本發(fā)明實(shí)施例屬于微波成像技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種微波成像系統(tǒng)的幅相校正方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

微波成像技術(shù)采用主動(dòng)發(fā)射微波波段電磁波的方式對(duì)物體進(jìn)行掃描成像，因其能夠穿透物體表面而檢測(cè)藏匿于物體內(nèi)部的金屬或非金屬違禁品，且由于其具有輻射劑量小、屬于非電離輻射等特點(diǎn)，可廣泛應(yīng)用于安檢儀等微波成像系統(tǒng)，用于執(zhí)行人體安全檢查任務(wù)。目前較為流行的微波成像技術(shù)，通常要通過(guò)線性陣列天線得到所有等效天線采集位置處的回波信號(hào)組成回波信號(hào)集，再將回波信號(hào)集發(fā)送至安檢系統(tǒng)的信號(hào)處理設(shè)備進(jìn)行統(tǒng)一成像處理，得到目標(biāo)物體的圖像。在實(shí)際應(yīng)用中，線性陣列天線的各通道之間的方向圖、微波能量和初始相位均存在差異，需要對(duì)線性陣列天線各通道所采集的回波信號(hào)進(jìn)行幅相校正，才能使各通道的回波信號(hào)相干，實(shí)現(xiàn)正常成像。

然而，目前常用的幅相校正方法通常是利用線性陣列天線各通道所采集的回波信號(hào)中的直達(dá)波信號(hào)進(jìn)行校正，只能實(shí)現(xiàn)對(duì)幅度在0度附近的回波信號(hào)的校正，無(wú)法補(bǔ)償各通道之間的方向圖差異，并且當(dāng)直達(dá)波信號(hào)較弱時(shí)，校正效果不理想。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施例提供一種微波成像系統(tǒng)的幅相校正方法及系統(tǒng)，旨在解決目前常用的幅相校正方法存在的一系列問(wèn)題，即：傳統(tǒng)方法通常是利用線性陣列天線各通道所采集的回波信號(hào)中的直達(dá)波信號(hào)進(jìn)行校正，這種校正方法只能實(shí)現(xiàn)對(duì)幅度在0度附近的回波信號(hào)的校正，無(wú)法補(bǔ)償各通道之間的方向圖差異，并且當(dāng)直達(dá)波信號(hào)較弱時(shí)，校正效果不理想。

本發(fā)明實(shí)施例，一方面提供了一種微波成像系統(tǒng)的幅相校正方法，其包括：

根據(jù)第一預(yù)設(shè)算法，對(duì)線性陣列天線獲取的目標(biāo)物體反射的回波信號(hào)在距離向進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到距離向壓縮信號(hào)；

提取所述距離向壓縮信號(hào)在距離向的最大幅值所對(duì)應(yīng)的距離值；

根據(jù)所述距離值對(duì)所述回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)延補(bǔ)償，得到時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)；

根據(jù)第二預(yù)設(shè)算法，對(duì)所述時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到幅相信號(hào)；

根據(jù)所述時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)和所述幅相信號(hào)對(duì)所述回波信號(hào)進(jìn)行幅相校正，得到校正回波信號(hào)。

本發(fā)明實(shí)施例，另一方面還提供一種微波成像系統(tǒng)的幅相校正系統(tǒng)，其包括：

距離向壓縮處理模塊，用于根據(jù)第一預(yù)設(shè)算法，對(duì)線性陣列天線獲取的目標(biāo)物體反射的回波信號(hào)在距離向進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到距離向壓縮信號(hào)；

距離值提取模塊，用于提取所述距離向壓縮信號(hào)在距離向的最大幅值所對(duì)應(yīng)的距離值；

時(shí)延補(bǔ)償模塊，用于根據(jù)所述距離值對(duì)所述回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)延補(bǔ)償，得到時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)；

幅相信號(hào)處理模塊，用于根據(jù)第二預(yù)設(shè)算法，對(duì)所述時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到幅相信號(hào)；

回波校正模塊，用于根據(jù)所述時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)和所述幅相信號(hào)對(duì)所述回波信號(hào)進(jìn)行幅相校正，得到校正回波信號(hào)。

本發(fā)明通過(guò)直接利用對(duì)線性陣列天線獲取的目標(biāo)物體的回波信號(hào)進(jìn)行幅相校正，不依賴(lài)于直達(dá)波，可以較好的補(bǔ)償線性陣列天線各通道之間的方向圖的差異。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖做簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例提供的笛卡爾坐標(biāo)系下的柱面掃描系統(tǒng)的示意圖。

