本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種獲取性能缺陷信息的方法及裝置。

背景技術(shù)：
目前智能手機(jī)用戶(hù)量越來(lái)越大，其中基于Android平臺(tái)的智能手機(jī)層出不窮；隨著智能手機(jī)處理器性能越來(lái)越強(qiáng)，對(duì)電池電量的消耗也越來(lái)越大，于是輕、快、好、省的手機(jī)應(yīng)用程序越來(lái)越受到用戶(hù)的歡迎；隨之而來(lái)的，對(duì)手機(jī)應(yīng)用程序的性能測(cè)試的需求也變得越來(lái)越大?，F(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)于手機(jī)應(yīng)用程序的性能測(cè)試而言，一般只對(duì)手機(jī)應(yīng)用程序中的某個(gè)APP(ApplicationProgram，應(yīng)用程序)的整體進(jìn)行性能測(cè)試，從而獲取所述某個(gè)APP整體的性能消耗和性能缺陷，使得手機(jī)應(yīng)用程序性能測(cè)試的精確度降低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
為了提高手機(jī)應(yīng)用程序性能測(cè)試的精確度，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種獲取性能缺陷信息的方法及裝置。所述技術(shù)方案如下：一種獲取性能缺陷信息的方法，包括：獲取被測(cè)程序的被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流，根據(jù)所述電池輸出瞬間電流和電池額定容量生成電池消耗時(shí)間；當(dāng)所述電池消耗時(shí)間大于預(yù)定消耗時(shí)間時(shí)，將測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊并打開(kāi)方法追蹤功能，生成跟蹤軌跡文件；根據(jù)所述跟蹤軌跡文件獲取所述被測(cè)模塊中所有方法的占用CPU時(shí)間百分比，在所有方法中，確定占用CPU時(shí)間百分比大于預(yù)定百分比的方法，獲取所述確定的方法的性能缺陷信息。一種獲取性能缺陷信息的裝置，包括：獲取生成模塊，用于獲取被測(cè)程序的被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流，根據(jù)所述電池輸出瞬間電流和電池額定容量生成電池消耗時(shí)間；文件生成模塊，用于當(dāng)所述電池消耗時(shí)間大于預(yù)定消耗時(shí)間時(shí)，將測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊并打開(kāi)方法追蹤功能，生成跟蹤軌跡文件；獲取模塊，用于根據(jù)所述跟蹤軌跡文件獲取所述被測(cè)模塊中所有方法的占用CPU時(shí)間百分比，在所有方法中，確定占用CPU時(shí)間百分比大于預(yù)定百分比的方法，獲取所述確定的方法的性能缺陷信息。本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案帶來(lái)的有益效果是：通過(guò)獲取被測(cè)程序的被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流；根據(jù)所述電池輸出瞬間電流生成電池消耗時(shí)間，當(dāng)所述電池消耗時(shí)間大于預(yù)定消耗時(shí)間時(shí)，將所述測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊并打開(kāi)方法追蹤功能，經(jīng)過(guò)相應(yīng)處理后獲取所述被測(cè)模塊中的性能缺陷信息；相比較現(xiàn)有技術(shù)只能測(cè)試出某個(gè)應(yīng)用程序APP整體的性能消耗和性能缺陷而言，本實(shí)施例使得性能測(cè)試的精確度提高，能測(cè)試出測(cè)試程序中被測(cè)模塊的某部分的性能缺陷信息。