空間電荷的測試系統(tǒng)及測試方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種空間電荷的測試系統(tǒng)及測試方法，所述空間電荷的測試系統(tǒng)包括：設(shè)置在測試臺面上表面的銅電極、用于屏蔽銅電極的屏蔽罩以及一端與銅電極連接、另一端穿出屏蔽罩的銅導(dǎo)體；用于固定電纜試樣的電纜限位裝置；安裝在測試臺面下表面且與銅電極正對的第一屏蔽盒以及從上至下依次設(shè)置在第一屏蔽盒中的第一壓電傳感器、第一鋁箔、第一有機(jī)玻璃壓塊；安裝在測試臺面下表面且與電纜限位裝置正對的第二屏蔽盒以及從上至下依次設(shè)置在第二屏蔽盒中的第二壓電傳感器、第二鋁箔、第二有機(jī)玻璃壓塊；用于接收第一壓電傳感器和第二壓電傳感器發(fā)送的電信號的信號放大器。本發(fā)明提供的空間電荷的測試系統(tǒng)及測試方法，提高了空間電荷的測量效率。
【專利說明】
空間電荷的測試系統(tǒng)及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及電氣設(shè)備絕緣和聚合物電性能檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種空間電荷的測試系統(tǒng)及測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]聚合物中存在大量的陷阱，在電場的作用下，陷阱捕獲載流子形成空間電荷，空間電荷嚴(yán)重畸變聚合物絕緣的內(nèi)部電場。同極性空間電荷減小電極附近的電場強(qiáng)度，而異極性空間電荷將增大該區(qū)域的電場強(qiáng)度，從而影響電極的電荷注入、載流子的迀移率和聚合物材料的擊穿強(qiáng)度等。因此，通過對材料空間電荷分布的測量，不僅可以了解到電介質(zhì)材料中空間電荷的建立和衰減過程，而且還可以對電介質(zhì)材料電擊穿和電老化過程有更深的了解，這對于選擇合適的材料、在高電場作用下提高材料電擊穿強(qiáng)度具有重要的意義。
[0003]隨著微電子技術(shù)和傳感器技術(shù)的迅速發(fā)展，出現(xiàn)了各種優(yōu)良的空間電荷測試裝置并得到了迅速發(fā)展，這為研究空間電荷的動態(tài)分布以及它對材料的電導(dǎo)特性和擊穿強(qiáng)度的影響提供了良好的實(shí)驗(yàn)條件。根據(jù)測試原理的不同，可以將空間電荷分布的測量方法分為三類:(I)熱擴(kuò)散法:將一個(gè)熱脈沖施加于被測試樣上，利用熱在試樣中的擴(kuò)散對局部區(qū)域中的電荷產(chǎn)生擾動，這種擾動將產(chǎn)生一個(gè)電響應(yīng)，通過測量這個(gè)電響應(yīng)就可以獲取試樣中空間電荷的分布信息；(2)壓力波法:當(dāng)波以聲波的速度通過試樣時(shí)，使試樣中的電荷產(chǎn)生了位移擾動，這個(gè)位移擾動產(chǎn)生一個(gè)電響應(yīng)，通過測量這個(gè)電響應(yīng)就可以得到試樣中的空間電荷分布；(3)電聲脈沖法:通過電極對試樣的一面施加一個(gè)超窄電脈沖，使試樣中的電荷受到一個(gè)變化的靜電力作用，進(jìn)而產(chǎn)生一個(gè)彈性波，波的振幅與電荷量成正比關(guān)系，當(dāng)這個(gè)彈性波以聲速通過試樣時(shí)，利用壓電傳感器對聲波的測量就可以得到試樣中空間電荷的分布狀況。
[0004]相比之下，電聲脈沖法作為一種無損的、可重復(fù)性強(qiáng)的、高壓回路與信號回路分開的測量方法，是目前應(yīng)用最為廣泛的空間電荷測量方法。現(xiàn)有技術(shù)中，基于電聲脈沖法的空間電荷測試系統(tǒng)只能測試單一類試樣的空間電荷分布狀態(tài)，例如，對電纜絕緣層和薄片試樣的空間電荷分布狀態(tài)的測量分別采用不同的測試系統(tǒng)，測試系統(tǒng)的使用范圍受限、測試效率低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明所要解決的是現(xiàn)有的基于電聲脈沖法的空間電荷測試系統(tǒng)只能測試單一類試樣的空間電荷分布狀態(tài)的問題。
