X射線熒光分析設(shè)備的制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了X射線熒光分析設(shè)備，屬于分析設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域；所述的樣品臺(tái)的前側(cè)設(shè)有濾光片；所述的分析箱體內(nèi)的底部設(shè)有驅(qū)動(dòng)裝置；所述的分析箱體側(cè)壁的上方設(shè)有探測(cè)裝置；所述的探測(cè)裝置與模數(shù)轉(zhuǎn)換機(jī)構(gòu)連接；所述的X射線發(fā)生器設(shè)置在分析箱體的前側(cè)；且X射線發(fā)生器設(shè)置在分析箱體底部的滑軌上；所述的X射線發(fā)生器與智能控制裝置連接。它結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，操作方便，靈活性好，可以分析不同距離的X射線的熒光數(shù)據(jù)，分析結(jié)果準(zhǔn)度高，分析的效果也高。
【專利說(shuō)明】
X射線熒光分析設(shè)備
[0001 ] 技術(shù)領(lǐng)域:
[0002]本實(shí)用新型涉及分析設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及X射線熒光分析設(shè)備。
[0003]【背景技術(shù)】:
[0004]X射線熒光分析是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法。被廣泛地應(yīng)用于生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)、考古學(xué)、法學(xué)以及材料科學(xué)等方面。
[0005]X射線熒光分析又稱X射線次級(jí)發(fā)射光譜分析。本法系利用原級(jí)X射線光子或其它微觀粒子激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生次級(jí)的特征X射線(X光熒光)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法。1948年由H.費(fèi)里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一臺(tái)波長(zhǎng)色散X射線熒光分析儀，至60年代本法在分析領(lǐng)域的地位得以確立?，F(xiàn)代X射線熒光光譜分析儀由以下幾部分組成:X射線發(fā)生器(X射線管、高壓電源及穩(wěn)定穩(wěn)流裝置)、分光檢測(cè)系統(tǒng)(分析晶體、準(zhǔn)直器與檢測(cè)器)、記數(shù)記錄系統(tǒng)(脈沖輻射分析器、定標(biāo)計(jì)、計(jì)時(shí)器、積分器、記錄器)。不同元素具有波長(zhǎng)不同的特征X射線譜，而各譜線的熒光強(qiáng)度又與元素的濃度呈一定關(guān)系，測(cè)定待測(cè)元素特征X射線譜線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度就可以進(jìn)行定性和定量分析。本法具有譜線簡(jiǎn)單、分析速度快、測(cè)量元素多、能進(jìn)行多元素同時(shí)分析等優(yōu)點(diǎn)，是目前大氣顆粒物元素分析中廣泛應(yīng)用的三大分析手段之一(其他兩方法為中子活化分析和質(zhì)子焚光分析)。
[0006]熒光，顧名思義就是在光的照射下發(fā)出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過(guò)對(duì)上述X射線熒光的分析確定被測(cè)樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。
[0007]現(xiàn)有的X射線熒光分析儀結(jié)構(gòu)過(guò)于分散，設(shè)備儀器零部件較多在測(cè)試時(shí)，前續(xù)工作繁瑣，易出現(xiàn)失誤。
[0008]【實(shí)用新型內(nèi)容】:
[0009]針對(duì)上述問(wèn)題，本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理、操作方便、加工效率高且質(zhì)量穩(wěn)定的X射線熒光分析設(shè)備。
[0010]本實(shí)用新型的X射線熒光分析設(shè)備，它包含分析箱體、樣品臺(tái)、濾光片、驅(qū)動(dòng)裝置、探測(cè)裝置、模數(shù)轉(zhuǎn)換機(jī)構(gòu)、X射線發(fā)生器、智能控制裝置;所述的分析箱體內(nèi)設(shè)有樣品臺(tái)；所述的樣品臺(tái)的前側(cè)設(shè)有濾光片;所述的分析箱體內(nèi)的底部設(shè)有驅(qū)動(dòng)裝置;所述的分析箱體側(cè)壁的上方設(shè)有探測(cè)裝置;所述的探測(cè)裝置與模數(shù)轉(zhuǎn)換機(jī)構(gòu)連接;所述的X射線發(fā)生器設(shè)置在分析箱體的前側(cè);且X射線發(fā)生器設(shè)置在分析箱體底部的滑軌上;所述的X射線發(fā)生器與智能控制裝置連接。
[0011]作為優(yōu)選，所述的分析箱體內(nèi)的一圈都設(shè)有濾光片，避免雜事深入箱體中。
[0012]作為優(yōu)選，所述的X射線發(fā)生器與分析箱體之間設(shè)有伸縮連接管，專用與X射線的發(fā)射，避免光的遺漏。
[0013]作為優(yōu)選，所述的探測(cè)裝置上設(shè)監(jiān)控裝置，便于智能控制裝置隨時(shí)掌控分析箱體內(nèi)的狀況。
[0014]本實(shí)用新型操作時(shí)，根據(jù)需要調(diào)節(jié)X射線發(fā)生器在軌道上的位置，通過(guò)智能控制裝置控制X射線發(fā)生器的運(yùn)作，X射線發(fā)射到樣品臺(tái)上的樣品上，經(jīng)探測(cè)裝置的探測(cè)，將探測(cè)結(jié)果通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)傳遞給智能控制裝置。