附圖說(shuō)明為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1是本發(fā)明實(shí)施例1提供的一種獲取性能缺陷信息的方法實(shí)施例的流程圖；圖2是本發(fā)明實(shí)施例2提供的一種獲取性能缺陷信息的方法實(shí)施例的流程圖；圖3是本發(fā)明實(shí)施例2提供的MethodProfiling數(shù)據(jù)顯示界面示意圖；圖4是本發(fā)明實(shí)施例3提供的一種獲取性能缺陷信息的裝置實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。具體實(shí)施方式本發(fā)明實(shí)施例提供一種獲取性能缺陷信息的方法及裝置。為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施方式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。實(shí)施例1參考圖1，圖1是本發(fā)明實(shí)施例1提供的一種獲取性能缺陷信息的方法實(shí)施例的流程圖；所述獲取性能缺陷信息的方法包括：S101：獲取被測(cè)程序的被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流，根據(jù)所述電池輸出瞬間電流和電池額定容量生成電池消耗時(shí)間。S102：當(dāng)所述電池消耗時(shí)間大于預(yù)定消耗時(shí)間時(shí)，將測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊并打開(kāi)方法追蹤功能，生成跟蹤軌跡文件。S103：根據(jù)所述跟蹤軌跡文件獲取所述被測(cè)模塊中所有方法的占用CPU時(shí)間百分比，在所有方法中，確定占用CPU時(shí)間百分比大于預(yù)定百分比的方法，獲取所述確定的方法的性能缺陷信息。進(jìn)一步地，所述獲取被測(cè)程序的被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流包括：執(zhí)行測(cè)試程序，記錄第一電池輸出瞬間電流；將所述測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊，對(duì)所述被測(cè)模塊執(zhí)行測(cè)試，記錄第二電池輸出瞬間電流；將所述第二電池輸出瞬間電流與所述第一電池輸出瞬間電流執(zhí)行差值運(yùn)算，得到所述被測(cè)程序的被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流。進(jìn)一步地，所述根據(jù)所述跟蹤軌跡文件獲取所述被測(cè)模塊中所有方法的占用CPU時(shí)間百分比包括：根據(jù)所述跟蹤軌跡文件生成方法追蹤數(shù)據(jù)信息；根據(jù)所述方法追蹤數(shù)據(jù)信息獲取所述被測(cè)模塊中所有方法的占用CPU時(shí)間百分比。進(jìn)一步地，所述測(cè)試程序?yàn)榛贏ndroid開(kāi)發(fā)平臺(tái)的應(yīng)用程序。進(jìn)一步地，當(dāng)所述被測(cè)模塊為顯示插件時(shí)，所述預(yù)定消耗時(shí)間為2個(gè)小時(shí)；當(dāng)所述被測(cè)模塊為交互插件時(shí)，所述預(yù)定消耗時(shí)間為7個(gè)小時(shí)；當(dāng)所述被測(cè)模塊為底層插件時(shí)，所述預(yù)定消耗時(shí)間為0.5個(gè)小時(shí)。進(jìn)一步地，所述性能缺陷信息包括：所述確定的方法的調(diào)用次數(shù)和所述確定的方法的占用CPU時(shí)間。進(jìn)一步地，所述預(yù)定百分比為5％。本實(shí)施例中，首先獲取被測(cè)程序的被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流；根據(jù)所述電池輸出瞬間電流生成電池消耗時(shí)間，當(dāng)所述電池消耗時(shí)間大于預(yù)定消耗時(shí)間時(shí)，將所述測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊并打開(kāi)方法追蹤功能，經(jīng)過(guò)相應(yīng)處理后獲取所述被測(cè)模塊中的性能缺陷信息；相比較現(xiàn)有技術(shù)只能測(cè)試出某個(gè)應(yīng)用程序APP整體的性能消耗和性能缺陷而言，本實(shí)施例使得手機(jī)應(yīng)用程序性能測(cè)試的精確度提高，能測(cè)試出測(cè)試程序中被測(cè)模塊的某部分的性能缺陷信息。