電子設備多按鍵輸入的老化測試裝置和方法
【技術(shù)領域】
[0001]本發(fā)明總體說來涉及測試技術(shù)領域。更具體地講，涉及一種電子設備多按鍵輸入的老化測試裝置和方法。
【背景技術(shù)】
[0002]電子設備在出廠前，為了保障產(chǎn)品質(zhì)量，為了降低產(chǎn)品的維修費用，需要經(jīng)過層層的測試。對于具有多個按鍵的電子設備，對多按鍵輸入的老化測試指的是對多個按鍵同時輸入實現(xiàn)的功能進行的老化測試。目前主要有兩種針對多按鍵輸入的老化測試方法，一種是傳統(tǒng)的多按鍵輸入的老化測試方法，通過人工多次按壓多個按鍵的方式，這將耗費大量的人工體力，另一種是軟件測試方法，但是只能測試軟件部分，不能測試硬件部分。
[0003]綜上所述，現(xiàn)有的針對多按鍵輸入的老化測試方法不完善。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于提供一種電子設備多按鍵輸入的老化測試裝置和方法，以解決現(xiàn)有的針對多按鍵輸入的老化測試方法不完善的問題。
[0005]本發(fā)明的一方面提供一種電子設備多按鍵輸入的老化測試裝置，用于對電子設備的多個按鍵同時輸入實現(xiàn)的功能進行老化測試，所述老化測試裝置包括控制器和至少一個可編程電源，所述可編程電源具有多個電源輸出接口，所述多個電源輸出接口分別用于連接到電子設備的對應于所述多個按鍵的多個按鍵接口，所述控制器用于分別控制所述多個電源輸出接口同時開始輸出預定次數(shù)的與各自的老化測試項目對應的電平信號。
[0006]在所述老化測試裝置中，任意一電源輸出接口輸出的與自己的老化測試項目對應的電平信號與如下電平信號相同:與所述一電源輸出接口連接的按鍵接口對應的一個按鍵從未被按壓、到被按壓、最后被釋放的過程中所述一個按鍵接口的電平變化信號。
[0007]在所述老化測試裝置中，預定次數(shù)輸出中的相鄰兩次輸出之間的時間間隔為預定時間或隨機時間。
[0008]在所述老化測試裝置中，所述多個按鍵為電源鍵和音量減小鍵。
[0009]在所述老化測試裝置中，所述多個按鍵為電源鍵、音量增加鍵和返回鍵。
[0010]在所述老化測試裝置中，所述控制器為個人計算機，所述個人計算機通過通用接口總線與所述至少一個可編程電源連接。
[0011]本發(fā)明的另一方面提供一種使用上述的老化測試裝置的老化測試方法，用于對電子設備的多個按鍵同時輸入實現(xiàn)的功能進行老化測試，所述老化測試方法包括:通過控制器接收對與所述多個按鍵接口連接的多個電源輸出接口輸出的電平信號分別進行設置的輸入和對測試次數(shù)進行設置的輸入；控制器控制分別與所述多個按鍵接口連接的多個電源輸出接口同時開始輸出所述測試次數(shù)的電平信號。
[0012]根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的電子設備多按鍵輸入的老化測試裝置和方法，可由控制器控制可編程電源的電源輸出接口輸出與進行的老化測試項目對應的電平信號，從而觸發(fā)電子設備執(zhí)行所述多個按鍵同時輸入實現(xiàn)的功能，進而可對電子設備進行老化測試，減少了人力的投入，并可對電子設備的硬件部分和軟件部分同時進行測試。
[0013]將在接下來的描述中部分闡述本發(fā)明另外的方面和/或優(yōu)點，還有一部分通過描述將是清楚的，或者可以經(jīng)過本發(fā)明的實施而得知。
【附圖說明】
[0014]通過下面結(jié)合附圖進行的詳細描述，本發(fā)明的上述和其它目的、特點和優(yōu)點將會變得更加清楚，其中:
[0015]圖1是示出根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的電子設備多按鍵輸入的老化測試裝置的框圖；
[0016]圖2示出根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的使用老化測試裝置的老化測試方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0017]下面參照附圖詳細描述本發(fā)明的實施例。
[0018]圖1是示出根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的電子設備多按鍵輸入的老化測試裝置的框圖。
[0019]根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的電子設備多按鍵輸入的老化測試裝置包括控制器10和至少一個可編程電源20。所述老化測試裝置用于對電子設備30的多個按鍵同時輸入實現(xiàn)的功能進行老化測試。所述電子設備30可以是移動通信終端、平板電腦、游戲機和數(shù)字多媒體播放器等包括多個物理按鍵的電子設備。
[0020]所述可編程電源20具有多個電源輸出接口，所述多個電源輸出接口分別用于連接到電子設備30的對應于所述多個按鍵的多個按鍵接口。例如，電源輸出接口 4與按鍵接口 6連接，電源輸出接口 5與按鍵接口 7連接。具體說來，電源輸出接口中的正極與按鍵接口連接，電源輸出接口中的負極與電子設備30上的接地點連接。
[0021]所述控制器10用于分別控制與所述多個電源輸出接口同時開始輸出預定次數(shù)的與各自的老化測試項目對應的電平信號。所述控制器10為可通過計算機軟件編程來對可編程電源20的電源輸出接口輸出的信號進行控制的器件。作為示例，所述控制器10可以是個人計算機，所述個人計算機可通過通用接口總線(GPIB)與所述至少一個可編程電源20連接。這里，預定次數(shù)輸出中的相鄰兩次輸出之間的時間間隔為預定時間或隨機時間。任意一電源輸出接口輸出的與自己的老化測試項目對應的電平信號與如下電平信號相同:與所述一電源輸出接口連接的按鍵接口對應的一個按鍵從未被按壓、到被按壓、最后被釋放的過程中所述一個按鍵接口的電平變化信號。
[0022]該電平信號可以預先存儲在控制器中，也可以在進行老化測試之前臨時進行設置。該電平信號中的按鍵被按壓時對應的按鍵接口的電平信號持續(xù)時間也可通過控制器10進行設置。
[0023]作為示例，可通過根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的老化測試裝置對智能手機中通過同時按壓電源鍵和音量減小鍵實現(xiàn)的截屏功能進行老化測試。這里，所述多個按鍵為電源鍵和音量減小鍵，所述控制器控制與電源鍵接口連接的電源輸出接口輸出預定次數(shù)的第一電平變化信號，并且同時控制與音量減小鍵連接的電源輸出接口輸出預定次數(shù)的第二電平變化信號，其中，相鄰兩次的第一電平變化信號輸出之間的時間間隔與相鄰兩次的第二電平變化信號輸出之間的時間間隔相同，且均為預定時間或隨機時間，第一電平變化信號與電源鍵從未被按壓、到被按壓、最后被釋放的過程中電源鍵接口的電平變化信號相同，第二電平變化信號與音量減小鍵從未被按壓、到被按壓、最后被釋放的過程中音量減小鍵接口的電平變化信號相同。作為示例，所述電源鍵和音量減小鍵在未被按壓時，電源鍵接口和音量減小鍵接口的電平都為高電平；所述電源鍵和音量減小鍵在被按壓時，電源鍵接口和音量減小鍵接口的電平都為低電平。
[0024]作為示例，可通過根據(jù)本發(fā)明示例性實施例的老化測試裝置對