專利名稱：Sata接口測試裝置及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種SATA (Serial Advanced Technology Attachment,串行高階配置)接 口測試裝置及測試方法。
背景技術(shù)：
主機(jī)板常用的硬盤接口有IDE (Integrated Drive Electronics,整合電子式驅(qū)動)、 ATA (Advanced Technology Attachment,高階配置)以及SATA三種標(biāo)準(zhǔn)。其中SATA接口相 較前兩者具有更高的數(shù)據(jù)傳輸率與更少的引腳，因而更加符合未來的接口標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展趨勢。
主機(jī)板在裝配完成之后，需經(jīng)過全面的功能測試，其中包括對主機(jī)板上各種接口的測試 。在對主機(jī)板的SATA接口進(jìn)行測試時(shí)，通常是通過連接SATA硬盤至主機(jī)板的SATA接口來進(jìn)行 測試。但由于硬盤的價(jià)格一般較高，而且在受到震動時(shí)也容易影響測試結(jié)果，因此在大規(guī)模 的生產(chǎn)線應(yīng)用時(shí)將會帶來較多的麻煩與額外成本。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述內(nèi)容，有必要提供無需使用SATA硬盤即可方便測試主機(jī)板的SATA接口的裝置及 測試方法。
一種SATA接口測試裝置，包括一暫存器、 一指示裝置、 一信號轉(zhuǎn)換器以及至少一SATA接 口，所述指示裝置與所述暫存器相連，所述暫存器與所述信號轉(zhuǎn)換器相連，所述信號轉(zhuǎn)換器 與所述SATA接口相連，所述信號轉(zhuǎn)換器通過所述SATA接口接收來自待測板的串行數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換 成并行數(shù)據(jù)給所述暫存器進(jìn)行數(shù)據(jù)的寫入校驗(yàn)，校驗(yàn)后的數(shù)據(jù)經(jīng)所述信號轉(zhuǎn)換器再轉(zhuǎn)換成串 行信號從所述SATA接口輸出給待測SATA接口并經(jīng)待測板的內(nèi)部程序進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀出校驗(yàn)，所 述指示裝置根據(jù)校驗(yàn)結(jié)果指示待測板上的SATA接口的好壞。
一種應(yīng)用所述SATA接口測試裝置來測試SATA接口的測試方法，用于測試待測板SATA接口 的功能是否正常，包括以下步驟待測板的測試程序向測試裝置的暫存器中發(fā)送一寫入命令 ，所述寫入命令通過待測板的SATA接口以及測試裝置的SATA接口將寫入命令傳送至所述信號 轉(zhuǎn)換器，所述信號轉(zhuǎn)換器將接收到的串行數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)信號傳送至所述暫存器； 測試裝置的暫存器中的測試程序驗(yàn)證寫入命令的內(nèi)容是否正確，若錯(cuò)誤則報(bào)告失敗，若正確 則所述暫存器存儲所述寫入命令的內(nèi)容；待測板的測試程序向測試裝置的暫存器中發(fā)出一讀 出命令，所述讀出命令通過待測板的SATA接口以及測試裝置的SATA接口將讀出命令傳送至所述信號轉(zhuǎn)換器，所述信號轉(zhuǎn)換器將接收到的串行數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)信號傳送至所述暫 存器；測試裝置的測試程序驗(yàn)證讀出命令的內(nèi)容是否正確，若錯(cuò)誤則報(bào)告失敗，若正確則所 述暫存器從其內(nèi)部取出寫入命令的內(nèi)容并將其轉(zhuǎn)換成為串行信號后通過所述測試裝置的 SATA接口以及待測板的SATA接口傳輸至待測板；及待測板的測試程序驗(yàn)證返回待測板的寫入 命令的內(nèi)容是否正確，若錯(cuò)誤則報(bào)告失敗，若正確則繼續(xù)循環(huán)進(jìn)行寫入動作。
