一種用于測(cè)量石英晶體晶片的治具的制作方法
【專利摘要】一種用于測(cè)量石英晶體晶片的治具，包括底座，其特征在于：所述底座之上設(shè)置有定位槽，定位槽的另一側(cè)設(shè)置有移動(dòng)夾具，移動(dòng)夾具包括旋鈕開關(guān)、擺臂和滑塊，旋鈕開關(guān)與兩條擺臂相連，擺臂之間設(shè)置有彈簧，擺臂分別與滑塊相連，滑塊靠近定位槽的兩側(cè)設(shè)置有測(cè)量彈片。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便、參數(shù)測(cè)量準(zhǔn)確。
【專利說明】
一種用于測(cè)量石英晶體晶片的治具
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及到石英晶體的測(cè)試領(lǐng)域，具體的是指一種用于測(cè)量石英晶體晶片的治具。
【背景技術(shù)】
[0002]在小型石英晶體生產(chǎn)領(lǐng)域，晶片在濺射鍍膜后，需確認(rèn)其特性參數(shù)，如頻率、電阻等。傳統(tǒng)的檢測(cè)方式是通過探針上下探測(cè)方式進(jìn)行測(cè)量，費(fèi)時(shí)費(fèi)力，效率低下；另外，因晶片厚度較薄，側(cè)邊鍍層導(dǎo)通性不佳，在測(cè)量側(cè)邊鍍層特性參數(shù)時(shí)使用探針不容易形成導(dǎo)通，需要通過晶體的表面鍍層來(lái)間接進(jìn)行測(cè)量，參數(shù)的準(zhǔn)確性得不到保證。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中石英晶體晶片參數(shù)測(cè)量過程中存在的上述缺點(diǎn)和不足，提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便、參數(shù)測(cè)量準(zhǔn)確的用于測(cè)量石英晶體晶片的治具。
[0004]為實(shí)現(xiàn)以上目的，本發(fā)明的技術(shù)解決方案是:一種用于測(cè)量石英晶體晶片的治具，包括底座，其特征在于:所述底座之上設(shè)置有定位槽，定位槽的另一側(cè)設(shè)置有移動(dòng)夾具，移動(dòng)夾具包括旋鈕開關(guān)、擺臂和滑塊，旋鈕開關(guān)與兩條擺臂相連，擺臂之間設(shè)置有彈簧，擺臂分別與滑塊相連，滑塊靠近定位槽的兩側(cè)設(shè)置有測(cè)量彈片。
[0005]本發(fā)明的有益效果為:
1、本設(shè)計(jì)包含定位槽和移動(dòng)夾具，其中移動(dòng)夾具包括旋鈕開關(guān)、擺臂和滑塊，
旋鈕開關(guān)與兩條擺臂相連，擺臂之間設(shè)置有彈簧，擺臂分別與滑塊相連，滑塊靠近定位槽的兩側(cè)設(shè)置有測(cè)量彈片，測(cè)量時(shí)，轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕開關(guān)，擺臂向往擺動(dòng)，以帶動(dòng)兩側(cè)滑塊及兩側(cè)的測(cè)量彈片張開，然后將待測(cè)量的晶片放置在定位槽內(nèi)，再轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕開關(guān)使測(cè)量彈片夾緊晶片的側(cè)邊鍍層，使兩者之間形成緊密的接觸，以完成晶片特性參數(shù)的測(cè)量。
[0006]2、本設(shè)計(jì)中兩條擺臂之間設(shè)置有彈簧，在測(cè)試彈片夾緊晶片的側(cè)邊鍍層時(shí)能給予滑塊向內(nèi)的壓力，使得測(cè)量彈片與晶片的側(cè)邊鍍層接觸的跟緊密;復(fù)位時(shí)在彈簧的帶動(dòng)下滑塊能更輕松的回復(fù)原位。
【附圖說明】
[0007]圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0008]圖中:底座I，定位槽2，移動(dòng)夾具3，旋鈕開關(guān)4，擺臂5，滑塊6，彈簧7，測(cè)量彈片8。
【具體實(shí)施方式】
[0009]以下結(jié)合【附圖說明】和【具體實(shí)施方式】對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
[0010]參見圖1，一種用于測(cè)量石英晶體晶片的治具，包括底座I，其特征在于:所述底座I之上設(shè)置有定位槽2，定位槽2的另一側(cè)設(shè)置有移動(dòng)夾具3，移動(dòng)夾具3包括旋鈕開關(guān)4、擺臂5和滑塊6，旋鈕開關(guān)4與兩條擺臂5相連，擺臂5之間設(shè)置有彈簧7，擺臂5分別與滑塊6相連，滑塊6靠近定位槽2的兩側(cè)設(shè)置有測(cè)量彈片8。
[0011]本設(shè)計(jì)包含定位槽2和移動(dòng)夾具3,其中移動(dòng)夾具3包括旋鈕開關(guān)4、擺臂5和滑塊6， 旋鈕開關(guān)4與兩條擺臂5相連，擺臂5之間設(shè)置有彈簧7,擺臂5分別與滑塊6相連，滑塊6靠近定位槽2的兩側(cè)設(shè)置有測(cè)量彈片8,測(cè)量時(shí)，轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕開關(guān)4,擺臂5向往擺動(dòng)，以帶動(dòng)兩側(cè)滑塊6及兩側(cè)的測(cè)量彈片8張開，然后將待測(cè)量的晶片放置在定位槽2內(nèi)，再轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕開關(guān)4使測(cè)量彈片8夾緊晶片的側(cè)邊鍍層，使兩者之間形成緊密的接觸，以完成晶片特性參數(shù)的測(cè)量。本設(shè)計(jì)中兩條擺臂5之間設(shè)置有彈簧7,在測(cè)量彈片8夾緊晶片的側(cè)邊鍍層時(shí)能給予滑塊 6向內(nèi)的壓力，使得測(cè)試彈片8與晶片的側(cè)邊鍍層接觸的更緊密;復(fù)位時(shí)在彈簧7的帶動(dòng)下滑塊6能更輕松的回復(fù)原位。本設(shè)計(jì)中定位槽2起支撐、和定位晶片作用，可供全尺寸晶片的放置。測(cè)量彈片8分左右兩個(gè)，分別安裝在左右兩側(cè)的滑塊6上。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便、參數(shù)測(cè)量準(zhǔn)確。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于測(cè)量石英晶體晶片的治具，包括底座(1)，其特征在于:所述底座(1)之上設(shè) 置有定位槽(2)，定位槽(2)的另一側(cè)設(shè)置有移動(dòng)夾具(3)，移動(dòng)夾具(3)包括旋鈕開關(guān)(4)、 擺臂(5)和滑塊(6)，旋鈕開關(guān)(4)與兩條擺臂(5)相連，擺臂(5)之間設(shè)置有彈簧(7)，擺臂 (5)分別與滑塊(6)相連，滑塊(6)靠近定位槽(2)的兩側(cè)設(shè)置有測(cè)量彈片(8)。
【文檔編號(hào)】G01R1/04GK105974165SQ201610502309
【公開日】2016年9月28日
【申請(qǐng)日】2016年6月30日
【發(fā)明人】王金濤, 楊勇, 葉秀忠
【申請(qǐng)人】隨州泰華電子科技有限公司