被檢物質(zhì)檢測(cè)方法
【專利說(shuō)明】被檢物質(zhì)檢測(cè)方法 【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及被檢物質(zhì)檢測(cè)方法。 【【背景技術(shù)】】
[0002] 作為檢測(cè)作為樣品中所含的活體關(guān)聯(lián)物質(zhì)的被檢物質(zhì)的方法，例如，已知使用被 檢物質(zhì)、特異性地識(shí)別所述被檢物質(zhì)的特異性結(jié)合物質(zhì)和金屬微粒子，利用生物學(xué)相互作 用（例如抗原抗體反應(yīng)等）將對(duì)應(yīng)于被檢物質(zhì)的量的量的金屬微粒子蓄積到作用電極的表 面近傍，通過電化學(xué)測(cè)定蓄積的金屬微粒子的量，檢測(cè)被檢物質(zhì)的方法（參照例如，美國(guó)專 利申請(qǐng)公開第2009/159458號(hào)說(shuō)明書及日本專利第4915740號(hào)公報(bào)）。
[0003] 在美國(guó)專利申請(qǐng)公開第2009/159458號(hào)說(shuō)明書中公開了，利用生物學(xué)相互作用將 對(duì)應(yīng)于被檢物質(zhì)的量的量的金微粒子蓄積到作用電極的表面近傍后，電化學(xué)氧化蓄積的金 微粒子而使其溶出，通過測(cè)定還原溶出的金離子時(shí)的電流，檢測(cè)被檢物質(zhì)的方法。另外，在 日本專利第4915740號(hào)公報(bào)中記載了，利用生物學(xué)相互作用將對(duì)應(yīng)于被檢物質(zhì)的量的量的 銀微粒子蓄積到作用電極的表面近傍后，電化學(xué)氧化蓄積的銀微粒子而使其溶出，還原溶 出的銀離子而在作用電極表面析出，測(cè)定使析出的銀電化學(xué)氧化時(shí)的電流的方法。 【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0004] 【發(fā)明要解決的技術(shù)課題】
[0005] 本發(fā)明鑒于上述以往技術(shù)的實(shí)情而進(jìn)行，旨在提供可精確檢測(cè)被檢物質(zhì)的被檢物 質(zhì)檢測(cè)方法。
[0006] 【解決課題的技術(shù)方案】
[0007] 本發(fā)明人通過使用如以往一樣用于清洗，不作為測(cè)定溶液使用的溶液（以下，在 本說(shuō)明書中也稱為"清洗專用液"），發(fā)現(xiàn)測(cè)定結(jié)果發(fā)生偏差。于是，本發(fā)明人開發(fā)了可作為 清洗液使用，并且也可作為測(cè)定溶液使用的溶液，由所述溶液成功地抑制測(cè)定結(jié)果的偏差， 精確測(cè)定。
[0008] 即，本發(fā)明的被檢物質(zhì)檢測(cè)方法，在1個(gè)側(cè)面，是使用作用電極和對(duì)極檢測(cè)樣品中 所含的被檢物質(zhì)的被檢物質(zhì)檢測(cè)方法（以下也稱為"檢測(cè)方法1"）。
[0009] 此方法包括：
[0010] (A)在作用電極上形成含上述樣品中所含的被檢物質(zhì)和金屬微粒子的復(fù)合物的工 序、
[0011] (B)清洗上述作用電極的工序、
[0012] (C)向上述作用電極添加測(cè)定溶液，將上述作用電極上的復(fù)合物中所含的金屬微 粒子引起的電流、電壓或電荷由電化學(xué)測(cè)定法在上述測(cè)定溶液中測(cè)定的工序、及
[0013] (D)基于上述工序（C)中得到的測(cè)定結(jié)果，檢測(cè)上述樣品中的被檢物質(zhì)的工序。