相較現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明采用一專門的測試裝置及方法來完成對主機(jī)板SATA接口功能的測 試，該裝置及方法無需使用硬盤，不會因硬盤在測試中受到震動而影響測試效果，并可降低 測試成本。


下面結(jié)合附圖及較佳實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述 圖1是本發(fā)明SATA接口測試裝置的較佳實(shí)施方式的原理框圖； 圖2是本發(fā)明SATA接口測試方法的較佳實(shí)施方式的流程圖。
具體實(shí)施例方式
請參照圖l，本發(fā)明SATA接口測試裝置包括一指示裝置llO、 一暫存器120、 一信號轉(zhuǎn)換 器130以及一用于連接至待測板上SATA接口的SATA接口140，所述SATA接口140數(shù)量還可以為 多個(gè)，以同時(shí)測試待測板上多個(gè)SATA接口。所述指示裝置110與所述暫存器120相連，所述暫 存器120與所述信號轉(zhuǎn)換器130相連，所述信號轉(zhuǎn)換器130與所述SATA接口140相連。所述暫存 器120具有一定的存儲容量，用于模擬硬盤的存儲功能并存儲預(yù)設(shè)的測試程序。所述信號轉(zhuǎn) 換器130可以讀取所述暫存器120的內(nèi)容并將其轉(zhuǎn)換為串行信號后輸出至所述SATA接口 140， 還可以從所述SATA接口140接收串行信號并轉(zhuǎn)換為并行信號后傳輸至所述暫存器120，所述 SATA接口 140在測試時(shí)通過數(shù)據(jù)線連接至待測板上的SATA接口 。所述暫存器120中的測試程序 根據(jù)測試結(jié)果輸出指示信號，所述指示裝置110接收所述指示信號并根據(jù)該指示信號通過光 或聲的形式指示測試結(jié)果。
測試開始之前，首先需在待測板的BIOS (Basic Input/Output System,基本輸入/輸出 系統(tǒng))和本測試裝置的暫存器l20中各自燒入相應(yīng)的測試程序以及一固定且相同的特征數(shù)， 所述兩特征數(shù)也可不同，但測試程序需作相應(yīng)調(diào)整。所述待測板和本測試裝置的兩個(gè)測試程 序中各自包含一計(jì)數(shù)單元，將所述SATA接口 140通過數(shù)據(jù)線連接至待測板的SATA接口后并通 電，所述兩計(jì)數(shù)單元的值同時(shí)被初始化為O。測試程序?qū)⑺鰞捎?jì)數(shù)單元的值分別與2進(jìn)行取 模運(yùn)算，并根據(jù)運(yùn)算結(jié)果判斷下一個(gè)動作，若運(yùn)算結(jié)果為O，則進(jìn)行寫入動作，若運(yùn)算結(jié)果 為l，則進(jìn)行讀出動作， 一次寫入動作或一次讀出動作完成后所述兩計(jì)數(shù)單元均自動加一并重新與2進(jìn)行取模運(yùn)算，再根據(jù)運(yùn)算結(jié)果判斷下一次動作，并依次循環(huán)往復(fù)，所述兩計(jì)數(shù)單 元的數(shù)值保持一致。
請參照圖2，本發(fā)明SATA接口測試方法的較佳實(shí)施方式是應(yīng)用所述SATA接口測試裝置來 測試待測板上的SATA接口，該方法包括
步驟S1，寫入動作時(shí)，所述待測板的測試程序向測試裝置的暫存器120發(fā)送一寫入命令 ，所述寫入命令是通過所述SATA接口140以及所述信號轉(zhuǎn)換器130發(fā)送至所述暫存器120的， 所述寫入命令的內(nèi)容由一地址串接一寫入指令代碼以及一寫入數(shù)據(jù)組成。其中，所述地址為 所述待測板測試程序中的特征數(shù)與計(jì)數(shù)單元的數(shù)值的乘積，所述寫入數(shù)據(jù)由所述地址與特征 數(shù)進(jìn)行異或運(yùn)算得出。
步驟S2，所述測試裝置的測試程序驗(yàn)證所述寫入命令中的地址與寫入數(shù)據(jù)是否正確，若 錯(cuò)誤則報(bào)告失敗，若正確則繼續(xù)進(jìn)行測試。即當(dāng)所述寫入命令傳送至所述測試裝置以后，所 述測試裝置的測試程序驗(yàn)證所述地址是否等于所述測試裝置測試程序中的計(jì)數(shù)單元的數(shù)值與 特征數(shù)的乘積，若不相等則向所述指示裝置110發(fā)出測試失敗的信息，若相等則繼續(xù)驗(yàn)證所 述寫入數(shù)據(jù)是否等于所述地址與所述測試裝置測試程序中的特征數(shù)進(jìn)行異或運(yùn)算的數(shù)值，若 不相等則向所述指示裝置110發(fā)出失敗信息，若相等則將所述寫入數(shù)據(jù)存入所述測試裝置的 暫存器120中并等待讀出命令。