[0006]本發(fā)明通過下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
一種空間電荷的測試系統(tǒng)，包括測試臺面、上電極裝置、電纜限位裝置、第一下電極裝置、第二下電極裝置以及信號放大器;所述上電極裝置包括設(shè)置在所述測試臺面上表面的銅電極、用于屏蔽所述銅電極的屏蔽罩以及一端與所述銅電極連接、另一端穿出所述屏蔽罩的銅導(dǎo)體，所述屏蔽罩與所述測試臺面上表面圍成的空腔之中填充有環(huán)氧樹脂;所述電纜限位裝置設(shè)置在所述測試臺面上表面，用于固定電纜試樣;所述第一下電極裝置包括安裝在所述測試臺面下表面且與所述銅電極正對的第一屏蔽盒以及從上至下依次設(shè)置在所述第一屏蔽盒中的第一壓電傳感器、第一鋁箔、第一有機(jī)玻璃壓塊;所述第二下電極裝置包括安裝在所述測試臺面下表面且與所述電纜限位裝置正對的第二屏蔽盒以及從上至下依次設(shè)置在所述第二屏蔽盒中的第二壓電傳感器、第二鋁箔、第二有機(jī)玻璃壓塊;所述信號放大器用于接收所述第一壓電傳感器和所述第二壓電傳感器發(fā)送的電信號。
[0007]本發(fā)明技術(shù)方案提供的空間電荷測試系統(tǒng)，通過設(shè)計(jì)單獨(dú)的電極裝置以及共用的信號放大器，既可以測量電纜試樣的空間電荷分布，又可以測量平板試樣的空間電荷分布，使系統(tǒng)既可以用于實(shí)際電纜絕緣狀態(tài)診斷，又可用于材料科學(xué)的研究。與現(xiàn)有技術(shù)中對電纜絕緣層和薄片試樣的空間電荷分布狀態(tài)的測量分別采用不同的測試系統(tǒng)相比，大大提高了測量效率，并減小了測量系統(tǒng)的體積。
[0008]可選的，所述屏蔽罩為圓柱形屏蔽罩，所述銅導(dǎo)體的另一端垂直穿出所述圓柱形屏蔽罩的上表面。
[0009]可選的，所述圓柱形屏蔽罩的側(cè)面通過法蘭固定在所述測試臺面上表面。通過法蘭固定，方便拆卸所述屏蔽罩。
[0010]可選的，所述電纜限位裝置包括平行安裝在所述測試臺面上表面、用于限制電纜試樣水平位置的第一豎板和第二豎板以及設(shè)置在所述第一豎板和所述第二豎板之間、用于限制電纜試樣垂直位置的T型壓塊。
[0011]可選的，所述T型壓塊的下表面設(shè)置有開口向下的V型槽。通過在T型壓塊下表面設(shè)置開口向下的V型槽，可以適應(yīng)不同線徑的電纜試樣，并增大所述T型壓塊與電纜試樣的接觸面積，更有利于電纜試樣的固定。
[0012]可選的，所述V型槽的槽底設(shè)置為倒角結(jié)構(gòu)。通過將V型槽的槽底設(shè)置為倒角結(jié)構(gòu)，可以進(jìn)一步增大所述T型壓塊與電纜試樣的接觸面積。
[0013]可選的，所述電纜限位裝置包括至少一個(gè)通過可拆卸連接方式安裝在所述測試臺面上表面且開口向下的半圓弧緊位環(huán)。
[0014]可選的，所述空間電荷的測試系統(tǒng)還包括與所述測試臺面構(gòu)成封閉腔體的側(cè)板和底板，所述信號放大器設(shè)置在所述封閉腔體中。
[0015]可選的，所述空間電荷的測試系統(tǒng)還包括設(shè)置在所述封閉墻體中、通過固定夾安裝在所述底板上的屏蔽箱，所述信號放大器設(shè)置在所述屏蔽箱中。通過設(shè)置所述屏蔽箱，可以防止外部噪聲信號對所述信號放大器處理的信號產(chǎn)生干擾，從而提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
[0016]基于上述空間電荷的測試系統(tǒng)，本發(fā)明還提供一種空間電荷的測試方法，包括測試電纜試樣的空間電荷和測試平板試樣的空間電荷；
測試電纜試樣的空間電荷包括:將電纜試樣固定在所述電纜限位裝置中；以電纜線芯為正極、所述第二鋁箔為負(fù)極，對電纜絕緣部分施加電場;繼續(xù)施加電場，同時(shí)對電纜線芯施加高壓脈沖，利用所述第二壓電傳感器接收機(jī)械波并將機(jī)械波轉(zhuǎn)化為電信號，由所述信號放大器將電信號放大后輸出至信號采集設(shè)備；