[0015]本實(shí)用新型的有益效果:它結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，操作方便，靈活性好，可以分析不同距離的X射線的熒光數(shù)據(jù)，分析結(jié)果準(zhǔn)度高，分析的效果也高。
[0016]【附圖說(shuō)明】:
[0017]為了易于說(shuō)明，本實(shí)用新型由下述的具體實(shí)施及附圖作以詳細(xì)描述。
[0018]圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)不意圖；
[0019]圖中:
[0020]分析箱體1、樣品臺(tái)2、濾光片3、驅(qū)動(dòng)裝置4、探測(cè)裝置5、模數(shù)轉(zhuǎn)換機(jī)構(gòu)6、X射線發(fā)生器7、智能控制裝置8、滑軌9、伸縮連接管10。
[0021]【具體實(shí)施方式】:
[0022]如圖1所示，本【具體實(shí)施方式】采用以下技術(shù)方案:它包含分析箱體1、樣品臺(tái)2、濾光片3、驅(qū)動(dòng)裝置4、探測(cè)裝置5、模數(shù)轉(zhuǎn)換機(jī)構(gòu)6、X射線發(fā)生器7、智能控制裝置8;所述的分析箱體I內(nèi)設(shè)有樣品臺(tái)2;所述的樣品臺(tái)2的前側(cè)設(shè)有濾光片3;所述的分析箱體I內(nèi)的底部設(shè)有驅(qū)動(dòng)裝置4;所述的分析箱體I側(cè)壁的上方設(shè)有探測(cè)裝置5;所述的探測(cè)裝置5與模數(shù)轉(zhuǎn)換機(jī)構(gòu)6連接;所述的X射線發(fā)生器7設(shè)置在分析箱體I的前側(cè);且X射線發(fā)生器7設(shè)置在分析箱體I底部的滑軌9上;所述的X射線發(fā)生器7與智能控制裝置8連接。
[0023]作為優(yōu)選，所述的分析箱體I內(nèi)的一圈都設(shè)有濾光片3，避免雜事深入箱體中。
[0024]作為優(yōu)選，所述的X射線發(fā)生器7與分析箱體I之間設(shè)有伸縮連接管10，專用與X射線的發(fā)射，避免光的遺漏。
[0025]作為優(yōu)選，所述的探測(cè)裝置5上設(shè)監(jiān)控裝置，便于智能控制裝置8隨時(shí)掌控分析箱體I內(nèi)的狀況。
[0026]本實(shí)用新型操作時(shí)，根據(jù)需要調(diào)節(jié)X射線發(fā)生器7在軌道9上的位置，通過(guò)智能控制裝置8控制X射線發(fā)生器7的運(yùn)作，X射線發(fā)射到樣品臺(tái)2上的樣品上，經(jīng)探測(cè)裝置5的探測(cè)，將探測(cè)結(jié)果通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)6傳遞給智能控制裝置8。
[0027]本【具體實(shí)施方式】結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，操作方便，靈活性好，可以分析不同距離的X射線的熒光數(shù)據(jù)，分析結(jié)果準(zhǔn)度高，分析的效果也高。
[0028]以上顯示和描述了本實(shí)用新型的基本原理和主要特征以及本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)。本行業(yè)的技術(shù)人員應(yīng)該了解，本實(shí)用新型不受上述實(shí)施例的限制，上述實(shí)施例和說(shuō)明書中描述的只是說(shuō)明本實(shí)用新型的原理，在不脫離本實(shí)用新型精神和范圍的前提下，本實(shí)用新型還會(huì)有各種變化和改進(jìn)，這些變化和改進(jìn)都落入要求保護(hù)的本實(shí)用新型范圍內(nèi)。本實(shí)用新型要求保護(hù)范圍由所附的權(quán)利要求書及其等效物界定。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.X射線熒光分析設(shè)備，其特征在于它包含分析箱體、樣品臺(tái)、濾光片、驅(qū)動(dòng)裝置、探測(cè)裝置、模數(shù)轉(zhuǎn)換機(jī)構(gòu)、X射線發(fā)生器、智能控制裝置;所述的分析箱體內(nèi)設(shè)有樣品臺(tái)；所述的樣品臺(tái)的前側(cè)設(shè)有濾光片;所述的分析箱體內(nèi)的底部設(shè)有驅(qū)動(dòng)裝置;所述的分析箱體側(cè)壁的上方設(shè)有探測(cè)裝置;所述的探測(cè)裝置與模數(shù)轉(zhuǎn)換機(jī)構(gòu)連接;所述的X射線發(fā)生器設(shè)置在分析箱體的前側(cè);且X射線發(fā)生器設(shè)置在分析箱體底部的滑軌上;所述的X射線發(fā)生器與智能控制裝置連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線熒光分析設(shè)備，其特征在于所述的分析箱體內(nèi)的一圈都設(shè)有濾光片。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線熒光分析設(shè)備，其特征在于所述的X射線發(fā)生器與分析箱體之間設(shè)有伸縮連接管。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線熒光分析設(shè)備，其特征在于所述的探測(cè)裝置上設(shè)監(jiān)控裝置。
【文檔編號(hào)】G01N23/223GK205538758SQ201620230444
【公開日】2016年8月31日
【申請(qǐng)日】2016年3月24日
【發(fā)明人】劉海文
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