實(shí)施例2參考圖2，圖2是本發(fā)明實(shí)施例2提供的一種獲取性能缺陷信息的方法實(shí)施例的流程圖；所述獲取性能缺陷信息的方法包括：S201：執(zhí)行測(cè)試程序，記錄第一電池輸出瞬間電流。實(shí)際應(yīng)用中，所述測(cè)試程序可以是基于Android開(kāi)發(fā)平臺(tái)的任一APP；只要是層次分離比較清楚的APP都可以作為測(cè)試程序，所述測(cè)試程序?yàn)榈婉詈铣绦?。本?shí)施例中，測(cè)試工具通過(guò)執(zhí)行所述測(cè)試程序的指定測(cè)試用例來(lái)記錄第一電池輸出瞬間電流。所述第一電池輸出瞬間電流可以以報(bào)表的形式存儲(chǔ)。S202：將所述測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊，對(duì)所述被測(cè)模塊執(zhí)行測(cè)試，記錄第二電池輸出瞬間電流。所述將所述測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊，具體為：測(cè)試工具通過(guò)所述測(cè)試程序調(diào)用被測(cè)程序的被測(cè)模塊的java類(lèi)來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)試程序的載入；測(cè)試工具對(duì)所述被測(cè)模塊的java類(lèi)執(zhí)行指定測(cè)試用例，并記錄第二電池輸出瞬間電流；所述第二電池輸出瞬間電流也可以以報(bào)表的形式存儲(chǔ)。本實(shí)施例中的被測(cè)模塊可以是插件，但是并不局限于此。S203：將所述第二電池輸出瞬間電流與所述第一電池輸出瞬間電流執(zhí)行差值運(yùn)算，得到被測(cè)程序的被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流。實(shí)際應(yīng)用中，將所述第二電池輸出瞬間電流減去所述第一電池輸出瞬間電流，得到的差值即為所述被測(cè)程序的被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流。S204：電池額定容量除以所述被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流，生成電池消耗時(shí)間。手機(jī)電池都具有電池額定容量，其單位是mAh(毫安時(shí))，電池額定容量直接反映手機(jī)電池的性能；所述被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流的單位是mA(毫安)。所述電池消耗時(shí)間為所述被測(cè)模塊的電池消耗時(shí)間。S205：當(dāng)所述電池消耗時(shí)間大于預(yù)定消耗時(shí)間時(shí)，將所述測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊并打開(kāi)方法追蹤功能，生成跟蹤軌跡文件。所述預(yù)定消耗時(shí)間與被測(cè)模塊的功能屬性有關(guān)系，且所述預(yù)定消耗時(shí)間為經(jīng)驗(yàn)值。當(dāng)所述被測(cè)模塊為顯示插件時(shí)，所述預(yù)定消耗時(shí)間為2個(gè)小時(shí)；其中，所述顯示插件表示具有顯示功能的插件都屬于顯示插件。當(dāng)所述被測(cè)模塊為交互插件時(shí)，所述預(yù)定消耗時(shí)間為7個(gè)小時(shí)，其中所述交互插件包括游戲和微博，但是并不局限于此，只要有互相交互功能的插件都屬于交互插件。當(dāng)所述被測(cè)模塊為底層插件時(shí)，所述預(yù)定消耗時(shí)間為0.5個(gè)小時(shí)；其中所述底層插件可以是Android系統(tǒng)的底層插件，例如具有邏輯功能的插件就屬于底層插件，但是并不局限于此。如果所述電池消耗時(shí)間大于所述預(yù)定消耗時(shí)間，說(shuō)明被測(cè)模塊的電池消耗時(shí)間過(guò)多，被測(cè)模塊性能存在缺陷，有待優(yōu)化。此時(shí)，需要再將所述測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊中，并打開(kāi)MethodProfiling(方法追蹤)功能，生成tracefile(跟蹤軌跡文件)。