專(zhuān)利名稱：微控制單元的電壓檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子器件測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種微控制單元的電壓檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
隨著大規(guī)模集成裝置的出現(xiàn)及發(fā)展，微控制單元(Micro Controller Unit,簡(jiǎn)稱MCU)可以將計(jì)算機(jī)的CPU (中央處理器)、RAM (隨機(jī)存儲(chǔ)器)、ROM (只讀內(nèi)存)、定時(shí)數(shù)器和多種I/O (輸入/輸出)接口集成在一片芯片上，形成芯片級(jí)的計(jì)算機(jī)，為不同的應(yīng)用場(chǎng)合做不同組合控制。 目前的電子產(chǎn)品是一般都由一顆或一顆以上的MCU組成的系統(tǒng)，MCU的輸入電壓VDD是由電池直接供電或者電池分壓后供電的，通過(guò)電池分壓供電時(shí)，MCU的電壓跟隨電池電壓的變化而變化，因此通過(guò)檢測(cè)MCU的輸入電壓VDD能得知當(dāng)前的電池電壓。當(dāng)電池電壓下降到某一值時(shí)，會(huì)對(duì)系統(tǒng)的某些性能產(chǎn)生影響。因此需要對(duì)電池電壓或者與電池電壓有跟隨關(guān)系的電壓進(jìn)行檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)電壓下降到某一閾值時(shí)，自動(dòng)禁止系統(tǒng)的部分功能并提醒更換電池。MCU的輸入電壓檢測(cè)通常需要利用MCU內(nèi)置的A/D (模擬/數(shù)字)轉(zhuǎn)換器或者低壓檢測(cè)模塊實(shí)現(xiàn)電壓檢測(cè)功能，內(nèi)置A/D轉(zhuǎn)換器或者低壓檢測(cè)模塊雖然檢測(cè)結(jié)果較為精確，但是會(huì)導(dǎo)致MCU的成本增加。在一些低成本的MCU中，并未內(nèi)置A/D轉(zhuǎn)換器或者低壓檢測(cè)模塊，其可以簡(jiǎn)單的通過(guò)外部擴(kuò)展A/D轉(zhuǎn)換器來(lái)實(shí)現(xiàn)電壓檢測(cè)功能，但是此種情況下成本并未降低。所以，對(duì)于一些電壓檢測(cè)精度要求不高，而成本控制要求相對(duì)較高的場(chǎng)合，通過(guò)內(nèi)置或者外部擴(kuò)展A/D轉(zhuǎn)換器的方式都無(wú)法滿足成本方面的要求。目前市場(chǎng)上有通過(guò)三極管、電容、電阻等器件搭成的電壓檢測(cè)的方案，但性能不好，且受環(huán)境影響比較大(比如不同溫度環(huán)境下檢測(cè)點(diǎn)電壓變化非常大)，使其應(yīng)用價(jià)值不明顯，推廣困難。經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間研究，終于發(fā)明出受溫度環(huán)境影響小，成本低，檢測(cè)精度高的電壓檢測(cè)方案。因此，如何提供一種微控制單元的電壓檢測(cè)裝置，能夠在降低成本的同時(shí)，精確地檢測(cè)微控制單元的電壓，已成為本領(lǐng)域技術(shù)人員需要解決的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于，提供一種微控制單元的電壓檢測(cè)裝置，能夠在降低成本的同時(shí)，精確地檢測(cè)微控制單元的待測(cè)電壓。