直，則定位槽軸線與探針座的X軸垂直；
[0077]其中，定位頭2-4與磁性吸盤5-1上的定位槽5-5的精密配合間隙可為0.0lmm:
[0078]6)將被測(cè)工件4放置在支撐平臺(tái)3上，被測(cè)工件4基準(zhǔn)面與第一指針式千分表1_5和第二指針式千分表1-6的表頭均接觸，
[0079]若第一指針式千分表1-5和第二指針式千分表1-6的表盤讀數(shù)相等，即被測(cè)工件4找準(zhǔn)定位完成，然后保持被測(cè)工件4不動(dòng)，利用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量被測(cè)工件4的相關(guān)形位公差及尺寸；
[0080]若第一指針式千分表1-5和第二指針式千分表1-6的表盤讀數(shù)不相等，微微扭動(dòng)所述組合定位裝置，使第一指針式千分表1-5和第二指針式千分表1-6的表盤讀數(shù)相等，即被測(cè)工件4找準(zhǔn)定位完成，然后保持被測(cè)工件4不動(dòng)，利用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量被測(cè)工件4的相關(guān)形位公差及尺寸；
[0081]其中，步驟5)與步驟6)的順序是可以互換，也可同時(shí)進(jìn)行。
[0082]以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明所作的進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明，不能認(rèn)定本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】?jī)H限于此，對(duì)于本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡(jiǎn)單的推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本發(fā)明由所提交的權(quán)利要求書確定專利保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種組合定位裝置，其特征在于: 包括底板和支撐部； 所述底板上設(shè)置有第一導(dǎo)軌，第一導(dǎo)軌與底板平行，第一導(dǎo)軌上設(shè)置有第一滑塊和第二滑塊，第一滑塊和第二滑塊均能夠沿第一導(dǎo)軌的軸向滑動(dòng)，第一滑塊和第二滑塊上分別設(shè)置有第一指針式千分表(1-5)和第二指針式千分表(1-6)，第一指針式千分表(1-5)和第二指針式千分表(1-6)的表頭均用于與被測(cè)工件的基準(zhǔn)面接觸； 所述支撐部，包括橫向段和豎直段，橫向段與底板固連，豎直段與底板垂直； 所述橫向段設(shè)有定位孔，定位孔用于安裝探針組件的探針座，探針座安裝在定位孔時(shí)，探針組件的連接桿與底板垂直，定位頭與探針座的X軸或Y軸垂直； 所述豎直段設(shè)有第二導(dǎo)軌，第二導(dǎo)軌與第一導(dǎo)軌垂直，第二導(dǎo)軌上設(shè)置有第三滑塊，第三滑塊能夠沿第二導(dǎo)軌的軸向滑動(dòng)； 第三滑塊上設(shè)有定位頭，定位頭與橫向部平行，定位頭用于限位在探針組件磁性吸盤定位槽的中心處。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的組合定位裝置，其特征在于:所述組合定位裝置還包括定位桿，定位孔呈矩形或“十”字形； 若定位孔呈矩形，定位孔與三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的探針座相適配；或所述定位桿有兩個(gè)，這兩個(gè)定位桿分別用于連接在探針座上相對(duì)的兩個(gè)螺紋孔上； 若定位孔呈“十”字形，所述定位桿有四個(gè)，這四個(gè)定位桿分別用于連接在探針座上的四個(gè)螺紋孔上。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的組合定位裝置，其特征在于:支撐部與底板之間螺紋連接。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的組合定位裝置，其特征在于:所述支撐部呈倒“T”形。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的組合定位裝置，其特征在于:所述組合定位裝置還包括支撐平臺(tái)，所述底板與支撐平臺(tái)螺紋連接。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的組合定位裝置，其特征在于:所述支撐平臺(tái)是大理石平臺(tái)。7.根據(jù)權(quán)利要求1至6任一所述的組合定位裝置，其特征在于:所述第一導(dǎo)軌和第二導(dǎo)軌的數(shù)量均為一條或兩條。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的組合定位裝置，其特征在于:所述第二導(dǎo)軌與豎直段之間螺紋連接。9.