，使滯回比較器可以接受比較良好的信號(hào)。電壓比較器Ul的正向閾值電壓典型值為1. 18V，負(fù)向閾值電壓典型值為0.52V，1腳和3腳為電壓比較器Ul輸入端，2腳和4腳為電壓比較器Ul的輸出端。從高頻可調(diào)電容C2獲得的信號(hào)接入電壓比較器Ul的1腳，對(duì)信號(hào)整形并反向到達(dá)電壓比較器Ul的2腳，將電壓比較器Ul的2腳信號(hào)通過(guò)電壓比較器Ul的3腳，再次對(duì)信號(hào)整形并反向到達(dá)電壓比較器Ul的4腳，電壓比較器Ul的4腳出來(lái)的信號(hào)就是所要的CLK時(shí)鐘信號(hào)。通過(guò)一級(jí)電壓比較器輸出信號(hào)剛好與輸入信號(hào)反向，所以通過(guò)第二級(jí)比較器，得到比較理想的時(shí)鐘信號(hào)，為FPGA提供時(shí)鐘。調(diào)制電路102由NMOS管JFETN，第一可調(diào)電阻R6、第二可調(diào)電阻R7，以及穩(wěn)壓二極管DZl組成。FPGA將已經(jīng)編碼的信號(hào)發(fā)送到NMOS管JFETN的G端，NMOS管S端接地，NMOS管的D端接第一可調(diào)電阻R6，通過(guò)曼徹斯特編碼的數(shù)字信號(hào)控制NMOS管的關(guān)閉和打開(kāi)。當(dāng)匪OS管導(dǎo)通時(shí)諧振電路101的負(fù)載電阻減小兩個(gè)數(shù)量級(jí)。當(dāng)NMOS管截止時(shí)諧振電路101電阻在千歐級(jí)，通過(guò)調(diào)節(jié)負(fù)載電阻，改變諧振電路LA端信號(hào)的電壓，將編碼的信號(hào)發(fā)送到天線。解調(diào)電路104解調(diào)的是100%的ASK調(diào)制信號(hào)，整流二極管D2對(duì)應(yīng)答器振蕩電路的高頻電壓進(jìn)行整流，時(shí)間常數(shù)(第三可調(diào)電阻，可調(diào)電容)R4、C5的選擇使載波頻率(13. 56MHz)得到有效的過(guò)濾，并且盡可能的使調(diào)制脈沖得以保持不變。諧振部分通過(guò)整流二極管D2對(duì)LA信號(hào)進(jìn)行單項(xiàng)半波整流，然后RC濾波電路將脈動(dòng)的直流電壓變?yōu)槠交闹绷麟妷?，第二電壓比較器U2的正向閾值電壓典型值為1. 18V，負(fù)向閾值電壓典型值為0. 52V，1腳和3腳為比較器輸入端，2腳和4腳為比較器的輸出端。從可調(diào)電容C5獲得的信號(hào)接入比較器U2的1腳，對(duì)信號(hào)整形并反向到達(dá)第二電壓比較器U2的2腳，將第二電壓比較器U2的2腳信號(hào)通過(guò)芯片U2的3腳，再次對(duì)信號(hào)整形并反向到達(dá)第二電壓比較器U2的4腳，第二電壓比較器4腳出來(lái)的信號(hào)就是所要的解調(diào)信號(hào)。通過(guò)第一級(jí)電壓比較器輸出信號(hào)剛好與輸入信號(hào)反向，所以通過(guò)第二級(jí)比較器，得到比較理想的解調(diào)信號(hào)，實(shí)現(xiàn)對(duì)FPGA信號(hào)的接收。解調(diào)電路的二極管應(yīng)該為高頻快速二極管。本發(fā)明還提供了一種非接觸式IC卡參數(shù)確定方法。該方法采用非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置，所述裝置包括諧振電路、時(shí)鐘電路、調(diào)制電路和解調(diào)電路；所述諧振電路分別與所述時(shí)鐘電路和所述調(diào)制電路相連；所述解調(diào)電路與所述調(diào)制電路相連；所述諧振電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述時(shí)鐘電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述調(diào)制電路的電阻參數(shù)可調(diào)；所述解調(diào)電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；圖6為本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定方法流程圖。如圖6所示，該方法包括步驟S601 將所述非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的各個(gè)電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)調(diào)整為預(yù)設(shè)初始值；S602 利用符合IS0/IEC 14443A標(biāo)準(zhǔn)的非接觸式IC卡讀卡器檢測(cè)所述非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置是否能夠正確接收讀卡器發(fā)送的命令以及回傳命令給讀卡器；S603 如果能，則將所述非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的各個(gè)電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)確定為非接觸式IC卡的實(shí)際工作參數(shù)；S604 否則，調(diào)整所述非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的至少一個(gè)電路的至少一個(gè)電容參數(shù)或電阻參數(shù)，重新進(jìn)行檢測(cè)。本說(shuō)明書中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說(shuō)明的都是與其他實(shí)施例的不同之處，各個(gè)實(shí)施例之間相同相似部分互相參見(jiàn)即可。對(duì)于實(shí)施例公開(kāi)的方法而言，由于其與實(shí)施例公開(kāi)的裝置相對(duì)應(yīng)，所以描述的比較簡(jiǎn)單，相關(guān)之處參見(jiàn)裝置部分說(shuō)明即可。本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本發(fā)明的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說(shuō)明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時(shí)，對(duì)于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在具體實(shí)施方式
及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處。綜上所述，本說(shuō)明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
權(quán)利要求