具體的，可以通過(guò)代碼編寫(xiě)的方式實(shí)現(xiàn)打開(kāi)MethodProfiling(方法追蹤)功能；其中，MethodProfiling是谷歌做的一個(gè)免費(fèi)和公開(kāi)的工具，在此不再贅述，具體可參見(jiàn)現(xiàn)有技術(shù)相關(guān)描述。S206：根據(jù)所述跟蹤軌跡文件獲取所述被測(cè)模塊中所有方法的占用CPU時(shí)間百分比。實(shí)際應(yīng)用中，根據(jù)所述跟蹤軌跡文件，運(yùn)行腳本，生成MethodProfiling數(shù)據(jù)；將所述MethodProfiling數(shù)據(jù)通過(guò)MethodProfiling數(shù)據(jù)顯示界面進(jìn)行顯示。參考圖3，圖3是本發(fā)明實(shí)施例2提供的MethodProfiling數(shù)據(jù)顯示界面示意圖；所述MethodProfiling數(shù)據(jù)顯示界面中的MethodProfiling數(shù)據(jù)信息包括Name、Incl％、Inclusive、Excl％、Exclusive和Calls+Rec，其中所述Name表示被測(cè)模塊中方法和類(lèi)的名稱(chēng)，所述Incl％表示被測(cè)模塊中每個(gè)方法自身和所述方法中所有子方法的總和的占用CPU時(shí)間百分比；所述Inclusive表示被測(cè)模塊中每個(gè)方法自身和所述方法中所有子方法的總和的占用CPU時(shí)間；所述Excl％表示被測(cè)模塊中每個(gè)方法的占用CPU時(shí)間百分比；所述Exclusive表示被測(cè)模塊中每個(gè)方法的占用CPU時(shí)間；Calls+Rec表示所述方法的主動(dòng)調(diào)用次數(shù)+被動(dòng)調(diào)用次數(shù)。根據(jù)所述MethodProfiling數(shù)據(jù)顯示界面中顯示的MethodProfiling數(shù)據(jù)，獲取所述被測(cè)模塊中每個(gè)方法的占用CPU時(shí)間百分比，即獲取所述MethodProfiling數(shù)據(jù)中的Excl％數(shù)值。S207：在所有方法中，確定占用CPU時(shí)間百分比大于預(yù)定百分比的方法，獲取所述確定的方法的性能缺陷信息。獲取所述被測(cè)模塊中所有方法在運(yùn)行中的占用CPU時(shí)間百分比后，在所有方法中，確定占用CPU時(shí)間百分比大于預(yù)定百分比的方法，獲取所述確定的方法的性能缺陷信息；其中所述預(yù)定百分比是經(jīng)驗(yàn)值，例如所述預(yù)定百分比可以為5％，參考圖3所示的Excl％數(shù)值可知，方法4(Excl％數(shù)值為53.2％)、方法8(Excl％數(shù)值為8.5％)和方法10(Excl％數(shù)值為6.3％)的占用CPU時(shí)間百分比大于預(yù)定百分比5％，從而可以獲取被測(cè)模塊中方法4、方法8和方法10的性能缺陷信息。其中，所述性能缺陷信息包括但不局限于：所述確定的方法的調(diào)用次數(shù)Calls+Rec和所述確定的方法的占用CPU時(shí)間Exclusive，其中所述確定的方法的調(diào)用次數(shù)包括所述確定的方法的主動(dòng)調(diào)用次數(shù)Calls和所述確定的方法的被動(dòng)調(diào)用次數(shù)Rec。本實(shí)施例中獲取所述被測(cè)模塊的性能缺陷信息后，便可獲取所述被測(cè)模塊中哪些方法存在性能缺陷，有待優(yōu)化；后續(xù)的，需要結(jié)合所述存在性能缺陷的方法的屬性信息和所述存在性能缺陷的方法的性能缺陷信息進(jìn)行綜合分析處理，最終獲取真正存在性能缺陷且可以實(shí)現(xiàn)優(yōu)化的方法，從而對(duì)所述方法進(jìn)行優(yōu)化處理，降低資源的消耗。本實(shí)施例中，在S201中，還可以記錄第一網(wǎng)絡(luò)流量和第一占用CPU時(shí)間，相應(yīng)的，S202中也可以記錄第二網(wǎng)絡(luò)流量和第二占用CPU時(shí)間；從而在S203中獲取所述被測(cè)程序的被測(cè)模塊的網(wǎng)絡(luò)流量和所述被測(cè)程序的被測(cè)模塊的占用CPU時(shí)間，其中，所述被測(cè)模塊的網(wǎng)絡(luò)流量通過(guò)第二網(wǎng)絡(luò)流量減去第一網(wǎng)絡(luò)流量得到，所述被測(cè)模塊的占用CPU時(shí)間通過(guò)第二占用CPU時(shí)間減去第一占用CPU時(shí)間得到。