圖2是本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例提供的微波成像系統(tǒng)的幅相校正方法的基本流程框圖；

圖3是本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例提供的微波成像系統(tǒng)的幅相校正方法的具體流程框圖；

圖4是本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例提供的微波成像系統(tǒng)的幅相校正方法的具體流程框圖；

圖5是本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例提供的微波成像系統(tǒng)的幅相校正系統(tǒng)的基本結(jié)構(gòu)框圖；

圖6是本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例提供的微波成像系統(tǒng)的幅相校正系統(tǒng)的具體框圖；

圖7是本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例提供的微波成像系統(tǒng)的幅相校正系統(tǒng)的具體結(jié)構(gòu)框圖。

具體實(shí)施方式

為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分的實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

本發(fā)明的說(shuō)明書(shū)和權(quán)利要求書(shū)及上述附圖中的術(shù)語(yǔ)“包括”以及它們?nèi)魏巫冃?，意圖在于覆蓋不排他的包含。例如包含一系列步驟或單元的過(guò)程、方法或系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備沒(méi)有限定于已列出的步驟或模塊，而是可選地還包括沒(méi)有列出的步驟或模塊，或可選地還包括對(duì)于這些過(guò)程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或模塊。

本發(fā)明所有實(shí)施例基于微波成像系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，該系統(tǒng)包括在水平或垂直方向上線性排列的預(yù)設(shè)個(gè)數(shù)的天線組成的線性陣列天線、信號(hào)收發(fā)設(shè)備和機(jī)械旋轉(zhuǎn)設(shè)備和信號(hào)處理設(shè)備。

在具體應(yīng)用中，信號(hào)處理設(shè)備可以采用圖形處理器(graphicsprocessingunit，gpu)來(lái)實(shí)現(xiàn)。

機(jī)械旋轉(zhuǎn)設(shè)備控制線性陣列天線繞預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)，信號(hào)收發(fā)設(shè)備用于在線性陣列天線在旋轉(zhuǎn)過(guò)程中發(fā)射信號(hào)并接收待成像的目標(biāo)物體反射的回波信號(hào)，信號(hào)收發(fā)設(shè)備將回波信號(hào)發(fā)送給信號(hào)處理設(shè)備處理為成像結(jié)果實(shí)現(xiàn)對(duì)待成像物體上各采樣點(diǎn)的掃描成像。根據(jù)線性陣列天線旋轉(zhuǎn)過(guò)程中的等效相位位置所形成的掃描面的形狀，可以將微波成像系統(tǒng)分為平面掃描系統(tǒng)或柱面掃描系統(tǒng)。

以下著重介紹柱面掃描系統(tǒng)的工作原理：

如圖1所示，設(shè)定x軸平行于水平面，設(shè)定與x軸正交且處于同一水平面的軸為y軸，設(shè)定預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)軸為z軸，設(shè)定x軸、y軸和z軸相交于z軸上的一點(diǎn)o，以o為原點(diǎn)建立包括x軸、y軸和z軸的笛卡爾坐標(biāo)系o-xyz。

多個(gè)天線在平行于z軸的方向上組成垂直線性陣列天線，繞z軸旋轉(zhuǎn)獲取目標(biāo)物體反射的回波信號(hào)，垂直線性陣列天線中的各天線的陣列向相位中心等間隔分布，即相鄰天線在陣列向相位中心之間的距離相等。

在一個(gè)實(shí)施例中，目標(biāo)物體具體可以是對(duì)微波信號(hào)反射率較高且吸收率或透過(guò)率較低的金屬物體，例如，金屬板、金屬塊等。

如圖2所示，本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例提供的一種微波成像系統(tǒng)的幅相校正方法，其包括：

步驟s10：根據(jù)第一預(yù)設(shè)算法，對(duì)線性陣列天線獲取的目標(biāo)物體反射的回波信號(hào)在距離向進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到距離向壓縮信號(hào)。

在具體應(yīng)用中，對(duì)線性陣列天線獲取的目標(biāo)物體的回波信號(hào)在距離向進(jìn)行數(shù)據(jù)處理具體是指對(duì)線性陣列天線中每個(gè)天線所獲取的目標(biāo)物體的回波信號(hào)都利用第一預(yù)設(shè)算法進(jìn)行距離向的數(shù)據(jù)處理，分別得到每個(gè)天線獲取的回波數(shù)據(jù)的距離向壓縮信號(hào)。