為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供一種微控制單元的電壓檢測(cè)裝置，包括微控制單元和電壓檢測(cè)單元所述微控制單元包括電壓輸入端口、時(shí)間檢測(cè)單元和控制單元；所述控制單元與所述電壓輸入端口和時(shí)間檢測(cè)單元連接，待測(cè)電壓通過(guò)所述電壓輸入端口輸入控制單元，所述控制單元向所述電壓檢測(cè)單元輸出一輸出電壓，所述輸出電壓至少包括第一電壓和第二電壓，所述電壓檢測(cè)單元向所述控制單元輸出一反饋電壓，所述控制單元檢測(cè)所述輸出電壓和反饋電壓并提供給所述時(shí)間檢測(cè)單元，所述時(shí)間檢測(cè)單元在控制單元輸出的第一電壓、第二電壓下分別測(cè)得所述電壓檢測(cè)單元的第一放電時(shí)間和第二放電時(shí)間，根據(jù)第一放電時(shí)間和第二放電時(shí)間的比值得到待測(cè)電壓，或者所述時(shí)間檢測(cè)單元分別在控制單元輸出的第一電壓、第二電壓下分別測(cè)得所述電壓檢測(cè)單元的第一充電時(shí)間和第二充電時(shí)間， 根據(jù)第一充電時(shí)間和第二充電時(shí)間的比值得到所述待測(cè)電壓。進(jìn)一步的，所述微控制單元包括一第一輸入/輸出端口，所述電壓檢測(cè)單元包括電容和電阻，所述電容的一端與所述電阻的一端連接后與所述第一輸入/輸出端口相連，所述電容的另一端與所述電阻的另一端相連并接地。進(jìn)一步的，所述控制單元將第一輸入/輸出端口設(shè)置為輸出狀態(tài)，所述輸出電壓為第一電壓，所述電容開(kāi)始充電，直至所述電容飽和；所述控制單元將第一輸入/輸出端口設(shè)置為輸入狀態(tài)，所述控制單元通過(guò)第一輸入/輸出端口接收所述反饋電壓，所述電容開(kāi)始放電，所述時(shí)間檢測(cè)單元開(kāi)始計(jì)時(shí)，直至所述電容電壓降至所述第一輸入/輸出端口的低電平門(mén)限電壓，所述時(shí)間檢測(cè)單元計(jì)時(shí)結(jié)束，計(jì)為第一放電時(shí)間；所述控制單兀將所述第一輸入/輸出端口設(shè)置為輸出狀態(tài)，所述第一輸入/輸出端口輸出第二電壓，所述電容開(kāi)始充電，直至所述電容飽和；所述控制單元將第一輸入/輸出端口設(shè)置為輸入狀態(tài)，所述電容開(kāi)始放電，時(shí)間檢測(cè)單元開(kāi)始計(jì)時(shí)，直至所述電容電壓降至所述第一輸入/輸出端口的低電平門(mén)限電壓，所述時(shí)間檢測(cè)單元計(jì)時(shí)結(jié)束，計(jì)為第二放電時(shí)間；計(jì)算第一放電時(shí)間與第二放電時(shí)間的比值；根據(jù)第一放電時(shí)間與第二放電時(shí)間的比值，查表得到所述電壓輸入端口的實(shí)際電壓。進(jìn)一步的，所述第一電壓或者第二電壓中有一個(gè)且只有一個(gè)等于待測(cè)電壓。進(jìn)一步的，所述微控制單兀包括一第二輸入/輸出端口和一電壓輸出端口，控制單元通過(guò)所述電壓輸出端口向電壓檢測(cè)單元輸出所述輸出電壓，所述電壓檢測(cè)單元包括電容和電阻，所述電容的一端與所述電阻的一端相連并與所述第二輸入/輸出端口相連，所述電容的另一端輸入的電壓等于待測(cè)電壓，所述電阻的另一端與所述電壓輸出端口相連。進(jìn)一步的，所述控制單元將電壓輸出端口設(shè)置為輸出狀態(tài)，所述輸出電壓為第一電壓，所述第二輸入/輸出端口設(shè)置為輸出狀態(tài)，所述電容開(kāi)始放電，直到所述第二輸入/輸出端口輸出待測(cè)電壓；所述控制單元將第二輸入/輸出端口設(shè)置為輸入狀態(tài)，所述電容開(kāi)始充電，所述時(shí)間檢測(cè)單元自所述電容開(kāi)始充電計(jì)時(shí)，直至所述第二輸入/輸出端口電壓下降到低電平門(mén)限電壓，所述時(shí)間檢測(cè)單元計(jì)時(shí)結(jié)束，計(jì)為第一充電時(shí)間；所述控制單元將電壓輸出端口設(shè)置為輸出狀態(tài)，所述輸出電壓為第二電壓，所述第二輸入/輸出端口設(shè)置為輸出狀態(tài)，所述電容開(kāi)始放電，直到所述第二輸入/輸出端口輸出待測(cè)電壓；所述控制單元將第二輸入/輸出端口設(shè)置為輸入狀態(tài)，所述電容開(kāi)始充電，時(shí)間檢測(cè)單元自電容開(kāi)始充電計(jì)時(shí)，直至所述第二輸入/輸出端口電壓下降到低電平門(mén)限電壓，所述時(shí)間檢測(cè)單元計(jì)時(shí)結(jié)束，計(jì)為第二充電時(shí)間；計(jì)算第一充電時(shí)間與第二充電時(shí)間的比值；