測試平板試樣的空間電荷包括:將平板試樣放置在所述銅電極下；以所述銅導(dǎo)體為正極、所述第一鋁箔為負(fù)極，對平板試樣施加電場;繼續(xù)施加電場，同時(shí)對所述銅導(dǎo)體施加高壓脈沖，利用所述第一壓電傳感器接收機(jī)械波并將機(jī)械波轉(zhuǎn)化為電信號，由所述信號放大器將電信號放大后輸出至信號采集設(shè)備。
[0017]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有如下的優(yōu)點(diǎn)和有益效果:
本發(fā)明提供的空間電荷的測試系統(tǒng)及測試方法，通過設(shè)計(jì)單獨(dú)的電極裝置以及共用的信號放大器，既可以測量電纜試樣的空間電荷分布，又可以測量平板試樣的空間電荷分布，大大提高了空間電荷的測量效率，減小了測量系統(tǒng)的體積。
【附圖說明】
[0018]此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明實(shí)施例的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，并不構(gòu)成對本發(fā)明實(shí)施例的限定。在附圖中:
圖1是本發(fā)明實(shí)施例的空間電荷的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2是本發(fā)明另一種實(shí)施例的電纜限位裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖3是本發(fā)明實(shí)施例的第一下電極裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖4是本發(fā)明實(shí)施例的第二下電極裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0019]附圖中標(biāo)記及對應(yīng)的零部件名稱:
1-測試臺面，21-銅電極，22-屏蔽罩，23-銅導(dǎo)體，24-環(huán)氧樹脂，31-第一屏蔽盒，32-第一壓電傳感器，33-第一鋁箔，34-第一有機(jī)玻璃壓塊，41-第二屏蔽盒，42-第二壓電傳感器，43-第二鋁箔，44-第二有機(jī)玻璃壓塊，51-第一豎板，52-第二豎板，53-T型壓塊，61-半圓弧緊位環(huán)，62-緊固螺栓，71-固定夾，72-屏蔽箱，81-電纜線芯，82-電纜絕緣部分。
【具體實(shí)施方式】
[0020]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，下面結(jié)合實(shí)施例和附圖，對本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明，本發(fā)明的示意性實(shí)施方式及其說明僅用于解釋本發(fā)明，并不作為對本發(fā)明的限定。
實(shí)施例
[0021]圖1是本發(fā)明實(shí)施例的空間電荷的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，所述空間電荷的測試系統(tǒng)包括測試臺面1、上電極裝置、電纜限位裝置、第一下電極裝置、第二下電極裝置以及信號放大器。其中，所述上電極裝置和所述第一下電極裝置組成了平板試樣的空間電荷測量部分，所述電纜限位裝置和所述第二下電極裝置組成了電纜試樣的空間電荷測量部分，所述信號放大器為兩測量部分共用。
[0022]具體地，所述上電極裝置包括設(shè)置在所述測試臺面I上表面的銅電極21、用于屏蔽所述銅電極21的屏蔽罩22以及一端與所述銅電極21連接、另一端穿出所述屏蔽罩22的銅導(dǎo)體23，所述屏蔽罩22與所述測試臺面I上表面圍成的空腔之中填充有環(huán)氧樹脂24。通過填充所述環(huán)氧樹脂24，可以防止在測試平板試樣時(shí)發(fā)聲局部放電。在本實(shí)施例中，所述銅電極21為圓柱電極。所述屏蔽罩22為圓柱形屏蔽罩，所述銅導(dǎo)體23的另一端垂直穿出所述圓柱形屏蔽罩的上表面。進(jìn)一步，所述圓柱形屏蔽罩的側(cè)面通過法蘭25固定在所述測試臺面I上表面，所述法蘭25通過緊固螺栓固定在所述測試臺面I上表面。