使用權(quán)利要求5至8任一權(quán)利要求所述的組合定位裝置的定位方法，其特征在于:包括以下步驟， 1)將組合定位裝置放置在三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量區(qū)，將標(biāo)準(zhǔn)量塊放置在支撐平臺(tái)上，標(biāo)準(zhǔn)量塊包括兩個(gè)相對(duì)的基準(zhǔn)面，分別為第一基準(zhǔn)面和第二基準(zhǔn)面，使三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上Z軸的探針與第一基準(zhǔn)面接觸； 2)沿第一導(dǎo)軌長(zhǎng)度方向，使用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)由第一基準(zhǔn)面的一端到另一端，選取至少兩個(gè)測(cè)量點(diǎn)，進(jìn)行測(cè)量，得到的測(cè)量結(jié)果即為相應(yīng)測(cè)量點(diǎn)對(duì)應(yīng)的在三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的Y軸坐標(biāo)； 若這些值均相等，進(jìn)行步驟3); 否則，微微扭動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)量塊，重新進(jìn)行步驟2); 3)將標(biāo)準(zhǔn)量塊固定； 將標(biāo)準(zhǔn)量塊的第二基準(zhǔn)面與第一指針式千分表(1-5)和第二指針式千分表(1-6)的表頭均接觸； 若第一指針式千分表(1-5)和第二指針式千分表(1-6)的表盤讀數(shù)相等，將第一指針式千分表(1-5)和第二指針式千分表(1-6)的表盤讀數(shù)均置零，即完成對(duì)組合定位裝置的調(diào)零，此時(shí)，第一導(dǎo)軌與三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的X軸平行，第二導(dǎo)軌與三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的Z軸平行； 若第一指針式千分表(1-5)和第二指針式千分表(1-6)的表盤讀數(shù)不相等，微微扭動(dòng)所述組合定位裝置，使第一指針式千分表(1-5)和第二指針式千分表(1-6)的表盤讀數(shù)相等，將第一指針式千分表(1-5)和第二指針式千分表(1-6)的表盤讀數(shù)均置零，即完成對(duì)組合定位裝置的調(diào)零，此時(shí)，第一導(dǎo)軌與三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的X軸平行，第二導(dǎo)軌與三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的Z軸平行； 4)移走標(biāo)準(zhǔn)量塊； 5)將探針組件的探針座置入定位孔(2-8)中，然后移動(dòng)第三滑塊； 若定位頭能限位在探針組件磁性吸盤定位槽的中心處，此時(shí)，定位頭與探針座的X軸或Y軸垂直，則完成探針組件的找準(zhǔn)定位工作； 若定位頭不能限位在探針組件磁性吸盤定位槽的中心處，則松動(dòng)磁性吸盤(5-1)上的定位螺釘(5-6)，旋轉(zhuǎn)磁性吸盤(5-1)，使定位頭能夠限位在探針組件磁性吸盤定位槽的中心處，此時(shí)，定位頭與探針座的X軸或Y軸垂直，然后擰緊定位螺釘(5-6)，將定位頭限位在探針組件磁性吸盤定位槽的中心處，則完成探針組件的找準(zhǔn)定位工作； 6)將被測(cè)工件(4)放置在支撐平臺(tái)(3)上，被測(cè)工件(4)基準(zhǔn)面與第一指針式千分表(1-5)和第二指針式千分表(1-6)的表頭均接觸， 若第一指針式千分表(1-5)和第二指針式千分表(1-6)的表盤讀數(shù)相等，即被測(cè)工件(4)找準(zhǔn)定位完成，然后保持被測(cè)工件⑷不動(dòng)，利用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量被測(cè)工件⑷的相關(guān)形位公差及尺寸； 若第一指針式千分表(1-5)和第二指針式千分表(1-6)的表盤讀數(shù)不相等，微微扭動(dòng)所述組合定位裝置，使第一指針式千分表(1-5)和第二指針式千分表(1-6)的表盤讀數(shù)相等，即被測(cè)工件⑷找準(zhǔn)定位完成，然后保持被測(cè)工件⑷不動(dòng)，利用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量被測(cè)工件(4)的相關(guān)形位公差及尺寸； 其中，步驟5)與步驟6)的順序是可以互換，也可同時(shí)進(jìn)行。
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種組合定位裝置及定位方法，組合定位裝置包括底板和支撐部；底板上設(shè)置有第一導(dǎo)軌，第一導(dǎo)軌與底板平行，第一導(dǎo)軌上設(shè)置有第一滑塊和第二滑塊，第一滑塊和第二滑塊上分別設(shè)置有第一指針式千分表和第二指針式千分表；支撐部，包括橫向段和豎直段，橫向段與底板固連，豎直段與底板垂直；橫向段設(shè)有定位孔，定位孔用于安裝探針組件的探針座；豎直段設(shè)有第二導(dǎo)軌，第二導(dǎo)軌與第一導(dǎo)軌垂直，第二導(dǎo)軌上設(shè)置有第三滑塊；第三滑塊上設(shè)有定位頭，定位頭與橫向部平行，定位頭用于限位在探針組件磁性吸盤定位槽的中心處。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，定位方法快捷，減少人為測(cè)量誤差，進(jìn)一步提高了三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量效率和應(yīng)用范圍。
【IPC分類】G01B21/20, G01B21/00, G01B21/24
【公開號(hào)】CN105157639
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510604485
【發(fā)明人】付西紅, 李華, 馬娜娜, 周美英, 陳生輝, 杜延平
【申請(qǐng)人】中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所
【公開日】2015年12月16日
【申請(qǐng)日】2015年9月21日