根據(jù)第一充電時(shí)間與第二充電時(shí)間的比值，查表得到所述電壓輸入端口的實(shí)際電壓。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的微控制單元的電壓檢測(cè)裝置具有以下優(yōu)點(diǎn)I、本發(fā)明提供的微控制單元的電壓檢測(cè)裝置，包括微控制單元和電壓檢測(cè)單元，所述微控制單元的控制單元向所述電壓檢測(cè)單元輸出一輸出電壓，所述輸出電壓至少包括第一電壓和第二電壓，所述電壓檢測(cè)單元向所述控制單元輸出一反饋電壓，所述控制單元檢測(cè)所述輸出電壓和反饋電壓并提供給所述 時(shí)間檢測(cè)單元，所述時(shí)間檢測(cè)單元在控制單元輸出的第一電壓、第二電壓下分別測(cè)得所述電壓檢測(cè)單元的第一放電時(shí)間和第二放電時(shí)間，根據(jù)第一放電時(shí)間和第二放電時(shí)間的比值得到待測(cè)電壓，或者所述時(shí)間檢測(cè)單元分別在控制單元輸出的第一電壓、第二電壓下分別測(cè)得所述電壓檢測(cè)單元的第一充電時(shí)間和第二充電時(shí)間，根據(jù)第一充電時(shí)間和第二充電時(shí)間的比值得到所述待測(cè)電壓，與現(xiàn)有技術(shù)相t匕，采用本發(fā)明的電壓檢測(cè)裝置的成本低，并且外圍電路簡(jiǎn)化，測(cè)試方法簡(jiǎn)單，實(shí)現(xiàn)了檢測(cè)待測(cè)電壓的功能，同時(shí)本發(fā)明的電壓檢測(cè)裝置不受溫度等環(huán)境的影響，檢測(cè)精度高。2、本發(fā)明提供的微控制單元的電壓檢測(cè)裝置，所述時(shí)間檢測(cè)單元設(shè)置于所述微控制單元內(nèi)，利用所述微控制單元本身的所述時(shí)間檢測(cè)單元對(duì)所述電壓檢測(cè)單元的充電時(shí)間或放電時(shí)間進(jìn)行檢測(cè)，有利于簡(jiǎn)化電路，降低成本。


圖I為本發(fā)明一實(shí)施例中微控制單元的電壓檢測(cè)裝置的示意圖；圖2為本發(fā)明一實(shí)施例中微控制單元的電壓檢測(cè)裝置的第一輸入/輸出端口的波形示意圖；圖3為本發(fā)明一實(shí)施例中標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間比與待測(cè)電壓關(guān)系對(duì)照表對(duì)應(yīng)的時(shí)間比與電壓關(guān)系圖；圖4為本發(fā)明另一實(shí)施例中微控制單元的電壓檢測(cè)裝置的示意圖；圖5為本發(fā)明另一實(shí)施例中微控制單元的電壓檢測(cè)裝置的電壓輸出端口和第二輸入/輸出端口的波形示意圖；圖6為本發(fā)明另一實(shí)施例中標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間比與待測(cè)電壓關(guān)系對(duì)照表對(duì)應(yīng)的時(shí)間比與電壓關(guān)系圖。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合示意圖對(duì)本發(fā)明的微控制單元的電壓檢測(cè)裝置進(jìn)行更詳細(xì)的描述，其中表示了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，應(yīng)該理解本領(lǐng)域技術(shù)人員可以修改在此描述的本發(fā)明，而仍然實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的有利效果。