[0023]所述電纜限位裝置設(shè)置在所述測試臺面I上表面，用于固定電纜試樣。所述電纜限位裝置的一種具體結(jié)構(gòu)如圖1所示，包括平行安裝在所述測試臺面I上表面、用于限制電纜試樣水平位置的第一豎板51和第二豎板52以及設(shè)置在所述第一豎板51和所述第二豎板52之間、用于限制電纜試樣垂直位置的T型壓塊53。固定電纜試樣時(shí)，將電纜試樣放置在所述第一豎板51和所述第二豎板52形成的方槽內(nèi)，將所述T型壓塊53的下表面壓置在電纜試樣上，再使用緊固螺栓將所述T型壓塊53與所述第一豎板51和所述第二豎板52固定。當(dāng)然，也可以采用其他可拆卸方式將所述T型壓塊53與所述第一豎板51和所述第二豎板52連接，本實(shí)施例對此不作限定。在本實(shí)施例中，所述T型壓塊53的下表面設(shè)置有開口向下的V型槽，所述V型槽的槽底設(shè)置為倒角結(jié)構(gòu)。通過設(shè)置有倒角結(jié)構(gòu)且開口向下的V型槽，可以使所述T型壓塊53適應(yīng)不同線徑的電纜試樣，并增大所述T型壓塊53與電纜試樣的接觸面積，有利于電纜試樣的固定。
[0024]圖2是本發(fā)明另一種實(shí)施例的電纜限位裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，所述電纜限位裝置包括至少一個(gè)通過可拆卸連接方式安裝在所述測試臺面I上表面且開口向下的半圓弧緊位環(huán)61。在本實(shí)施例中，所述半圓弧緊位環(huán)61通過兩端的緊固螺栓62安裝在所述測試臺面I上表面。
[0025]圖3是本發(fā)明實(shí)施例的第一下電極裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，所述第一下電極裝置包括安裝在所述測試臺面I下表面且與所述銅電極21正對的第一屏蔽盒31以及從上至下依次設(shè)置在所述第一屏蔽盒31中的第一壓電傳感器32、第一鋁箔33、第一有機(jī)玻璃壓塊34。所述第一屏蔽盒31可以通過緊固螺栓固定在所述測試臺面I下表面，且抵緊所述第一有機(jī)玻璃壓塊34。通過設(shè)置所述第一有機(jī)玻璃壓塊34的厚度，可以使所述第一有機(jī)玻璃壓塊34壓緊所述第一壓電傳感器32和所述第一鋁箔33，使所述第一壓電傳感器32緊貼所述測試臺面I下表面。
[0026]圖4是本發(fā)明實(shí)施例的第二下電極裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，所述第二下電極裝置包括安裝在所述測試臺面I下表面且與所述電纜限位裝置正對的第二屏蔽盒41以及從上至下依次設(shè)置在所述第二屏蔽盒42中的第二壓電傳感器42、第二鋁箔43、第二有機(jī)玻璃壓塊44。所述第二下電極裝置的結(jié)構(gòu)與所述第一下電極裝置的結(jié)構(gòu)類似，在此不再贅述。
[0027]所述信號放大器用于接收所述第一壓電傳感器32和所述第二壓電傳感器42發(fā)送的電信號。繼續(xù)參考圖1，本實(shí)施例的空間電荷的測試系統(tǒng)還包括與所述測試臺面I構(gòu)成封閉腔體的側(cè)板和底板，側(cè)板包括短邊側(cè)板和長邊側(cè)板(圖未示)，所述信號放大器設(shè)置在所述封閉腔體中。進(jìn)一步，本實(shí)施例的空間電荷的測試系統(tǒng)還包括設(shè)置在所述封閉墻體中、通過固定夾71安裝在所述底板上的屏蔽箱72，所述信號放大器設(shè)置在所述屏蔽箱72中。通過設(shè)置所述屏蔽箱72，可以防止外部噪聲信號對所述信號放大器處理的信號產(chǎn)生干擾，從而提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。在本實(shí)施例中，所述固定夾71為底部為直角的U形固定夾，通過兩端的緊固螺栓固定在所述底板上。需要說明的是，所述測試臺面1、所述側(cè)板以及所述底板采用全鋁材質(zhì)，具有良好的屏蔽作用，使得測量信號穩(wěn)定。