[0014] 在此方法中，上述工序（B)是使用有與上述工序（C)中使用的測(cè)定溶液相同的組 成的測(cè)定溶液清洗作用電極的工序。
[0015] 另外，上述測(cè)定溶液是，基于上述金屬微粒子及上述作用電極的ζ電位，設(shè)定為 下列pH的溶液：
[0016] ?上述金屬微粒子和上述作用電極之間不發(fā)生靜電相互作用的pH ;或者
[0017] ?在上述金屬微粒子和上述作用電極之間發(fā)生靜電斥力的pH。
[0018] 由上述檢測(cè)方法1，在上述工序（B)中，由于使用有與上述工序（C)中使用的測(cè)定 溶液相同的組成的測(cè)定溶液清洗作用電極，從而可不使用清洗專用液，以簡(jiǎn)便的操作檢測(cè) 被檢物質(zhì)。再者通過抑制清洗專用液殘留而發(fā)生的金屬微粒子的電化學(xué)測(cè)定中使用的測(cè)定 溶液的組成或濃度的變動(dòng)，可抑制被檢物質(zhì)的檢測(cè)的精度的偏差的發(fā)生。
[0019] 另外，由上述檢測(cè)方法1而以往使用的清洗專用液和測(cè)定溶液通用，不需要所述 清洗專用液，從而可降低必要的試劑的種類。從而，由上述檢測(cè)方法1而使測(cè)定操作簡(jiǎn)便 化，可防人為的試劑的處理失誤等。
[0020] 再者，由檢測(cè)方法1，作為上述測(cè)定溶液，使用基于上述金屬微粒子及上述作用電 極的ζ電位，設(shè)定為在上述金屬微粒子和上述作用電極之間不發(fā)生靜電相互作用的pH或 在上述金屬微粒子和上述作用電極之間發(fā)生靜電斥力的pH的溶液，從而可抑制成為發(fā)生 噪聲的原因的非特異性的金屬微粒子的向作用電極的吸附，可確保充分的檢測(cè)靈敏度。
[0021] 在上述檢測(cè)方法1中，上述金屬微粒子和上述作用電極之間不發(fā)生靜電相互作用 的pH或上述金屬微粒子和上述作用電極之間發(fā)生靜電斥力的pH優(yōu)選是上述金屬微粒子的 ζ電位和上述作用電極的ζ電位成為同符號(hào)的電位的pH。
[0022] 另外，在上述檢測(cè)方法1中，上述測(cè)定溶液的pH優(yōu)選是3.5以上。
[0023] 本發(fā)明的被檢物質(zhì)檢測(cè)方法在另一側(cè)面，是使用作用電極和對(duì)極檢測(cè)樣品中所含 的被檢物質(zhì)的被檢物質(zhì)檢測(cè)方法（以下也稱為"檢測(cè)方法2"）。
[0024] 此方法包括
[0025] (A)在作用電極上形成含上述樣品中所含的被檢物質(zhì)和金屬微粒子的復(fù)合物的工 序、
[0026] (B)清洗上述作用電極的工序、
[0027] (C)向上述作用電極添加測(cè)定溶液，將上述作用電極上的復(fù)合物中所含的金屬微 粒子引起的電流、電壓或電荷由電化學(xué)測(cè)定法在上述測(cè)定溶液中測(cè)定的工序、及
[0028] (D)基于上述工序（C)中得到的測(cè)定結(jié)果，檢測(cè)上述樣品中的被檢物質(zhì)的工序。
[0029] 在此方法中，上述工序（B)是使用有與上述工序（C)中使用的測(cè)定溶液相同的組 成的測(cè)定溶液清洗作用電極的工序。
[0030] 另外，在此方法中，上述測(cè)定溶液的pH是3. 5以上。
[0031] 由上述檢測(cè)方法2,在上述工序（B)中，由于使用有與上述工序（C)中使用的測(cè) 定溶液相同的組成的測(cè)定溶液清洗作用電極，從而可得到與上述檢測(cè)方法1同樣的作用效 果。
[0032] 另外，由上述檢測(cè)方法2,由于使用3. 5以上的測(cè)定溶液，可抑制成為發(fā)生噪聲的 原因的非特異性的金屬微粒子的向作用電極的吸附，可確保充分的檢測(cè)靈敏度。
[0033] 在上述檢測(cè)方法2中，上述作用電極優(yōu)選含碳。