所述被測(cè)模塊的網(wǎng)絡(luò)流量和所述被測(cè)模塊的電池瞬間輸出電流成正比，所述被測(cè)模塊的占用CPU時(shí)間與所述被測(cè)模塊的電池瞬間輸出電流成正比。所述被測(cè)模塊的網(wǎng)絡(luò)流量和所述被測(cè)模塊的占用CPU時(shí)間可以以報(bào)表的形式存儲(chǔ)。所述被測(cè)模塊的網(wǎng)絡(luò)流量與業(yè)務(wù)直接相關(guān)，所述被測(cè)模塊的占用CPU時(shí)間與程序自身直接相關(guān)；如果根據(jù)所述被測(cè)模塊的電池瞬間輸出電流生成的電池消耗時(shí)間大于預(yù)定消耗時(shí)間時(shí)，可以參考一下所述被測(cè)模塊的網(wǎng)絡(luò)流量與被測(cè)模塊的占用CPU時(shí)間；具體地，此時(shí)如果被測(cè)模塊的網(wǎng)絡(luò)流量沒(méi)有超過(guò)第一預(yù)定值，而所述被測(cè)模塊的占用CPU時(shí)間超過(guò)第二預(yù)定值，說(shuō)明被測(cè)模塊的性能缺陷有可能是因?yàn)槌绦蚓帉?xiě)方面的原因，于是，在后續(xù)對(duì)性能缺陷信息進(jìn)行分析處理時(shí)，可以綜合考慮一下所述被測(cè)模塊的占用CPU時(shí)間；其中所述第一預(yù)定值和所述第二預(yù)定值為經(jīng)驗(yàn)值。此處只是列舉了一個(gè)例子而已，本發(fā)明實(shí)施例并不局限于此。本實(shí)施例中，首先獲取所述被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流；根據(jù)所述電池輸出瞬間電流生成電池消耗時(shí)間，當(dāng)所述電池消耗時(shí)間大于預(yù)定消耗時(shí)間時(shí)，將所述測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊并打開(kāi)方法追蹤功能，經(jīng)過(guò)相應(yīng)處理后獲取所述被測(cè)模塊中的性能缺陷信息；相比較現(xiàn)有技術(shù)只能測(cè)試出某個(gè)應(yīng)用程序APP整體的性能消耗和性能缺陷而言，本實(shí)施例使得手機(jī)應(yīng)用程序性能測(cè)試的精確度提高，能測(cè)試出測(cè)試程序中被測(cè)模塊的某部分的性能缺陷信息。此外，本實(shí)施例中獲取所述缺陷性能信息后，綜合存在性能缺陷方法的屬性信息、存在性能缺陷的方法的性能缺陷信息、被測(cè)模塊的網(wǎng)絡(luò)流量和被測(cè)模塊的占用CPU時(shí)間等因素進(jìn)行綜合分析處理，最終獲取真正存在性能缺陷并且可以實(shí)現(xiàn)優(yōu)化的方法，從而對(duì)所述方法進(jìn)行優(yōu)化處理，使得資源的消耗降低。實(shí)施例3參考圖4，圖4是本發(fā)明實(shí)施例3提供的一種獲取性能缺陷信息的裝置實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；所述獲取性能缺陷信息的裝置包括：獲取生成模塊401，用于獲取被測(cè)程序的被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流，根據(jù)所述電池輸出瞬間電流和電池額定容量生成電池消耗時(shí)間。文件生成模塊402，用于當(dāng)所述電池消耗時(shí)間大于預(yù)定消耗時(shí)間時(shí)，將測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊并打開(kāi)方法追蹤功能，生成跟蹤軌跡文件。獲取模塊403，用于根據(jù)所述跟蹤軌跡文件獲取所述被測(cè)模塊中所有方法的占用CPU時(shí)間百分比，在所有方法中，確定占用CPU時(shí)間百分比大于預(yù)定百分比的方法，獲取所述確定的方法的性能缺陷信息。其中，所述獲取生成模塊401包括：第一測(cè)試記錄單元，用于執(zhí)行測(cè)試程序，記錄第一電池輸出瞬間電流；第二測(cè)試記錄單元，用于將所述測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊，對(duì)所述被測(cè)模塊執(zhí)行測(cè)試，記錄第二電池輸出瞬間電流；電流獲取單元，用于將所述第二電池輸出瞬間電流與所述第一電池輸出瞬間電流執(zhí)行差值運(yùn)算，得到所述被測(cè)程序的被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流。