[0028]采用本發(fā)明實(shí)施例的空間電荷的測試系統(tǒng)測試電纜試樣和平板試樣的空間電荷方法如下:
測試電纜試樣的空間電荷包括步驟S11?步驟S13:
步驟Sll，將電纜試樣固定在所述電纜限位裝置中。
[0029]步驟S12，以電纜線芯81為正極、所述第二鋁箔43為負(fù)極，對電纜絕緣部分82施加電場?？刹捎酶邏褐绷麟娫词┘幼陨隙碌碾妶觯沟秒娎|絕緣部分82中的缺陷和空位富集空間電何。
[0030]步驟S13，繼續(xù)施加電場，同時(shí)對電纜線芯81施加高壓脈沖，利用所述第二壓電傳感器42接收機(jī)械波并將機(jī)械波轉(zhuǎn)化為電信號，由所述信號放大器將電信號放大后輸出至信號采集設(shè)備。所述電纜絕緣部分82中富集的空間電荷會在高壓脈沖的作用下產(chǎn)生向下的機(jī)械應(yīng)力，所述第二壓電傳感器42檢測該機(jī)械應(yīng)力，將機(jī)械波轉(zhuǎn)化為電信號。
[0031 ]測試平板試樣的空間電荷包括S21?步驟S23:
步驟S21，將平板試樣放置在所述銅電極21下。具體地，在放置平板試樣之前，將所述屏蔽罩22取下，將平板試樣放置在所述銅電極21正下方，通過所述銅電極21對平板試樣進(jìn)行緊固，再將所述屏蔽罩22固定在所述測試臺面I上表面。
[0032]步驟S22，以所述銅導(dǎo)體23為正極、所述第一鋁箔33為負(fù)極，對平板試樣施加電場。可采用高壓直流電源施加自上而下的電場，使得平板試樣中的缺陷和空位富集空間電荷。
[0033]步驟S23，繼續(xù)施加電場，同時(shí)對所述銅導(dǎo)體23施加高壓脈沖，利用所述第一壓電傳感器32接收機(jī)械波并將機(jī)械波轉(zhuǎn)化為電信號，由所述信號放大器將電信號放大后輸出至信號采集設(shè)備。平板試樣中富集的空間電荷會在高壓脈沖的作用下產(chǎn)生向下的機(jī)械應(yīng)力，所述第一壓電傳感器32檢測該機(jī)械應(yīng)力，將機(jī)械波轉(zhuǎn)化為電信號。
[0034]以上所述的【具體實(shí)施方式】，對本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】而已，并不用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種空間電荷的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括測試臺面(I)、上電極裝置、電纜限位裝置、第一下電極裝置、第二下電極裝置以及信號放大器； 所述上電極裝置包括設(shè)置在所述測試臺面(I)上表面的銅電極(21)、用于屏蔽所述銅電極(21)的屏蔽罩(22)以及一端與所述銅電極(21)連接、另一端穿出所述屏蔽罩(22)的銅導(dǎo)體(23)，所述屏蔽罩(22)與所述測試臺面(I)上表面圍成的空腔之中填充有環(huán)氧樹脂(24)； 所述電纜限位裝置設(shè)置在所述測試臺面(I)上表面，用于固定電纜試樣； 所述第一下電極裝置包括安裝在所述測試臺面(I)下表面且與所述銅電極(21)正對的第一屏蔽盒(31)以及從上至下依次設(shè)置在所述第一屏蔽盒(31)中的第一壓電傳感器(32)、第一鋁箔(33)、第一有機(jī)玻璃壓塊(34); 所述第二下電極裝置包括安裝在所述測試臺面(I)下表面且與所述電纜限位裝置正對的第二屏蔽盒(41)以及從上至下依次設(shè)置在所述第二屏蔽盒(41)中的第二壓電傳感器(42)、第二鋁箔(43)、第二有機(jī)玻璃壓塊(44); 所述信號放大器用于接收所述第一壓電傳感器(32)和所述第二壓電傳感器(42)發(fā)送的電信號。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的空間電荷的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述屏蔽罩(22)為圓柱形屏蔽罩，所述銅導(dǎo)體(23)的另一端垂直穿出所述圓柱形屏蔽罩的上表面。