1.一種非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置，其特征在于，包括諧振電路、時(shí)鐘電路、調(diào)制電路和解調(diào)電路；所述諧振電路分別與所述時(shí)鐘電路和所述調(diào)制電路相連；所述解調(diào)電路與所述調(diào)制電路相連；所述諧振電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述時(shí)鐘電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述調(diào)制電路的電阻參數(shù)可調(diào)；所述解調(diào)電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述諧振電路包括諧振可調(diào)電阻，諧振可調(diào)電容，以及印制電路板內(nèi)置天線；所述印制電路板內(nèi)置天線的一端與所述諧振可調(diào)電阻連接，另外一端與地連接；所述諧振可調(diào)電阻的一端與所述印制電路板內(nèi)置天線連接，另外一端接所述諧振可調(diào)電容的正極；所述諧振可調(diào)電容的負(fù)極接地。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述印制電路板內(nèi)置天線為四圈金屬導(dǎo)線圍成的矩形線圈。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述時(shí)鐘電路包括高頻可調(diào)電容，高頻可調(diào)電阻，以及第一電壓比較器；所述高頻可調(diào)電容的正極接所述高頻可調(diào)電容的正極，所述高頻可調(diào)電容的負(fù)極與所述高頻可調(diào)電阻的第一端連接；所述高頻可調(diào)電阻的第一端與所述第一電壓比較器相連，第二端接地。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述電壓比較器為74HC14芯片；所述芯片的第一引腳接所述高頻可調(diào)電容的負(fù)極，所述芯片的第二引腳與第三引腳相連，所述芯片第四引腳與現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片的時(shí)鐘信號(hào)輸出引腳相連。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述調(diào)制電路包括NM0S管，第一可調(diào)電阻、第二可調(diào)電阻，以及穩(wěn)壓二極管；所述NMOS管的G端連接現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片的信號(hào)發(fā)送端，S端接地，D端接所述第一可調(diào)電阻；所述第一可調(diào)電阻另外一端接所述諧振電路輸出端；所述第二可調(diào)電阻的一端接所述諧振電路輸出端，另外一端接地。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述解調(diào)電路包括整流二極管，第三可調(diào)電阻，可調(diào)電容，和第二電壓比較器；所述整流二極管的正極接所述諧振電路輸出端，負(fù)極接所述可調(diào)電容的正極；所述第三可調(diào)電阻一端接所述整流二極管負(fù)極，另外一端接地； 所述可調(diào)電容的正極接所述整流二極管的負(fù)極，另外一端接地。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述第二電壓比較器為74HC14芯片；所述芯片的第一引腳接所述整流二極管的負(fù)極；所述芯片的第二引腳和第三引腳相連；所述芯片的第四引腳與現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列芯片的數(shù)據(jù)接收端相連。
9.一種非接觸式IC卡參數(shù)確定方法，其特征在于，采用非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置， 所述裝置包括諧振電路、時(shí)鐘電路、調(diào)制電路和解調(diào)電路；所述諧振電路分別與所述時(shí)鐘電路和所述調(diào)制電路相連；所述解調(diào)電路與所述調(diào)制電路相連；所述諧振電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述時(shí)鐘電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述調(diào)制電路的電阻參數(shù)可調(diào)；所述解調(diào)電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述方法包括將所述非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的各個(gè)電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)調(diào)整為預(yù)設(shè)初始值；利用符合IS0/IEC 14443A標(biāo)準(zhǔn)的非接觸式IC卡讀卡器檢測(cè)所述非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置是否能夠正確接收讀卡器發(fā)送的命令以及回傳命令給讀卡器；如果能，則將所述非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的各個(gè)電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)確定為非接觸式IC卡的實(shí)際工作參數(shù)；否則，調(diào)整所述非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置的至少一個(gè)電路的至少一個(gè)電容參數(shù)或電阻參數(shù)，重新進(jìn)行檢測(cè)。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)一種非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置和方法。所述裝置包括諧振電路、時(shí)鐘電路、調(diào)制電路和解調(diào)電路；所述諧振電路分別與所述時(shí)鐘電路和所述調(diào)制電路相連；所述解調(diào)電路與所述調(diào)制電路相連；所述諧振電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述時(shí)鐘電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)；所述調(diào)制電路的電阻參數(shù)可調(diào)；所述解調(diào)電路的電容參數(shù)及電阻參數(shù)可調(diào)。采用本發(fā)明的非接觸式IC卡參數(shù)確定裝置和方法，能夠利用符合ISO/IEC 14443A標(biāo)準(zhǔn)的讀卡器，確定非接觸式IC卡的參數(shù)。
文檔編號(hào)G06K7/00GK102567777SQ20111044759
公開(kāi)日2012年7月11日 申請(qǐng)日期2011年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月28日
發(fā)明者唐振輝, 康希, 彭杰濤, 方政, 熊遷, 郭俊 申請(qǐng)人:長(zhǎng)沙艾爾豐華電子科技有限公司