在一個(gè)實(shí)施例中，步驟s10之前包括：

控制線性陣列天線繞預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)，以獲取目標(biāo)物體的回波信號(hào)，所述線性陣列天線與所述目標(biāo)物體之間的距離在預(yù)設(shè)距離范圍內(nèi)。

在具體應(yīng)用，當(dāng)線性陣列天線為是圖1中的垂直線性陣列天線，時(shí)預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)軸即為圖1中的z軸，目標(biāo)物體可以是對(duì)微波反射率較高的金屬板，預(yù)設(shè)距離范圍可以根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行設(shè)置，在一個(gè)實(shí)施例中，預(yù)設(shè)距離范圍可以是3cm(厘米)～15cm，目標(biāo)物體與陣列天線之間的距離即為目標(biāo)物體的幾何中心點(diǎn)與線性陣列天線所在平面的垂直距離r0。

在一個(gè)實(shí)施例中，線性陣列天線在其所有天線的陣列向相位中心點(diǎn)位置處所獲取的回波信號(hào)表達(dá)式均為：

s1(k,z)(1)

其中，k＝4πf/c，k為距離向雙程波數(shù)，f為發(fā)射信號(hào)的頻率，c為光速，k方向?yàn)榫嚯x向，即每個(gè)天線的陣列向相位中心點(diǎn)與其對(duì)應(yīng)的目標(biāo)物體上的信號(hào)反射點(diǎn)之間的連線所在的方向，z為每個(gè)陣列向相位中心點(diǎn)的位置，z方向?yàn)殛嚵邢颍煌炀€所對(duì)應(yīng)的回波信號(hào)表達(dá)式(1)中的z的取值是不同的。

在一個(gè)實(shí)施例中，第一預(yù)設(shè)算法具體包括補(bǔ)0和傅里葉逆變換，距離向壓縮信號(hào)的表達(dá)式為：

其中，r為每個(gè)天線的陣列向相位中心點(diǎn)與其對(duì)應(yīng)的目標(biāo)物體上的信號(hào)反射點(diǎn)之間距離，不同天線所對(duì)應(yīng)的距離向壓縮信號(hào)表達(dá)式(2)中的r取值是不同的。

步驟s20：提取所述距離向壓縮信號(hào)在距離向的最大幅值所對(duì)應(yīng)的距離值。

在一個(gè)實(shí)施例中，距離值的表達(dá)式為：

d(z)(3)

不同天線所對(duì)應(yīng)的距離值表達(dá)式(3)中z的取值是不同的。

步驟s30：根據(jù)所述距離值對(duì)所述回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)延補(bǔ)償，得到時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)。

在一個(gè)實(shí)施例中，步驟s30包括：

根據(jù)時(shí)延補(bǔ)償函數(shù)h(k,z)＝exp[jkd(z)]對(duì)回波信號(hào)s1(k,z)進(jìn)行時(shí)延補(bǔ)償，得到時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)s3(k,z)。

步驟s40：根據(jù)第二預(yù)設(shè)算法，對(duì)所述時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到幅相信號(hào)。

在一個(gè)實(shí)施例中，第二預(yù)設(shè)算法具體包括傅里葉逆變換和信號(hào)提取。

步驟s50：根據(jù)所述時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)和所述幅相信號(hào)對(duì)所述回波信號(hào)進(jìn)行幅相校正，得到校正回波信號(hào)。

在一個(gè)實(shí)施例中，步驟s50具體包括：

根據(jù)公式ec(θ,k,z)＝e(θ,k,z)·exp{jk·(d(z)-r0)}·s*(z)/|s(z)²，計(jì)算得到校正回波信號(hào)；

其中，ec(θ,k,z)為校正回波信號(hào)，e(θ,k,z)為回波信號(hào)，exp{jk·(d(z)-r0)}為時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)，s(z)為幅相信號(hào)，*代表共軛。

本實(shí)施例通過(guò)直接利用對(duì)線性陣列天線獲取的目標(biāo)物體的回波信號(hào)進(jìn)行幅相校正，不依賴(lài)于直達(dá)波，可以較好的補(bǔ)償線性陣列天線各通道之間的方向圖的差異。

如圖3所示，在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，圖2所對(duì)應(yīng)的實(shí)施例中的步驟s10具體包括：