因此，下列描述應(yīng)當(dāng)被理解為對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員的廣泛知道，而并不作為對(duì)本發(fā)明的限制。為了清楚，不描述實(shí)際實(shí)施例的全部特征。在下列描述中，不詳細(xì)描述公知的功能和結(jié)構(gòu)，因?yàn)樗鼈儠?huì)使本發(fā)明由于不必要的細(xì)節(jié)而混亂。應(yīng)當(dāng)認(rèn)為在任何實(shí)際實(shí)施例的開(kāi)發(fā)中，必須做出大量實(shí)施細(xì)節(jié)以實(shí)現(xiàn)開(kāi)發(fā)者的特定目標(biāo)，例如按照有關(guān)系統(tǒng)或有關(guān)商業(yè)的限制，由一個(gè)實(shí)施例改變?yōu)榱硪粋€(gè)實(shí)施例。另外，應(yīng)當(dāng)認(rèn)為這種開(kāi)發(fā)工作可能是復(fù)雜和耗費(fèi)時(shí)間的，但是對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員來(lái)說(shuō)僅僅是常規(guī)工作。
在下列段落中參照附圖以舉例方式更具體地描述本發(fā)明。根據(jù)下面說(shuō)明和權(quán)利要求書(shū)，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征將更清楚。需說(shuō)明的是，附圖均采用非常簡(jiǎn)化的形式且均使用非精準(zhǔn)的比例，僅用以方便、明晰地輔助說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的目的。本發(fā)明的核心思想在于，提供一種微控制單元的電壓檢測(cè)裝置，該電壓檢測(cè)裝置包括微控制單元和電壓檢測(cè)單元所述微控制單元包括電壓輸入端口、時(shí)間檢測(cè)單元和控制單元；所述控制單元與所述電壓輸入端口和時(shí)間檢測(cè)單元連接，待測(cè)電壓通過(guò)所述電壓輸入端口輸入控制單元，所述控制單元向所述電壓檢測(cè)單元輸出一輸出電壓，所述輸出電壓至少包括第一電壓和第二電壓，所述電壓檢測(cè)單元向所述控制單元輸出一反饋電壓，所述控制單元檢測(cè)所述輸出電壓和反饋電壓并提供給所述時(shí)間檢測(cè)單元，所述時(shí)間檢測(cè)單元 在控制單元輸出的第一電壓、第二電壓下分別測(cè)得所述電壓檢測(cè)單元的第一放電時(shí)間和第二放電時(shí)間，根據(jù)第一放電時(shí)間和第二放電時(shí)間的比值得到待測(cè)電壓，或者所述時(shí)間檢測(cè)單元分別在控制單元輸出的第一電壓、第二電壓下分別測(cè)得所述電壓檢測(cè)單元的第一充電時(shí)間和第二充電時(shí)間，根據(jù)第一充電時(shí)間和第二充電時(shí)間的比值得到待測(cè)電壓。以下列舉所述微控制單元的電壓檢測(cè)裝置的幾個(gè)實(shí)施例，以清楚說(shuō)明本發(fā)明的內(nèi)容，應(yīng)當(dāng)明確的是，本發(fā)明的內(nèi)容并不限制于以下實(shí)施例，其他通過(guò)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員的常規(guī)技術(shù)手段的改進(jìn)亦在本發(fā)明的思想范圍之內(nèi)。第一實(shí)施例以下請(qǐng)參考圖1，其為本發(fā)明一實(shí)施例中微控制單元的電壓檢測(cè)裝置的示意圖。如圖I所示，電壓檢測(cè)裝置包括微控制單元110和電壓檢測(cè)單元120。所述微控制單元110包括電壓輸入端口 111、時(shí)間檢測(cè)單元114和控制單元115。