[0034] 在上述檢測(cè)方法1及2中，上述金屬微粒子優(yōu)選是含選自金、銀、銅、鉑及銦的至少 1種金屬的微粒子。
[0035] 另外，在上述檢測(cè)方法1及2中，上述電化學(xué)測(cè)定法優(yōu)選是選自微分脈沖伏安法、 循環(huán)伏安法及計(jì)時(shí)電流測(cè)定法的方法。
[0036] 再者，在上述檢測(cè)方法1及2中，在上述工序（C)中，優(yōu)選在上述作用電極的表面 析出集合于上述作用電極的金屬微粒子的金屬，析出的金屬離子供于氧化還原反應(yīng)，測(cè)定 上述氧化還原反應(yīng)時(shí)發(fā)生的電流、電壓或電荷。
[0037]【發(fā)明效果】
[0038] 由本發(fā)明的被檢物質(zhì)檢測(cè)方法可精確檢測(cè)被檢物質(zhì)。 【【附圖說(shuō)明】】
[0039] 【圖1】是顯示本發(fā)明之一實(shí)施方式中涉及的被檢物質(zhì)檢測(cè)方法中使用的檢測(cè)裝置 的斜視圖。
[0040] 【圖2】是顯示圖1所示的檢測(cè)裝置的構(gòu)成的框圖。
[0041] 【圖3】是顯示本發(fā)明之一實(shí)施方式中涉及的被檢物質(zhì)檢測(cè)方法中使用的電極基板 的正面圖。
[0042] 【圖4】是顯示圖3所示的電極基板的要部的構(gòu)成的斜視圖。
[0043] 【圖5】是顯示本發(fā)明之一實(shí)施方式中涉及的被檢物質(zhì)檢測(cè)方法的處理順序的工序 說(shuō)明圖。
[0044] 【圖6】是顯示本發(fā)明之一實(shí)施方式中涉及的被檢物質(zhì)檢測(cè)方法的測(cè)定工序中的處 理順序的工序說(shuō)明圖。
[0045] 【圖7】（A)是顯示在試驗(yàn)例1中研究在石墨及固定化抗體的石墨各自的ζ電位 (ζ電位）和測(cè)定溶液的pH的關(guān)系的結(jié)果的坐標(biāo)圖、（Β)是顯示在試驗(yàn)例1中研究標(biāo)記復(fù) 合物的ζ電位（ζ電位）和測(cè)定溶液的pH的關(guān)系的結(jié)果的坐標(biāo)圖。
[0046] 【圖8】㈧是顯示在試驗(yàn)例2中研究在作用電極的表面近傍集合的標(biāo)記復(fù)合物中 的銀微粒子引起的電流和測(cè)定溶液的pH的關(guān)系的結(jié)果的坐標(biāo)圖、（B)是顯示在試驗(yàn)例2中 研究在作用電極的表面近傍集合的標(biāo)記復(fù)合物中的銀微粒子的測(cè)定時(shí)的信號(hào)對(duì)噪聲比和 測(cè)定溶液的pH的關(guān)系的結(jié)果的坐標(biāo)圖。
[0047] 【圖9】是顯示在試驗(yàn)例3中研究在作用電極的表面近傍集合的標(biāo)記復(fù)合物中的銀 微粒子引起的電流和用清洗專用液的清洗及用鹽酸水溶液的清洗各自的關(guān)系的結(jié)果的坐 標(biāo)圖。
[0048] 【圖10】是顯示在試驗(yàn)例4中研究在作用電極的表面近傍集合的標(biāo)記復(fù)合物中的 銀微粒子引起的電流和用清洗專用液的清洗及用氯化鉀水溶液的清洗各自的關(guān)系的結(jié)果 的坐標(biāo)圖。
[0049] 【圖11】是顯示在試驗(yàn)例5中研究在作用電極的表面近傍集合的標(biāo)記復(fù)合物中的 銀微粒子引起的電流和用清洗專用液的清洗及用氯化鈉水溶液的清洗各自的關(guān)系的結(jié)果 的坐標(biāo)圖。
[0050] 【圖12】是顯示在試驗(yàn)例6中進(jìn)行由清洗專用液的清洗之時(shí)的測(cè)定結(jié)果的偏差和 進(jìn)行由測(cè)定溶液的清洗之時(shí)的測(cè)定結(jié)果的偏差的坐標(biāo)圖。