所述獲取模塊403包括：展示表生成單元，用于根據(jù)所述跟蹤軌跡文件生成方法追蹤數(shù)據(jù)信息；百分比獲取單元，用于根據(jù)所述方法追蹤數(shù)據(jù)信息獲取所述被測(cè)模塊中所有方法的占用CPU時(shí)間百分比。進(jìn)一步地，當(dāng)所述被測(cè)模塊為顯示插件時(shí)，所述預(yù)定消耗時(shí)間為2個(gè)小時(shí)；當(dāng)所述被測(cè)模塊為交互插件時(shí)，所述預(yù)定消耗時(shí)間為7個(gè)小時(shí)；當(dāng)所述被測(cè)模塊為底層插件時(shí)，所述預(yù)定消耗時(shí)間為0.5個(gè)小時(shí)。本實(shí)施例中獲取模塊403獲取所述被測(cè)模塊的性能缺陷信息后，便可獲取所述被測(cè)模塊中哪些方法存在性能缺陷，有待優(yōu)化；后續(xù)的，需要結(jié)合所述存在性能缺陷的方法的屬性信息和所述存在性能缺陷的方法的性能缺陷信息進(jìn)行綜合分析處理，最終獲取真正存在性能缺陷且可以實(shí)現(xiàn)優(yōu)化的方法，從而對(duì)所述方法進(jìn)行優(yōu)化處理，降低資源的消耗。本實(shí)施例中，首先獲取所述被測(cè)模塊的電池輸出瞬間電流；根據(jù)所述電池輸出瞬間電流生成電池消耗時(shí)間，當(dāng)所述電池消耗時(shí)間大于預(yù)定消耗時(shí)間時(shí)，將所述測(cè)試程序載入被測(cè)程序的被測(cè)模塊并打開(kāi)方法追蹤功能，經(jīng)過(guò)相應(yīng)處理后獲取所述被測(cè)模塊中的性能缺陷信息；相比較現(xiàn)有技術(shù)只能測(cè)試出某個(gè)應(yīng)用程序APP整體的性能消耗和性能缺陷而言，本實(shí)施例使得手機(jī)應(yīng)用程序性能測(cè)試的精確度提高，能測(cè)試出測(cè)試程序中被測(cè)模塊的某部分的性能缺陷信息。需要說(shuō)明的是，本說(shuō)明書(shū)中的各個(gè)實(shí)施例均采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說(shuō)明的都是與其他實(shí)施例的不同之處，各個(gè)實(shí)施例之間相同相似的部分互相參見(jiàn)即可。對(duì)于裝置類(lèi)實(shí)施例而言，由于其與方法實(shí)施例基本相似，所以描述的比較簡(jiǎn)單，相關(guān)之處參見(jiàn)方法實(shí)施例的部分說(shuō)明即可。需要說(shuō)明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類(lèi)的關(guān)系術(shù)語(yǔ)僅僅用來(lái)將一個(gè)實(shí)體或者操作與另一個(gè)實(shí)體或操作區(qū)分開(kāi)來(lái)，而不一定要求或者暗示這些實(shí)體或操作之間存在任何這種實(shí)際的關(guān)系或者順序。而且術(shù)語(yǔ)“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒(méi)有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒(méi)有更多限制的情況下，由語(yǔ)句“包括一個(gè)……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過(guò)程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過(guò)硬件來(lái)完成，也可以通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件完成，所述的程序可以存儲(chǔ)于一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中，上述提到的存儲(chǔ)介質(zhì)可以是只讀存儲(chǔ)器，磁盤(pán)或光盤(pán)等。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。