步驟S3，讀出動作時(shí)，所述待測板的測試程序向測試裝置的暫存器120發(fā)出一讀出命令 ，所述讀出命令也是通過所述SATA接口140以及所述信號轉(zhuǎn)換器130發(fā)送至所述暫存器120的 ，所述讀出命令的內(nèi)容由一與所述寫入命令的地址相同的地址串接一讀出指令代碼組成。
步驟S4，所述測試裝置的測試程序驗(yàn)證所述讀出命令中的地址是否正確，若錯(cuò)誤則報(bào)告 失敗，若正確則取出寫入數(shù)據(jù)并返回給待測板。即當(dāng)讀出命令傳送至所述測試裝置后，所述 測試裝置驗(yàn)證所述地址是否等于所述測試裝置測試程序中的計(jì)數(shù)單元與特征數(shù)的乘積，若不 相等則向所述指示裝置110發(fā)出測試失敗的信息，若相等則讀取存儲于所述暫存器120中的寫 入數(shù)據(jù)并將其傳送回待測板。
步驟S5，所述待測板的測試程序驗(yàn)證返回的寫入數(shù)據(jù)是否正確，當(dāng)所述待測板收到 SATA接口測試裝置傳回的寫入數(shù)據(jù)后，將驗(yàn)證所述返回的寫入數(shù)據(jù)是否等于所述寫入命令的 地址與待測板的測試程序的特征數(shù)進(jìn)行異或運(yùn)算的數(shù)值，若不相等則向所述測試裝置的暫存 器120發(fā)出一指示命令，所述暫存器120通過所述指示命令控制所述指示裝置110發(fā)出測試失 敗的信息，若相等則繼續(xù)循環(huán)進(jìn)行步驟S1。
以上一個(gè)寫入動作以及一個(gè)讀出動作即為一個(gè)循環(huán)，每次測試需進(jìn)行的循環(huán)次數(shù)可以通過測試程序的參數(shù)設(shè)定。若所有的循環(huán)測試均成功，則說明所述待測板通過SATA接口的功能 測試，若其中有一個(gè)循環(huán)測試失敗，則所述待測板SATA接口的功能測試失敗。
相較現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明采用一專門的測試裝置及測試方法來完成對主機(jī)板SATA接口的測 試，無需使用硬盤，不會因硬盤在使用中受到震動而影響測試效果，并可降低測試成本。
權(quán)利要求
1. 一種SATA接口測試裝置，包括一暫存器、 一指示裝置、 一信號轉(zhuǎn) 換器以及至少一SATA接口，所述指示裝置與所述暫存器相連，所述暫存器與所述信號轉(zhuǎn)換器 相連，所述信號轉(zhuǎn)換器與所述SATA接口相連，所述信號轉(zhuǎn)換器通過所述SATA接口接收來自待 測板的串行數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)給所述暫存器進(jìn)行數(shù)據(jù)的寫入校驗(yàn)，校驗(yàn)后的數(shù)據(jù)經(jīng)所述 信號轉(zhuǎn)換器再轉(zhuǎn)換成串行信號從所述SATA接口輸出給待測SATA接口并經(jīng)待測板的內(nèi)部程序進(jìn) 行數(shù)據(jù)的讀出校驗(yàn)，所述指示裝置根據(jù)校驗(yàn)結(jié)果指示待測板上的SATA接口的好壞。
2.如權(quán)利要求1所述的SATA接口測試裝置，其特征在于所述暫存 器存儲有一校驗(yàn)所述來自待測板的數(shù)據(jù)的測試程序。
3.一種應(yīng)用權(quán)利要求1所述的SATA接口測試裝置來測試SATA接口的 測試方法，用于測試待測板SATA接口的功能是否正常，包括以下步驟待測板的測試程序向測試裝置的暫存器中發(fā)送一寫入命令，所述寫入命令通過待測板 的SATA接口以及測試裝置的SATA接口將寫入命令傳送至所述信號轉(zhuǎn)換器，所述信號轉(zhuǎn)換器將 接收到的串行數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)信號傳送至所述暫存器；測試裝置的暫存器中的測試程序驗(yàn)證寫入命令的內(nèi)容是否正確，若錯(cuò)誤則報(bào)告失敗， 