所述控制單元115與所述電壓輸入端口 111和時(shí)間檢測(cè)單元114連接，待測(cè)電壓通過(guò)所述電壓輸入端口 111輸入控制單元115，所述控制單元115向所述電壓檢測(cè)單元120輸出一輸出電壓，所述輸出電壓至少包括第一電壓和第二電壓，所述電壓檢測(cè)單元120向所述控制單元115輸出一反饋電壓，所述控制單元115檢測(cè)所述輸出電壓和反饋電壓并提供給所述時(shí)間檢測(cè)單元114，所述時(shí)間檢測(cè)單元在控制單元輸出的第一電壓、第二電壓下分別測(cè)得所述電壓檢測(cè)單元的第一放電時(shí)間和第二放電時(shí)間，根據(jù)第一放電時(shí)間和第二放電時(shí)間的比值得到待測(cè)電壓。在本實(shí)施例中，時(shí)間檢測(cè)單元114設(shè)置于微控制單元110內(nèi)，為微控制單元110本身自帶的，如定時(shí)器，可以進(jìn)一步的簡(jiǎn)化電路，降低成本。較佳的，時(shí)間檢測(cè)單元110還包括用于計(jì)算時(shí)間比的計(jì)算單元，以方便將檢測(cè)到的兩個(gè)放電時(shí)間做除得到時(shí)間比。在本實(shí)施例中，所述微控制單元110包括一第一輸入/輸出端口 112，所述電壓檢測(cè)單元包括電容121和電阻122，所述電容121的一端與所述電阻122的一端連接后與所述第一輸入/輸出端口 112相連,所述電容121的另一端與所述電阻122的另一端相連并接地。其中，電容121的容值較佳的為O. OluF 10 μ F，優(yōu)選O. 05uF、0. luF、0. 5uF、I μ F、5μ F、8y F，電阻 122 的阻值較佳的為 IkQ IM Ω，優(yōu)選 2k Ω、5k Ω、IOk Ω、IOOk Ω、500k Ω、800kΩ，但電容121的容值和電阻122的阻值并不限于上述范圍，只要能滿足充放電的需要即可。以下結(jié)合圖2-圖3具體說(shuō)明本實(shí)施例中微控制單元的電壓檢測(cè)裝置的測(cè)試方法。其中，圖2為本發(fā)明一實(shí)施例中微控制單元的電壓檢測(cè)裝置的第一輸入/輸出端口的波形示意圖；圖3為本發(fā)明一實(shí)施例中標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間比與待測(cè)電壓關(guān)系對(duì)照表對(duì)應(yīng)的時(shí)間比與電壓關(guān)系圖。本發(fā)明的微控制單元的電壓檢測(cè)裝置在進(jìn)行測(cè)試前需要先建立一標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間比與待測(cè)電壓關(guān)系對(duì)照表，具體如下所述控制單兀115將第一輸入/輸出端口 112設(shè)置為輸出狀態(tài),所述輸出電壓為第一電壓V1,電容121開(kāi)始充電，直至電容121飽和；所述控制單元115將第一輸入/輸出端口 112設(shè)置為輸入狀態(tài)，所述控制單元115通過(guò)第一輸入/輸出端口 112接收所述反饋電壓，電容121開(kāi)始放電，時(shí)間檢測(cè)單元114開(kāi)始計(jì)時(shí)，直至電容121電壓降至第一輸入/輸出端口 112的低電平門(mén)限電壓'，所述時(shí)間檢測(cè)單元114計(jì)時(shí)結(jié)束，計(jì)為第一放電時(shí)間T1 ；所述控制單兀115將第一輸入/輸出端口 112設(shè)置為輸出狀態(tài),第一輸入/輸出端口 112輸出第二電壓V2,電容121開(kāi)始充電，直至電容121飽和；所述控制單兀115將第一輸入/輸出端口 112設(shè)置為輸入狀態(tài)，電容121開(kāi)始放電，時(shí)間檢測(cè)單元114開(kāi)始計(jì)時(shí)，直至電容121電壓降至第一輸入/輸出端口 112的低電平門(mén)限電壓 '，時(shí)間檢測(cè)單元114計(jì)時(shí)結(jié)束，計(jì)為第二放電時(shí)間T2 ；計(jì)算第一放電時(shí)間T1與第二放電時(shí)間T2的比值，即時(shí)間比N ；其中，第一電壓V1或者第二電壓V2中有一個(gè)且只有一個(gè)等于待測(cè)電壓\。