[0051] 【圖13】是顯示在試驗(yàn)例7中研究進(jìn)行由鹽酸水溶液的清洗之時(shí)的在作用電極的 表面近傍集合的標(biāo)記復(fù)合物中的銀微粒子引起的電流及進(jìn)行由氯化鈉水溶液的清洗之時(shí) 的在作用電極的表面近傍集合的標(biāo)記復(fù)合物中的銀微粒子引起的電流各自和HBs抗原的 量的關(guān)系的結(jié)果的坐標(biāo)圖。
[0052] 【圖14】是顯示在試驗(yàn)例8中研究進(jìn)行由測(cè)定溶液的清洗之時(shí)的在作用電極的表 面近傍集合的標(biāo)記復(fù)合物中的銀微粒子引起的電流和CRP(C反應(yīng)性蛋白）濃度的關(guān)系的結(jié) 果的坐標(biāo)圖。
[0053] 【圖15】是顯示在試驗(yàn)例9中研究使用高濃度的標(biāo)記結(jié)合物質(zhì)、并且進(jìn)行由測(cè)定溶 液的清洗之時(shí)的在作用電極的表面近傍集合的標(biāo)記復(fù)合物中的銀微粒子引起的電流和CRP 濃度的關(guān)系的結(jié)果的坐標(biāo)圖。
[0054] 【圖16】是顯示在試驗(yàn)例10中研究在作用電極的表面近傍集合的標(biāo)記復(fù)合物中的 銀微粒子的測(cè)定時(shí)的信號(hào)對(duì)噪聲比和測(cè)定溶液的pH的關(guān)系的結(jié)果的坐標(biāo)圖。
[0055] 【實(shí)施方式】
[0056] 以下參照附圖詳述本發(fā)明的優(yōu)選的實(shí)施方式。
[0057][檢測(cè)裝置的構(gòu)成]
[0058] 首先，由【附圖說(shuō)明】本發(fā)明之一實(shí)施方式中涉及的被檢物質(zhì)檢測(cè)方法中使用的檢測(cè) 裝置之一例。
[0059] 在圖1中，檢測(cè)裝置1具備插入電極基板30的基板受入部11和表示檢測(cè)結(jié)果的 顯示器12。
[0060] 檢測(cè)裝置1，如圖2所示，具備顯示器12、電流計(jì)13、電源14、A/D變換部15和控 制部16。
[0061] 電流計(jì)13測(cè)定作為標(biāo)記物質(zhì)的金屬微粒子的氧化或還原時(shí)發(fā)生的電流。電源14 對(duì)于設(shè)在電極基板30的電極施加指定的電位。A/D變換部15由電流計(jì)13對(duì)測(cè)定的電流 值進(jìn)行數(shù)字變換?？刂撇?6由CPU (中央處理器）、ROM (只讀存儲(chǔ)器）、RAM (隨機(jī)存儲(chǔ)器） 等構(gòu)成。此控制部16控制顯示器12、電流計(jì)13及電源14的動(dòng)作。另外，控制部16也可從 由A/D變換部15數(shù)字變換的電流值，基于顯示預(yù)先制成的電流值和作為標(biāo)記物質(zhì)的金屬微 粒子的量的關(guān)系的標(biāo)準(zhǔn)曲線，概算標(biāo)記物質(zhì)的量，算出被檢物質(zhì)的量。顯示器12表示在控 制部16概算的被檢物質(zhì)的量等的信息。
[0062][電極基板的構(gòu)成]
[0063] 接下來(lái)，說(shuō)明本發(fā)明之一實(shí)施方式中涉及的被檢物質(zhì)檢測(cè)方法中使用的電極基板 30的構(gòu)成。
[0064] 電極基板30,如圖3及圖4所示，具備基板本體30a、作用電極61、對(duì)極63和參照 電極65。在基板本體30a的表面形成作用電極61、與此作用電極61連接的電極蓋71、對(duì) 極63、與此對(duì)極63連接的電極蓋73、參照電極65、與此參照電極65連接的電極蓋75。這 些的電極蓋71、73