步驟s11：對(duì)所述回波信號(hào)的距離向數(shù)據(jù)的末端進(jìn)行m倍補(bǔ)0操作，其中，m為正整數(shù)。

在具體應(yīng)用中，m可以根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行設(shè)置，其可以是10～1000之間的一個(gè)整數(shù)，例如，20、50、100等，本實(shí)施例中，m默認(rèn)取值為20。

步驟s12：對(duì)補(bǔ)0后的所述回波信號(hào)的距離向數(shù)據(jù)作距離向傅里葉逆變換，得到距離向壓縮信號(hào)。

在具體應(yīng)用中，傅里葉逆變換可以為并行快速傅里葉逆變換，即可以同時(shí)對(duì)補(bǔ)0之后的每個(gè)天線所對(duì)應(yīng)的回波信號(hào)的距離向數(shù)據(jù)作距離向傅里葉逆變換，可以加快數(shù)據(jù)處理速度。

如圖4所示，在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，圖2所對(duì)應(yīng)的實(shí)施例中的步驟s40具體包括：

步驟s41：對(duì)所述時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)作距離向傅里葉逆變換，得到時(shí)延補(bǔ)償距離向壓縮數(shù)據(jù)。

在具體應(yīng)用中，傅里葉逆變換可以為并行快速傅里葉逆變換，即可以同時(shí)對(duì)每個(gè)天線所對(duì)應(yīng)的時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)作距離向傅里葉逆變換，可以加快數(shù)據(jù)處理速度。

在一個(gè)實(shí)施例中，時(shí)延補(bǔ)償距離向壓縮數(shù)據(jù)的表達(dá)式為：

步驟s42：提取所述時(shí)延補(bǔ)償距離向壓縮數(shù)據(jù)中的起始點(diǎn)信號(hào)，得到幅相信號(hào)。

在具體應(yīng)用中，起始點(diǎn)信號(hào)即是指在在r＝0處的信號(hào)。

在一個(gè)實(shí)施例中，幅相信號(hào)的表達(dá)式為：

s(z)＝s5(0,z)(5)

在一個(gè)實(shí)施例中，微波成像系統(tǒng)為柱面掃描系統(tǒng)，設(shè)柱面掃描系統(tǒng)所獲取的目標(biāo)物體反射的回波信號(hào)的表達(dá)式為e(θ,k,z)，則通過(guò)上述圖2～4所對(duì)應(yīng)的實(shí)施例中的方法步驟得到的校正回波信號(hào)的表達(dá)式為：

ec(θ,k,z)＝e(θ,k,z)·exp{jk·(d(z)-r0)}·s*(z)/|s(z)|²(6)

其中，θ為線性陣列天線繞預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)角度，·表示相乘，*表示共軛。

本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)采用傅里葉逆變換、參考函數(shù)相乘等算法步驟對(duì)線性陣列天線繞預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)所獲得的目標(biāo)物體反射的回波信號(hào)進(jìn)行幅相誤差校正，操作簡(jiǎn)單、易于實(shí)現(xiàn)、精度高且不依賴(lài)于直達(dá)波信號(hào)，可以廣泛適用于各種微波成像系統(tǒng)特別是近距離微波成像系統(tǒng)的幅相校正。

如圖5所示，本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例提供一種微波成像系統(tǒng)100的幅相校正系統(tǒng)，用于執(zhí)行圖2所對(duì)應(yīng)的實(shí)施例中的方法步驟，其包括：

距離向壓縮信號(hào)處理模塊10，用于根據(jù)第一預(yù)設(shè)算法，對(duì)線性陣列天線獲取的目標(biāo)物體反射的回波信號(hào)在距離向進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到距離向壓縮信號(hào)；

距離值提取模塊20，用于提取所述距離向壓縮信號(hào)在距離向的最大幅值所對(duì)應(yīng)的距離值；

時(shí)延補(bǔ)償模塊30，用于根據(jù)所述距離值對(duì)所述回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)延補(bǔ)償，得到時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)；

幅相信號(hào)處理模塊40，用于根據(jù)第二預(yù)設(shè)算法，對(duì)所述時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，得到幅相信號(hào)；

回波校正模塊50，用于根據(jù)所述時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)和所述幅相信號(hào)對(duì)所述回波信號(hào)進(jìn)行幅相校正，得到校正回波信號(hào)。