然后所述控制單元115根據(jù)待測(cè)電壓Vk和對(duì)應(yīng)的所述時(shí)間比N制得一標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間比與待測(cè)電壓關(guān)系對(duì)照表。在建立所述標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間比與待測(cè)電壓關(guān)系對(duì)照表的步驟中，所述待測(cè)電壓Vk為已知電壓，在本實(shí)施例中，所述待測(cè)電壓Vk依次取值為3. OV到3. 9V，但所述待測(cè)電壓Vk的取值范圍不做限定。參見(jiàn)圖2，根據(jù)上述步驟，當(dāng)所述第一輸入/輸出端口 112輸出電壓為V1時(shí)，測(cè)得時(shí)間T1，見(jiàn)圖2的階段I ;當(dāng)所述第一輸入/輸出端口 112輸出電壓為V2時(shí)，測(cè)得時(shí)間T2，見(jiàn)圖2的階段2。電容121的放電公式為
權(quán)利要求
1.一種微控制單元的電壓檢測(cè)裝置，包括微控制單元和電壓檢測(cè)單元所述微控制單元包括電壓輸入端口、時(shí)間檢測(cè)單元和控制單元；所述控制單元與所述電壓輸入端口和時(shí)間檢測(cè)單元連接，待測(cè)電壓通過(guò)所述電壓輸入端口輸入控制單元，所述控制單元向所述電壓檢測(cè)單元輸出一輸出電壓，所述輸出電壓至少包括第一電壓和第二電壓，所述電壓檢測(cè)單元向所述控制單元輸出一反饋電壓，所述控制單元檢測(cè)所述輸出電壓和反饋電壓并提供給所述時(shí)間檢測(cè)單元，所述時(shí)間檢測(cè)單元在控制單元輸出的第一電壓、第二電壓下分別測(cè)得所述電壓檢測(cè)單元的第一放電時(shí)間和第二放電時(shí)間，根據(jù)第一放電時(shí)間和第二放電時(shí)間的比值得到待測(cè)電壓，或者所述時(shí)間檢測(cè)單元分別在控制單元輸出的第一電壓、第二電壓下分別測(cè)得所述電壓檢測(cè)單元的第一充電時(shí)間和第二充電時(shí)間，根據(jù)第一充電時(shí)間和第二充電時(shí)間的比值得到所述待測(cè)電壓。
2.如權(quán)利要求I所述的微控制單元的電壓檢測(cè)裝置，其特征在于，所述微控制單元包括一第一輸入/輸出端口，所述電壓檢測(cè)單兀包括電容和電阻，所述電容的一端與所述電阻的一端連接后與所述第一輸入/輸出端口相連，所述電容的另一端與所述電阻的另一端相連并接地。
3.如權(quán)利要求2所述的微控制單元的電壓檢測(cè)裝置，其特征在于， 所述控制單兀將所述第一輸入/輸出端口設(shè)置為輸出狀態(tài)，所述輸出電壓為第一電壓，所述電容開(kāi)始充電，直至所述電容飽和； 所述控制單元將所述第一輸入/輸出端口設(shè)置為輸入狀態(tài)，所述控制單元通過(guò)所述第一輸入/輸出端口接收所述反饋電壓，所述電容開(kāi)始放電，所述時(shí)間檢測(cè)單元開(kāi)始計(jì)時(shí)，直至所述電容電壓降至所述第一輸入/輸出端口的低電平門(mén)限電壓，所述時(shí)間檢測(cè)單元計(jì)時(shí)結(jié)束，計(jì)為第一放電時(shí)間； 所述控制單兀將所述第一輸入/輸出端口設(shè)置為輸出狀態(tài)，所述第一輸入/輸出端口輸出第二電壓，所述電容開(kāi)始充電，直至所述電容飽和； 所述控制單元將所述第一輸入/輸出端口設(shè)置為輸入狀態(tài)，所述電容開(kāi)始放電，所述時(shí)間檢測(cè)單元開(kāi)始計(jì)時(shí)，直至所述電容電壓降至所述第一輸入/輸出端口的低電平門(mén)限電壓，所述時(shí)間檢測(cè)單元計(jì)時(shí)結(jié)束，計(jì)為第二放電時(shí)間； 計(jì)算第一放電時(shí)間與第二放電時(shí)間的比值； 根據(jù)第一放電時(shí)間與第二放電時(shí)間的比值，查表得到所述電壓輸入端口的實(shí)際電壓。