若正確則所述暫存器存儲所述寫入命令的內(nèi)容；待測板的測試程序向測試裝置的暫存器中發(fā)出一讀出命令，所述讀出命令通過待測板 的SATA接口以及測試裝置的SATA接口將讀出命令傳送至所述信號轉(zhuǎn)換器，所述信號轉(zhuǎn)換器將 接收到的串行數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)信號傳送至所述暫存器；測試裝置的測試程序驗(yàn)證讀出命令的內(nèi)容是否正確，若錯(cuò)誤則報(bào)告失敗，若正確則所 述暫存器從其內(nèi)部取出寫入命令的內(nèi)容并將其轉(zhuǎn)換成為串行信號后通過所述測試裝置的 SATA接口以及待測板的SATA接口傳輸至待測板；及待測板的測試程序驗(yàn)證返回待測板的寫入命令的內(nèi)容是否正確，若錯(cuò)誤則報(bào)告失敗， 若正確則繼續(xù)循環(huán)進(jìn)行寫入動作。
4.如權(quán)利要求3所述的SATA接口測試方法，其特征在于所述待測板向測試裝置的暫存器發(fā)送的寫入命令的內(nèi)容由一地址串接一寫入指令代碼及一寫入數(shù)據(jù)組 成，所述地址為所述待測板測試程序中的一特征數(shù)與一計(jì)數(shù)單元的數(shù)值的乘積，所述寫入數(shù) 據(jù)由所述地址與特征數(shù)進(jìn)行異或運(yùn)算得出。權(quán)利要求5如權(quán)利要求4所述的SATA接口測試方法，其特征在于所述測試 裝置通過判斷所述寫入命令的地址是否等于所述測試裝置測試程序中的一計(jì)數(shù)單元的數(shù)值與 一特征數(shù)的乘積來驗(yàn)證其是否正確，以及判斷所述寫入命令的寫入數(shù)據(jù)是否等于所述寫入命 令的地址與所述測試裝置測試程序中的特征數(shù)進(jìn)行異或運(yùn)算的數(shù)值來驗(yàn)證其是否正確。權(quán)利要求6如權(quán)利要求5所述的SATA接口測試方法，其特征在于所述待測 板向測試裝置發(fā)送的讀出命令的內(nèi)容由一地址串接一讀出指令代碼組成。權(quán)利要求7如權(quán)利要求6所述的SATA接口測試方法，其特征在于所述測試 裝置的測試程序通過判斷所述讀出命令的地址是否等于其計(jì)數(shù)單元與特征數(shù)的乘積來驗(yàn)證其 是否正確。權(quán)利要求8如權(quán)利要求7所述的SATA接口測試方法，其特征在于所述待測 板的測試程序通過判斷所述返回待測板的寫入命令的寫入數(shù)據(jù)是否等于所述寫入命令的地址 與待測板的測試程序的特征數(shù)進(jìn)行異或運(yùn)算的數(shù)值來驗(yàn)證其是否正確。
全文摘要
一種SATA接口測試裝置，包括一暫存器、一指示裝置、一信號轉(zhuǎn)換器以及至少一SATA接口，所述指示裝置與所述暫存器相連，所述暫存器與所述信號轉(zhuǎn)換器相連，所述信號轉(zhuǎn)換器與所述SATA接口相連，所述信號轉(zhuǎn)換器通過所述SATA接口接收來自待測板的串行數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)換成并行數(shù)據(jù)給所述暫存器進(jìn)行數(shù)據(jù)的寫入校驗(yàn)，校驗(yàn)后的數(shù)據(jù)經(jīng)所述信號轉(zhuǎn)換器再轉(zhuǎn)換成串行信號從所述SATA接口輸出給待測SATA接口并經(jīng)待測板的內(nèi)部程序進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀出校驗(yàn)，所述指示裝置根據(jù)校驗(yàn)結(jié)果指示待測板上的SATA接口的好壞。本發(fā)明還揭示了一SATA接口測試方法，使用該裝置及方法測試主機(jī)板SATA接口的功能時(shí)無需使用硬盤，不會因硬盤受到震動而影響測試效果，并可降低測試成本。
文檔編號G06F11/267GK101311906SQ20071020066
公開日2008年11月26日 申請日期2007年5月22日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月22日
發(fā)明者柯光隆, 謝明志 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司