在一個(gè)實(shí)施例中，幅相校正系統(tǒng)100還包括：

回波信號(hào)獲取模塊，用于控制線性陣列天線繞預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)，以獲取目標(biāo)物體反射的回波信號(hào)，所述線性陣列天線與所述目標(biāo)物體之間的距離在預(yù)設(shè)距離范圍內(nèi)。

在一個(gè)實(shí)施例中，時(shí)延補(bǔ)償模塊50具體用于：

根據(jù)公式ec(θ,k,z)＝e(θ,k,z)·exp{jk·(d(z)-r0)}·s*(z)/|s(z)|²，計(jì)算得到校正回波信號(hào)；

其中，ec(θ,k,z)為校正回波信號(hào)，e(θ,k,z)為回波信號(hào)，exp{jk·(d(z)-r0)}為時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)，s(z)為幅相信號(hào)，*代表共軛。

本實(shí)施例通過(guò)直接利用對(duì)線性陣列天線獲取的目標(biāo)物體的回波信號(hào)進(jìn)行幅相校正，不依賴(lài)于直達(dá)波，可以較好的補(bǔ)償線性陣列天線各通道之間的方向圖的差異。

如圖6所示，在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，圖5所對(duì)應(yīng)的實(shí)施例中的距離向壓縮信號(hào)處理模塊10包括用于執(zhí)行圖3所對(duì)應(yīng)的實(shí)施例中的方法步驟的結(jié)構(gòu)，其包括：

補(bǔ)0單元11，用于對(duì)所述回波信號(hào)的距離向數(shù)據(jù)的末端進(jìn)行m倍補(bǔ)0操作，其中，m為正整數(shù)；

第一傅里葉逆變換單元12，用于對(duì)補(bǔ)0后的所述回波信號(hào)的距離向數(shù)據(jù)作距離向傅里葉逆變換，得到距離向壓縮信號(hào)。

如圖7所示，在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，圖5所對(duì)應(yīng)的實(shí)施例中的幅相信號(hào)處理模塊40包括用于執(zhí)行圖3所對(duì)應(yīng)的實(shí)施例中的方法步驟的結(jié)構(gòu)，其包括：

第二傅里葉逆變換單元41，用于對(duì)所述時(shí)延補(bǔ)償信號(hào)作距離向傅里葉逆變換，得到時(shí)延補(bǔ)償距離向壓縮數(shù)據(jù)；

信號(hào)提取單元42，用于提取所述時(shí)延補(bǔ)償距離向壓縮數(shù)據(jù)中的起始點(diǎn)信號(hào)，得到幅相信號(hào)。

在一個(gè)實(shí)施例中，微波成像系統(tǒng)為柱面掃描系統(tǒng)，時(shí)延補(bǔ)償模塊50具體用于：

根據(jù)公式ec(θ,k,z)＝e(θ,k,z)·exp{jk·(d(z)-r0)}·s*(z)/|s(z)|²計(jì)算柱面掃描系統(tǒng)的校正回波信號(hào)；

其中，θ為線性陣列天線繞預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)角度，·表示相乘，*表示共軛。

本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)采用傅里葉逆變換、參考函數(shù)相乘等算法步驟對(duì)線性陣列天線繞預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)所獲得的目標(biāo)物體反射的回波信號(hào)進(jìn)行幅相誤差校正，操作簡(jiǎn)單、易于實(shí)現(xiàn)、精度高且不依賴(lài)于直達(dá)波信號(hào)，可以廣泛適用于各種微波成像系統(tǒng)特別是近距離微波成像系統(tǒng)的幅相校正。

本發(fā)明所有實(shí)施例中的模塊或單元，可以通過(guò)通用集成電路，例如cpu(centralprocessingunit，中央處理器)，或通過(guò)asic(applicationspecificintegratedcircuit，專(zhuān)用集成電路)來(lái)實(shí)現(xiàn)。

本發(fā)明實(shí)施例方法中的步驟可以根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行順序調(diào)整、合并和刪減。

本發(fā)明實(shí)施例裝置中的模塊或單元可以根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行合并、劃分和刪減。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分流程，是可以通過(guò)計(jì)算機(jī)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件來(lái)完成，所述的程序可存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，可包括如上述各方法的實(shí)施例的流程。其中，所述的存儲(chǔ)介質(zhì)可為磁碟、光盤(pán)、只讀存儲(chǔ)記憶體(read-onlymemory，rom)或隨機(jī)存儲(chǔ)記憶體(randomaccessmemory，ram)等。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。