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的空間電荷的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述圓柱形屏蔽罩的側(cè)面通過法蘭(25)固定在所述測試臺面(I)上表面。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的空間電荷的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電纜限位裝置包括平行安裝在所述測試臺面(I)上表面、用于限制電纜試樣水平位置的第一豎板(51)和第二豎板(52)以及設(shè)置在所述第一豎板(51)和所述第二豎板(52)之間、用于限制電纜試樣垂直位置的T型壓塊(53)。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的空間電荷的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述T型壓塊(53)的下表面設(shè)置有開口向下的V型槽。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的空間電荷的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述V型槽的槽底設(shè)置為倒角結(jié)構(gòu)。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的空間電荷的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電纜限位裝置包括至少一個(gè)通過可拆卸連接方式安裝在所述測試臺面(I)上表面且開口向下的半圓弧緊位環(huán)(61)。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的空間電荷的測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括與所述測試臺面(I)構(gòu)成封閉腔體的側(cè)板和底板，所述信號放大器設(shè)置在所述封閉腔體中。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的空間電荷的測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括設(shè)置在所述封閉墻體中、通過固定夾(71)安裝在所述底板上的屏蔽箱(72)，所述信號放大器設(shè)置在所述屏蔽箱(72)中。10.—種基于權(quán)利要求1至9任一項(xiàng)所述的空間電荷的測試系統(tǒng)的空間電荷的測試方法，其特征在于，包括測試電纜試樣的空間電荷和測試平板試樣的空間電荷； 測試電纜試樣的空間電荷包括: 將電纜試樣固定在所述電纜限位裝置中； 以電纜線芯(81)為正極、所述第二鋁箔(43)為負(fù)極，對電纜絕緣部分(82)施加電場；繼續(xù)施加電場，同時(shí)對電纜線芯(81)施加高壓脈沖，利用所述第二壓電傳感器(42)接收機(jī)械波并將機(jī)械波轉(zhuǎn)化為電信號，由所述信號放大器將電信號放大后輸出至信號采集設(shè)備; 測試平板試樣的空間電荷包括: 將平板試樣放置在所述銅電極(21)下； 以所述銅導(dǎo)體(23)為正極、所述第一鋁箔(33)為負(fù)極，對平板試樣施加電場； 繼續(xù)施加電場，同時(shí)對所述銅導(dǎo)體(23)施加高壓脈沖，利用所述第一壓電傳感器(32)接收機(jī)械波并將機(jī)械波轉(zhuǎn)化為電信號，由所述信號放大器將電信號放大后輸出至信號采集設(shè)備。
【文檔編號】G01R29/24GK106018987SQ201610631514
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年8月4日
【發(fā)明人】陳炯, 崔翔, 宋辰羊
【申請人】上海電力學(xué)院