4.如權(quán)利要求3所述的微控制單元的電壓檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一電壓或者第二電壓中有一個(gè)且只有一個(gè)等于待測(cè)電壓。
5.如權(quán)利要求I所述的微控制單元的電壓檢測(cè)裝置，其特征在于，所述微控制單元包括一第二輸入/輸出端口和一電壓輸出端口，控制單兀通過(guò)所述電壓輸出端口向電壓檢測(cè)單元輸出所述輸出電壓，所述電壓檢測(cè)單元包括電容和電阻，所述電容的一端與所述電阻的一端相連并與所述第二輸入/輸出端口相連，所述電容的另一端輸入的電壓等于待測(cè)電壓，所述電阻的另一端與所述電壓輸出端口相連。
6.如權(quán)利要求5所述的微控制單元的電壓檢測(cè)裝置，其特征在于 所述控制單元將電壓輸出端口設(shè)置為輸出狀態(tài)，所述輸出電壓為第一電壓，所述第二輸入/輸出端口設(shè)置為輸出狀態(tài)，所述電容開(kāi)始放電，直到所述第二輸入/輸出端口輸出待測(cè)電壓；所述控制單元將第二輸入/輸出端口設(shè)置為輸入狀態(tài)，所述電容開(kāi)始充電，所述時(shí)間檢測(cè)單元自所述電容開(kāi)始充電計(jì)時(shí)，直至所述第二輸入/輸出端口電壓下降到低電平門(mén)限電壓，所述時(shí)間檢測(cè)單元計(jì)時(shí)結(jié)束，計(jì)為第一充電時(shí)間； 所述控制單元將電壓輸出端口設(shè)置為輸出狀態(tài)，所述輸出電壓為第二電壓，所述第二輸入/輸出端口設(shè)置為輸出狀態(tài)，所述電容開(kāi)始放電，直到所述第二輸入/輸出端口輸出待測(cè)電壓； 所述控制單元將第二輸入/輸出端口設(shè)置為輸入狀態(tài)，所述電容開(kāi)始充電，時(shí)間檢測(cè)單元自電容開(kāi)始充電計(jì)時(shí)，直至所述第二輸入/輸出端口電壓下降到低電平門(mén)限電壓，所述時(shí)間 檢測(cè)單元計(jì)時(shí)結(jié)束，計(jì)為第二充電時(shí)間； 計(jì)算第一充電時(shí)間與第二充電時(shí)間的比值； 根據(jù)第一充電時(shí)間與第二充電時(shí)間的比值，查表得到所述電壓輸入端口的實(shí)際電壓。
全文摘要
本發(fā)明揭示了一種微控制單元的電壓檢測(cè)裝置，該電壓檢測(cè)裝置包括微控制單元和電壓檢測(cè)單元所述微控制單元包括電壓輸入端口、時(shí)間檢測(cè)單元和控制單元；所述控制單元與所述電壓輸入端口和時(shí)間檢測(cè)單元連接，待測(cè)電壓通過(guò)所述電壓輸入端口提供給控制單元，所述控制單元向所述電壓檢測(cè)單元輸出一輸出電壓，所述電壓檢測(cè)單元向所述控制單元輸出一反饋電壓，所述控制單元檢測(cè)所述輸出電壓和反饋電壓并提供給所述時(shí)間檢測(cè)單元，所述時(shí)間檢測(cè)單元測(cè)得所述電壓檢測(cè)單元的充電時(shí)間或放電時(shí)間，根據(jù)兩次測(cè)得的充電時(shí)間的比值或者兩次放電時(shí)間的比值得到待測(cè)電壓值。本發(fā)明的電壓檢測(cè)裝置，能夠在降低成本的同時(shí)，精確地檢測(cè)微控制單元的電壓。
文檔編號(hào)G05B19/042GK102929184SQ20121048454
公開(kāi)日2013年2月13日 申請(qǐng)日期2012年11月23日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月23日
發(fā)明者鄭尊標(biāo), 黃聰 申請(qǐng)人:杭州士蘭微電子股份有限公司